【技術實現步驟摘要】
本申請涉及半導體測試技術的領域，尤其是涉及半導體測試方法、系統、終端及介質。
技術介紹
1、半導體作為一種在絕緣體與導體之間的材料，已經成為現代電子技術的重要組成部分。其具有體積小、功耗低、穩定性高和可靠性好等特點，在信息通信、計算機、汽車工業等多個領域得到了廣泛應用。為了確保半導體元件的質量符合設計需求，半導體測試技術的發展也變得尤為重要。傳統的半導體測試技術對于保障器件質量起到了關鍵作用，并且隨著科技的進步，這一領域也在不斷進步和完善。
2、在半導體測試領域，常規的測試方法主要依賴于手動操作的測量儀器，以測量半導體的各個性能參數。例如，技術人員會使用萬用表或示波器等設備逐一對半導體器件的電壓、電流等性能指標進行檢測。
3、現有的測試方法半導體測試過程中仍然存在需要人工干預的情況，這種人工判斷的結果存在著較大的主觀性及不穩定性，進而使得整體測試過程的效率受到限制。
技術實現思路
1、第一方面，為了提高半導體的測試效率，本申請提供半導體測試方法、系統、終端及介質。
2、本申請提供的半導體測試方法、系統、終端及介質，采用如下的技術方案：
3、半導體測試方法、系統、終端及介質，包括：
4、獲取開始指令；
5、基于開始指令獲取目標器件的基本參數；
6、基于基本參數獲取測試環境以及測試信號；
7、基于測試環境以及測試信號獲取測試結果；
8、基于測試結果獲取測試評分；
9、
10、若不符合，輸出警告信號。
11、通過采用上述技術方案，通過明確的步驟和流程，確保測試的規范性和一致性，有助于提高測試的可重復性，基于開始指令和目標器件的基本參數進行測試，有助于獲得更精準的測試環境和信號，從而提高測試結果的準確性，通過實時判定測試評分并及時輸出警告信號，能夠迅速響應潛在問題，減少錯誤決策的風險，這樣的測試方法和系統設計可以提升半導體器件測試的效率、準確性和可靠性。
12、優選的，所述基于測試結果獲取測試評分的步驟中包括：
13、基于測試結果獲取電氣信息；
14、對電氣信息進行預處理并獲取特征信息以及評分模型；
15、將特征信息輸入評分模型中進行評分并生成測試評分。
16、通過采用上述技術方案，通過獲取電氣信息，可以全面了解目標器件的性能特性，對電氣信息進行預處理可以去除噪聲和異常值，提高數據質量，從而增強評分的可靠性，提取關鍵特征信息能夠聚焦于影響器件性能的主要指標，使得評分模型更加精準，避免冗余數據的干擾，從而提升測試的系統性、準確性和效率。
17、優選的，所述方法還包括：
18、獲取復測指令；
19、基于復測指令檢查器件狀態并生成器件信息；
20、若器件信息符合復測標準，基于復檢產品信息設置復測參數；
21、基于復測參數對該器件重新進行測試并輸出復檢結果；
22、若復檢結果不符合復測條件，輸出不合格信息。
23、通過采用上述技術方案，通過獲取復測指令和檢查器件狀態，能夠確保在潛在問題的情況下對器件進行再次驗證，從而提高器件的可靠性，若復檢結果不符合復測條件，系統能夠迅速輸出不合格信息，幫助工程師快速采取措施，降低不合格品流入后續環節的風險，復測過程中的數據記錄和分析可以為后續的質量改進提供依據，有助于持續提升產品質量。
24、優選的，所述方法還包括：
25、獲取老化測試指令；
26、基于老化測試指令獲取目標器件的基本參數；
27、基于目標器件的基本參數獲取測試策略；
28、基于測試策略對半導體器件進行測試并獲得工作信息；
29、判定工作信息是否符合標準；
30、若符合，輸出測試報告；
31、若不符合，則輸出報警信號。
32、通過采用上述技術方案，基于目標器件的基本參數獲取測試策略，可以確保測試更具針對性，提高測試的相關性和有效性，通過老化測試，可以評估器件在長期使用中的性能穩定性，從而提高產品的可靠性，在測試過程中獲取工作信息，有助于實時監控器件性能，及時發現潛在問題。
33、優選的，所述工作信息包括工作電量參數、工作溫度以及視頻圖像。
34、通過采用上述技術方案，結合工作電量參數和工作溫度，可以全面評估器件在不同環境條件下的性能，確保其在實際應用中的可靠性，工作電量和溫度的實時監測可以及時發現器件的異常狀態，幫助工程師迅速采取糾正措施，防止故障發生，視頻圖像能夠提供直觀的視覺反饋，幫助分析器件在測試過程中的動態表現，識別潛在的物理問題或缺陷，將電量參數、溫度與視頻圖像結合，可以通過數據關聯性分析，深入理解不同條件下對器件性能的影響。
