【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及存儲(chǔ)，具體涉及一種閃存測試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、在存儲(chǔ)
的制作流程中，一塊晶圓可得到多個(gè)閃存顆粒（存儲(chǔ)芯片）。這些閃存顆粒的顆粒受限于制程、工藝等緣故會(huì)出現(xiàn)不同的die?之間的質(zhì)量參差不一，存儲(chǔ)性能之間可能存在較大差異。
2、目前，存儲(chǔ)需求存在不同的級(jí)別區(qū)分，包括企業(yè)級(jí)、工業(yè)級(jí)、汽車級(jí)和消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)等，不同的級(jí)別對閃存顆粒的顆粒質(zhì)量要求不同，若在企業(yè)級(jí)存儲(chǔ)的級(jí)別選用到顆粒質(zhì)量較差的閃存顆粒，會(huì)造成嚴(yán)重的安全隱患問題，若在消費(fèi)級(jí)存儲(chǔ)的級(jí)別選用顆粒質(zhì)量非常好的閃存顆粒，會(huì)造成一定的存儲(chǔ)性能浪費(fèi)。因此，當(dāng)前對閃存顆粒的劃分是比較粗糙和不準(zhǔn)確的，顆粒等級(jí)劃分的準(zhǔn)確度較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本申請實(shí)施例提供一種閃存測試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備，可以對閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化加權(quán)平均，從而計(jì)算對應(yīng)的分值，并基于該分值進(jìn)行分類，提升了閃存顆粒劃分的準(zhǔn)確性。
2、本申請實(shí)施例提供了一種閃存測試方法，應(yīng)用于閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲(chǔ)控制器，包括：
3、通過所述存儲(chǔ)控制器獲取多個(gè)閃存顆粒各自對應(yīng)的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)；
4、通過所述處理器獲取每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值；
5、獲取所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個(gè)所述閃存顆粒的
6、根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果。
7、在一實(shí)施例中，獲取每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，包括：
8、獲取多個(gè)閃存顆粒中的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)最大值、錯(cuò)誤比特?cái)?shù)最小值以及偏移量數(shù)據(jù)最大值和偏移量數(shù)據(jù)最小值；
9、根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)、錯(cuò)誤比特?cái)?shù)最大值和錯(cuò)誤比特?cái)?shù)最小值計(jì)算所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值；
10、根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的偏移量數(shù)據(jù)、偏移量數(shù)據(jù)最大值和偏移量數(shù)據(jù)最小值計(jì)算所述偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值。
11、在一實(shí)施例中，獲取所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個(gè)所述閃存顆粒的評估值，包括：
12、根據(jù)所述閃存顆粒的應(yīng)用類型分別為所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)分配權(quán)重值；
13、計(jì)算每個(gè)所述閃存顆粒中錯(cuò)誤比特?cái)?shù)歸一化值與對應(yīng)權(quán)重值的第一乘積；
14、計(jì)算每個(gè)所述閃存顆粒中偏移量數(shù)據(jù)歸一化值與對應(yīng)權(quán)重值的第二乘積；
15、將所述第一乘積和所述第二乘積之和作為所述閃存顆粒的評估值。
16、在一實(shí)施例中，根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果，包括：
17、在所有閃存顆粒的評估值中隨機(jī)選擇預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)評估值作為初始質(zhì)心；
18、計(jì)算每個(gè)評估值到所有初始質(zhì)心的距離，并將所有評估值分配到所述距離最近的初始質(zhì)心，以得到預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)簇；
19、計(jì)算每個(gè)簇中全部評估值的均值，并將所述均值作為第二質(zhì)心，以對質(zhì)心進(jìn)行迭代；
20、當(dāng)所述迭代完成時(shí)，將最終的簇作為所述預(yù)設(shè)數(shù)量的分類。
21、在一實(shí)施例中，所述迭代過程包括：
22、計(jì)算每個(gè)評估值到所有第二質(zhì)心的距離，并將所有評估值分配到所述距離最近的第二質(zhì)心，以得到預(yù)設(shè)數(shù)量個(gè)簇；
23、計(jì)算每個(gè)簇中全部評估值的均值，并將所述均值作為第三質(zhì)心；
24、重復(fù)計(jì)算所述質(zhì)心直到質(zhì)心不再變化，則確認(rèn)所述迭代完成。
25、在一實(shí)施例中，將最終的簇作為所述預(yù)設(shè)數(shù)量的分類，包括：
26、將數(shù)值最小的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為一等顆粒；
27、將數(shù)值次小的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為二等顆粒；
28、將數(shù)值最大的質(zhì)心對應(yīng)的簇中的閃存顆粒確定為三等顆粒。
29、在一實(shí)施例中，所述方法還包括：
30、計(jì)算每個(gè)分類當(dāng)中閃存顆粒評估值的方差，以及不同分類之間閃存顆粒分值的均值差；
