【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及l(fā)do測試，尤其涉及一種ldo測試主板及測試裝置。
技術(shù)介紹
1、隨著當(dāng)下社會快速發(fā)展，各種電子儀器裝置已經(jīng)進(jìn)入千家萬戶。在當(dāng)下的各類電子元器件中，低壓差線性穩(wěn)壓器(low?dropout?regulator，ldo)是一種非常常見且重要的元器件，ldo的主要作用是將不穩(wěn)定的輸入電壓轉(zhuǎn)換為更加穩(wěn)定的可調(diào)節(jié)的直流輸出電壓，從而為其他芯片、元器件供電，降低因?yàn)殡娫措妷翰环€(wěn)導(dǎo)致的產(chǎn)品性能變化。ldo擁有結(jié)構(gòu)簡單、功耗低、輸出電壓紋波小等優(yōu)點(diǎn)。它的主要性能指標(biāo)有輸入電壓范圍、輸出電壓、最小壓差、輸出紋波、輸出紋波抑制比等。對于ldo產(chǎn)品來說，產(chǎn)品通常應(yīng)該做到高度一致且產(chǎn)品實(shí)際性能穩(wěn)定在性能指標(biāo)左右，通常情況下同一批次生產(chǎn)的ldo各項(xiàng)性能指標(biāo)基本相同，然而任何東西都不可能完全一致，即使是同樣的生產(chǎn)條件生產(chǎn)的ldo，其性能也會存在差異，這種差異通常不會消失而是一點(diǎn)一點(diǎn)累積，最終積少成多影響到最終產(chǎn)品的性能，導(dǎo)致產(chǎn)品最終性能不統(tǒng)一。
2、目前，傳統(tǒng)ldo測試裝置雖兼容許多功能且精度非常高，但成本高昂、體積大、重量重，且測試較為麻煩。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)的目的是針對
技術(shù)介紹
存在的技術(shù)問題，提出一種ldo測試主板，測試主板上設(shè)置有mcu控制單元、電源、運(yùn)算放大器以及l(fā)do測試夾，電源分別與mcu控制單元以及l(fā)do測試夾的輸入端連接，ldo測試夾的輸出端與運(yùn)算放大器的輸入端連接，運(yùn)算放大器的輸出端與mcu控制單元連接，mcu控制單元用于與上位機(jī)連接。
2、進(jìn)一步
3、進(jìn)一步地，ldo測試夾包括若干測試夾單元，測試夾單元上設(shè)置有插裝口，插裝口用于ldo產(chǎn)品的插裝。
4、進(jìn)一步地，插裝口處還設(shè)置有卡扣，卡扣用于ldo產(chǎn)品的卡緊作用。
5、進(jìn)一步地，ldo測試夾設(shè)置在測試主板的背面。
6、此外本技術(shù)還提供一種ldo測試裝置，包括本技術(shù)的一種ldo測試主板。
7、進(jìn)一步地，ldo測試裝置設(shè)置有通信串口，mcu控制單元與通信串口連接，并通過通信串口實(shí)現(xiàn)與上位機(jī)的通信。
8、進(jìn)一步地，通信串口通過usb與上位機(jī)連接。
9、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本技術(shù)具有如下有益的技術(shù)效果：本技術(shù)通過在測試主板上集成mcu控制單元、電源、運(yùn)算放大器以及l(fā)do測試夾即可實(shí)現(xiàn)對ldo的測試，結(jié)構(gòu)簡單，進(jìn)一步地，因測試主板為pcb板，其具有較高的集成度，因此可極大的縮小測試裝置的體積，綜上，可以理解，本技術(shù)的測試裝置成本低、體積小巧、重量輕、操作方便，可通過上位機(jī)軟件一鍵式生成測試報告，便于在產(chǎn)線上直接進(jìn)行測試，且測試精度較高，滿足絕大部分企業(yè)的測試需求。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種LDO測試主板，其特征在于，所述測試主板上設(shè)置有MCU控制單元、電源、運(yùn)算放大器以及LDO測試夾，所述電源分別與所述MCU控制單元以及所述LDO測試夾的輸入端連接，所述LDO測試夾的輸出端與所述運(yùn)算放大器的輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的輸出端與所述MCU控制單元連接，所述MCU控制單元用于與上位機(jī)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LDO測試主板，其特征在于，所述MCU控制單元包括信號疊加單元、數(shù)據(jù)處理單元以及通信單元，所述通信單元分別與所述數(shù)據(jù)處理單元以及信號疊加單元連接，所述通信單元用于與上位機(jī)通信連接，以實(shí)現(xiàn)MCU控制單元與上位機(jī)的通信，所述信號疊加單元與所述電源連接，用于產(chǎn)生方波信號并作用于電源，所述數(shù)據(jù)處理單元與所述運(yùn)算放大器連接，用于接收來自所述運(yùn)算放大器的信號，并通過所述通信單元將該信號傳送至上位機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LDO測試主板，其特征在于，所述LDO測試夾包括若干測試夾單元，所述測試夾單元上設(shè)置有插裝口，所述插裝口用于LDO產(chǎn)品的插裝。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種LDO測試主板，其特征在于，所述插裝口處還
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種LDO測試主板，其特征在于，所述LDO測試夾設(shè)置在所述測試主板的背面。
6.一種LDO測試裝置，其特征在于，包括權(quán)利要求1-5任一所述的一種LDO測試主板。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種LDO測試裝置，其特征在于，所述LDO測試裝置設(shè)置有通信串口，所述MCU控制單元與所述通信串口連接，并通過所述通信串口實(shí)現(xiàn)與上位機(jī)的通信。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種LDO測試裝置，其特征在于，所述通信串口通過USB與上位機(jī)連接。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種ldo測試主板，其特征在于，所述測試主板上設(shè)置有mcu控制單元、電源、運(yùn)算放大器以及l(fā)do測試夾，所述電源分別與所述mcu控制單元以及所述ldo測試夾的輸入端連接，所述ldo測試夾的輸出端與所述運(yùn)算放大器的輸入端連接，所述運(yùn)算放大器的輸出端與所述mcu控制單元連接，所述mcu控制單元用于與上位機(jī)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種ldo測試主板，其特征在于，所述mcu控制單元包括信號疊加單元、數(shù)據(jù)處理單元以及通信單元，所述通信單元分別與所述數(shù)據(jù)處理單元以及信號疊加單元連接，所述通信單元用于與上位機(jī)通信連接，以實(shí)現(xiàn)mcu控制單元與上位機(jī)的通信，所述信號疊加單元與所述電源連接，用于產(chǎn)生方波信號并作用于電源，所述數(shù)據(jù)處理單元與所述運(yùn)算放大器連接，用于接收來自所述運(yùn)算放大器的信號，并通過所述通信單元將該信號傳送至上位機(jī)。
3.根據(jù)權(quán)利要...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：李霞，陳威龍，宋哲，
申請(專利權(quán))人：深圳市易探科技有限公司，
類型：新型
國別省市：
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