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    景深探測系統(tǒng)、景深探測方法、圖像處理方法及電子設(shè)備技術(shù)方案

    技術(shù)編號:44054421 閱讀:8 留言:0更新日期:2025-01-17 15:57
    本申請?zhí)峁┝艘环N景深探測系統(tǒng)、景深探測方法、圖像處理方法及電子設(shè)備。景深探測系統(tǒng)包括:激光發(fā)生器、數(shù)字微鏡裝置、光電探測器、鑒相器和控制器;數(shù)字微鏡裝置位于激光發(fā)生器的出光路徑上,數(shù)字微鏡裝置與控制器電性連接;光電探測器用于接收被反射回的反射光;鑒相器分別與激光發(fā)生器和光電探測器電性連接,鑒相器分別接收激光發(fā)生器反饋的發(fā)射光的第一相位信息,以及光電探測器反饋的反射光的第二相位信息,根據(jù)第一相位信息和第二相位信息確定發(fā)射光和反射光的相位差;控制器接收鑒相器反饋的相位差,并根據(jù)相位差確定景深信息。本申請的景深探測系統(tǒng),可以獲得目標區(qū)域的全景深度信息,這有利于提高圖像的景深效果。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本申請涉及激光測量,特別涉及一種景深探測系統(tǒng)、景深探測方法、圖像處理方法及電子設(shè)備


    技術(shù)介紹

    1、在成像光學(xué)系統(tǒng)中,待成像的物體或其部分通常僅在特定的距離范圍內(nèi)由光學(xué)系統(tǒng)進行基本清晰的成像。該距離范圍的范圍稱為景深。在該特定的距離范圍之外,該物體的其他部分或其他物體可能以模糊的方式成像。

    2、相關(guān)技術(shù)的電子設(shè)備(如智能手機、運行相機等)的攝像頭只能實現(xiàn)單點測距,無法獲知全景深度信息,獲取的圖像普遍存在景深效果較差的問題。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、本申請?zhí)峁┝艘环N景深探測系統(tǒng)、景深探測方法、圖像處理方法及電子設(shè)備,能夠解決攝像頭單點測距,圖像景深效果較差的問題。

    2、所述技術(shù)方案如下:

    3、一方面,提供了一種景深探測系統(tǒng),所述景深探測系統(tǒng)包括:激光發(fā)生器、數(shù)字微鏡裝置、光電探測器、鑒相器和控制器;

    4、所述激光發(fā)生器用于產(chǎn)生發(fā)射光;

    5、所述數(shù)字微鏡裝置位于所述激光發(fā)生器的出光路徑上,所述數(shù)字微鏡裝置與所述控制器電性連接,所述數(shù)字微鏡裝置用于在所述控制器的控制下朝向不同方向反射所述發(fā)射光;

    6、所述光電探測器用于接收被反射回的反射光;

    7、所述鑒相器分別與所述激光發(fā)生器和所述光電探測器電性連接,所述鑒相器分別接收所述激光發(fā)生器反饋的所述發(fā)射光的第一相位信息,以及所述光電探測器反饋的所述反射光的第二相位信息,根據(jù)所述第一相位信息和所述第二相位信息確定所述發(fā)射光和所述反射光的相位差;

    8、所述鑒相器與所述控制器電性連接,所述控制器接收所述鑒相器反饋的所述相位差,并根據(jù)所述相位差確定景深信息。

    9、在一些實施例中,所述數(shù)字微鏡裝置包括多個反射陣元,多個反射陣元呈陣列式活動布置,每個所述反射陣元均包括初始狀態(tài)和至少一個工作狀態(tài);

    10、所述初始狀態(tài)下,所述反射陣元不向目標區(qū)域內(nèi)反射所述發(fā)射光;

    11、所述至少一個工作狀態(tài)下,所述反射陣元將所述發(fā)射光朝向所述目標區(qū)域的其中一個目標方向反射。

    12、在一些實施例中,所述景深探測系統(tǒng)還包括吸光裝置,所述吸光裝置用于吸收所述反射陣元在所述初始狀態(tài)下反射的所述發(fā)射光。

    13、在一些實施例中,所述吸光裝置包括以下一項或多項:吸光泡棉、吸光涂層、碳納米管黑體。

    14、在一些實施例中,所述景深探測系統(tǒng)還包括擴束鏡,所述擴束鏡位于所述激光發(fā)生器和所述數(shù)字微鏡裝置之間,所述擴束鏡用于對所述發(fā)射光進行非平行擴束,使得所述發(fā)射光能夠覆蓋至所述數(shù)字微鏡裝置的反射表面。

    15、在一些實施例中,所述擴束鏡和所述數(shù)字微鏡裝置之間還設(shè)有光闌元件,所述光闌元件用于約束所述發(fā)射光的邊界范圍。

    16、另一方面,提供了一種景深探測方法,應(yīng)用于本申請所述的景深探測系統(tǒng),所述景深探測方法包括:

    17、所述控制器確定目標區(qū)域,以及所述目標區(qū)域內(nèi)的至少一個目標方向;

    18、所述控制器根據(jù)所述至少一個目標方向與所述數(shù)字微鏡裝置的映射關(guān)系,確定所述數(shù)字微鏡裝置中至少一個反射陣元的目標工作狀態(tài),并向所述數(shù)字微鏡裝置發(fā)出第一控制指令;

    19、所述數(shù)字微鏡裝置響應(yīng)于所述第一控制指令,控制所述至少一個反射陣元調(diào)整至所述目標工作狀態(tài);

