【技術實現步驟摘要】
本技術涉及視覺光源檢測，尤其涉及一種對位檢測裝置。
技術介紹
1、隨著智能制造及精密加工檢測技術的發展，一些微小零部件如微小芯片電路板在多個行業中得到廣泛應用，這對檢測的精度和效率提出了更高的要求。機器視覺檢測能夠實現對細微工件的表面特征、缺陷識別和尺寸定位等，因此成為智能制造過程中不可或缺的核心環節。
2、市面上的光源檢測裝置只能對其檢測工位上的工件進行取像，通常情況一個光源檢測裝置只有一個檢測工位，每次只能對檢測工位上的一個工件進行取像作業，取像效率低下。
3、因此，需要對現有技術進行改進，以解決現有技術的光源檢測裝置單次只能對一個工件進行取像作業，取像效率低下的技術問題。
技術實現思路
1、本技術的目的是提供一種對位檢測裝置，以解決現有技術的光源檢測裝置單次只能對一個工件進行取像作業，取像效率低下的技術問題。
2、為了實現上述目的，本技術采用以下技術方案：
3、一種對位檢測裝置，其包括第一光源、第二光源、光線處理組件和取像組件，所述光線處理組件包括第一光線處理件和第二光線處理件，所述第一光源發出第一光線，所述第一光線照射第一檢測工位的第一工件，所述第一光線的反射光線通過所述第一光線處理件到達所述取像組件，所述第二光源發出第二光線，所述第二光線通過所述第二光線處理件照射第二檢測工位的第二工件，所述第二光線的反射光線通過所述光線處理組件到達所述取像組件，所述取像組件用于對所述第一工件和第二工件進行取像工作。
4、較佳地，
5、較佳地，所述第一光線處理件還包括全反射膜，所述全反射膜設于所述第一直角面和第二直角面上。
6、較佳地，所述第二光線處理件包括分光鏡片，所述第一光源和第二光源相鄰設置，所述第一檢測工位和第二檢測工位相對設置，所述分光鏡片傾斜設置，并設于所述第二檢測工位和第二直角面之間，所述第二光線通過所述分光鏡片的反射照射所述第二工件。
7、較佳地，所述第二光線處理件還包括防塵鏡片，所述防塵鏡片正對所述第二檢測工位，所述第二光線通過所述分光鏡片的反射到達所述防塵鏡片，所述第二光線通過所述防塵鏡片照射所述第二工件。
8、較佳地，所述第一光源包括環形板，所述環形板設有若干第一燈珠，所述若干第一燈珠間隔分布，并均電連接有第一pcb，所述第二光源包括面板，所述面板上設有若干第二燈珠，所述若干第二燈珠間隔分布，并均電連接有第二pcb。
9、較佳地，所述對位檢測裝置還包括擴散件、第一導電組和第二導電組，所述擴散件設于所述第一光源和/或第二光源的出光端，所述第一導電組電連接所有第一燈珠，所述第二導電組電連接所有第二燈珠。
10、較佳地，所述對位檢測裝置還包括外殼，所述外殼設有容納空間，所述光線處理組件和取像組件均設于所述容納空間內，所述第一光源和第二光源均可拆卸連接所述外殼。
11、較佳地，所述對位檢測裝置還包括傳感器，所述傳感器電連接所述第一導電組、第二導電組和取像組件，所述第一導電組或第二導電組連接外部電源，所述取像組件啟動。
12、較佳地，所述外殼設有避讓口，所述取像組件包括相機和鏡頭，所述鏡頭正對所述三角反射棱鏡，所述相機的電源端口和傳輸端口通過所述避讓口連通外部。
13、與現有技術相比，本技術的有益效果：
14、本技術設計了一種對位檢測裝置，該包括第一光源、第二光源、光線處理組件和取像組件，光線處理組件包括第一光線處理件和第二光線處理件，第一光源發出第一光線，第一光線照射第一檢測工位的第一工件，第一光線的反射光線通過第一光線處理件到達取像組件，第二光源發出第二光線，第二光線通過第二光線處理件照射第二檢測工位的第二工件，第二光線的反射光線通過光線處理組件到達取像組件，取像組件用于對第一工件和第二工件進行取像工作。相較于現有技術，本技術的對位檢測裝置設置了第一光源和第二光源，第一光源能照射在第一工件上，第二光源能照射在第二工件上，第一光線的反射光線和第二光源的反射光線均能到達取像組件，取像組件可以同時對第一工件和第二工件進行取像工作，取像效率大大提升。
本文檔來自技高網...【技術保護點】
1.一種對位檢測裝置，其特征在于：包括第一光源、第二光源、光線處理組件和取像組件，所述光線處理組件包括第一光線處理件和第二光線處理件，所述第一光源發出第一光線，所述第一光線照射第一檢測工位的第一工件，所述第一光線的反射光線通過所述第一光線處理件到達所述取像組件，所述第二光源發出第二光線，所述第二光線通過所述第二光線處理件照射第二檢測工位的第二工件，所述第二光線的反射光線通過所述光線處理組件到達所述取像組件，所述取像組件用于對所述第一工件和第二工件進行取像工作。
