System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長度必須引用該字符串內的位置。 參數名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術實現步驟摘要】
本申請涉及信號測量,具體涉及一種失調校準方法、芯片及電子設備。
技術介紹
1、模數轉換器(analog?digital?convertor,adc)可以將電壓信號(例如傳感器輸出的電信號)轉換為數字信號,被廣泛應用于通信、測量、控制、信號處理等場景中。由于模數轉換器的轉換精度會受到其失調電壓的影響,因此在模數轉換器出廠前通常會對模數轉換器的失調電壓進行校準,以保證模數轉換器對信號的高精度測量。
2、然而,在出廠時刻標定的失調電壓,可能隨著模數轉換器工作時間而發生緩慢變化,例如在一些需要長壽命且工作環境惡劣的應用場景(如工業、汽車等),失調電壓隨著工作壽命(如5年、10年甚至更長)發生顯著變化,最終導致出廠時標定好的模數轉換器精度下降而測量誤差增大的現象。
技術實現思路
1、鑒于以上問題,本申請實施例提供一種失調校準方法、芯片及電子設備,以解決上述技術問題。
2、第一方面,本申請實施例提供一種失調校準方法,失調校準方法應用于電壓測量電路,方法包括:
3、判斷電壓測量電路是否滿足預設的失調校準條件;
4、當電壓測量電路滿足預設的失調校準條件時,測量電壓測量電路的實時失調數據;
5、根據實時失調數據以及初始失調數據,確定電壓測量電路的校準失調參數,初始失調數據為電壓測量電路上一次校準過程確定的校準失調參數
6、第二方面,本申請實施例還提供一種芯片,包括電壓測量電路,電壓測量電路使用如第一方面所述的失調校準方法更新校準
7、第三方面,本申請實施例還提供一種電子設備,包括上述的芯片。
8、本申請在電壓測量電路(例如模數轉換器)滿足預設的失調校準條件時,測量電壓測量電路工作過程中的實時失調數據,從而可以根據電壓測量電路的實時失調數據以及電壓測量電路上一次校準過程確定的初始失調數據,更新電壓測量電路的校準失調參數。也就是說,本申請的失調校準方法可以在電壓測量電路工作過程中更新電壓測量電路的校準失調參數,從而避免電壓測量電路出廠前標定的失調參數因長時間工作失效而測量誤差增大的現象。
9、本申請的這些方面或其他方面在以下實施例的描述中會更加簡明易懂。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種失調校準方法,其特征在于,所述失調校準方法應用于電壓測量電路,方法包括:
2.如權利要求1所述的失調校準方法,其特征在于,所述根據所述實時失調數據以及初始失調數據,確定所述電壓測量電路的校準失調參數的步驟包括:
3.如權利要求1所述的失調校準方法,其特征在于,所述測量所述電壓測量電路的實時失調數據的步驟包括:
4.如權利要求3所述的失調校準方法,其特征在于,所述測量數據集合包括所述電壓測量電路多次測量電壓為零的所述輸入電壓的多個測量數據;
5.如權利要求3所述的失調校準方法,其特征在于,所述電壓測量電路集成于目標芯片內;
6.如權利要求5所述的失調校準方法,其特征在于,電壓為零的所述輸入電壓由所述目標芯片的內部電路提供;
7.如權利要求1所述的失調校準方法,其特征在于,所述判斷所述電壓測量電路是否滿足預設的失調校準條件的步驟包括:
8.如權利要求7所述的失調校準方法,其特征在于,所述待測信號包括多組待測電壓,所述校準測量數據包括經所述初始失調數據校準的多組電壓校準結果;
9.一
10.一種電子設備,其特征在于,包括如權利要求9所述的芯片。
...【技術特征摘要】
1.一種失調校準方法,其特征在于,所述失調校準方法應用于電壓測量電路,方法包括:
2.如權利要求1所述的失調校準方法,其特征在于,所述根據所述實時失調數據以及初始失調數據,確定所述電壓測量電路的校準失調參數的步驟包括:
3.如權利要求1所述的失調校準方法,其特征在于,所述測量所述電壓測量電路的實時失調數據的步驟包括:
4.如權利要求3所述的失調校準方法,其特征在于,所述測量數據集合包括所述電壓測量電路多次測量電壓為零的所述輸入電壓的多個測量數據;
5.如權利要求3所述的失調校準方法,其特征在于,所述電壓測量電路集成于目標芯片內;
<...【專利技術屬性】
技術研發人員:孫昳昀,李曉,許浩東,
申請(專利權)人:芯海科技深圳股份有限公司,
類型:發明
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。