31、根據(jù)所述方差和均值差，調(diào)整所述分類的數(shù)量。
32、本申請實(shí)施例還提供一種閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲(chǔ)控制器，包括：
33、獲取單元，用于通過所述存儲(chǔ)控制器獲取多個(gè)閃存顆粒各自對應(yīng)的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)；
34、第一計(jì)算單元，用于通過所述處理器獲取每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值；
35、第二計(jì)算單元，用于獲取所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個(gè)所述閃存顆粒的評估值；
36、劃分單元，用于根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果。
37、本申請實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，當(dāng)所述計(jì)算機(jī)程序在計(jì)算機(jī)上執(zhí)行時(shí)，使得所述計(jì)算機(jī)執(zhí)行如上所述的閃存測試方法。
38、本申請實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述處理器通過調(diào)用所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)程序，以執(zhí)行如上所述的閃存測試方法。
39、本申請實(shí)施例提供的閃存測試方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及計(jì)算機(jī)設(shè)備，可以通過存儲(chǔ)控制器獲取多個(gè)閃存顆粒各自對應(yīng)的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)，再由處理器獲取每個(gè)閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，獲取錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及權(quán)重值獲取每個(gè)閃存顆粒的評估值，根據(jù)每個(gè)閃存顆粒的評估值而得到多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果。本申請實(shí)施例提供的方案可以對閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和讀取電壓的偏移量數(shù)據(jù)進(jìn)行歸一化加權(quán)平均，從而計(jì)算對應(yīng)的評估值，并基于該分值進(jìn)行分類，提升了閃存顆粒劃分的準(zhǔn)確性。
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1.一種閃存測試方法，應(yīng)用于閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲(chǔ)控制器，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，包括：
3.如權(quán)利要求2所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個(gè)所述閃存顆粒的評估值，包括：
4.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果，包括：
5.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，所述迭代過程包括：
6.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，將最終的簇作為預(yù)設(shè)數(shù)量的分類，包括：
7.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特征在于，所述方法還包括：
8.一種閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲(chǔ)控制器，其特征在于，包括：
9.一種計(jì)算機(jī)可讀的存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，
10.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，其特征在于，所述處理器通過調(diào)用所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)程序，以執(zhí)行如權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種閃存測試方法，應(yīng)用于閃存測試裝置，所述閃存測試裝置包括處理器和存儲(chǔ)控制器，其特征在于，包括：
2.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取每個(gè)所述閃存顆粒的錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值和偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值，包括：
3.如權(quán)利要求2所述的閃存測試方法，其特征在于，獲取所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)和偏移量數(shù)據(jù)的權(quán)重值，根據(jù)所述錯(cuò)誤比特?cái)?shù)的歸一化值、偏移量數(shù)據(jù)的歸一化值以及所述權(quán)重值獲取每個(gè)所述閃存顆粒的評估值，包括：
4.如權(quán)利要求1所述的閃存測試方法，其特征在于，根據(jù)每個(gè)所述閃存顆粒的評估值而得到所述多個(gè)閃存顆粒的測試結(jié)果，包括：
5.如權(quán)利要求4所述的閃存測試方法，其特...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：請求不公布姓名，夏嵩，郭航旗，請求不公布姓名，請求不公布姓名，請求不公布姓名，
申請(專利權(quán))人：深圳宏芯宇電子股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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