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    ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)技術(shù)方案

    技術(shù)編號(hào):44065734 閱讀:12 留言:0更新日期:2025-01-17 16:04
    本發(fā)明專利技術(shù)公開(kāi)了一種ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),該方法中將連接寄存器lr作為待檢寄存器,將通用寄存器R0?R12作為輔助寄存器,先開(kāi)辟數(shù)據(jù)棧,將各個(gè)寄存器中的原始數(shù)據(jù)暫存入數(shù)據(jù)棧,并將數(shù)據(jù)棧起始地址和修改前程序工作模式也存入數(shù)據(jù)棧中,之后通過(guò)對(duì)輔助寄存器初始化,最后通過(guò)輔助寄存器對(duì)待測(cè)寄存器進(jìn)行賦值并借助March算法來(lái)檢測(cè)寄存器中某一位數(shù)據(jù)突變時(shí)對(duì)其他數(shù)據(jù)是否會(huì)有影響,以實(shí)現(xiàn)寄存器自檢;該自檢方法,能夠檢測(cè)出ARM架構(gòu)下的寄存器內(nèi)部是否出現(xiàn)故障,從而對(duì)出現(xiàn)故障的系統(tǒng)做出一個(gè)預(yù)警,防止由于芯片內(nèi)部寄存器故障導(dǎo)致系統(tǒng)出現(xiàn)不可預(yù)知的問(wèn)題。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及寄存器測(cè)試,更具體地,涉及一種arm架構(gòu)下寄存器自檢及、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。


    技術(shù)介紹

    1、目前現(xiàn)有技術(shù)中關(guān)于芯片內(nèi)部寄存器檢測(cè)的主要技術(shù)有:專利《一種自測(cè)試芯片及自測(cè)試方法》公開(kāi)了對(duì)寄存器存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)校驗(yàn)運(yùn)算的測(cè)試方案,專利《基于march算法的dram故障檢測(cè)方法和裝置》公開(kāi)了使用march算法對(duì)dram內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫(xiě)來(lái)測(cè)試dram的測(cè)試方案。

    2、然而,現(xiàn)有測(cè)試方案均無(wú)法實(shí)現(xiàn)單個(gè)寄存器內(nèi)部故障的自檢,只能通過(guò)一次讀寫(xiě)寄存器來(lái)測(cè)試寄存器是否正常,現(xiàn)有測(cè)試方法并不能測(cè)試出來(lái)寄存器內(nèi)部的某一位從0寫(xiě)為1的時(shí)候是否會(huì)影響附近某一位數(shù)據(jù)。

    3、綜上,現(xiàn)階段急需研發(fā)一種arm架構(gòu)下寄存器自檢方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)以解決上述存在的問(wèn)題。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、本專利技術(shù)的一個(gè)目的是提供一種arm架構(gòu)下寄存器自檢方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)的新技術(shù)方案。

    2、根據(jù)本專利技術(shù)的第一方面,提供了一種arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,所述方法包括:

    3、一種arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述方法包括:

    4、步驟s1:將通用寄存器r0-r7和連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)存入第一數(shù)據(jù)棧中;

    5、步驟s2:將第一數(shù)據(jù)棧起始地址存入通用寄存器r7中,并將修改前程序工作模式存入通用寄存器r4中;

    6、步驟s3:當(dāng)檢測(cè)到程序工作模式被修改的情況下,在內(nèi)存中開(kāi)辟第二數(shù)據(jù)棧,并將通用寄存器r4中存放的修改前程序工作模式、通用寄存器r7中存放的第一數(shù)據(jù)棧起始地址以及通用寄存器r8-r12中的數(shù)據(jù)存入第二數(shù)據(jù)棧中,再將第二數(shù)據(jù)棧起始地址存入通用寄存器r7中;

    7、步驟s4:分別對(duì)通用寄存器r0-r12進(jìn)行初始化;

    8、步驟s5:將初始化后的通用寄存器rn中的數(shù)據(jù)先寫(xiě)入連接寄存器lr中再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中,其中n=1~12,以實(shí)現(xiàn)寄存器的自檢測(cè)并得到自檢結(jié)果。

    9、可選地,所述步驟s1具體包括:

    10、將通用寄存器r7和連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)放入第一數(shù)據(jù)棧中;

    11、將通用寄存器r0-r6中的數(shù)據(jù)放入第一數(shù)據(jù)棧起始地址之后7個(gè)連續(xù)數(shù)據(jù)棧存儲(chǔ)空間中。

    12、可選地,通過(guò)修改程序狀態(tài)寄存器中的數(shù)據(jù)來(lái)修改程序工作模式;

    13、所述程序工作模式為用戶模式、快速中斷模式、中斷模式、管理模式、中止模式、系統(tǒng)模式以及未定義模式中的任一種。

    14、可選地,所述步驟s4具體為:分別將通用寄存器r0、r2、r4、r6、r8、r10及r12中的值設(shè)置為0xffffffff,并分別將通用寄存器r1、r3、r5、r7、r9及r11中的值設(shè)置為0x00000000。

