【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片檢測，特別涉及一種芯片良率檢測方法及其系統、計算機設備、計算機可讀存儲介質。
技術介紹
1、芯片作為智能化設備的核心器件，其性能的好壞決定了智能化設備的工作性能。為了檢測芯片的性能，需要對芯片晶圓上的所有器件進行各種各樣測試，其中涉及到良率統計問題。由于晶圓上存在大量的器件，如果采用傳統方法進行人工檢測并統計良率，顯然工作量巨大，且統計結果的可靠性難以保證。目前，也有專門的檢測方法實現芯片良品率的自動檢測及統計，由于晶圓上器件進行測試時呈現的結果是波形圖，良率檢測前需要設定db值，為了保證設定的db值在波形圖上存在相應的頻率點，現有檢測方法設定的db值通常默認選取波形圖中最大db值或最小db值，但最大db值和最小db值會隨著器件生產工藝的波動而導致波動范圍較大，尤其是對于濾波器產品來說，最大值所對應的頻率往往波動較大，導致測試項目下的測試結果存在較大誤差，通用性較差，從而影響良率檢測及統計的可靠性。
技術實現思路
1、本專利技術要解決的技術問題是：克服現有技術中之不足，提供一種自動檢測及統計，通用性強，且良率檢測及統計的可靠性高的芯片良率檢測方法及其系統、計算機設備、計算機可讀存儲介質。
2、本專利技術解決其技術問題所采用的技術方案是：一種芯片良率檢測方法，步驟如下：
3、s1、識別晶圓上各器件的snp文件，將snp文件轉化為測試數據；
4、s2、自定義spec文件，spec文件的自定義內容包括db值、測試項、各測試項下的最大值
5、s3、讀取測試數據，根據spec文件定義的測試項相應計算各測試項下的測試值，并將測試值與對應測試項下的最大值和最小值比較，獲取各測試項的測試結果，根據各測試項的測試結果，來判定該器件是否合格；
6、s4、根據步驟s3中各器件的合格狀態來計算整片晶圓的良率，并輸出良率數據文件。
7、進一步地，所述db值的自定義規則如下：
8、獲取snp文件中的最大db值，設置預設db值，將最大db值和預設db值相加，得到自定義db值，若自定義db值在snp文件中存在對應的db值，則確定該db值所對應的頻率點；若自定義db值在snp文件中不存在對應的db值，則進行線性化處理。
9、進一步地，所述線性化處理的步驟如下：
10、以自定義db值為基點，在snp文件所轉化的測試數據中，依據測試項中定義的規則向低頻處/高頻處進行頻率點的搜尋，獲取到自定義db值的正負相鄰的兩個頻率點a和頻率點b，其中頻率點a的db值小于自定義db值，且頻率點b的db值大于自定義db值；以頻率點a和頻率點b為端點進行線性化，根據線性化函數計算出自定義db值所對應的頻率點。
11、進一步地，所述測試項包括最小插損、左肩頻率、右肩頻率、帶寬和中心頻率。
12、進一步地，所述步驟s3中測試項的測試值位于該測試項下最小值與最大值之間，則該測試項的測試結果為pass；否則，測試結果為fail。
13、進一步地，所述步驟s4中晶圓上器件的所有測試項的測試結果均為pass時，則該器件合格；否則，則該器件不合格。
14、一種芯片良率檢測系統，包括
15、數據轉換模塊，用于識別晶圓上各器件的snp文件，并將snp文件轉化為測試數據；
16、自定義模塊，用于定義spec文件中db值、測試項、各測試項下的最大值及最小值；
17、良率輸出模塊，用于根據spec文件定義的測試項相應計算各測試項下的測試值，并將測試值與對應測試項下的最大值和最小值比較，獲取各測試項的測試結果，根據各器件下所有測試項的測試結果判斷晶圓上各器件是否合格，再根據各器件的合格狀態來計算整片晶圓的良率，并輸出良率數據文件。
18、一種計算機設備，包括存儲器和處理器，所述存儲器內設置有計算機程序，所述處理器通過調用計算機程序執行上述芯片良率檢測方法。
19、一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器調用時執行上述芯片良率檢測方法。
20、本專利技術的有益效果是：
21、(1)本專利技術由spec文件自定義的測試項計算各測試項下的測試值，并將測試值與對應測試項下的最大值和最小值進行比較，獲取各測試項的測試結果，根據器件所有測試項的測試結果判斷該器件是否合格，最后根據各器件的合格狀態來計算整片晶圓的良率，并輸出良率數據文件，芯片良率的檢測及統計自動化，可靠性高。
22、(2)本專利技術中db值可以進行自定義，不再默認選取波形圖中最大db值或最小db值，具有可定制性，而且結合線性化的處理，保證自定義db值在波形圖上始終存在相應的頻率點，降低了波動幅度，減小了測試誤差，使計算結果更加精確，從而使良率結果更加準確。
23、(3)本專利技術中spec文件可以進行自定義，方便處理多種測試項，相同的snp文件可以進行多次模擬，得到不同spec文件下的良率數據，而且通過spec文件中不同字符的定義實現特定功能，比如不同的計算模式和不同db下的頻率值。
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1.一種芯片良率檢測方法，其特征在于，步驟如下：
2.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述dB值的自定義規則如下：
3.根據權利要求2所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述線性化處理的步驟如下：
4.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述測試項包括最小插損、左肩頻率、右肩頻率、帶寬和中心頻率。
5.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述步驟S3中測試項的測試值位于該測試項下最小值與最大值之間，則該測試項的測試結果為PASS；否則，測試結果為FAIL。
6.根據權利要求5所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述步驟S4中晶圓上器件的所有測試項的測試結果均為PASS時，則該器件合格；否則，則該器件不合格。
7.一種芯片良率檢測系統，其特征在于，包括
8.一種計算機設備，其特征在于，包括存儲器和處理器，所述存儲器內設置有計算機程序，所述處理器通過調用計算機程序執行權利要求1-6中任一所述芯片良率檢測方法。
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征
...【技術特征摘要】
1.一種芯片良率檢測方法，其特征在于，步驟如下：
2.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述db值的自定義規則如下：
3.根據權利要求2所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述線性化處理的步驟如下：
4.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述測試項包括最小插損、左肩頻率、右肩頻率、帶寬和中心頻率。
5.根據權利要求1所述的芯片良率檢測方法，其特征在于，所述步驟s3中測試項的測試值位于該測試項下最小值與最大值之間，則該測試項的測試結果為pass；否則，測試結果為fa...
【專利技術屬性】
技術研發人員：孫亞軍，
申請(專利權)人：左藍微江蘇電子技術有限公司，
類型：發明
國別省市：
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