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    VCSEL晶圓及其制造方法技術

    技術編號:43895925 閱讀:7 留言:0更新日期:2025-01-03 13:09
    公開了一種VCSEL晶圓及其制造方法。所述VCSEL晶圓包括至少一VCSEL發光點和至少一光電二極管,所述VCSEL發光點和所述光電二極管共基板延伸。

    【技術實現步驟摘要】

    本申請涉及半導體激光器領域,更為具體地涉及vcsel晶圓及其制造方法。


    技術介紹

    1、隨著當今生產技術發展,同傳統硅基芯片一樣,因成本、尺寸因素要求,在保證可靠性基礎上的高集成度光芯片也愈發受到市場青睞。例如,vcsel芯片也向集成化的方向發展。

    2、在傳統的vsel芯片應用中,vcsel芯片常作為基礎的元件(例如,作為光源)與其他器件被組裝為模組被應用。當vcsel芯片被應用于tof攝像模組時,vcsel芯片與線路板、支架、光學衍射元件、金屬防護罩等器件組裝在一起,以形成tof攝像模組的激光投射模組。當vcsel芯片被應用于結構光系統時,vcsel芯片與線路板、支架、光學衍射元件、金屬防護罩等器件組裝在一起,以形成結構光系統的激光投射模組。

    3、值得一提的是,在實際產業中,需要對vcsel裸片進行封裝后再將其與其他器件進行組裝。vcsel裸片指未經封裝的vcsel芯片,通常由芯片制造廠提供vcsel裸片,由封裝廠來完成vcsel的封裝工作和封裝產品的組裝工作。也就是,從vcsel裸片到vcsel封裝產品經過產業鏈的兩個節點。并且,在實際產業中,封裝廠可能采購由不同廠商提供的vcsel裸片,同時,在組裝過程中還有可能發生組裝精度不一等問題,導致最終成型的vcsel封裝產品的一致性難以確保。

    4、故低成本vcsel芯片,以及高均一性vcsel模塊方案是推動vcsel全面導入市場急需解決的難題。


    技術實現思路

    1、本申請的一個優勢在于提供了一種vcsel晶圓及其制造方法,其中,所述vcsel晶圓在晶圓級別上集成了vcsel發光點和光電二極管,相比于傳統的vcsel晶圓,提高了vcsel晶圓的集成度。

    2、本申請的另一個優勢在于提供了一種vcsel晶圓及其制造方法,其中,所述vcsel晶圓中不僅形成有vcsel發光點還形成有光電二極管,每一個vcsel發光點或多個vcsel發光點可形成vcsel芯片,每一個光電二極管或多個光電二極管可形成光電二極管芯片,這樣,vcsel芯片和光電二極管芯片都可以在vcsel芯片制造廠完成。

    3、本申請的又一個優勢在于提供了一種vcsel晶圓及其制造方法,其中,所述vcsel晶圓可在晶圓級別上實現vcsel芯片和光電二極管的連接,無需對vcsel芯片和/或光電二極管進行封裝后通過其他連接結構連接可以提高vcsel芯片和光電二極管的連接穩定性,還可以在一定程度上減小最終的組裝產品的體積。

    4、為了實現上述至少一優勢或其他優勢和目的,根據本申請的一個方面,提供了一種vcsel晶圓,其包括:

    5、至少一vcsel發光點和至少一光電二極管,所述vcsel發光點和所述光電二極管共基板延伸。

    6、在根據本申請的vcsel晶圓中,每一vcsel發光點包括一vcsel主體、電連接于所述vcsel主體的一vcsel正電極和一vcsel負電極,每一所述vcsel主體包括一vcsel基板、一n-dbr層、一有源區、具有一限制孔的一限制層和一p-dbr層,每一所述光電二極管包括一二極管主體、電連接于所述二極管主體的一二極管正電極和一二極管負電極,每一所述二極管主體包括二極管基板、一n型半導體層、一內夾層、一p型半導體層和一保護層,所述vcsel基板和所述二極管基板為共用基板。

    7、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel基板、所述n-dbr層、所述有源區和所述p-dbr層自下而上依次排布,所述限制層位于所述有源區的上側和/或有源區的下側,所述二極管基板、所述n型半導體層、所述內夾層、所述p型半導體層和所述保護層自下而上依次排布。

    8、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel負電極和所述二極管負電極一體地連接,形成共用負電極。

    9、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述共用負電極位于所述共用基板的下表面。

    10、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel基板、所述p-dbr層、所述有源區和所述n-dbr層自下而上依次排布,所述限制層位于所述有源區的上側和/或有源區的下側,所述二極管基板、所述p型半導體層、所述內夾層、所述n型半導體層和所述保護層自下而上依次排布。

    11、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel正電極和所述二極管正電極一體地連接,形成共用正電極。

    12、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述共用正電級位于所述共用基板的下表面。

    13、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel晶圓包括至少一vcsel芯片,其中,所述vcsel芯片僅包括所述vcsel發光點,不包括所述光電二極管。

