【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于磁納米材料測試，更具體地，涉及一種基于核磁共振波譜參數的磁納米粒子質量濃度測量方法。
技術介紹
1、磁納米粒子mnps?(magnetic?nanoparticles)具備諸多優良的物理性質，例如其納米級的尺寸，超順磁性的特征等，因此在生物醫學、核磁共振成像、磁流體、數據存儲等方面得到了大量的關注和應用，在實際應用中，mnps被表面活性劑包裹，并均勻地分散在基液中，形成穩定的膠體懸浮液，經過外源磁場?的作用，溶液中的mnps在被磁化后形成一定的團簇結構并改變自身周圍磁場的分布情況，使得“局部”磁場不均勻，在核磁共振波譜中體現為fwhm的增寬。其中，磁納米粒子的濃度變化最能體現出fwhm增寬的過程，兩者的關系在實際實驗得到數據中表現為良好的線形關系，而且由于傳統的溶液質量濃度測量方法，在保持高精度的同時，存在成本極高、需要樣品量大、適用性較低的問題。因此，對于已經通過磁共振實驗建立足夠數據庫的條件下，為了達到資源的充足利用，完全可以利用磁共振實驗中得到的數據建立相應的質量濃度與半高寬表達式，實現通過磁共振波譜半高寬預測待測樣品試劑質量濃度的功能。然而，在針對現有的溶液質量濃度測量的方法中，高精度測量的核磁共振法準確度高、結構解析能力強，但其成本極高、需要樣品量大，適用性較低。
技術實現思路
1、為解決現有技術中存在的技術問題，本專利技術提供了一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，在磁共振的基礎上，建立磁共振波譜半高寬、待測樣品粒徑以及質量濃度的數學模型
2、為實現上述目的，按照本專利技術的第一方面，提供了一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，該方法包括以下步驟：
3、s1.?在設定的溫度t下，采用核磁共振的方法對未加入磁納米粒子的純氘水試劑進行測量，記錄核磁共振波譜中半高寬fwhm的數值；
4、s2.選擇標稱粒徑一致的磁納米粒子試劑，按照比例將其稀釋為不同質量濃度的試劑，對不同濃度下的磁納米粒子試劑進行核磁共振實驗，記錄對應的核磁共振波譜中半高寬的數值；
5、s3.?s2中記錄的質量濃度與半高寬對應的樣本點，表現形式為離散的數據點，將離散的數據點線性擬合后，得到在磁納米粒子粒徑統一的條件下，核磁共振波譜半高寬與磁納米粒子濃度的線性關系，其中，為核磁共振波譜半高寬與磁納米粒子質量濃度線性關系的斜率，c為測試樣品中的磁納米粒子質量濃度；
6、s4.?選擇多組標稱粒徑不一致的磁納米粒子試劑，按照s2中的步驟，將各個粒徑下對應的試劑稀釋為不同質量濃度的樣品，再分別對不同質量濃度的磁納米粒子試劑進行磁共振實驗，記錄對應的核磁共振波譜中半高寬的數值；
7、s5.?在s4的各組實驗中，根據不同粒徑下半高寬（fwhm）與質量濃度（massconcentration）的線性關系，得到不同粒徑對應的，粒徑與對應不同的樣品點，將離散的樣品點擬合，建立磁納米粒子粒徑d與粒子粒徑對應的之間的線性關系，其表達式為：，其中，k為該線性關系的斜率，d為待測樣品中的磁納米粒子的標稱粒徑，b為線性關系的截距；
8、s6.?通過s3與s5中公式，得到磁納米粒子質量濃度與半高寬的關系式，根據該關系式，在已知待測濃度的磁納米粒子試劑所對應的核磁共振波譜半高寬與磁納米粒子粒徑d的情況下，可以預測待測磁納米粒子試劑的質量濃度。
9、優選地，測量時的設定的溫度t的波動范圍限制為280k～320k。
10、優選地，在測試過程中，保持一致的參數為溫度t、磁納米粒子粒徑d、外源磁場。
11、通過本專利技術所構思的以上方案，能夠取得以下有益效果：
12、本專利技術通過利用磁納米粒子在磁共振波譜中的參數與濃度的對應關系建立線性回歸曲線，依據該曲線來預測磁納米粒子樣品的質量濃度，通過磁共振波譜的半高寬來反映磁納米粒子的質量濃度，提供了較高的質量濃度的測量精度。
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1.一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，所述S1中，測量時設定的溫度T的波動范圍限制為280?K～320?K。
3.根據權利要求1所述的一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，在測試過程中，保持一致的參數為溫度T、磁納米粒子粒徑d、外源磁場。
4.根據權利要求1所述的一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，在實際的實驗數據中，在上述條件下半高寬與磁納米粒子的質量濃度關系是線性的。
【技術特征摘要】
1.一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，該方法包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的一種基于核磁共振波譜半高寬的磁納米粒子質量濃度計算方法，其特征在于，所述s1中，測量時設定的溫度t的波動范圍限制為280?k～320?k。
3.根據權利要求1所述的一種...
【專利技術屬性】
技術研發人員：張亞鵬，胡松，張斌，羅維平，馬雙寶，
申請(專利權)人：武漢紡織大學，
類型：發明
國別省市：
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