【技術實現步驟摘要】
本技術涉及產品測試，特別是涉及沖擊試驗裝置。
技術介紹
1、單體擺錘沖擊試驗是一種常用的材料力學試驗方法，用于評估材料的抗沖擊性能。該試驗通常使用一個重量較大的擺錘，通過釋放其潛在能量，使擺錘以一定速度沖擊待測試材料。
2、目前的單體沖擊試驗裝置不能直接測試不同溫度下的試樣的沖擊韌性，需要經過預處理才能針對不同溫度進行測試。
3、但是，預處理之后到測試過程中不能進行很好的保溫處理，導致測試時溫度與預估溫度有一定的偏差，導致試驗數據不準確。
技術實現思路
1、基于此，有必要針對擺錘沖擊實驗中無法對特定溫度的試樣進行沖擊測試問題，提供一種沖擊試驗裝置。
2、本申請提供一種沖擊試驗裝置，所述沖擊試驗裝置包括：支承件；沖擊件，設置于所述支承件一側，與所述支承件轉動連接；基座，用于支承待測試樣，所述基座設置于與所述沖擊件相同的一側且位于所述沖擊件下方，以使所述待測試樣位于所述沖擊件的轉動路徑；以及溫度控制模塊，包括半導體制冷片，用于通過所述半導體制冷片調節所述基座的溫度。
3、在其中一個實施例中，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元，所述半導體制冷片與所述基座鄰接，所述溫度控制單元與所述半導體制冷片電連接，用于控制輸入至所述半導體制冷片的電流方向。半導體制冷片具有制冷和加熱兩種功能，其工作原理是基于熱電效應。當直流電流通過這兩片半導體材料時，電流由n型元件流向p型元件的接頭吸收熱量，成為冷端；由p型元件流向n型元件的接頭釋放熱量，成為熱端，通過改變
4、在其中一個實施例中，所述半導體制冷片和所述基座之間填充有導熱材料。以導熱材料作為填充物能夠提高溫度傳輸利用率，使得半導體制冷片能夠實時控制基座的溫度。
5、在其中一個實施例中，所述沖擊件包括擺臂和擺錘，所述擺臂的第一端與所述支承件轉動連接，所述擺錘與所述擺臂的第二端連接，所述擺臂轉動到預設位置時，所述擺錘沖擊所述待測試樣。增設控制系統，通過擺臂和擺錘形成擺錘沖擊試驗機，并根據試驗要求設置好試驗參數，如擺錘質量、下落高度、沖擊速度等。然后，通過控制系統釋放擺錘，使其自由下落并撞擊待測試樣。撞擊后，可以觀察并記錄材料的變形情況，如裂紋、破裂等。
6、在其中一個實施例中，所述沖擊試驗裝置還包括指示器，所述指示器用于顯示所述待測試樣的沖擊試驗信息。通過指示器可以使沖擊試驗信息可視化，通過配備相應的測量、控制和數據處理系統，可以測量撞擊力、殘余變形、斷裂模式等參數，并對試驗數據進行分析和處理。根據實際需求，擺錘沖擊試驗機可能具有不同的工作原理和設計，以適應不同材料和試驗要求。
7、在其中一個實施例中，所述沖擊試驗裝置還包括溫度檢測模塊和顯示模塊，所述溫度檢測模塊用于檢測所述待測試樣的溫度，所述顯示模塊用于顯示所述溫度檢測模塊檢測得到的溫度。通過這樣的方式，能夠在半導體制冷片調節待測試樣的溫度后，使待測試樣的溫度可視化，便于使用者觀察試樣的溫度，以使試驗結果準確。
8、在其中一個實施例中，所述溫度檢測模塊包括紅外測溫探頭，所述紅外測溫探頭朝向所述待測試樣，用于檢測所述待測試樣的溫度。紅外測溫探頭是一種用于非接觸式測量物體表面溫度的設備，利用紅外輻射的原理，通過探頭接收待測試樣發出的紅外輻射，并將其轉換為溫度值。通過紅外測溫探頭實現不接觸測溫，避免影響試樣溫度。
9、在其中一個實施例中，所述沖擊試驗裝置還包括保溫罩，所述保溫罩與所述基座可拆卸連接，能夠將所述待測試樣容納在罩體內。保溫罩能夠減少待測試樣和環境的熱交換，使其快速達到指定溫度。
10、在其中一個實施例中，所述沖擊試驗裝置還包括冷卻機構，所述冷卻機構用于冷卻所述半導體制冷片遠離所述待測試樣的一端。當半導體制冷片用于冷卻待測試樣時，控制電流方向使半導體制冷片靠近待測試樣的一端為制冷，則遠離待測試樣的一端為制熱。通過冷卻機構對制熱端進行冷卻，帶走半導體制冷片向下一面的熱量，提高降溫效率和極限。
11、在其中一個實施例中，所述冷卻機構包括風冷散熱器或液冷散熱器。能夠通過風冷散熱器對半導體制冷片吹冷風降溫，或通過液冷散熱器通過冷卻液介質降溫。
