【技術實現步驟摘要】
本文所描述的實施方案涉及光譜儀，諸如例如紅外(infra-red，ir)顯微鏡，并且更具體地涉及可移除地插入到光譜儀和光譜成像顯微鏡中的檢測器模塊。
技術介紹
技術實現思路
1、一個示例提供了一種顯微鏡系統，該顯微鏡系統包括顯微鏡板、固定安裝到顯微鏡板的多個支柱、以及可移除地安裝到顯微鏡板的檢測器模塊。支柱使檢測器模塊相對于顯微鏡板對準。檢測器模塊包括檢測器基板、固定安裝在檢測器基板上的檢測器、以及固定安裝在檢測器基板上的光學元件。光學元件被配置為接收光并將光引導至檢測器。
2、另一個示例包括一種用于顯微鏡系統的可交換檢測器模塊。檢測器模塊包括檢測器殼體，該檢測器殼體包括頂板、底板和從底板延伸至頂板的側壁。側壁包括用于光進入檢測器模塊的開口。檢測器模塊包括固定安裝到底板并位于檢測器殼體內的檢測器、固定安裝在底板并位于檢測器殼體內的光學元件、以及耦接至頂板用于將檢測器模塊鎖定到顯微鏡的至少一個閂鎖。光學元件被配置為接收進入檢測器模塊的光并將光引導至檢測器。
3、通過考慮具體實施方式和附圖，其他方面將變得明顯。
【技術保護點】
1.一種顯微鏡系統，所述顯微鏡系統包括：
2.根據權利要求1所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括檢測器頂板和耦接至頂板的閂鎖，其中所述閂鎖被配置為將所述檢測器模塊鎖定在所述顯微鏡內。
3.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述閂鎖包括凸輪鎖。
4.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊通過使所述閂鎖與所述多個支柱中的至少一個支柱接合而在所述顯微鏡內被鎖定。
5.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括圍繞所述檢測器和所述光學元件中的至少一部分的側壁，其中所述側壁從所述檢測器基板延伸至所述頂板，并且其中所述側壁包括用于接收光的開口。
6.根據權利要求5所述的顯微鏡系統，其中，所述側壁包括一個或多個凹部，所述一個或多個凹部被配置為使所述檢測器模塊相對于所述多個支柱對準。
7.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述頂板包括用于接收冷卻劑的開口。
8.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括用于將所述檢測器模塊插入所述顯微鏡或從
9.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述顯微鏡板被固定安裝到所述顯微鏡的殼體，并且其中所述顯微鏡的殼體在頂部處包括用于接收所述檢測器模塊的開口。
10.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，還包括第二檢測器模塊，用于檢測與所述檢測器模塊相比不同波長范圍的光。
11.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，由所述光學元件接收的光是經準直的光。
12.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述光學元件將光朝向所述檢測器聚焦。
13.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器基板包括至少一個銷釘，所述至少一個銷釘被配置為由所述顯微鏡板中的相應槽孔接收。
14.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述顯微鏡系統包括拉曼顯微鏡或IR顯微鏡。
15.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器是從由MCT?IR檢測器和InGaAs檢測器組成的組中選擇的一者。
16.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，當所述檢測器模塊被安裝到所述顯微鏡時，所述支柱圍繞所述檢測器模塊。
17.一種用于顯微鏡系統的可交換檢測器模塊，所述檢測器模塊包括：
18.根據權利要求17所述的可交換檢測器模塊，其中，所述側壁包括沿著所述側壁的高度中的至少一部分延伸的一個或多個凹部，以用于在將所述檢測器模塊插入到顯微鏡的殼體中的同時，導向所述檢測器模塊。
19.根據權利要求17所述的可交換檢測器模塊，其中，所述閂鎖被配置為與從顯微鏡的基板延伸的一個或多個支柱接合。
20.一種操作具有根據權利要求17所述的多個檢測器模塊的顯微鏡的方法，所述方法包括：
21.根據權利要求20所述的方法，其中，所述第一樣品和所述第二樣品是相同的樣品。
...【技術特征摘要】
1.一種顯微鏡系統，所述顯微鏡系統包括：
2.根據權利要求1所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括檢測器頂板和耦接至頂板的閂鎖，其中所述閂鎖被配置為將所述檢測器模塊鎖定在所述顯微鏡內。
3.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述閂鎖包括凸輪鎖。
4.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊通過使所述閂鎖與所述多個支柱中的至少一個支柱接合而在所述顯微鏡內被鎖定。
5.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括圍繞所述檢測器和所述光學元件中的至少一部分的側壁，其中所述側壁從所述檢測器基板延伸至所述頂板，并且其中所述側壁包括用于接收光的開口。
6.根據權利要求5所述的顯微鏡系統，其中，所述側壁包括一個或多個凹部，所述一個或多個凹部被配置為使所述檢測器模塊相對于所述多個支柱對準。
7.根據權利要求2所述的顯微鏡系統，其中，所述頂板包括用于接收冷卻劑的開口。
8.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述檢測器模塊還包括用于將所述檢測器模塊插入所述顯微鏡或從所述顯微鏡移除所述檢測器模塊的手柄。
9.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，其中，所述顯微鏡板被固定安裝到所述顯微鏡的殼體，并且其中所述顯微鏡的殼體在頂部處包括用于接收所述檢測器模塊的開口。
10.根據權利要求1至7中任一項所述的顯微鏡系統，還包括第二檢測器模塊，用于檢測與所述檢測器模塊相比不同波長范圍的光。
【專利技術屬性】
技術研發人員：顏旻，W·拜爾，W·基夫，
申請(專利權)人：熱電科學儀器有限責任公司，
類型：發明
國別省市：
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