    14、在根據本申請的vcsel晶圓中,所述vcsel晶圓包括至少一vcsel芯片,每一所述vcsel芯片包括至少一vcsel發光點和至少一光電二極管。

    15、根據本申請的另一個方面,提供了一種vcsel晶圓的制造方法,其包括:

    16、通過外延生長工藝形成至少一vcsel主體,其中,所述vcsel主體包括:共用基板、n-dbr層、有源區、具有限制孔的限制層和p-dbr層;

    17、在所述共用基板上生長n型半導體層、內夾層、p型半導體層和保護層,以形成二極管主體;

    18、在所述vcsel主體上形成vcsel正電極,并在所述二極管主體上形成二極管正電極;以及

    19、在所述基板的下表面形成vcsel負電極和二極管負電極。

    20、在根據本申請所述的vcsel晶圓的制造方法中,所述vcsel負電極和所述二極管負電極一體成型,形成共用負電極。

    21、通過對隨后的描述和附圖的理解,本申請進一步的目的和優勢將得以充分體現。

    22、本申請的這些和其它目的、特點和優勢,通過下述的詳細說明,附圖和權利要求得以充分體現。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種VCSEL晶圓,其特征在于,包括:至少一VCSEL發光點和至少一光電二極管,所述VCSEL發光點和所述光電二極管共基板延伸。

    2.根據權利要求1所述的VCSEL晶圓,其中,每一VCSEL發光點包括一VCSEL主體、電連接于所述VCSEL主體的一VCSEL正電極和一VCSEL負電極,每一所述VCSEL主體包括一VCSEL基板、一N-DBR層、一有源區、具有一限制孔的一限制層和一P-DBR層,每一所述光電二極管包括一二極管主體、電連接于所述二極管主體的一二極管正電極和一二極管負電極,每一所述二極管主體包括二極管基板、一N型半導體層、一內夾層、一P型半導體層和一保護層,所述VCSEL基板和所述二極管基板為共用基板。

    3.根據權利要求2所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL基板、所述N-DBR層、所述有源區和所述P-DBR層自下而上依次排布,所述限制層位于所述有源區的上側和/或有源區的下側,所述二極管基板、所述N型半導體層、所述內夾層、所述P型半導體層和所述保護層自下而上依次排布。

    4.根據權利要求3所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL負電極和所述二極管負電極一體地連接,形成共用負電極。

    5.根據權利要求3所述的VCSEL晶圓,其中,所述共用負電極位于所述共用基板的下表面。

    6.根據權利要求2所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL基板、所述P-DBR層、所述有源區和所述N-DBR層自下而上依次排布,所述限制層位于所述有源區的上側和/或有源區的下側,所述二極管基板、所述P型半導體層、所述內夾層、所述N型半導體層和所述保護層自下而上依次排布。

    7.根據權利要求6所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL正電極和所述二極管正電極一體地連接,形成共用正電極。

    8.根據權利要求7所述的VCSEL晶圓,其中,所述共用正電級位于所述共用基板的下表面。

    9.根據權利要求1所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL晶圓包括至少一VCSEL芯片,其中,所述VCSEL芯片僅包括所述VCSEL發光點,不包括所述光電二極管。

    10.根據權利要求1所述的VCSEL晶圓,其中,所述VCSEL晶圓包括至少一VCSEL芯片,每一所述VCSEL芯片包括至少一VCSEL發光點和至少一光電二極管。

    11.一種VCSEL晶圓的制造方法,其特征在于,包括:

    12.根據權利要求11所述的VCELS晶圓的制造方法,其中,所述VCSEL負電極和所述二極管負電極一體成型,形成共用負電極。

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    【技術特征摘要】

    1.一種vcsel晶圓,其特征在于,包括:至少一vcsel發光點和至少一光電二極管,所述vcsel發光點和所述光電二極管共基板延伸。

    2.根據權利要求1所述的vcsel晶圓,其中,每一vcsel發光點包括一vcsel主體、電連接于所述vcsel主體的一vcsel正電極和一vcsel負電極,每一所述vcsel主體包括一vcsel基板、一n-dbr層、一有源區、具有一限制孔的一限制層和一p-dbr層,每一所述光電二極管包括一二極管主體、電連接于所述二極管主體的一二極管正電極和一二極管負電極,每一所述二極管主體包括二極管基板、一n型半導體層、一內夾層、一p型半導體層和一保護層,所述vcsel基板和所述二極管基板為共用基板。

    3.根據權利要求2所述的vcsel晶圓,其中,所述vcsel基板、所述n-dbr層、所述有源區和所述p-dbr層自下而上依次排布,所述限制層位于所述有源區的上側和/或有源區的下側,所述二極管基板、所述n型半導體層、所述內夾層、所述p型半導體層和所述保護層自下而上依次排布。

    4.根據權利要求3所述的vcsel晶圓,其中,所述vcsel負電極和所述二極管負電極一體地連接,形成共用負電極。

    5.根據權利要求3所述的vcsel晶圓,其中,所...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:林珊珊劉赤宇李念宜陳睿
    申請(專利權)人:浙江睿熙科技有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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