【技術實現步驟摘要】
本申請涉及集成電路的設計和制造領域，特別是涉及基于測試結構設計的繞線方法、繞線裝置和可讀存儲介質。
技術介紹
1、測試結構（testkey）的設計與測試，可以在wat測試中進行完整性和可靠性測試，以確保芯片滿足規格要求和質量標準。這有助于提高產品的質量和可靠性，降低不良品率。testkey的設計關鍵，在于確定testkey的布局和分布，以確保在芯片上具有合適的位置和數量。這將涉及權衡芯片實際布線、面積的限制以及測試需求之間的平衡。例如陣列型testkey是指重復性和擴展性很高的一種testkey。
2、傳統的繞線設計，局限于兩個焊盤連接一個測試結構的形式，參見圖1，最多放置n-1個測試結構（其中n為焊盤數量）。若以位線/字線（bit?line/word?line）的形式去連接，參見圖9（為清晰展示，省略繞線路徑），即以一個位線bl信號（位線1/位線2/位線3/位線4/位線5/位線6）、一個字線wl信號（字線1/字線2/字線3/字線4/字線5）共同選中一個測試結構，則測試結構的數量最多可以提升到(n/2)^2。
3、但位線/字線連接方式尚未有統一的繞線規則，設計人員給出的繞線往往比較隨意，不僅路徑計算效率低，路徑的可靠性也較差，容易導致測試結構寄生效應的不均勻性，影響測試結構的測試結果準確性。
技術實現思路
1、在本實施例中提供了一種基于測試結構設計的繞線方法、繞線裝置和可讀存儲介質，以解決相關技術中繞線設計的效率低，可靠性差的問題。
2、第一方面
3、獲取版圖，確定目標區域，獲取所述目標區域中的多個繞線任務，所述繞線任務包括待進行繞線連接的測試結構的引腳和對應的焊盤；
4、在所述目標區域中，計算各個所述繞線任務的最短路徑；
5、基于預設的布線信息和所述最短路徑依次對各個所述繞線任務進行繞線路徑生成，直至完成所有繞線任務。
6、在其中的一些實施例中，所述目標區域內部被劃分為大小相同的網絡；所述目標區域內部定義有禁止區域、已占用區域和走線區域；
7、其中，所述禁止區域包括所述目標區域的邊緣網格、所述測試結構占用的網格以及所述焊盤占用的網格；
8、所述已占用區域包括已有繞線占用的網格；
9、在所述目標區域中排除掉所述禁止區域和已占用區域后的剩余區域為走線區域。
10、在其中的一些實施例中，所述在所述目標區域中，計算各個所述繞線任務的最短路徑，包括：
11、基于均勻網格繞線算法，在所述目標區域的所述走線區域中，分別計算各個繞線任務的最短路徑；
12、其中，所述最短路徑為占用網格數量最少的連接路徑，所述連接路徑為連接所述測試結構的引腳和對應的所述焊盤的路徑；所述最短路徑的路徑寬度為一個網格；
13、所述均勻網格繞線算法，包括：在所述走線區域內，從所述引腳中心位置所在的起始網格開始，通過對相鄰網格進行升序編號，最終搜索到所述焊盤中心位置所在的終止網格，將所述終止網格的編號最小的路徑作為最短路徑。
14、在其中的一些實施例中，所述均勻網格繞線算法，還包括：
15、定義所述起始網格和/或終止網格的出引腳方向，所述起始網格和/或所述終止網格的相鄰網格是指在所述出引腳方向內的相鄰網格。
16、在其中的一些實施例中，基于預設的布線信息和所述最短路徑依次對各個所述繞線任務進行繞線路徑生成，直至完成所有繞線任務，包括：
17、獲取未完成的所述繞線任務作為當前任務；
18、基于所述走線區域對當前任務的所述最短路徑進行確認和/或優化；
19、基于預設布線信息和所述走線區域，根據確認后的所述最短路徑生成繞線路徑；
20、基于所述繞線路徑進行網格填充，完成當前任務，并更新所述走線區域；
21、繼續獲取未完成的所述繞線任務作為當前任務進行處理，直至完成所有的所述繞線任務。
22、在其中的一些實施例中，所述獲取未完成的所述繞線任務作為當前任務，包括：獲取路徑長度最長的最短路徑所對應的未完成的繞線任務，作為當前任務。
23、在其中的一些實施例中，還包括獲取預設的布線信息，具體包括：
24、獲取繞線寬度信息，包括不同金屬層的最大繞線寬度和最小繞線寬度；
25、獲取布線的繞線間距；
26、獲取路徑電阻信息，包括不同金屬層的方塊電阻值，不同尺寸通孔的電阻值，以及繞線電阻基準值；
27、其中，一個所述方塊是指一個網格；
28、所述不同金屬層包括沿著橫向走線的第一金屬層和沿著縱向走線的第二金屬層，所述通孔用于連接第一金屬層和第二金屬層中的金屬走線。
29、在其中的一些實施例中，所述繞線電阻基準值的獲取，包括：
30、在全部的所述繞線任務中，將路徑長度最大的所述最短路徑作為基準路徑；
31、基于所述不同金屬層的最大繞線寬度，擴展所述基準路徑的布線寬度，得到對應的基準繞線路徑；
32、根據所述路徑電阻信息，計算所述基準繞線路徑中不同金屬層的繞線電阻值和通孔電阻值，得到所述基準繞線路徑的繞線總阻值，即作為所述繞線電阻基準值。
33、在其中的一些實施例中，在得到對應的基準繞線路徑之后，還包括：
34、基于所述基準繞線路徑進行網格填充，完成對應的所述繞線任務，并更新所述走線區域。
35、在其中的一些實施例中，所述基于所述走線區域對當前任務的所述最短路徑進行確認和/或優化，包括：
36、基于所述走線區域，對當前任務的所述最短路徑進行確認，或者，對當前任務的所述最短路徑進行優化后完成確認；具體包括：
37、步驟1）：判斷當前任務的所述最短路徑的網格是否都在所述走線區域內：
