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    旋鈕結構、旋鈕組件及測量裝置制造方法及圖紙

    技術編號:43887129 閱讀:2 留言:0更新日期:2025-01-03 13:03
    本技術提出一種旋鈕結構、旋鈕組件及測量裝置,該旋鈕結構包括旋鈕殼和導光件。旋鈕殼設有用于指示旋轉方位的開孔。導光件,包括入光部以及出光部,入光部用于獲取光線并將光線導向出光部;出光部連接于旋鈕殼且至少部分露于開孔,以將光線由開孔導出;沿平行于旋鈕殼的轉動軸線的第一方向,入光部與開孔至少部分不重合。其中,出光部背離開孔的一側設有與開孔相對的第一反射壁,沿由入光部指向出光部的第二方向,第一反射壁與開孔的距離逐漸減小。本技術旋鈕結構、旋鈕組件、及測量裝置通過光線在第一反射壁的反射解決了旋鈕蓋上起指示作用的透光面亮度不均勻的問題。

    【技術實現步驟摘要】

    本技術涉及儀器測量領域,特別涉及一種旋鈕結構、旋鈕組件及測量裝置


    技術介紹

    1、為了便于操作測量儀器在不同的擋位之間切換,設置旋鈕蓋用于擰動測量儀器的控制模塊至不同的擋位。為了便于在光線較暗的情況下準確轉動旋鈕蓋至目標位置,在旋鈕蓋邊緣設置發光元件和透光面,發光元件的光傳遞至透光面,使透光面發光,發光的透光面具有指示作用。考慮到透光面用于指示旋鈕蓋的方位,故透光面設于旋鈕蓋的邊緣處效果最佳。然而,由于旋鈕蓋的體積、小厚度薄以及結構復雜,發光元件不一定能夠設在旋鈕蓋透光面正下方的位置,發光元件需要與透光面錯位設置以配合旋鈕蓋的結構。當發光元件與透光面錯位設置時,通過導光件將發光元件的光傳遞至透光面,使透光面發光。

    2、相關技術中,導光件向透光面導光的過程中,光線會發生一定的衰減,導致透光面靠近發光元件的一側較亮,透光面遠離發光元件的一側較暗,使透光面發光不均勻。透光面發光不均勻會影響用戶的體驗,并且可能導致用戶誤操作或讀數不準確。


    技術實現思路

    1、本技術的主要目的是提出一種旋鈕結構、旋鈕組件及測量裝置,旨在解決旋鈕蓋透光面亮度不均勻的技術問題。

    2、為實現上述目的,本技術提出一種旋鈕結構,該旋鈕結構包括旋鈕殼和導光件。旋鈕殼設有用于指示旋轉方位的開孔。導光件,包括入光部以及出光部,入光部用于獲取光線并將光線導向出光部;出光部連接于旋鈕殼且至少部分露于開孔,以將光線由開孔導出;沿平行于旋鈕殼的轉動軸線的第一方向,入光部與開孔至少部分不重合。其中,出光部背離開孔的一側設有與開孔相對的第一反射壁,沿由入光部指向出光部的第二方向,第一反射壁與開孔的距離逐漸減小。

    3、在一些實施例中,入光部包括背離旋鈕殼的第一端部以及靠近旋鈕殼的第二端部,第一端部用于獲取光線,第二端部沿第二方向的一側連接出光部或與出光部間隔,第二端部背離出光部的一側設有第二反射壁;沿由第一端部指向第二端部的方向,第二反射壁與出光部的距離逐漸減小。

    4、在一些實施例中,第一反射壁設有第一反射鍍層,第一反射鍍層用于反射光線;或者,第一反射壁配置成通過全反射而反射光線;或者,第二反射壁設有第二反射鍍層,第二反射鍍層用于反射光線;或者,第二反射壁配置成通過全反射而反射光線。

    5、在一些實施例中,入光部與出光部分體設置且彼此抵接或間隔;或者,入光部與出光部一體設置。

    6、在一些實施例中,出光部包括與第一反射壁相對布置的凸起,凸起位于開孔內或伸出開孔。

    7、在一些實施例中,旋鈕結構還包括遮光部,遮光部位于出光部背離旋鈕殼的一側;遮光部設有沿第一方向延伸的通光孔,入光部背離旋鈕殼的端部固定于通光孔內,通光孔背離入光部的一側設有適于固定發光元件的固定結構。

    8、在一些實施例中,遮光部固定于旋鈕殼,且通光孔的孔軸線與旋鈕殼的轉動軸線重合,遮光部配置承受旋鈕殼的驅動并繞旋鈕殼的轉動軸線轉動;旋鈕結構用于控制待控制元件,遮光部包括控制結構,控制結構適于與待控制元件耦合,且控制結構通過繞轉動軸線轉動從而控制待控制元件。

    9、在一些實施例中,沿第一方向觀察,第一反射壁覆蓋開孔;或者,第一反射壁為平面壁;或者,入光部包括背離旋鈕殼的第一端部以及靠近旋鈕殼的第二端部,第一端部用于獲取光線,第二端部沿第二方向的一側連接出光部或與出光部間隔,第二端部背離出光部的一側設有第二反射壁;第二反射壁為平面壁;或者,入光部包括用于獲取光線的入射壁,旋鈕殼的轉動軸線垂直穿過入射壁。

    10、本技術第二方面的實施例公開了一種旋鈕組件,該旋鈕組件包括上述任一實施例的旋鈕結構以及發光元件。發光元件用于產生光線并將光線導入光部。

    11、本技術第三方面的實施例公開了一種測量裝置,該測量裝置包括上述實施例的旋鈕組件以及待控制元件,待控制元件與旋鈕組件連接。

    12、與現有技術相比,本技術的有益效果是:

    13、本技術的旋鈕結構包括具有第一反射壁的出光部,光線由入光部進入出光部,再經過第一反射壁射向開孔。記光線沿第二方進入出光部后到達第一反射壁經過的行程為l1,光線由第一反射壁射至開孔經過的行程為l2。沿第二方向,本技術技術方案的第一反射壁與開孔的距離逐漸減小。故先射至第一反射壁的光線需經過較長的行程才能射至開孔,后射至第一反射壁的光線經過較短的行程即可射至開孔,即入光部的光線到達開孔時,經過較短l1的光線需經過較長l2,經過較長l1的光線需經過較短l2。故各光線從入光部到達開孔的總路程(l1+l2)相近,故從入光部到達開孔的各光線衰減程度相當,即從開孔射出的光束強度得到平衡,從而旋鈕結構的開孔處發光均勻,故本技術的旋鈕結構能夠減少用戶在暗光環境下的誤讀和誤操作。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種旋鈕結構,其特征在于,包括:

    2.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    3.如權利要求2所述的旋鈕結構,其特征在于,

    4.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    5.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    6.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    7.如權利要求6所述的旋鈕結構,其特征在于,

    8.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    9.旋鈕組件,其特征在于,包括:

    10.測量裝置,其特征在于,包括:

    【技術特征摘要】

    1.一種旋鈕結構,其特征在于,包括:

    2.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    3.如權利要求2所述的旋鈕結構,其特征在于,

    4.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,

    5.如權利要求1所述的旋鈕結構,其特征在于,...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:鐘孝條
    申請(專利權)人:深圳市華盛昌科技實業股份有限公司
    類型:新型
    國別省市:

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