【技術實現步驟摘要】
本申請涉及工業檢驗，尤其涉及涂層檢驗方法、裝置、設備、存儲介質及計算機程序產品。
技術介紹
1、目前各類的鎂、鋁等材料廣泛應用于各類高精度的機械或者設備中，但是此類金屬制作而成的工件的耐腐蝕性并不良好，為了克服這一問題當前采用的手段是通過在金屬工件上噴涂保護層防止腐蝕，但是目前廣泛應用的陶瓷涂層也存在缺陷或者其他瑕疵，所以需要針對每一批次進行鍍層的工件進行抽樣檢查，而目前對涂層的監控僅限于在生產線上對設備進行監控，對于工件本身并不能對涂層質量進行分析。
2、上述內容僅用于輔助理解本申請的技術方案，并不代表承認上述內容是現有技術。
技術實現思路
1、本申請的主要目的在于提供一種專利技術名稱，旨在解決不能直接分析工件的涂層質量的技術問題。
2、為實現上述目的，本申請提出一種涂層檢驗方法，所述的方法包括：
3、獲取目標工件的涂層信息，并根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息；
4、根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態；
5、根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件。
6、可選地，所述根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息的步驟包括：
7、根據所述涂層信息確定所述目標工件生產時的涂層噴涂信息；
8、根據所述涂層噴涂信息確定鍍層涂料信息和預設噴涂策略；
9、根據所述鍍層涂料信息確定涂層成分信息；
10、根據所述預設噴涂策略確定
11、可選地，所述根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態的步驟包括：
12、獲取所述目標工件的截面圖像信息；
13、對所述截面圖像信息進行圖像識別，得到識別結果；
14、根據所述識別結果、所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態。
15、可選地，所述對所述截面圖像信息進行圖像識別，得到識別結果的步驟包括：
16、對所述截面圖像信息進行圖像識別，得到截面顏色信息；
17、根據所述截面顏色信息確定涂層分界線信息和截面顏色排序信息；
18、根據所述涂層分界線信息和所述截面顏色排序信息確定識別結果。
19、可選地，所述根據所述涂層分界線信息和所述截面顏色排序信息確定識別結果的步驟包括：
20、根據所述涂層分界線信息確定分界線間隔距離；
21、根據所述分界線間隔距離確定當前涂層厚度；
22、根據所述截面顏色排序信息查詢預設成分顏色對照表，得到當前截面涂層成分信息；
23、根據所述當前涂層厚度和所述當前截面涂層成分信息確定識別結果。
24、可選地，所述根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件的步驟包括：
25、根據所述檢驗結果確定所述目標工件的涂層偏差信息；
26、根據所述涂層偏差信息確定偏差涂層成分和偏差噴涂厚度；
27、將所述偏差涂層成分和所述偏差噴涂厚度確定層間連續生長信息；
28、將所述層間連續生長信息確定涂層缺陷信息，所述涂層缺陷信息包括界面缺陷信息、層間空隙信息和涂層均勻性信息；
29、將涂層缺陷信息與所述目標工件的安全要求進行比對，并根據比對結果確定所述目標工件是否滿足安全條件。
30、此外，為實現上述目的，本申請還提出一種涂層檢驗裝置，所述涂層檢驗裝置包括：
31、信息獲取模塊，用于獲取目標工件的涂層信息，并根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息；
32、狀態確定模塊，用于根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態；
33、安全判定模塊，用于根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件。
34、此外，為實現上述目的，本申請還提出一種涂層檢驗設備，所述設備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現如上文所述的涂層檢驗方法的步驟。
35、此外，為實現上述目的，本申請還提出一種存儲介質，所述存儲介質為計算機可讀存儲介質，所述存儲介質上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上文所述的涂層檢驗方法的步驟。
36、此外，為實現上述目的，本申請還提供一種計算機程序產品，所述計算機程序產品包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上文所述的涂層檢驗方法的步驟。
37、本申請提出的一個或多個技術方案，至少具有以下技術效果：
38、本申請獲取目標工件的涂層信息，并根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息；根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態；根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件。通過這種方式，實現了基于預先設定的目標工件的涂層信息，然后根據涂層信息確定目標工件的鍍層在設計階段的具體成分和厚度等參數信息，再基于預先設計的具體成分與厚度檢驗目標工件當前時刻下的涂層的狀態，從而可根據檢驗結果對目標工件的涂層進行安全判定，確定是否滿足安全條件，實現了更全面和準確的分析工件的鍍層情況。
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1.一種涂層檢驗方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息的步驟包括：
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態的步驟包括：
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述截面圖像信息進行圖像識別，得到識別結果的步驟包括：
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層分界線信息和所述截面顏色排序信息確定識別結果的步驟包括：
6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件的步驟包括：
7.一種涂層檢驗裝置，其特征在于，所述裝置包括：
8.一種涂層檢驗設備，其特征在于，所述設備包括：存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述計算機程序配置為實現如權利要求1至6中任一項所述的涂層檢驗方法的步驟。
9.一種存儲介質，其特征在于，所述存儲介質為計算機可讀存儲
10.一種計算機程序產品，其特征在于，所述計算機程序產品包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至6中任一項所述的涂層檢驗方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種涂層檢驗方法，其特征在于，所述的方法包括：
2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層信息確定涂層成分信息和涂層厚度信息的步驟包括：
3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層成分信息和所述涂層厚度信息檢驗所述目標工件的當前狀態的步驟包括：
4.如權利要求3所述的方法，其特征在于，所述對所述截面圖像信息進行圖像識別，得到識別結果的步驟包括：
5.如權利要求4所述的方法，其特征在于，所述根據所述涂層分界線信息和所述截面顏色排序信息確定識別結果的步驟包括：
6.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據檢驗結果確定所述目標工件是否滿足安全條件...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張亞娟，戎榮，
申請(專利權)人：浙江天霽材料科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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