12、上述沖擊試驗裝置中，先將待測試樣放置于基座上，由溫度控制模塊對基座進行溫度控制，從而調節待測試樣的溫度。在待測試樣的溫度達到溫度要求時，通過釋放沖擊件使其擺動，由于待測試樣位于沖擊件的轉動路徑上，沖擊件會撞擊待測試樣對其產生沖擊力，進而得到待測試樣在指定溫度下的沖擊試驗數據。通過上述沖擊試驗裝置，減少了對待測試樣的預處理步驟，省去了多個設備（如烘箱等），同時還減少了冷卻劑的使用，既能節能環保，又降低了成本。同時，本技術提供的沖擊試驗裝置易上手，試樣在基座上進行溫度控制，避免了轉移試樣導致的溫度變化，使獲得的沖擊韌性值更準確。
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1.一種沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置包括：
2.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元，所述半導體制冷片與所述基座鄰接，所述溫度控制單元與所述半導體制冷片電連接，用于控制輸入至所述半導體制冷片的電流方向。
3.根據權利要求2所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述半導體制冷片和所述基座之間填充有導熱材料。
4.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊件包括擺臂和擺錘，所述擺臂的第一端與所述支承件轉動連接，所述擺錘與所述擺臂的第二端連接，所述擺臂轉動到預設位置時，所述擺錘沖擊所述待測試樣。
5.根據權利要求1或4所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置還包括指示器，所述指示器用于顯示所述待測試樣的沖擊試驗信息。
6.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置還包括溫度檢測模塊和顯示模塊，所述溫度檢測模塊用于檢測所述待測試樣的溫度，所述顯示模塊用于顯示所述溫度檢測模塊檢測得到的溫度。
7.根據權利要求6所述的沖擊試驗裝置，
8.根據權利要求1或7所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置還包括保溫罩，所述保溫罩與所述基座可拆卸連接，能夠將所述待測試樣容納在罩體內。
9.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置還包括冷卻機構，所述冷卻機構用于冷卻所述半導體制冷片遠離所述待測試樣的一端。
10.根據權利要求9所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述冷卻機構包括風冷散熱器或液冷散熱器。
...【技術特征摘要】
1.一種沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置包括：
2.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述溫度控制模塊包括溫度控制單元，所述半導體制冷片與所述基座鄰接，所述溫度控制單元與所述半導體制冷片電連接，用于控制輸入至所述半導體制冷片的電流方向。
3.根據權利要求2所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述半導體制冷片和所述基座之間填充有導熱材料。
4.根據權利要求1所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊件包括擺臂和擺錘，所述擺臂的第一端與所述支承件轉動連接，所述擺錘與所述擺臂的第二端連接，所述擺臂轉動到預設位置時，所述擺錘沖擊所述待測試樣。
5.根據權利要求1或4所述的沖擊試驗裝置，其特征在于，所述沖擊試驗裝置還包括指示器，所述指示器用于顯示所述待測試樣的沖擊試驗信息。
6.根據權利要...
【專利技術屬性】
技術研發人員：馮瀚，呂穎，尚書賢，夏廣明，王鵬，鄧飛，
申請(專利權)人：中國第一汽車股份有限公司，
類型：新型
國別省市：
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