【技術實現步驟摘要】
本申請涉及測試，特別是涉及一種芯片測試系統、方法、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品。
技術介紹
1、通常情況下，在芯片投入使用之前，需要對芯片進行測試，確保芯片的各項功能正常，其中，為了使芯片能夠在不同環境下保持穩定高性能的工作狀態，除了對其進行常規的功能測試，還需要進行老化測試。
2、傳統技術中，將測試裝置和芯片一起整機投放進高溫高濕的測試環境中進行芯片的老化測試。然而，通過這種方法，占用空間大，測試產能低下，且測試裝置的使用壽命短，測試成本較高。
技術實現思路
1、基于此，有必要針對上述技術問題，提供一種能夠提高測試產能降低測試成本的芯片測試系統、方法、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品。
2、第一方面，本申請提供了一種芯片測試系統，所述系統包括：控制模塊、電源模塊和信號轉換模塊，所述電源模塊和所述信號轉換模塊設置于測試環境中，所述控制模塊未設置于測試環境中，其中：
3、控制模塊，與電源模塊電性連接，用于獲取測試參數信息并發送至所述電源模塊，其中，所述控制模塊和所述電源模塊之間設置有信號增強模塊；
4、電源模塊，用于根據所述測試參數信息生成測試電力參數信息；
5、信號轉換模塊，分別與所述電源模塊和待測芯片電性連接，用于接收所述電源模塊的測試電力參數數據，并對所述測試電力參數數據進行協議轉換，得到目標電力參數數據，將所述目標電力參數數據發送至所述待測芯片，以驅動所述待測芯片工作，獲取所述待測芯片
6、在其中一個實施例中，所述信號轉換模塊還用于：
7、對所述測試數據進行協議轉換，得到目標測試數據；
8、將所述目標測試數據發送至所述電源模塊；
9、所述電源模塊還用于將所述目標測試數據發送至所述控制模塊。
10、在其中一個實施例中，所述電源模塊還用于：
11、獲取所述待測芯片的工作電壓；
12、響應于所述工作電壓大于預設閾值，關閉電壓輸出并發送預警消息。
13、在其中一個實施例中，所述控制模塊包括：
14、數據接收單元，用于獲取初始參數信息，并發送至數據處理單元；
15、數據處理單元，用于解析所述初始參數信息，生成與所述初始參數信息相匹配的測試參數信息，并將所述測試參數信息發送至所述電源模塊。
16、在其中一個實施例中，所述控制模塊與所述電源模塊通過同軸線電性連接。
17、在其中一個實施例中，所述信號轉換模塊與多個待測芯片電性連接，所述信號轉換模塊還用于：
18、從所述多個待測芯片中確定所述目標電力參數數據對應的目標待測芯片；
19、將所述目標電力參數數據發送至所述目標待測芯片。
20、第二方面，本申請還提供了一種芯片測試方法，應用于芯片測試系統的信號轉換模塊，包括：
21、接收測試電力參數數據；
22、對所述測試電力參數數據進行協議轉換，得到目標電力參數數據；
23、將所述目標電力參數數據發送至所述待測芯片，以驅動所述待測芯片工作，獲取所述待測芯片的測試數據。
24、第三方面，本公開實施例還提供了一種計算機設備。所述計算機設備包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時實現本公開實施例中任一項所述的方法的步驟。
25、第四方面，本公開實施例還提供了一種計算機可讀存儲介質。所述計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現本公開實施例中任一項所述的方法的步驟。
26、第五方面，本公開實施例還提供了一種計算機程序產品。所述計算機程序產品，包括計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現本公開實施例中任一項所述的方法的步驟。
27、上述芯片測試系統、方法、計算機設備、計算機可讀存儲介質和計算機程序產品，在進行芯片測試時，電源模塊和信號轉換模塊設置于測試環境中，控制模塊未設置于測試環境中，控制模塊用于獲取測試參數信息并發送至電源模塊，且控制模塊和電源模塊之間設置有信號增強模塊，能夠在控制模塊、電源模塊之間不在同一環境的情況下保證數據傳輸的準確性和有效性；通過芯片測試系統的分體式架構的設置，每個模塊可以獨立開發、部署和更換，并根據需求進行靈活組合和擴展，便于拆卸和維護，降低了維護成本。進一步地，電源模塊根據接收到的測試參數信息生成測試電力參數信息，信號轉換模塊接收電源模塊發送的測試電力參數數據，并進行協議轉換，得到目標電力參數數據，將目標電力參數數據發送至待測芯片，驅動待測芯片工作，獲取測試數據，從而能夠通過信號轉換模塊將數據轉換為待測芯片能夠接收處理的數據，并將電源模塊作為數據傳輸中間橋梁，控制模塊與待測芯片之間無需基于待測芯片的數據傳輸類型設置連接線，簡化了芯片測試系統的電路連接，從而能夠實現測試過程中的控制模塊與測試環境的隔離，避免了高溫高濕的測試環境對控制模塊的影響，有效提高了控制模塊的使用壽命；且節約了測試環境的空間，能夠同時實現更多待測芯片的測試，大大提高了測試產能，適用于更多應用場景。
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1.一種芯片測試系統，其特征在于，所述系統包括：控制模塊、電源模塊和信號轉換模塊，所述電源模塊和所述信號轉換模塊設置于測試環境中，所述控制模塊未設置于測試環境中，其中：
2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述信號轉換模塊還用于：
3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述電源模塊還用于：
4.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述控制模塊包括：
5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述控制模塊與所述電源模塊通過同軸線電性連接。
6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述信號轉換模塊與多個待測芯片電性連接，所述信號轉換模塊還用于：
7.一種芯片測試方法，其特征在于，所述方法應用于如權利要求1至6中任一項所述的芯片測試系統的信號轉換模塊，所述方法包括：
8.一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器存儲有計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現權利要求7所述的方法的步驟。
9.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算
10.一種計算機程序產品，包括計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求7所述的方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種芯片測試系統，其特征在于，所述系統包括：控制模塊、電源模塊和信號轉換模塊，所述電源模塊和所述信號轉換模塊設置于測試環境中，所述控制模塊未設置于測試環境中，其中：
2.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述信號轉換模塊還用于：
3.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述電源模塊還用于：
4.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述控制模塊包括：
5.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述控制模塊與所述電源模塊通過同軸線電性連接。
6.根據權利要求1所述的系統，其特征在于，所述信號轉換模塊與多個待測芯片電...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王肖，孫百勛，
申請(專利權)人：蘇州華興源創科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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