System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長度必須引用該字符串內(nèi)的位置。 參數(shù)名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及平整度測試設(shè)備精度校正,特別涉及一種平整度測試設(shè)備精度校正方法。
技術(shù)介紹
1、相關(guān)技術(shù)中,平整度會影響到器件的貼裝,而常用的平整度測量方法為激光三角測量法。激光三角測量基于激光三角測量儀,激光三角測量儀產(chǎn)生平行且相干的激光束照射在被測物體上。當激光束照射到物體表面時,部分光線會被反射,這些反射光通過接收元件被接收,通過計算反射光線的角度和已知的激光三角測量儀中發(fā)射器與接收器之間的距離,可以計算出傳感器與物體之間的距離。
2、在測量時,用于捕獲測量pad中心的是ccd鏡頭,而測量pad平整度的是激光三角測量儀,ccd鏡頭和激光三角測量儀兩者中心之間有一定的距離。兩者的工作方式為:ccd鏡頭抓取到pad的中心后,然后ccd鏡頭移動(按ccd鏡頭和激光三角測量儀中心的坐標差值),讓激光三角測量儀移動到pad的中心位置。在三次元移動過程中,激光器的位置可能會發(fā)生移動,從而和ccd鏡頭位置發(fā)生偏差。
3、此外,激光三角測量儀發(fā)出的激光必須與臺面的角度保持一致(例如激光與臺面垂直),當角度在過程中因為異常原因(例如被碰撞或者固定部分松動)導(dǎo)致角度出現(xiàn)變化時,會影響到測量的高度數(shù)據(jù),進而導(dǎo)致測量不準確。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請旨在至少解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的技術(shù)問題之一。為此,本申請?zhí)岢鲆环N平整度測試設(shè)備精度校正方法,能夠校正激光頭的位置精度和角度精度,以保證測量精度。
2、根據(jù)本申請實施例的平整度測試設(shè)備精度校正方法,校正方法包括如下步驟:
...【技術(shù)保護點】
1.一種平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,校正方法包括如下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,所述利用CCD相機獲取第一校準件的對稱中心的第一坐標這一步驟,包括:利用CCD相機抓取第一校準件的外周輪廓,控制CCD相機移動至第一校準件的正上方,此時,CCD相機所在位置的平面坐標為第一坐標的平面坐標。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,第一校準件為棱臺,所述對激光頭的垂直度進行檢測并校正這一步驟,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,棱臺的頂端面邊長為d,棱臺的底端面的邊長為D,棱臺的斜邊與底端面的夾角為45°。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,斜面的理論中線的長度為(D+d)/2,斜面上激光掃描的實際中線和斜面的理論中線的距離為h,激光頭相較于豎直方向的偏斜角度為α=arcsin(h*sin45°/c),
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,標定系統(tǒng)還包括第二
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,所述對激光頭的垂直度進行檢測并校正這一步驟,包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,第二校準件的頂端面設(shè)置有多個角度刻度標識環(huán),多個角度刻度標識環(huán)與第二校準件的頂端面的中心位置同心設(shè)置。
9.根據(jù)權(quán)利要求7所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,所述對激光頭的垂直度進行檢測并校正這一步驟,還包括:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,激光頭和垂直于臺面方向的夾角為θ=arctan(L2/H)。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,校正方法包括如下步驟:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,所述利用ccd相機獲取第一校準件的對稱中心的第一坐標這一步驟,包括:利用ccd相機抓取第一校準件的外周輪廓,控制ccd相機移動至第一校準件的正上方,此時,ccd相機所在位置的平面坐標為第一坐標的平面坐標。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,第一校準件為棱臺,所述對激光頭的垂直度進行檢測并校正這一步驟,包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,棱臺的頂端面邊長為d,棱臺的底端面的邊長為d,棱臺的斜邊與底端面的夾角為45°。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的平整度測試設(shè)備精度校正方法,其特征在于,斜面的理論中線的長度為(d+d)/2,斜面上激光掃描的實際中線和斜面的理論中線的距離為h,激光頭相較于豎直方向的偏斜角度為α=arcsi...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:徐勝,易雁,葉蘇銀,秦清,
申請(專利權(quán))人:生益電子股份有限公司,
類型:發(fā)明
國別省市:
還沒有人留言評論。發(fā)表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。