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    可調(diào)四量程吸收池的檢測單元制造技術

    技術編號:44050265 閱讀:11 留言:0更新日期:2025-01-17 15:54
    本發(fā)明專利技術屬于檢測儀器技術領域。本發(fā)明專利技術提供了一種可調(diào)節(jié)吸收池光程的檢測單元,包括:光源、探測器、吸收池、待測物質(zhì)入口、基底物質(zhì)入口、第一排出物質(zhì)出口、第一二通閥、第二排出物質(zhì)出口、第三排出物質(zhì)出口、第三二通閥、第四排出物質(zhì)出口、第四二通閥、三通閥、基底物質(zhì)管;所述吸收池的兩端設置有光源和探測器;所述待測物質(zhì)入口和基底物質(zhì)出口分別設置在吸收池的兩端;所述第一排出物質(zhì)出口設置在待測物質(zhì)入口和基底物質(zhì)出口之間;所述第一排出物質(zhì)出口設置有二通閥;所述基底物質(zhì)入口設置有三通閥。本發(fā)明專利技術提供的檢測單元具有結(jié)構簡單、重復性好,可靠性強、成本低、多光程自由快速切換等優(yōu)點。

    【技術實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術屬于檢測儀器,尤其涉及自動調(diào)節(jié)吸收池有效吸收層厚度從而實現(xiàn)待測物質(zhì)寬濃度范圍的檢測。


    技術介紹

    1、現(xiàn)有檢測儀器中通常采用的是固定長度的吸收池,即設備制造好后吸收層厚度就無法調(diào)節(jié)了,這將導致儀器無法同時兼顧同種待測物質(zhì)在高濃度和低濃度條件下的測量需求,或者多種吸光度差異較大的待測混合物質(zhì)的同時測量。

    2、針對這一問題,現(xiàn)有技術中公開了一些能夠調(diào)節(jié)光程(吸收厚度)的吸收池方案,這其中大致可分為三類:第一類是具有運動機構,通過控制腔鏡、腔體的相對位置變化實現(xiàn)光程調(diào)節(jié),如專利cn103163641b公開了一種通過旋轉(zhuǎn)角鏡實現(xiàn)多光程變化的裝置;專利cn111982817b公開了一種通過旋轉(zhuǎn)腔體實現(xiàn)光程調(diào)整的裝置;第二類是沒有運動機構,通過增加光源、探測器數(shù)量或采用晶體光學技術,通過復用部分氣體池或使用電致或偏振原理改變光路傳播方向?qū)崿F(xiàn)光程調(diào)整,如專利cn108732130b公開了一種采用偏振器件增加光程的方法;第三類是串聯(lián)多個氣體池,通過手動或自動的氣路或光路切換實現(xiàn)光程的調(diào)整,如專利cn111077083a公開了一種多氣體池檢測結(jié)構,并通過換向閥切換對氣體池進行選擇從而實現(xiàn)光程調(diào)整。第一類存在運動機構,調(diào)節(jié)過程中帶來的振動、磨損以及每次調(diào)節(jié)中光學元件姿態(tài)的微小差異都會導致光學檢測結(jié)果的偏差,同時這類運動機構存在使用壽命以及切換速度的問題,難以滿足許多工業(yè)現(xiàn)場快速且頻繁的切換需求。第二類雖沒有運動機構,但增加的各類光學元器件成本較高且結(jié)構復雜,調(diào)試難度相對較大;更為重要的是,測量精度與光源強度和探測器響應的穩(wěn)定性有關,多路光源和探測器之間的一致性及其隨外部環(huán)境的變化趨勢的一致性將直接影響儀器性能,因此這類方案在增加硬件部件的同時,也增加了很多測試、標定和控制工作。第三類方案在結(jié)構上較前兩種更為簡單,無運動機構也沒有增加復雜的光路結(jié)構,但多個氣體池的使用增大了裝配和調(diào)試的難度,同時也成倍增加了檢測路徑上窗片的數(shù)量。而窗片數(shù)量的增加會大幅度降低檢測光的透過率,尤其當待測物質(zhì)存在污染性或腐蝕性時,其對光路的影響將會成倍上升。此外,此類方法能夠?qū)崿F(xiàn)的光程長度調(diào)節(jié)比例在結(jié)構固定后即已確定,實際應用過程中無法做到靈活調(diào)整。


    技術實現(xiàn)思路

    1、有鑒于此,本專利技術提供了一種可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,包括:光源、探測器、吸收池、待測物質(zhì)入口、基底物質(zhì)入口、第一排出物質(zhì)出口、第一二通閥、第二排出物質(zhì)出口、第三排出物質(zhì)出口、第三二通閥、第四排出物質(zhì)出口、第四二通閥、三通閥、基底物質(zhì)管;所述吸收池為無折返光路的吸收池;所述光源和探測器設置在吸收池附近,所述探測器設置在檢測光線射出吸收池處,以便最有效率地探測射出的檢測光線;所述待測物質(zhì)入口和基底物質(zhì)出口分別設置在吸收池的兩端且盡可能不留死體積;所述第一排出物質(zhì)出口設置在待測物質(zhì)入口和基底物質(zhì)出口之間;所述第一排出物質(zhì)出口設置有第一二通閥;所述基底物質(zhì)入口設置有三通閥,所述基底物質(zhì)入口與三通閥第一接口相連通;所述三通閥第二接口與基底物質(zhì)管相連通;所述三通閥第三接口與第二排出物質(zhì)出口相連通。