    15、可選地,所述步驟s5具體包括:

    16、將通用寄存器r1中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)通用寄存器r1和連接寄存器lr中儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)均為0x00000000;

    17、將通用寄存器r2中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到通用寄存器r0中;

    18、將通用寄存器r1中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0x00000000,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    19、將通用寄存器r3中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)中,再將通用寄存器r4中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)中,此時(shí),連接寄存器中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,最后將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0;

    20、將通用寄存器r5中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中數(shù)據(jù)為0x00000000,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    21、將通用寄存器r6中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    22、將通用寄存器r7中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0x00000000,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    23、將通用寄存器r8中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    24、將通用寄存器r9中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0x00000000,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    25、將通用寄存器r10中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    26、將通用寄存器r11中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0x00000000,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中;

    27、將通用寄存器r12中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入連接寄存器lr中,此時(shí)連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)為0xffffffff,再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中。

    28、可選地,所述步驟s5之后還包括:

    29、步驟s6:從第二數(shù)據(jù)棧中讀出存儲(chǔ)的相應(yīng)通用寄存器r8-r12中的數(shù)據(jù)到通用寄存器r8-r12中,從第二數(shù)據(jù)棧中讀出存儲(chǔ)的第一數(shù)據(jù)棧起始地址到通用寄存器r7中,并從第二數(shù)據(jù)棧中讀出修改前程序工作模式到通用寄存器r4中,再?gòu)耐ㄓ眉拇嫫鱮4中讀出修改前程序工作模式到程序狀態(tài)寄存器中。

    30、可選地,所述步驟s6之后還包括:

    31、步驟7:如果自檢結(jié)果為成功,則從第一數(shù)據(jù)棧中讀出存儲(chǔ)的相應(yīng)通用寄存器r0-r6中的數(shù)據(jù)到通用寄存器r0-r6中,并從第一數(shù)據(jù)棧中讀出存儲(chǔ)的相應(yīng)通用寄存器r7和連接寄存器lr的數(shù)據(jù)以分別寫(xiě)入到通用寄存器r7和連接寄存器lr中。

    32、根據(jù)本專利技術(shù)的第二方面,提供了一種arm架構(gòu)下寄存器自檢系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:

    33、第一處理模塊,被配置為將通用寄存器r0-r7和連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)存入第一數(shù)據(jù)棧中;

    34、第二處理模塊,被配置為將第一數(shù)據(jù)棧起始地址存入通用寄存器r7中,并將修改前程序工作模式存入通用寄存器r4中;

    35、第三處理模塊,被配置為當(dāng)檢測(cè)到程序工作模式被修改的情況下,在內(nèi)存中開(kāi)辟第二數(shù)據(jù)棧,并將通用寄存器r4中存放的修改前程序工作模式、通用寄存器r7中存放的第一數(shù)據(jù)棧起始地址以及通用寄存器r8-r12中的數(shù)據(jù)存入第二數(shù)據(jù)棧中,再將第二數(shù)據(jù)棧起始地址存入通用寄存器r7中;

    36、第四處理模塊,被配置為分別對(duì)通用寄存器r0-r12進(jìn)行初始化;

    37、第五處理模塊,被配置為將初始化后的通用寄存器rn中的數(shù)據(jù)先寫(xiě)入連接寄存器lr中再將連接寄存器lr中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入通用寄存器r0中,其中n=1~本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟S1具體包括:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,通過(guò)修改程序狀態(tài)寄存器中的數(shù)據(jù)來(lái)修改程序工作模式;

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟S4具體為:分別將通用寄存器R0、R2、R4、R6、R8、R10及R12中的值設(shè)置為0xFFFFFFFF,并分別將通用寄存器R1、R3、R5、R7、R9及R11中的值設(shè)置為0x00000000。

    5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟S5具體包括:

    6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟S5之后還包括:

    7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟S6之后還包括:

    8.一種ARM架構(gòu)下寄存器自檢系統(tǒng),其特征在于,所述系統(tǒng)包括:

    9.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí),實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的一種ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法中的步驟。

    10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),其特征在于,所述計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí),實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項(xiàng)所述的一種ARM架構(gòu)下寄存器自檢方法中的步驟。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟s1具體包括:

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,通過(guò)修改程序狀態(tài)寄存器中的數(shù)據(jù)來(lái)修改程序工作模式;

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟s4具體為:分別將通用寄存器r0、r2、r4、r6、r8、r10及r12中的值設(shè)置為0xffffffff,并分別將通用寄存器r1、r3、r5、r7、r9及r11中的值設(shè)置為0x00000000。

    5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的arm架構(gòu)下寄存器自檢方法,其特征在于,所述步驟s5具體包括:

    ...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:劉鑫,周政強(qiáng),溫宜明,董志強(qiáng),朱耿華,
    申請(qǐng)(專利權(quán))人:北京康吉森技術(shù)有限公司
    類型:發(fā)明
    國(guó)別省市:

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