【技術實現步驟摘要】
本公開涉及但不限于測距領域，尤其涉及一種反射率校正tof測距方法、裝置、設備及存儲介質。
技術介紹
1、通常，光子飛行時間(time?of?flight，tof)測距方法是通過光脈沖發射器(如激光發射器)發射光脈沖，光脈沖照射到待測目標后，經待測目標漫反射至光子探測器；通過計時器記錄光脈沖發射器發射光脈沖的起始時間，以及光子探測器探測到待測目標反射的光子的終止時間，確定光子飛行時間，再根據光速、時間與距離的關系，換算出待測目標的距離。相關技術實際應用中，一般通過多次發射光脈沖來產生大量的光子飛行事件，再通過統計光子飛行時間對應的事件次數得到直方圖，確定直方圖的峰值所在位置為待測目標距離的光子飛行時間，進而根據光子飛行時間確定待測目標的位置。但是，相關技術中采用直方圖的峰值所在位置確定被測目標的光子飛行時間存在測不準的問題，其根本在于：直方圖的峰值與理論距離的直方圖的峰值出現偏差，出現偏差的原因包括多種情況，具體見本公開的說明書及相關附圖部分。如何提高確定光子飛行時間的準確性，進而提高測距結果的準確性，亟待解決。
技術實現思路
1、有鑒于此，本公開實施例期望提供一種反射率校正tof測距方法、裝置、設備及存儲介質。
2、第一方面，本公開實施例提供一種反射率校正tof測距方法，所述方法包括：
3、獲取經待測目標反射的光脈沖的光子飛行時間的統計結果；其中，所述統計結果包括光子的探測時間和與探測時間對應的光子數量；
4、根據所述統計結果，確定探測到光脈沖的
5、根據所述探測到光脈沖的起始時間以及發射所述光脈沖的起始時間，確定所述待測目標的距離。
6、在一些實施例中，所述根據所述統計結果，確定探測到光脈沖的起始時間，包括：
7、根據所述統計結果，確定光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度；
8、根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間。
9、在一些實施例中，所述聚集度包括：統計結果在直方圖中的峰展寬的加權值、半高寬、標準差的相關值、四分位數的相關值中的一者；
10、其中，所述標準差的相關值是指，所述統計結果在直方圖中的整數倍標準差或非整數倍標準差對應的時間區間長度；
11、所述四分位數的相關值是指，所述統計結果在直方圖中的任意兩個四分位數之間對應的時間區間長度。
12、在一些實施例中，所述根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間，包括：
13、將所述光子數量在探測時間上的分布中心減去所述聚集度，確定為所述探測到光子的起始時間。
14、在一些實施例中，所述標準差為分布標準差或映射標準差；
15、其中，所述分布標準差是指，反映所述光子數量在探測時間上的分布情況的標準差；
16、所述映射標準差是指，根據預設的映射關系由所述光子數量確定的標準差。
17、在一些實施例中，所述發射所述光脈沖的起始時間，包括：
18、控制信號的產生時間、控制信號的接收時間或光脈沖的實際發射時間中的一者；其中，所述控制信號為控制發射所述光脈沖的信號。
19、在一些實施例中，根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間，包括：
20、獲取與所述聚集度相關的補償系數，并利用所述補償系數對所述聚集度進行補償；
21、將所述光子數量在探測時間上的分布中心減去補償后的聚集度，確定為所述探測到光脈沖的起始時間。
22、在一些實施例中，所述根據所述探測到光脈沖的起始時間以及發射所述光脈沖的起始時間，確定所述待測目標的距離，包括：
23、獲取標定誤差；
24、確定所述探測到光脈沖的起始時間與發射所述光脈沖的起始時間的時間差；
25、根據所述標定誤差和所述時間差，確定所述待測目標的距離。
26、第二方面，本公開實施例提供一種反射率校正tof測距裝置，所述裝置包括：
27、單光子響應模塊，用于響應探測光子；其中，所述光子包括光脈沖經待測目標反射后的光子；
28、時間信息模塊，用于獲取所述光脈沖的光子的探測時間；
29、計數模塊，用于對探測的光子進行計數并統計，得到統計結果；其中，所述統計結果包括光子的探測時間和與探測時間對應的光子數量；
30、數據處理模塊，用于根據所述統計結果，確定探測到光脈沖的起始時間；以及根據所述探測到光脈沖的起始時間以及發射所述光脈沖的起始時間，確定所述待測目標的距離。
31、在一些實施例中，所述數據處理模塊，用于根據所述統計結果，確定光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度；根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間。