    20、所述控制器向所述激光發(fā)生器發(fā)出產(chǎn)生所述發(fā)射光的第二控制指令,所述激光發(fā)生器響應(yīng)于所述第二控制指令產(chǎn)生所述發(fā)射光,并將所述發(fā)射光的所述第一相位信息輸入所述鑒相器;

    21、所述控制器向所述光電探測器發(fā)出接收所述反射光的第三控制指令,所述光電探測器響應(yīng)于所述第三控制指令接收所述反射光,并將所述反射光的所述第二相位信息輸入所述鑒相器;

    22、所述鑒相器根據(jù)所述第一相位信息和所述第二相位信息確定所述發(fā)射光和所述反射光的相位差;

    23、所述控制器接收所述鑒相器反饋的所述相位差,并根據(jù)所述相位差確定所述至少一個目標方向上的景深信息。

    24、在一些實施例中,所述第二控制指令和所述第三控制指令為所述控制器同時發(fā)出。

    25、另一方面,提供了一種圖像處理方法,所述圖像處理方法包括:

    26、圖像處理單元獲取目標區(qū)域的二維圖像;

    27、所述圖像處理單元獲取本申請所述的景深探測系統(tǒng)輸出的所述目標區(qū)域的景深信息;

    28、所述圖像處理單元根據(jù)將所述景深信息對所述目標區(qū)域進行景深域劃分,并確定每個所述景深域的深度參數(shù);

    29、所述圖像處理單元將所述景深域與所述二維圖像重合,并根據(jù)所述景深域的深度參數(shù)對所述二維圖像的重合區(qū)域進行深度處理。

    30、另一方面,提供了一種電子設(shè)備,所述電子設(shè)備包括本申請任一項所述的景深探測系統(tǒng),或者采用本申請所述的景深探測方法,或者本申請所述的圖像處理方法。

    31、本申請?zhí)峁┑募夹g(shù)方案帶來的有益效果至少包括:

    32、本申請的景深探測系統(tǒng),在激光發(fā)生器的出光路徑上設(shè)置數(shù)字微鏡裝置,數(shù)字微鏡裝置能夠利用自身的可活動的反射特性將激光反射到不同的方向,能夠?qū)崿F(xiàn)對整個目標區(qū)域的景深掃描,從不同方向反射回來的反射光被光電探測器接收,鑒相器將反射光的相位信息與發(fā)射光的相位信息進行比較確定相位差,控制器根據(jù)該相位差就可以確定對應(yīng)方向的景深信息,整合目標區(qū)域的所有景深信息,就可以獲得目標區(qū)域的全景深度信息,這有利于提高圖像的景深效果。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護點】

    1.一種景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)包括:激光發(fā)生器(1)、數(shù)字微鏡裝置(2)、光電探測器(3)、鑒相器(4)和控制器(5);

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述數(shù)字微鏡裝置(2)包括多個反射陣元(21),多個反射陣元(21)呈陣列式活動布置,每個所述反射陣元(21)均包括初始狀態(tài)和至少一個工作狀態(tài);

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)還包括吸光裝置(6),所述吸光裝置(6)用于吸收所述反射陣元(21)在所述初始狀態(tài)下反射的所述發(fā)射光。

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述吸光裝置(6)包括以下一項或多項:吸光泡棉、吸光涂層、碳納米管黑體。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)還包括擴束鏡(7),所述擴束鏡(7)位于所述激光發(fā)生器(1)和所述數(shù)字微鏡裝置(2)之間,所述擴束鏡(7)用于對所述發(fā)射光進行非平行擴束,使得所述發(fā)射光能夠覆蓋至所述數(shù)字微鏡裝置(2)的反射表面。

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述擴束鏡(7)和所述數(shù)字微鏡裝置(2)之間還設(shè)有光闌元件(8),所述光闌元件(8)用于約束所述發(fā)射光的邊界范圍。

    7.一種景深探測方法,其特征在于,應(yīng)用于權(quán)利要求1至6中任一項所述的景深探測系統(tǒng),所述景深探測方法包括:

    8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的景深探測方法,其特征在于,所述第二控制指令和所述第三控制指令為所述控制器(5)同時發(fā)出。

    9.一種圖像處理方法,其特征在于,所述圖像處理方法包括:

    10.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括權(quán)利要求1至6中任一項所述的景深探測系統(tǒng),或者采用權(quán)利要求7或8所述的景深探測方法,或者權(quán)利要求9所述的圖像處理方法。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)包括:激光發(fā)生器(1)、數(shù)字微鏡裝置(2)、光電探測器(3)、鑒相器(4)和控制器(5);

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述數(shù)字微鏡裝置(2)包括多個反射陣元(21),多個反射陣元(21)呈陣列式活動布置,每個所述反射陣元(21)均包括初始狀態(tài)和至少一個工作狀態(tài);

    3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)還包括吸光裝置(6),所述吸光裝置(6)用于吸收所述反射陣元(21)在所述初始狀態(tài)下反射的所述發(fā)射光。

    4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述吸光裝置(6)包括以下一項或多項:吸光泡棉、吸光涂層、碳納米管黑體。

    5.根據(jù)權(quán)利要求1至4中任一項所述的景深探測系統(tǒng),其特征在于,所述景深探測系統(tǒng)還包括擴束鏡(7),所述擴束鏡(7)位于所述激光發(fā)生器(...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:鄢曉
    申請(專利權(quán))人:北京小米移動軟件有限公司
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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