38、若是，則對所述最短路徑進行確認；
39、若否，則放棄所述最短路徑，并基于放棄的所述最短路徑更新所述走線區域；
40、步驟2）：重新計算當前任務的最短路徑，并重新至步驟1）處理。
41、在其中的一些實施例中，基于預設布線信息和所述走線區域，根據確認后的所述最短路徑生成繞線路徑，包括：
42、基于所述最短路徑和布線信息生成滿足預設規則的繞線路徑，并基于所述走線區域對所述繞線路徑進行確認；其中，所述預設規則包括基于繞線寬度信息設置的預設規則和基于繞線電阻基準值設置的預設規則；具體包括：
43、步驟3）：基于所述繞線寬度信息和所述路徑電阻信息，擴展所述最短路徑的布線寬度以生成繞線路徑；其中，所述繞線路徑的路徑電阻值與所述繞線電阻基準值的差異滿足預設條件；
44、步驟4）：判斷所述繞線路徑的網格是否都在所述走線區域內：
45、若是，則對當前任務的所述繞線路徑進行確認；
46、若否，則放棄所本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述目標區域內部被劃分為大小相同的網絡；
3.根據權利要求2所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述在所述目標區域中，計算各個所述繞線任務的最短路徑，包括：
4.根據權利要求3所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述均勻網格繞線算法，還包括：
5.根據權利要求2所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，基于預設的布線信息和所述最短路徑依次對各個所述繞線任務進行繞線路徑生成，直至完成所有繞線任務，包括：
6.根據權利要求5所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述獲取未完成的所述繞線任務作為當前任務，包括：
7.根據權利要求5所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，還包括獲取預設的布線信息，具體包括：
8.根據權利要求7所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述繞線電阻基準值的獲取，包括：
9.根據權利要求8所述的基
10.根據權利要求7所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述基于所述走線區域對當前任務的所述最短路徑進行確認和/或優化，包括：
11.根據權利要求10所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，基于預設布線信息和所述走線區域，根據確認后的所述最短路徑生成繞線路徑，包括：
12.根據權利要求11所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，擴展所述最短路徑的布線寬度以生成繞線路徑，包括：
13.根據權利要求11所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，在擴展所述最短路徑的布線寬度以生成繞線路徑之后，還包括：
14.一種基于測試結構設計的繞線裝置，其特征在于，所述裝置包括：
15.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至權利要求13中任一項所述的方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述目標區域內部被劃分為大小相同的網絡；
3.根據權利要求2所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述在所述目標區域中，計算各個所述繞線任務的最短路徑，包括：
4.根據權利要求3所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述均勻網格繞線算法，還包括：
5.根據權利要求2所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，基于預設的布線信息和所述最短路徑依次對各個所述繞線任務進行繞線路徑生成，直至完成所有繞線任務，包括：
6.根據權利要求5所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述獲取未完成的所述繞線任務作為當前任務，包括：
7.根據權利要求5所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，還包括獲取預設的布線信息，具體包括：
8.根據權利要求7所述的基于測試結構設計的繞線方法，其特征在于，所述繞線電阻基準值的...
【專利技術屬性】
技術研發人員：俞姚杰，楊璐丹，潘偉偉，
申請(專利權)人：杭州廣立微電子股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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