35、優選的，所述判定工作信息是否符合標準；若不符合，則輸出報警信號的步驟中，包括：
36、獲取工作電量參數并判定工作電量參數是否符合第一預設區間；
37、若不符合，輸出第一報警信息；
38、獲取工作溫度并判定工作溫度是否符合第二預設區間；
39、若不符合，輸出第二報警信息；
40、獲取視頻圖像并判定視頻圖像變化是否符合預設變化；
41、若不符合，輸出第三報警信息。
42、通過采用上述技術方案，逐步判定每個參數可以快速識別出問題來源，便于定位故障是由哪個因素引起的，根據不同的參數設置不同的報警信息，可以幫助技術人員迅速判斷問題的嚴重性，優先處理最關鍵的故障，同時監控電量、溫度和視頻圖像，能夠全面反映設備狀態，提高對異常情況的敏感度，在發現不符合標準的情況下及時輸出報警信號，可以迅速啟動應急處理流程，降低設備損壞風險。
43、優選的，所述方法還包括：
44、基于目標器件的基本參數以及測試報告建立測試數據庫；
45、基于測試數據庫計算當前目標器件的合格率；
46、將該合格率與設定標準進行比較；
47、若該合格率不符合設定標準，則判定該測試器件不合格并輸出質量報告。
48、通過采用上述技術方案，建立測試數據庫可集中管理目標器件的基本參數和測試報告，便于后續的數據查詢和分析，提高數據管理效率，實時計算合格率可以快速反饋當前產品質量狀況，使管理層能夠及時調整生產和測試策略，質量報告可以幫助團隊識別系統性問題，從而進行有針對性的改進，推動持續優化生產流程和產品質量。
49、第二方面，為了提高測試效率，本申請提供一種半導體測試系統，采用如下的技術方案：
50、半導體測試系統，包括，
51、獲取指令模塊，用于獲取開始指令；
52、獲取基本參數模塊，用于基于開始指令獲取目標器件的基本參數；
53、獲取測試參數模塊，用于基于基本參數獲取測試環境以本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.半導體測試方法，其特征在于：包括：
2.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述基于測試結果獲取測試評分的步驟中包括：
3.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述方法還包括：
4.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述方法還包括：
5.根據權利要求4所述的半導體測試方法，其特征在于：所述工作信息包括工作電量參數、工作溫度以及視頻圖像。
6.根據權利要求5所述的半導體測試方法，其特征在于：所述判定工作信息是否符合標準；若不符合，則輸出報警信號的步驟中，包括：
7.根據權利要求4所述的半導體測試方法，其特征在于：所述方法還包括：
8.半導體測試系統，其特征在于：包括，
9.一種智能終端，其特征在于：包括存儲器和處理器，所述存儲器上存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一項所述的半導體測試方法的計算機程序。
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有能夠被處理器加載并執行如權利要求1至7中任一項所述的半導體測試方法的計算
...【技術特征摘要】
1.半導體測試方法，其特征在于：包括：
2.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述基于測試結果獲取測試評分的步驟中包括：
3.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述方法還包括：
4.根據權利要求1所述的半導體測試方法，其特征在于：所述方法還包括：
5.根據權利要求4所述的半導體測試方法，其特征在于：所述工作信息包括工作電量參數、工作溫度以及視頻圖像。
6.根據權利要求5所述的半導體測試方法，其特征在于：所述判定...
【專利技術屬性】
技術研發人員：胡久恒，黃昭，王成業，
申請(專利權)人：杭州高坤電子科技有限公司，
類型：發明
國別省市：
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