【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及芯片，尤其涉及一種大規模芯片驗證方法、電子設備和介質。
技術介紹
1、隨著對芯片算力要求的不斷提高，芯片規模也不斷增大。隨著芯片規模的不斷增大，對芯片驗證平臺提出了極高的要求。現有技術中，多采用全芯片全區域的驗證方式實現對大規模芯片的驗證。但是全芯片全區域的驗證方式仿真時間慢，消耗時間多，運行穩定性差，且消耗資源多，還易受到不確定因素的影響。針對全芯片全區域驗證的缺點，現有技術中進一步提出了分模塊驗證的模塊化驗證方式，對不同的模塊搭建不同的驗證平臺，驗證成本高，且無法實現跨模塊的驗證。由此可知，如何提高大規模芯片驗證的效率和穩定性，降低大規模芯片驗證的成本成為亟待解決的技術問題。
技術實現思路
1、本專利技術目的在于，提供一種大規模芯片驗證方法、電子設備和介質，提高了大規模芯片驗證的效率和穩定性，降低了大規模芯片驗證的成本。
2、根據本專利技術第一方面，提供了一種大規模芯片驗證方法，包括：
3、步驟s1、基于預設的python數據結構構建目標測試用例，所述預設的python數據結構包括測試用例名稱數據段、測試用例組名稱數據段、驗證配置信息名稱數據段和測試參數數據段，所述測試用例名稱數據段用于定義測試目標測試用例的名稱，所述測試用例組名稱數據段用于指定目標測試用例對應的測試用例組名稱，測試用例組為用于驗證芯片同一功能屬性的多個測試用例組成的集合，所述驗證配置信息名稱數據段用于指定目標測試用例對應的驗證配置信息名稱，所述測試參數數據段用于定義目標測
4、步驟s2、解析所述目標測試用例，獲取目標測試用例對應的測試用例組名稱、目標測試用例對應的驗證配置信息名稱和目標測試用例對應的測試參數；
5、步驟s3、基于目標測試用例對應的驗證配置信息名稱從預設的驗證配置信息列表中獲取對應的目標驗證配置信息；
6、步驟s4、基于目標驗證配置信息配置大規模芯片驗證系統，生成目標大規模芯片驗證系統；
7、步驟s5、基于目標測試用例對應的測試用例組名稱從預設的測試用例組庫中獲取對應的目標測試用例組；
8、步驟s6、將目標測試用例對應的測試參數傳遞給目標測試用例組中的測試用例中，然后將目標測試用例組中的測試用例在目標大規模芯片驗證系統上運行，對驗證目標進行驗證。
9、根據本專利技術第二方面，提供一種電子設備，包括：至少一個處理器；以及，與所述至少一個處理器通信連接的存儲器；其中，所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的指令，所述指令被設置為用于執行本專利技術第一方面所述的方法。
10、根據本專利技術第三方面，提供一種計算機可讀存儲介質，存儲有計算機可執行指令，所述計算機指令用于執行本專利技術第一方面所述的方法。
11、本專利技術與現有技術相比具有明顯的優點和有益效果。借由上述技術方案，本專利技術提供的一種大規模芯片驗證方法、電子設備和介質可達到相當的技術進步性及實用性，并具有產業上的廣泛利用價值，其至少具有以下有益效果：
12、本專利技術所述方法基于預先構建的驗證配置信息列表以及測試集群庫，直接快速準確地基于預設的python數據結構構建目標測試用例，然后基于目標測試用例、預先構建的驗證配置信息列表以及測試集群庫將目標測試集群中的測試用例在目標大規模芯片驗證系統上運行，對驗證目標進行驗證，提高了大規模芯片驗證的效率和穩定性，降低了芯片驗證成本。
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1.一種大規模芯片驗證方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，
8.一種電子設備，其特征在于，包括：
9.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于執行前述權利要求1-7中任一項所述的方法。
【技術特征摘要】
1.一種大規模芯片驗證方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，
5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，
6....
【專利技術屬性】
技術研發人員：鄒俊俊，
申請(專利權)人：沐曦集成電路上海有限公司，
類型：發明
國別省市：
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