    2、在本專利技術的具體實施例中,所述的光源和探測器的位置可以互換。

    3、在本專利技術的具體實施例中,所述第一排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口四分之一的吸收池物理長度的距離處。

    4、在本專利技術的具體實施例中,所述吸收池的待測物質(zhì)流動方向與檢測光傳播方向一致或相反。

    5、在本專利技術的具體實施例中,所述第三排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口二分之一的吸收池物理長度的距離處。

    6、在本專利技術的具體實施例中,所述第四排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口四分之三的吸收池物理長度的距離處。

    7、在本專利技術的具體實施例中,所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,還包括:控制模塊,所述控制模塊分別與二通閥、三通閥和探測器通過線路或信號相連。

    8、本專利技術還提供了所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元測量待測物質(zhì)濃度的方法,包括如下步驟:依據(jù)待測物質(zhì)濃度確定低靈敏度量程、第一中靈敏度量程、第二中靈敏度量程或高靈敏度量程的測量方法;

    9、所述低靈敏度量程的測量方法,包括如下步驟:第一二通閥打開,第三、第四二通閥關閉,三通閥第一接口和第二接口導通;待測物質(zhì)從待測物質(zhì)入口進入吸收池,基底物質(zhì)經(jīng)過三通閥第二接口、第一接口后進入吸收池;待測物質(zhì)和基底物質(zhì)都從第一排出物質(zhì)出口排出;探測器探測吸收池內(nèi)光信號,計算待測物質(zhì)濃度;

    10、所述第一中靈敏度量程的測量方法,包括如下步驟:第三二通閥打開,第一、第四二通閥關閉,三通閥第一接口和第二接口導通;待測物質(zhì)從待測物質(zhì)入口進入吸收池,基底物質(zhì)經(jīng)過三通閥第二接口、第一接口后進入吸收池;待測物質(zhì)和基底物質(zhì)都從第三排出物質(zhì)出口排出;探測器探測吸收池內(nèi)光信號,計算待測物質(zhì)濃度;

    11、所述第二中靈敏度量程的測量方法,包括如下步驟:第四二通閥打開,第一、第三二通閥關閉,三通閥第一接口和第二接口導通;待測物質(zhì)從待測物質(zhì)入口進入吸收池,基底物質(zhì)經(jīng)過三通閥第二接口、第一接口后進入吸收池;待測物質(zhì)和基底物質(zhì)都從第四排出物質(zhì)出口排出;探測器探測吸收池內(nèi)光信號強度信號,計算待測物質(zhì)濃度;

    12、所述高靈敏度量程的測量方法,包括如下步驟:二通閥全部關閉,三通閥第一接口和第三接口導通;待測物質(zhì)從待測物質(zhì)入口進入吸收池,并從基底物質(zhì)入口進入后經(jīng)過三通閥第一接口、第三接口、第二排出物質(zhì)出口后排出吸收池;探測器探測吸收池內(nèi)光信號,計算待測物質(zhì)濃度。

    13、本專利技術提供的檢測單元具有結(jié)構簡單、重復性好,可靠性強、成本低、多光程自由快速切換等優(yōu)點。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術保護點】

    1.可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,包括:光源、探測器、吸收池、待測物質(zhì)入口、基底物質(zhì)入口、三通閥、第一排出物質(zhì)出口、第一二通閥、第二排出物質(zhì)出口、基底物質(zhì)管、第三排出物質(zhì)出口、第三二通閥、第四排出物質(zhì)出口、第四二通閥;

    2.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述的光源和探測器的位置可以互換。

    3.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第一排出物質(zhì)出口設置在待測物質(zhì)入口和第三排出物質(zhì)入口之間。

    4.依據(jù)權利要求3所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第一排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口四分之一的吸收池物理長度的距離處。

    5.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第三排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口四分之二的吸收池物理長度的距離處。

    6.依據(jù)權利要求3所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第四排出物質(zhì)出口設置在在距待測物質(zhì)入口四分之三的吸收池物理長度的距離處。

    7.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述吸收池的待測物質(zhì)流動方向與檢測光傳播方向一致或相反。

    8.權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,還包括:控制模塊,所述控制模塊分別與第一二通閥、第三二通閥、第四二通閥、三通閥和探測器通過線路或信號相連。

    9.依據(jù)權利要求1至8任一所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元測量待測物質(zhì)濃度的方法,其特征在不,包括如下步驟:

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    【技術特征摘要】

    1.可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,包括:光源、探測器、吸收池、待測物質(zhì)入口、基底物質(zhì)入口、三通閥、第一排出物質(zhì)出口、第一二通閥、第二排出物質(zhì)出口、基底物質(zhì)管、第三排出物質(zhì)出口、第三二通閥、第四排出物質(zhì)出口、第四二通閥;

    2.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述的光源和探測器的位置可以互換。

    3.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第一排出物質(zhì)出口設置在待測物質(zhì)入口和第三排出物質(zhì)入口之間。

    4.依據(jù)權利要求3所述的可調(diào)四量程吸收池的檢測單元,其特征在于,所述第一排出物質(zhì)出口設置在距待測物質(zhì)入口四分之一的吸收池物理長度的距離處。

    5.依據(jù)權利要求1所述的可調(diào)四量程吸收池的...

    【專利技術屬性】
    技術研發(fā)人員:牛擁軍董博祎雷鳴余福勝賈林權韓汐張倩暄謝政
    申請(專利權)人:西安西熱鍋爐環(huán)保工程有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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