32、在一些實施例中，所述聚集度包括：統計結果在直方圖中的峰展寬的加權值、半高寬、標準差的相關值、四分位數的相關值中的一者；
33、其中，所述標準差的相關值是指，所述統計結果在直方圖中的整數倍標準差或非整數倍標準差對應的時間區間長度；
34、所述四分位數的相關值是指，所述統計結果在直方圖中的任意兩個四分位數之間對應的時間區間長度。
35、在一些實施例中，所述數據處理模塊，用于將所述光子數量在探測時間上的分布中心減去所述聚集度，確定為所述探測到光子的起始時間。
36、在一些實施例中，所述標準差為分布標準差或映射標準差；
37、其中，所述分布標準差是指，反映所述光子數量在探測時間上的分布情況的標準差；
38、所述映射標準差是指，根據預設的映射關系由所述光子數量確定的標準差。
39、在一些實施例中，所述發射所述光脈沖的起始時間，包括：
40、控制信號的產生時間、控制信號的接收時間或光脈沖的實際發射時間中的一者；其中，所述控制信號為控制發射所述光脈沖的信號。
41、在一些實施例中，所述數據處理模塊，用于獲取與所述聚集度相關的補償系數，并利用所述補償系數對所述聚集度進行補償；將所述光子數量在探測時間上的分布中心減去補償后的聚集度，確定為所述探測到光脈沖的起始時間。
42、在一些實施例中，所述數據處理模塊，用于獲取標定誤差；確定所述探測到光脈沖的起始時間與發射所述光脈沖的起始時間的時間差；根據所述標定誤差和所述時間差，確定所述待測目標的距離。
43、第三方面，本公開實施例提供一種反射率校正tof測距設備，包括：
44、單光子響應模塊，用于響應探測光子；其中，所述光子包括光脈沖經待測目標反射后的光子；
45、時間信息模塊，用于獲取所述光脈沖的光子的探測時間；
46、計數模塊，用于對探測的光子進行計數并統計，得到統計結果；其中，所述統計結果包括光子的探測本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種反射率校正ToF測距方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述統計結果，確定探測到光脈沖的起始時間，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述聚集度包括：統計結果在直方圖中的峰展寬的加權值、半高寬、標準差的相關值、四分位數的相關值中的一者；
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間，包括：
5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述標準差為分布標準差或映射標準差；
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述發射所述光脈沖的起始時間，包括：
7.根據權利要求2或3所述的方法，其特征在于，根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間，包括：
8.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述探測到光脈沖的起始時間以及發射所述光脈沖的起始時間，確定所述待測目標的距離，包括：
9.一種反射率校正T
10.一種反射率校正ToF測距設備，其特征在于，所述設備包括：
11.一種計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至8中任一項所述的方法。
...【技術特征摘要】
1.一種反射率校正tof測距方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述統計結果，確定探測到光脈沖的起始時間，包括：
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述聚集度包括：統計結果在直方圖中的峰展寬的加權值、半高寬、標準差的相關值、四分位數的相關值中的一者；
4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述根據所述光子數量在探測時間上的分布中心以及聚集度，確定所述探測到光脈沖的起始時間，包括：
5.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，所述標準差為分布標準差或映射標準差；
6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張璽，宋林胤，張睿，
申請(專利權)人：深圳北極芯微電子有限公司，
類型：發明
國別省市：
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