【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及電磁特性計算，特別涉及一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法及裝置。
技術介紹
1、飛行器以極高速度在大氣層內運動時，會與大氣發生劇烈摩擦，產生包覆在目標周圍的等離子體繞流場，等離子體繞流場會對入射其中的雷達波產生幅度、頻率和相位調制效應，進一步導致雷達成像散焦、多普勒測量失準，影響雷達對目標的探測、跟蹤和識別能力。因此，為了穩定跟蹤和識別高速運動飛行器，需要準確計算等離子體包覆目標的電磁特性。
2、等離子體包覆目標的電磁散射建模方法復雜度遠高于理想導體目標，電磁波照射等離子體繞流場時會穿入到繞流場內部，且存在反射和折射現象，作為電磁損耗介質，還會對電磁波產生衰減。等離子體繞流場的理論建模方法研究一直是電磁特性建模領域的難點之一，目前，在高頻區常用的建模方法以射線追蹤方法為基礎，利用射線在等離子體內的傳播路徑追蹤計算電磁波的頻移和能量傳遞，獲取目標的電磁散射特性。但在射線傳播路徑計算過程中，僅按照等離子體參數計算射線的路徑，射線可能無法到達目標表面的等離子體薄層，而等離子體層厚度較薄時，電磁波實際有部分能量可以穿過該部分等離子體，仿真計算時就丟失了該部分等離子體的電磁特性信息，該部分等離子體電磁特性參數一般較強，對等離子體繞流場整體電磁特性的影響不能忽略。
3、因此，目前亟待需要一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法及裝置。
技術實現思路
1、本專利技術提供了一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法及裝置，可將偏折點與目標表面之間的等離子體薄層也
2、一方面，提供了一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法，所述方法包括：
3、基于射線追蹤法確定電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡和偏折點；
4、基于所述射線軌跡和所述偏折點，將電磁波在等離子體中的傳輸區域劃分為三個區域；第一區域為從所述射線軌跡的起點至所述偏折點，第二區域為從所述偏折點至目標表面；第三區域為從所述偏折點至所述射線軌跡的終點；
5、基于射線追蹤法計算所述第一區域的電磁特性，得到所述偏折點處的第一電磁數據；
6、基于傳輸線法計算所述第二區域的第二電磁數據；
7、在所述第一電磁數據的基礎上，將所述第二電磁數據等效至所述偏折點，得到所述偏折點處的等效電磁數據；
8、將所述等效電磁數據作為所述第三區域的起始數據，基于射線追蹤法計算所述第三區域的電磁特性，得到等離子體包覆目標的電磁特性。
9、另一方面，提供了一種等離子體包覆目標電磁特性的計算裝置，所述裝置包括：
10、確定單元，用于基于射線追蹤法確定電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡和偏折點；
11、劃分單元，用于基于所述射線軌跡和所述偏折點，將電磁波在等離子體中的傳輸區域劃分為三個區域；第一區域為從所述射線軌跡的起點至所述偏折點，第二區域為從所述偏折點至目標表面；第三區域為從所述偏折點至所述射線軌跡的終點；
12、第一計算單元，用于基于射線追蹤法計算所述第一區域的電磁特性，得到所述偏折點處的第一電磁數據；
13、第二計算單元，用于基于傳輸線法計算所述第二區域的第二電磁數據；
14、第三計算單元，用于在所述第一電磁數據的基礎上，將所述第二電磁數據等效至所述偏折點，得到所述偏折點處的等效電磁數據；
15、第四計算單元，用于將所述等效電磁數據作為所述第三區域的起始數據，基于射線追蹤法計算所述第三區域的電磁特性，得到等離子體包覆目標的電磁特性。
16、另一方面，提供了一種計算機設備，所述計算機設備包括存儲器和處理器，所述存儲器用于存放計算機程序，所述處理器用于執行所述存儲器上所存放的計算機程序，以實現上述所述的等離子體包覆目標電磁特性的計算方法的步驟。
17、另一方面，提供了一種計算機可讀存儲介質，所述存儲介質內存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現上述所述等離子體包覆目標電磁特性的計算方法的步驟。
18、另一方面，提供了一種計算機程序產品，包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現上述所述的等離子體包覆目標電磁特性的計算方法的步驟。
19、本專利技術實施例提供了一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法，在確定出射線軌跡和偏折點后，將電磁波在等離子體中的傳輸區域劃分為三個區域，其中第一區域和第三區域以偏折點為分界，第二區域為偏折點至目標表面，即目標表面的等離子體層。當分別計算出第一區域和第二區域的電磁特性后，在第一區域計算結果的基礎上，將第二區域的計算結果等效至偏折點，即可得到偏折點處的等效電磁數據。最后，在計算第三區域的電磁特性時，以偏折點的等效電磁數據為起始數據，從而將目標表面的等離子體薄層的電磁特性考慮到整體的電磁特性計算中，得到最終的等離子體包覆目標電磁特性。由此可見，本申請可將偏折點與目標表面之間的等離子體薄層也考慮到整體的電磁特性計算中，使電磁特性計算結果更加準確。
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1.一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于射線追蹤法確定電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡和偏折點，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡是通過求解如下方程組得到的：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于傳輸線法計算所述第二區域的第二電磁數據，包括：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，每個等離子體的厚度均等于所述射線追蹤法的步長。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述第二區域的等離子體層的個數為單數時，最后一個單元的第二層等離子體用金屬層代替，第二層等離子體的運動速度為目標的運動速度。
7.一種等離子體包覆目標電磁特性的計算裝置，其特征在于，所述裝置包括：
8.一種計算機設備，其特征在于，所述計算機設備包括存儲器和處理器，所述存儲器用于存放計算機程序，所述處理器用于執行所述存儲器上所存放的計算機程序，以實現上述權利要求1-6任一所述方法的步驟。
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述存儲介質內存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-6任一所述的方法的步驟。
10.一種計算機程序產品，其特征在于，包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1-6任一所述的方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種等離子體包覆目標電磁特性的計算方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于射線追蹤法確定電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡和偏折點，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，電磁波在等離子體中傳播的射線軌跡是通過求解如下方程組得到的：
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于傳輸線法計算所述第二區域的第二電磁數據，包括：
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，每個等離子體的厚度均等于所述射線追蹤法的步長。
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，當所述第二區域的等離子體層的個數為單數時，最后一個單元的第二層...
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