本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)，所述方法包括：獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，并基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)越短；獲取每個(gè)磁盤的處理速度等級(jí)所對(duì)應(yīng)的權(quán)重信息，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述權(quán)重信息越??；基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息。本發(fā)明專利技術(shù)可通過(guò)對(duì)單個(gè)磁盤處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行分析來(lái)對(duì)磁盤陣列的性能進(jìn)行整體評(píng)估，有利于實(shí)現(xiàn)高效的性能評(píng)估，且通過(guò)對(duì)每個(gè)磁盤均進(jìn)行分析，提升了性能評(píng)估的準(zhǔn)確性。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及磁盤性能評(píng)估，尤其涉及一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)。
技術(shù)介紹
1、在現(xiàn)有的存儲(chǔ)系統(tǒng)中，磁盤陣列的性能常常受到單個(gè)慢速磁盤的影響，導(dǎo)致整體讀寫速度下降。盡管表面上所有磁盤看似正常工作，但某些磁盤可能由于固有的性能問(wèn)題或老化而導(dǎo)致響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)延長(zhǎng)，處理速度緩慢，進(jìn)而拖累整個(gè)磁盤陣列的表現(xiàn)。但是，現(xiàn)有技術(shù)中，無(wú)法準(zhǔn)確地對(duì)磁盤陣列進(jìn)行有效且準(zhǔn)確的性能分析。
2、因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待改進(jìn)和提高。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問(wèn)題在于，針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的上述缺陷，提供一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法、系統(tǒng)、終端及介質(zhì)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)中無(wú)法準(zhǔn)確地對(duì)磁盤陣列進(jìn)行有效且準(zhǔn)確的性能分析等問(wèn)題。
2、為了解決上述技術(shù)問(wèn)題，本專利技術(shù)所采用的技術(shù)方案如下：
3、第一方面，本專利技術(shù)提供一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其中，所述方法包括：
4、獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，并基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)越短；
5、獲取每個(gè)磁盤的處理速度等級(jí)所對(duì)應(yīng)的權(quán)重信息，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述權(quán)重信息越??；
6、基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息。
7、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
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p>8、采集預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)，每個(gè)磁盤處理io操作的次數(shù)，以及每一次處理所述io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)；9、基于每個(gè)磁盤處理io操作的次數(shù)以及每一次處理所述io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)；
10、基于所述平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)。
11、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于所述平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
12、獲取所述磁盤陣列中每一個(gè)次磁盤對(duì)應(yīng)的磁盤類型，并獲取所述磁盤類型所對(duì)應(yīng)的等級(jí)劃分規(guī)則，其中所述等級(jí)劃分規(guī)則反映了處理速度等級(jí)與平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系；
13、將所述平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)與所述等級(jí)劃分規(guī)則進(jìn)行匹配，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)。
14、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
15、采集預(yù)設(shè)時(shí)間段內(nèi)，每個(gè)磁盤處理io操作的次數(shù)，以及每一次處理所述io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)；
16、獲取預(yù)設(shè)的第一時(shí)長(zhǎng)閾值，將每個(gè)磁盤對(duì)應(yīng)的所有響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)與所述第一時(shí)長(zhǎng)閾值進(jìn)行比較；
17、針對(duì)每個(gè)磁盤，確定所有響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)中大于所述第一時(shí)長(zhǎng)閾值的占比信息；
18、基于所述占比信息，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)。
19、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息，包括：
20、基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，計(jì)算所述磁盤陣列的整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)；
21、基于整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息。
22、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，計(jì)算所述磁盤陣列的整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，包括：
23、針對(duì)每個(gè)磁盤，計(jì)算響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及對(duì)應(yīng)的權(quán)重信息的乘積，得到每個(gè)磁盤的第一值；
24、將所有的磁盤的第一值相加，得到所述磁盤陣列的第二值，并將所述第二值作為所述磁盤陣列的整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)。
25、在一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述基于整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息，包括：
26、獲取預(yù)設(shè)的第二時(shí)長(zhǎng)閾值，并基于所述整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)與預(yù)設(shè)的第二時(shí)長(zhǎng)閾值，確定時(shí)間差值；
27、基于所述時(shí)間差值，確定與所述時(shí)間差值所對(duì)應(yīng)的性能區(qū)間，將所述性能區(qū)間所反映的響應(yīng)速度信息作為所述磁盤陣列的性能信息。
28、第二方面，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供一種磁盤陣列的性能評(píng)估系統(tǒng)，其中，所述系統(tǒng)包括：
29、速度等級(jí)確定模塊，用于獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，并基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)越短；
30、權(quán)重信息獲取模塊，用于獲取每個(gè)磁盤的處理速度等級(jí)所對(duì)應(yīng)的權(quán)重信息，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述權(quán)重信息越??；
31、性能信息評(píng)估模塊，用于基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息。
32、第三方面，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供一種終端，其中，所述終端包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中并可在處理器上運(yùn)行的磁盤陣列的性能評(píng)估程序，處理器執(zhí)行磁盤陣列的性能評(píng)估程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述方案中任一項(xiàng)的磁盤陣列的性能評(píng)估方法的步驟。
33、第四方面，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其中，計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有磁盤陣列的性能評(píng)估程序，所述磁盤陣列的性能評(píng)估程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述方案中任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法的步驟。
34、有益效果：與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)提供了一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法，本專利技術(shù)首先獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，并基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)越短。然后，獲取每個(gè)磁盤的處理速度等級(jí)所對(duì)應(yīng)的權(quán)重信息，其中，所述處理速度等級(jí)越高，所述權(quán)重信息越小。最后，基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息。本專利技術(shù)可通過(guò)對(duì)單個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)進(jìn)行分析來(lái)對(duì)磁盤陣列的性能進(jìn)行整體評(píng)估，有利于實(shí)現(xiàn)高效的性能評(píng)估，且通過(guò)對(duì)每個(gè)磁盤均進(jìn)行分析，提升了性能評(píng)估的準(zhǔn)確性。
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【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于所述平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理IO操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，計(jì)算所述磁盤陣列的整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于整體響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息，包括：
8.一種磁盤陣列的性能評(píng)估系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括：
9.一種終端，其特征在于，所述終端包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在所述存儲(chǔ)器中并可在所述處理器上運(yùn)行的磁盤陣列的性能評(píng)估程序，所述處理器執(zhí)行磁盤陣列的性能評(píng)估程序時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法的步驟。
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有磁盤陣列的性能評(píng)估程序，所述磁盤陣列的性能評(píng)估程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法的步驟。
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【技術(shù)特征摘要】
1.一種磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于所述平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述獲取磁盤陣列中每個(gè)磁盤處理io操作的響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，基于所述響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)，確定每個(gè)磁盤所對(duì)應(yīng)的處理速度等級(jí)，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤陣列的性能評(píng)估方法，其特征在于，所述基于每個(gè)磁盤的平均響應(yīng)時(shí)長(zhǎng)以及所述權(quán)重信息，評(píng)估所述磁盤陣列的性能信息，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的磁盤陣列的...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：郭厥論，張小華，賈彬浩，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：柏科數(shù)據(jù)技術(shù)深圳股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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