【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及光纖通信與互感器領域，特別涉及一種單端口測量光路損耗的設備及方法。
技術介紹
1、傳統的光纖損耗測試方法是光纖兩頭分別放一個光源和光功率計，已知光源輸出光功率和光功率計接收光功率，兩者相減即為光路損耗。
2、這種方式要求光纖的2頭均有跳線接頭，可以根據需求拆下，然后接入對應的儀表完成測試。電力系統中存在一種全光纖電流互感器，他只有一個接頭，光纖另外一頭安裝了一個反射鏡，需要從同一個接頭實現光的發射和接收，計算損耗。將光纖從控制室拉到戶外部分的一次本體之下，需要走橋架、電纜溝、穿管，中間還存在光纖熔點等，這些均會影響光路的損耗，而光路損耗直接影響整個傳感的性能，因此如何準確測量光路損耗的是保障現場施工和產品質量的一個密切關注點。
技術實現思路
1、本專利技術旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本專利技術提出一種單端口測量光路損耗設備，能夠使用單端口實現光功率的發送和光功率的接收，解決了帶反射鏡光纖回路的光纖損耗測試需求。
2、本專利技術還提出一種基于上述設備工作過程的單端口測量光路損耗方法。
3、根據本專利技術的第一方面實施例的單端口測量光路損耗設備，其特征在于，包括：
4、環形器或耦合器，具有至少三個接口；
5、光源；
6、擾偏器，一端與所述光源連接，另一端與所述環形器或耦合器的第一接口連接，用于去除消除所述光源產生的光的偏振方向；
7、輸出光/輸入光接口，與所述環形器或耦
8、光電探測器，與所述環形器或耦合器的第三接口相連，所述光電探測器用于計算從所述被測光纖中傳輸來的光的功率。根據本專利技術實施例的單端口測量光路損耗設備，至少具有如下有益效果：本專利技術提供了一種設備，利用環形器或耦合器，使用單端口實現光功率的發送和光功率的接收解決帶反射鏡光纖回路的光纖損耗測試需求。
9、根據本專利技術的一些實施例，所述設備還包括：
10、信號處理及驅動單元，用于控制光源、光電探測器的工作；
11、根據本專利技術的一些實施例，所述設備還包括：
12、顯示模塊，顯示模塊，用于顯示光電探測器獲取的功率，并將功率的變化值作為被測光纖的光衰減進行顯示。
13、根據本專利技術的一些實施例，所述光源產生的是1310nm低偏振光，且所述環形器或耦合器、擾偏器和所述光電探測器均基于該波長進行工作。
14、根據本專利技術的一些實施例，所述儀器還具有內部損耗，所述內部損耗包括：擾偏器、環形器或耦合器、儀器內部光纖、熔點的損耗。
15、根據本專利技術的第二方面實施例的單端口測量光路損耗方法，其特征在于，該方法使用了上述單端口測量光路損耗設備，包括：
16、將設備接入已知損耗的標準光纖，得到設備內損耗；
17、從光源發出具有一定光功率的輸出光，經過擾偏器之后消除其偏振方向，形成自然光，然后經過環形器或耦合器傳入到輸出光/輸入光接口；
18、通過輸出光接口的被測光纖，使得輸出光在被測光纖中傳輸，經過被測光纖端部反射鏡后反向往回傳，再次進入輸出光/輸入光接口得到接收光；
19、所述接受光經過環形器或耦合器進入光電探測器，獲取所述接收光的光功率；
20、基于所述輸出光的光功率與所述接受光的光功率之差與所述設備內損耗，獲得被測光纖的光衰減。
21、本專利技術的附加方面和優點將在下面的描述中部分給出，部分將從下面的描述中變得明顯，或通過本專利技術的實踐了解到。
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1.一種單端口測量光路損耗設備，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述設備還包括：
3.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述設備還包括：
4.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述光源產生的是1310nm低偏振光，且所述環形器或耦合器、擾偏器和所述光電探測器均基于該波長進行工作。
5.根據權利要求2所述的設備，其特征在于，所述儀器還具有內部損耗，所述內部損耗包括：擾偏器、環形器或耦合器、儀器內部光纖、熔點的損耗。
6.一種單端口測量光路損耗方法，其特征在于，該方法使用了上述權利要求1～5中任意一種單端口測量光路損耗設備，包括：
【技術特征摘要】
1.一種單端口測量光路損耗設備，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述設備還包括：
3.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述設備還包括：
4.根據權利要求1所述的設備，其特征在于，所述光源產生的是1310nm低偏振光，且所述環形器或耦合器、擾偏器...
【專利技術屬性】
技術研發人員：殷小東，周峰，黃俊昌，岳長喜，胡浩亮，刁贏龍，張民，陳爭光，郭賢珊，陳昱卓，李建光，周瑋，李嘉鑫，江宇舟，徐子立，潘瑞，聶琪，李小飛，曾非同，王翰，熊前柱，劉京，楊春燕，張學友，馬歡，
申請(專利權)人：中國電力科學研究院有限公司，
類型：發明
國別省市：
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