【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于存儲，具體涉及一種磁盤陣列卡檢測方法、終端及存儲介質。
技術介紹
1、陣列卡，全稱磁盤陣列卡，專為構建raid（獨立磁盤冗余陣列）系統而設計。raid系統通過將多個硬盤驅動器按特定規則整合為一個邏輯單元，并由專門的陣列控制器進行高效管理，從而增強數據存儲的可靠性、性能及容量。在raid卡內部，集成了數十個精密的硬件ip模塊，各司其職：有的專注于解析高速nvme指令，有的則負責dma（直接內存訪問）傳輸的順暢進行，還有模塊負責與硬盤的精密交互及資源優化回收。以pcie?4.0接口為例，該卡每秒能處理高達64gbps的數據流量，展現了其強大的數據處理能力。
2、然而，面對如此龐大的數據流，若raid卡內部硬件發生異常而未能被及時偵測、糾正與修復，將直接導致數據處理異常，進而可能引發難以估量的數據損失或系統故障。
3、針對此問題，傳統的檢測方法通常涉及從接口層寫入數據后隨即讀取，并校驗讀寫數據的一致性。但這種方法存在局限性，因為讀寫不一致可能并非僅由磁盤陣列異常引起，還可能源于其他層級的問題或檢測數據被外部程序數據意外覆蓋。因此，單純依賴此類檢測手段來評估raid卡功能模塊的健康狀況，其準確性往往難以達到理想水平，亟需更為全面、精準的監測與診斷策略來確保數據中心的穩定運行。
技術實現思路
1、針對現有技術的上述不足，本專利技術提供一種磁盤陣列卡檢測方法、終端及存儲介質，以解決上述技術問題。
2、第一方面，本專利技術提供一種磁盤陣列卡檢測方
3、在磁盤陣列中為卷配置自檢區域；
4、定義卷層級的第一接口，和硬盤管理層級的第二接口；
5、通過所述第一接口向所述自檢區域寫數據，并分別通過第一接口和第二接口從所述自檢區域讀數據；
6、基于讀數據與寫數據的匹配度，生成磁盤陣列卡的檢測結果。
7、在一個可選的實施方式中，在磁盤陣列中為卷配置自檢區域，包括：
8、在創建卷時，預留出3個條帶大小的自檢區域；
9、利用自定義配置功能將所述自檢區域設置在隱藏分區內。
10、在一個可選的實施方式中，所述方法還包括：
11、配置檢測數據，并編譯測試固件；
12、將所述檢測數據和所述測試固件保存至指定路徑下；
13、授予所述測試固件調用所述第一接口和所述第二接口的權限。
14、在一個可選的實施方式中，所述檢測數據設置有標簽，所述標簽包括時間、卷id、陣列id、卷邏輯地址、硬盤邏輯地址。
15、在一個可選的實施方式中，所述測試固件包括：
16、多個測試用例，多個所述測試用例采用的讀寫方式覆蓋磁盤陣列支持的所有讀寫方式。
17、在一個可選的實施方式中，通過所述第一接口向所述自檢區域寫數據，并分別通過第一接口和第二接口從所述自檢區域讀數據，包括：
18、執行所述測試固件；
19、所述測試固件讀取所述檢測數據的標簽，并從所述標簽中解析測試時間和測試地址；
20、所述測試固件在所述測試時間通過所述第一接口向所述測試地址按測試用例限定的寫方式寫入測試數據，并在寫操作完成后按測試用例限定的讀方式分別通過第一接口和第二接口從所述測試地址讀取數據，得到第一校驗數據和第二校驗數據。
21、在一個可選的實施方式中，基于讀數據與寫數據的匹配度，生成磁盤陣列卡的檢測結果，包括：
22、比對第一校驗數據、第二校驗數據和測試數據的一致性；
23、若第一校驗數據、第二校驗數據和測試數據均保持一致，則判定磁盤陣列卡正常；
24、若第一校驗數據與測試數據不同，且第一校驗數據與第二校驗數據相同，則判定磁盤陣列卡的寫操作異常；
25、若第一校驗數據與測試數據不同，且測試數據與第二校驗數據相同，則判定磁盤陣列卡的讀操作異常；
26、若第一校驗數據與測試數據相同，且第一校驗數據與第二校驗數據不同，則判定所述磁盤陣列卡的讀寫位置整體異常偏移。
27、在一個可選的實施方式中，比對第一校驗數據、第二校驗數據和測試數據的一致性，包括：
28、計算第一校驗數據的哈希值，得到第一哈希值；
29、計算第二校驗數據的哈希值，得到第二哈希值；
30、獲取測試固件緩存的檢測數據，并計算哈希值，得到第三哈希值；
31、比對第一哈希值、第二哈希值和第三哈希值的一致性。
32、第二方面，本專利技術提供一種磁盤陣列卡檢測系統，包括：
33、區域配置模塊，用于在磁盤陣列中為卷配置自檢區域；
34、接口定義模塊，用于定義卷層級的第一接口，和硬盤管理層級的第二接口；
35、讀寫測試模塊，用于通過所述第一接口向所述自檢區域寫數據，并分別通過第一接口和第二接口從所述自檢區域讀數據；
36、結果分析模塊，用于基于讀數據與寫數據的匹配度，生成磁盤陣列卡的檢測結果。
37、第三方面，提供一種終端，包括：
38、處理器、存儲器，其中，
39、該存儲器用于存儲計算機程序，
40、該處理器用于從存儲器中調用并運行該計算機程序，使得終端執行上述的終端的方法。
41、第四方面，提供了一種計算機存儲介質，所述計算機可讀存儲介質中存儲有指令，當其在計算機上運行時，使得計算機執行上述各方面所述的方法。
42、本專利技術的有益效果在于，本專利技術提供的磁盤陣列卡檢測方法、終端及存儲介質，在磁盤陣列架構中為卷配置了自檢區域，通過運行時自檢可以避免硬件異常時導致的批量數據損壞的問題，且避免了其他程序對檢測數據的破壞，同時通過在不同層級增設接口，繞開其他層級的影響，實現針對磁盤陣列卡讀寫功能的精準測試。
43、此外，本專利技術設計原理可靠，結構簡單，具有非常廣泛的應用前景。
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1.一種磁盤陣列卡檢測方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在磁盤陣列中為卷配置自檢區域，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述檢測數據設置有標簽，所述標簽包括時間、卷ID、陣列ID、卷邏輯地址、硬盤邏輯地址。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述測試固件包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，通過所述第一接口向所述自檢區域寫數據，并分別通過第一接口和第二接口從所述自檢區域讀數據，包括：
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，基于讀數據與寫數據的匹配度，生成磁盤陣列卡的檢測結果，包括：
8.根據權利要求7所述的方法，其特征在于，比對第一校驗數據、第二校驗數據和測試數據的一致性，包括：
9.一種終端，其特征在于，包括：
10.一種存儲有計算機程序的計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質上存儲有磁盤陣列卡檢測程序，所述磁盤陣列卡檢測程序被處
...【技術特征摘要】
1.一種磁盤陣列卡檢測方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在磁盤陣列中為卷配置自檢區域，包括：
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述檢測數據設置有標簽，所述標簽包括時間、卷id、陣列id、卷邏輯地址、硬盤邏輯地址。
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述測試固件包括：
6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，通過所述第一接口向所述自檢區域寫數據，并分別通過...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王輝，趙吉陽，馬艷，
申請(專利權)人：山東云海國創云計算裝備產業創新中心有限公司，
類型：發明
國別省市：
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