2.根據權利要求1所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第一光線處理件包括三角反射棱鏡，所述三角反射棱鏡設于所述第一光源和第二光源之間，所述第一光線的反射光線經過所述三角反射棱鏡的第一直角面的反射到達所述取像組件，所述第二光線的反射光線通過所述三角反射棱鏡的第二直角面的反射到達所述取像組件。
3.根據權利要求2所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第一光線處理件還包括全反射膜，所述全反射膜設于所述第一直角面和第二直角面上。
4.根據權利要求1所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第二光線處理件
5.根據權利要求4所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第二光線處理件還包括防塵鏡片，所述防塵鏡片正對所述第二檢測工位，所述第二光線通過所述分光鏡片的反射到達所述防塵鏡片，所述第二光線通過所防塵鏡片照射所述第二工件。
6.根據權利要求1所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第一光源包括環形板，所述環形板設有若干第一燈珠，所述若干第一燈珠間隔分布，并均電連接有第一PCB，所述第二光源包括面板，所述面板上設有若干第二燈珠，所述若干第二燈珠間隔分布，并均電連接有第二PCB。
7.根據權利要求6所述的對位檢測裝置，其特征在于：還包括擴散件、第一導電組和第二導電組，所述擴散件設于所述第一光源和/或第二光源的出光端，所述第一導電組電連接所有第一燈珠，所述第二導電組電連接所有第二燈珠。
8.根據權利要求2所述的對位檢測裝置，其特征在于：還包括外殼，所述外殼設有容納空間，所述光線處理組件和取像組件均設于所述容納空間內，所述第一光源和第二光源均可拆卸連接所述外殼。
9.根據權利要求7所述的對位檢測裝置，其特征在于：還包括傳感器，所述傳感器電連接所述第一導電組、第二導電組和取像組件，所述第一導電組或第二導電組連接外部電源，所述取像組件啟動。
10.根據權利要求8所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述外殼設有避讓口，所述取像組件包括相機和鏡頭，所述鏡頭正對所述三角反射棱鏡，所述相機的電源端口和傳輸端口通過所述避讓口連通外部。
...【技術特征摘要】
1.一種對位檢測裝置，其特征在于：包括第一光源、第二光源、光線處理組件和取像組件，所述光線處理組件包括第一光線處理件和第二光線處理件，所述第一光源發出第一光線，所述第一光線照射第一檢測工位的第一工件，所述第一光線的反射光線通過所述第一光線處理件到達所述取像組件，所述第二光源發出第二光線，所述第二光線通過所述第二光線處理件照射第二檢測工位的第二工件，所述第二光線的反射光線通過所述光線處理組件到達所述取像組件，所述取像組件用于對所述第一工件和第二工件進行取像工作。
2.根據權利要求1所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第一光線處理件包括三角反射棱鏡，所述三角反射棱鏡設于所述第一光源和第二光源之間，所述第一光線的反射光線經過所述三角反射棱鏡的第一直角面的反射到達所述取像組件，所述第二光線的反射光線通過所述三角反射棱鏡的第二直角面的反射到達所述取像組件。
3.根據權利要求2所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第一光線處理件還包括全反射膜，所述全反射膜設于所述第一直角面和第二直角面上。
4.根據權利要求1所述的對位檢測裝置，其特征在于：所述第二光線處理件包括分光鏡片，所述第一光源和第二光源相鄰設置，所述第一檢測工位和第二檢測工位相對設置，所述分光鏡片傾斜設置，并設于所述第二檢測工位和第二直角面之間，所述第二光線通過所述分光鏡片的反射照射所述第二工件。
5.根據權利要求4所述的對位檢測裝...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張子浩，
申請(專利權)人：廣東奧普特科技股份有限公司，
類型：新型
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。