【技術實現步驟摘要】
本技術涉及半導體檢測，具體是一種可對次品收集的半導體測試設備。
技術介紹
1、導體是一種電導率在絕緣體至導體之間的物質，其電導率容易受控制，可作為信息處理的元件材料，半導體在集成電路、消費電子、通信系統、光伏發電、照明、大功率電源轉換等領域都有應用。
2、半導體在檢測完后需要對合格產品和次品進行分離，傳統的分離方式是標記檢測順序，在向外輸送的傳送帶上按照指定順序將次品排出輸送帶，這樣的方式效率高，但是被排出的次品半導體受到外力擠壓容易造成二次損壞，從而導致無法被收集。為此，我們提供了一種可對次品收集的半導體測試設備解決以上問題。
技術實現思路
1、一)解決的技術問題
2、本技術的目的就是為了彌補現有技術的不足，提供了一種可對次品收集的半導體測試設備。
3、二)技術方案
4、為實現上述目的，本技術提供如下技術方案：一種可對次品收集的半導體測試設備，包括支撐臺，所述支撐臺的邊緣順時針依次設置有供料工位，檢測工位，排料工位以及回收工位，供料工位和排料工位以及回收工位均設置有輸送機構，檢測工位上方設置有檢測平臺，支撐臺中部固定安裝有支撐軸，支撐軸的上表面轉動連接有旋轉板，旋轉板的底端四角設置有電磁伸縮套筒，支撐軸的表面固定安裝有驅動旋轉板旋轉的動力源，電磁伸縮套筒的自由端固定安裝有夾具，夾具與檢測平臺控制連接。
5、進一步的，所述供料工位處的輸送機構逆時針移動，排料工位以及回收工位的輸送機構順時針移動。
6、進一步的，
7、進一步的，所述支撐軸的上表面固定安裝有托板，托板的上表面左固定安裝有限位環，旋轉板的中部開設有套接在限位環外側的環槽，托板的中部固定安裝有定位螺柱，定位螺柱的上方螺紋連接有定位壓塊，定位壓塊與旋轉板轉動連接。
8、進一步的，所述夾具包括固定套筒，固定套筒的底端連接并貫通有吸盤，固定套筒的外側設置有電磁活塞套筒，電磁活塞套筒與吸盤連接并貫通。
9、進一步的，所述旋轉板的底端固定安裝有齒圈，動力源包括電機以及電機輸入端的齒輪，齒輪與齒圈嚙合。
10、(三)有益效果：
11、與現有技術相比，該可對次品收集的半導體測試設備具備如下有益效果：
12、一、本技術通過電磁活塞套筒吸氣使得吸盤吸附半導體，并通過動力源驅動旋轉板旋轉一個工位，使得半導體放置在檢測平臺的上方并進行檢測，當檢測為正常時，吸盤在移動至排料工位處時排氣，當檢測為非正常時，吸盤在回收工位進行排氣，從而使得半導體在支撐輸送機構上遠離裝置實現次品收集。
13、二、本技術通過供料工位處的輸送機構兩側開設有滑槽，滑槽的內部滑動連接螺桿，螺桿的外表面套接有限位架，限位架延伸至輸送機構的上方，螺桿的一端螺紋連接有緊固螺母，通過這樣的設置能夠對半導體的位置進行限定，通過調整限位架的位置能夠使得不同尺寸的半導體在同一個位置停止移動。
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1.一種可對次品收集的半導體測試設備，包括支撐臺(1)，其特征在于：所述支撐臺(1)的邊緣順時針依次設置有供料工位，檢測工位，排料工位以及回收工位，供料工位和排料工位以及回收工位均設置有輸送機構(2)，檢測工位上方設置有檢測平臺(3)，支撐臺(1)中部固定安裝有支撐軸(4)，支撐軸(4)的上表面轉動連接有旋轉板(21)，旋轉板(21)的底端四角設置有電磁伸縮套筒(5)，支撐軸(4)的表面固定安裝有驅動旋轉板(21)旋轉的動力源(6)，電磁伸縮套筒(5)的自由端固定安裝有夾具(7)，夾具(7)與檢測平臺(3)控制連接。
2.根據權利要求1所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述供料工位處的輸送機構(2)逆時針移動，排料工位以及回收工位的輸送機構(2)順時針移動。
3.根據權利要求2所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述供料工位處的輸送機構(2)兩側開設有滑槽(8)，滑槽(8)的內部滑動連接螺桿(9)，螺桿(9)的外表面套接有限位架(10)，限位架(10)延伸至輸送機構(2)的上方，螺桿(9)的一端螺紋連接有緊固螺母(11)。
4.根據權利要求1所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述支撐軸(4)的上表面固定安裝有托板(12)，托板(12)的上表面左固定安裝有限位環(13)，旋轉板(21)的中部開設有套接在限位環(13)外側的環槽(14)，托板(12)的中部固定安裝有定位螺柱(15)，定位螺柱(15)的上方螺紋連接有定位壓塊(16)，定位壓塊(16)與旋轉板(21)轉動連接。
5.根據權利要求1所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述夾具(7)包括固定套筒(17)，固定套筒(17)的底端連接并貫通有吸盤(18)，固定套筒(17)的外側設置有電磁活塞套筒(19)，電磁活塞套筒(19)與吸盤(18)連接并貫通。
6.根據權利要求1所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述旋轉板(21)的底端固定安裝有齒圈(20)，動力源(6)包括電機以及電機輸入端的齒輪，齒輪與齒圈(20)嚙合。
...【技術特征摘要】
1.一種可對次品收集的半導體測試設備，包括支撐臺(1)，其特征在于：所述支撐臺(1)的邊緣順時針依次設置有供料工位，檢測工位，排料工位以及回收工位，供料工位和排料工位以及回收工位均設置有輸送機構(2)，檢測工位上方設置有檢測平臺(3)，支撐臺(1)中部固定安裝有支撐軸(4)，支撐軸(4)的上表面轉動連接有旋轉板(21)，旋轉板(21)的底端四角設置有電磁伸縮套筒(5)，支撐軸(4)的表面固定安裝有驅動旋轉板(21)旋轉的動力源(6)，電磁伸縮套筒(5)的自由端固定安裝有夾具(7)，夾具(7)與檢測平臺(3)控制連接。
2.根據權利要求1所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述供料工位處的輸送機構(2)逆時針移動，排料工位以及回收工位的輸送機構(2)順時針移動。
3.根據權利要求2所述的一種可對次品收集的半導體測試設備，其特征在于：所述供料工位處的輸送機構(2)兩側開設有滑槽(8)，滑槽(8)的內部滑動連接螺桿(9)，螺桿(9)的外表面套接有限位架(10)，限位架(10...
【專利技術屬性】
技術研發人員：任志軍，姚晴，李沖，趙艷鵬，
申請(專利權)人：博測銳創半導體科技蘇州有限公司，
類型：新型
國別省市：
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