【技術實現步驟摘要】
本申請實施例涉及按鍵檢測，具體涉及一種觸控采樣方法、電子設備及計算機可讀存儲介質。
技術介紹
1、電容式觸控電路是根據有無按壓或者按壓介質的不同，導致電容的變化，通過內部計數器進行計數完成采樣時長（若干個充放電周期數）獲取計數值的觸控模塊。
2、在不同的開發應用場景中，電容式觸控的采樣時長往往會根據實際的觸控介質材料的再次進行調整適配，造成了額外的成本。采樣時長是決定觸控按鍵觸發的靈敏度和準確度的關鍵參數。采樣時長選擇的太長會導致觸控按鍵反應不靈敏，采樣時長選擇的太短會導致觸控按鍵的誤觸可能性增高，且按壓判斷裕量過小。
技術實現思路
1、本申請實施例的一個目的旨在提供一種觸控采樣方法、電子設備及計算機可讀存儲介質，以解決現有的采樣時長調試問題。
2、在第一方面，本申請實施例提供一種觸控采樣方法，包括：
3、獲取按鍵掃描時長，調整采樣時長，根據所調整的采樣時長和所述按鍵掃描時長，確定采樣時長的第一臨界值；
4、獲取觸控誤觸率，調整采樣時長，獲取不同采樣時長的采樣計數值，通過所述采樣計數值計算誤差，根據所述觸控誤觸率和所述誤差，確定采樣時長的第二臨界值；
5、根據所述第一臨界值和所述第二臨界值，確定采樣時長終值。
6、在第二方面，本申請實施例提供一種電子設備，包括存儲器及處理器，所述存儲器連接至所述處理器，所述處理器用于執行存儲在所述存儲器中的一個或多個計算機程序，所述處理器在執行所述一個或多個計算機程序時，使得所
7、在第三方面，本申請實施例提供一種計算機可讀存儲介質，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令當被處理器執行時使所述處理器執行如上所述的觸控采樣方法。
8、在本申請實施例提供的觸控采樣方法中，通過獲取采樣計數值和按鍵掃描時長，調整采樣時長以獲取第一臨界值，以及獲取觸控誤觸率，調整采樣時長以獲取第二臨界值，通過第一臨界值和第二臨界值確定采樣時長終值。其中，第一臨界值可以作為按鍵靈敏度的評判依據，第二臨界值可以作為按鍵準確度的評判依據，兩者的綜合考慮可以在有效保證按鍵性能的前提下，縮短采樣時長確認，減少調試時間成本和開發成本。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種觸控采樣方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述調整采樣時長，根據所調整的采樣時長和所述按鍵掃描時長，確定采樣時長的第一臨界值，具體為，包括以下步驟：
3.根據權利要求2所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述步驟S104具體為，
4.根據權利要求1所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述調整采樣時長，獲取不同采樣時長的采樣計數值，通過所述采樣計數值計算誤差，根據所述觸控誤觸率和所述誤差，確定采樣時長的第二臨界值，具體為，包括以下步驟：
5.根據權利要求4所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述步驟S203具體為，
6.根據權利要求1至5任一項所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述根據所述第一臨界值和所述第二臨界值，確定采樣時長終值，具體為，
7.根據權利要求6所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述調整采樣時長具體為，逐步增加采樣時長的值。
8.根據權利要求7所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述第一臨界值為在按壓狀態下完成，所述第二臨界值為在未按壓狀態下完成。>
9.一種電子設備，其特征在于，包括存儲器及處理器，所述存儲器連接至所述處理器，所述處理器用于執行存儲在所述存儲器中的一個或多個計算機程序，所述處理器在執行所述一個或多個計算機程序時，使得所述電子設備實現如權利要求1至8任一項所述的觸控采樣方法。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令當被處理器執行時使所述處理器執行如權利要求1至8任一項所述的觸控采樣方法。
...【技術特征摘要】
1.一種觸控采樣方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述調整采樣時長，根據所調整的采樣時長和所述按鍵掃描時長，確定采樣時長的第一臨界值，具體為，包括以下步驟：
3.根據權利要求2所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述步驟s104具體為，
4.根據權利要求1所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述調整采樣時長，獲取不同采樣時長的采樣計數值，通過所述采樣計數值計算誤差，根據所述觸控誤觸率和所述誤差，確定采樣時長的第二臨界值，具體為，包括以下步驟：
5.根據權利要求4所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述步驟s203具體為，
6.根據權利要求1至5任一項所述的觸控采樣方法，其特征在于，所述根據所述第一臨界值和所述第二臨界值，確定采樣時...
【專利技術屬性】
技術研發人員：甘卓萌，
申請(專利權)人：深圳市中科藍訊科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。