【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及無線電測向測試，具體涉及一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法、裝置、介質、產品。
技術介紹
1、本節中的陳述僅提供與本公開相關的背景信息，并且可能不構成現有技術。
2、無線電測向技術在民用和軍用領域均被廣泛使用，如對非法廣播電臺測向進而定位、特定目標電磁輻射源測向定位等。在無線電測向系統中，測向精度是最為重要的性能評價指標之一，是無線電測向系統檢驗測試的核心檢驗測試項。
3、干涉儀測向技術體制由于設備體量小、測向精度高，是在無線電測向系統中應用較為廣泛的技術體制。干涉儀測向技術體制中，線陣干涉儀最為常見，通過測量一組不等間距(基線)線性布陣的天線單元接收到的遠處目標輻射源的電磁波的相位差，計算得到目標輻射源相對天線法向的方位測量結果，如圖2所示。
4、在對干涉儀測向系統進行測向測試時，目前流行的做法是將測向天線陣布置在測試轉臺中心處，輻射源位置固定不動，通過測試轉臺轉動，改變輻射源相對測向天線法向的角度，模擬輻射源的不同方位入射，進行測向方位覆蓋范圍內的測向精度測試。如圖3所示，測向天線陣放置于轉臺中心，圖左側為初始位置，天線法向指向目標輻射源，相對角度為0°，隨著轉臺順時針轉動α角，如圖3右側圖示位置，此時輻射源與天線陣法向相對角度理論值θ‘＝α，故可以使用干涉儀測向系統的實際測量角θ與轉臺轉動角度α角的差異δ＝|θ-α|，來對干涉儀測向系統的測向精度性能進行評價。
5、但在一些情況下，干涉儀測向天線陣在實際的測向測試中，由于結構布置等原因，難以剛好放置在測試轉臺中心
6、在此種情況下，保持初始目標輻射源在測向天線子陣法向方位，若轉臺瞬時針轉動α角，則目標輻射源與天線陣法向夾角理論值θ不再與α相同，如圖5所示。此時再用轉臺轉動角α對測向系統方位測量角精度進行評價，則會帶來一定的評價誤差，即為偏心測角評價誤差。為減小此誤差對測向精度評價的負面影響，目前常見的處理辦法即是要求測試時目標輻射源與測向天線陣的距離d遠遠大于天線陣軸向偏心距離r，即可忽略偏心測角評價誤差。這種方式適用于室外開闊場地測試條件，但在暗室條件或其他情況空間受限，輻射源與測向天線陣的距離無法保證足夠遠的情況下，偏心測角評價誤差不可忽略，為提高對被測測向系統測向性能指標的評價精準度，需進行必要的修正。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于：針對基于轉臺的干涉儀測向應用系統測向性能評價測試，在天線陣軸向左偏心布置情況下，提出一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法、裝置、介質、產品。
2、本專利技術的技術方案如下：
3、一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，包括：
4、步驟s1：調整測試轉臺角度至初始位置α＝0°；
5、步驟s2：測量目標輻射源到測向天線子陣中心距離d和測向天線子陣相對測試轉臺中心的偏心半徑r；
6、步驟s3：在被測干涉儀測向系統測向覆蓋范圍內，轉動測向轉臺至某測試角度α，并記錄此時被測干涉儀測向系統輸出的目標輻射源測量角度θ‘；
7、步驟s4：根據測試轉臺測試角度α、目標輻射源到測向天線子陣中心距離d、測向天線子陣相對測試轉臺中心的偏心半徑r，計算修正角β；
8、步驟s5：基于修正角β，計算修正偏心測角誤差后的測向評價基準θ；
9、步驟s6：基于目標輻射源測量角度θ‘和修正偏心測角誤差后的測向評價基準θ，計算修正偏心測角誤差后的測向精度評價誤差6；
10、步驟s7：基于修正偏心測角誤差后的測向精度評價誤差6，對被測干涉儀測向系統的測向精度進行精確評價。
11、進一步地，所述步驟s1，包括：
12、被測干涉儀測向系統測向天線子陣安裝于測試轉臺后，調整測試轉臺角度，使測向天線子陣中心法向指向目標輻射源，并將此時測試轉臺角度α重置為0°。
13、進一步地，所述測向天線子陣相對測試轉臺中心的偏心半徑r為測向天線子陣中心與測試轉臺中心的距離r。
14、進一步地，所述步驟s3，包括：
15、定義測試轉臺順時針轉動為正角度，定義測向天線子陣中心法向左側入射角度為負角度，右側入射角度為正角度。
16、進一步地，所述步驟s4，包括：
17、
18、進一步地，所述步驟s5，包括：
19、θ＝-(α+β)
20、進一步地，所述步驟s6，包括：
21、δ＝|θ-θ’|
22、本專利技術還提出了一種計算裝置，包括：
23、至少一個處理器；以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被所述至少一個處理器執行，以使所述至少一個處理器能夠執行上述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法。
24、本專利技術還提出了一種計算機終端存儲介質，存儲有計算機終端可執行指令，所述計算機終端可執行指令用于執行上述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法。
25、本專利技術還提出了一種計算機程序產品，所述計算機程序被處理器執行時實現上述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法。
26、與現有的技術相比本專利技術的有益效果是：
27、傳統方法僅基于轉臺角度對被測系統測向精度進行評價所帶來的偏心測角評價誤差，而本專利技術提升了該情況下對被測系統測向精度評價的準確度，使對被測系統的測向性能的評價更接近其真實水平。
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1.一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟S1，包括：
3.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述測向天線子陣相對測試轉臺中心的偏心半徑r為測向天線子陣中心與測試轉臺中心的距離r。
4.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟S3，包括：
5.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟S4，包括：
6.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟S5，包括：
7.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟S6，包括：
8.一種計算裝置，其特征在于，包括：
9.一種計算機終端存儲介質，存儲有計算機終端可執行指令，其特征在于，所述計算機終端可執行指令用于執行如權利要求1-7任一項所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法。>
10.一種計算機程序產品，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-7任一項所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法。
...【技術特征摘要】
1.一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟s1，包括：
3.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述測向天線子陣相對測試轉臺中心的偏心半徑r為測向天線子陣中心與測試轉臺中心的距離r。
4.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟s3，包括：
5.根據權利要求1所述的一種干涉儀測向測角評價誤差修正方法，其特征在于，所述步驟s4，包括：
6.根...
【專利技術屬性】
技術研發人員：李東洋，李侃，李強斌，肖龍，謝偉，侯官茂，郭祥平，頡宏宇，向川云，李皓宇，呂小龍，龔軍濤，吳彬，
申請(專利權)人：中國電子科技集團公司第二十九研究所，
類型：發明
國別省市：
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