【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及igbt模塊的測試領(lǐng)域，尤其涉及一種用于igbt模塊的半自動中測臺以及測試方法。
技術(shù)介紹
1、現(xiàn)有的igbt模型在進(jìn)行測試時，往往一臺設(shè)備只能對一個數(shù)據(jù)進(jìn)行測試，在測試不同的參數(shù)時需要不同的設(shè)備，以及在對不同的igbt模塊進(jìn)行測試時，也需要不同的測試設(shè)備，增加了生產(chǎn)成本。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的主要目的在于提供一種用于igbt模塊的半自動中測臺以及測試方法，用于解決上述技術(shù)問題。
2、為達(dá)到以上目的，本專利技術(shù)采用的技術(shù)方案為：一種用于igbt模塊的半自動中測臺，包括：
3、底座；
4、縱向模組，設(shè)置在底座上，縱向模組的輸出端沿第一方向來回移動；
5、橫向模組，通過支架設(shè)置在底座上，橫向模組的輸出端沿第二方向來回移動，第二方向與第一方向相互垂直且均平行于水平面；
6、豎向模組，設(shè)置在橫向模組的輸出端上，豎向模組的輸出端沿第三方向來回移動，所述第三方向垂直于第一方向和第二方向；
7、安裝盒，設(shè)置在豎向模組的輸出端上；
8、安裝板，可拆卸地設(shè)置在安裝盒的下表面；
9、測試針，具有多個，按照預(yù)定的布局豎向設(shè)置在安裝板上，通過縱向模組、橫向模組以及豎向模組的移動，多個測試針能夠與需要測試的igbt模塊上的多個引腳接觸；
10、控制模塊，能夠選擇性控制引腳的電連接情況、通斷情況以及施加電流或者電壓的大小，進(jìn)而通過反饋信號判斷igbt模塊的好壞，所述控制模塊包括第
11、優(yōu)選地，具有多個安裝板，在每個安裝板上設(shè)置有對應(yīng)不同igbt模塊的引腳布局。
12、本專利技術(shù)還提供了一種igbt模塊的測試方法，采用上述中測臺，所述igbt模塊包括上橋和下橋，上橋和下橋的結(jié)構(gòu)相同，均包括一個igbt，igbt內(nèi)置二極管，二極管的一端與igbt的漏極d連接，另一端與源極s連接，并且二極管沿著從源極s到漏極d的方向?qū)ǎ聵虻穆Od連接第一引腳，下橋的源極s連接第二引腳和第七引腳，下橋的柵極g連接第六引腳，上橋的漏極d連接第三引腳，上橋的源極連接所述第一引腳，上橋的柵極g連接第四引腳；
13、所述測試方法具體包括如下步驟：
14、步驟一、選擇對應(yīng)所述igbt模塊上的引腳布局的測試針；
15、步驟二、移動縱向模組、橫向模組以及豎向模組使測試針與對應(yīng)的第一引腳-第七引腳接觸；
16、步驟三、控制模塊控制第一引腳-第七引腳的狀態(tài)實現(xiàn)對igbt模塊的測試。
17、優(yōu)選地，所述測試方法用于對vth進(jìn)行測試，所述步驟三具體包括如下步驟：
18、步驟31、對上橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
19、步驟311、控制模塊控制第一接線端與第四引腳電連接，第二接線端與第三引腳電連接，第三接線端與第一引腳和第五引腳電連接；
20、步驟312、控制模塊將第一接線端與第二接線端短路；
21、步驟313、控制模塊將第一接線端和第三接線端向上橋的柵極g和源極s之間輸出電壓并通過調(diào)整電壓，使上橋的柵極g和源極s之間具有一個1ma的電流，此時柵極g和源極s之間的電壓值即為閾值電壓vth；
22、步驟314、將獲取的閾值電壓vth與理論值進(jìn)行比較判斷上橋是否存在問題；
23、步驟32、下橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
24、步驟321、將第一接線端與第六引腳連接，將第二接線端與第一引腳和第五引腳連接，第三接線端與第二引腳和第七引腳連接；
25、步驟322、控制模塊將第一接線端和第二接線端短路，向第一接線端和第三接線端輸出電壓并通過調(diào)整電壓，使下橋的柵極g和源極s之間具有一個1ma的電流，此時柵極g和源極s之間的電壓值即為閾值電壓vth；
26、步驟323、將獲取的閾值電壓vth與理論值進(jìn)行比較判斷上橋是否存在問題。
27、優(yōu)選地，所述測試方法用于對iges進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
28、步驟33、對上橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
29、步驟331、將控制模塊的第一接線端與第四引腳連接，第二接線端與第三引腳連接，第三接線端與第一引腳和第五引腳電連接；
30、步驟332、控制模塊控制第二接線端和第三接線端短路，通過第一接線端和第三接線端向上橋的柵極g和源極s之間輸出20v電壓；
31、步驟333、監(jiān)測上橋的柵極g和源極s之間的電流，通過電流的大小判斷柵極g和源極s之間是否漏電；
32、步驟34、對下橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
33、步驟341、控制模塊將第一接線端與第六引腳連接，將第二接線端與第一引腳和第五引腳連接，第三接線端與第二引腳和第七引腳連接；
34、步驟342、控制模塊控制第二接線端和第三接線端短路，通過第一接線端和第三接線端向上橋的柵極g和源極s之間輸出20v電壓；
35、步驟343、監(jiān)測上橋的柵極g和源極s之間的電流，通過電流的大小判斷柵極g和源極s之間是否漏電。
36、優(yōu)選地，所述測試方法用于對ices進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
37、步驟35、對上橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
38、步驟351、將控制模塊的第一接線端與第四引腳連接，將控制模塊的第二接線端與第三引腳連接，第三接線端與第一引腳和第五引腳電連接；
39、步驟352、控制模塊控制第一接線端和第三接線端短路，通過第二接線端和第三接線端將上橋的漏極d和源極s之間施加一個600v的電壓；
40、步驟353、監(jiān)測漏極d和源極s之間的電流，通過電流的大小判斷漏極d和源極s之間是否發(fā)生漏電；
41、步驟36、對下橋進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
42、步驟361、將第一接線端與第六引腳連接，將第二接線端與第一引腳和第五引腳連接，第三接線端與第二引腳和第七引腳連接；
43、步驟362、控制模塊控制第一接線端和第三接線端短路，通過第二接線端和第三接線端將上橋的d極和s極之間施加一個600v的電壓；
44、步驟363、監(jiān)測漏極d和源極s之間的電流，通過電流的大小判斷漏極d和源極s之間是否發(fā)生漏電。
45、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)具有以下有益效果：
46、本專利技術(shù)的中測臺以及測試方法，能夠?qū)崿F(xiàn)對igbt模塊多參數(shù)的測試，并且測試時只需要在開始時將測試針與igbt模塊的引腳接觸，在后續(xù)對多個參數(shù)測試時不需要進(jìn)行移動，只需要改變電路的狀態(tài)即可；并且該中測臺能夠?qū)崿F(xiàn)對不同的igbt模塊的測試，只需要更換安裝板以及測試針即可。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點】
1.一種用于IGBT模塊的半自動中測臺，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于IGBT模塊的半自動中測臺，其特征在于，具有多個安裝板，在每個安裝板上設(shè)置有對應(yīng)不同IGBT模塊的引腳布局。
3.一種IGBT模塊的測試方法，采用權(quán)利要求2所述的一種用于IGBT模塊的半自動中測臺，所述IGBT模塊包括上橋和下橋，上橋和下橋的結(jié)構(gòu)相同，均包括一個IGBT，IGBT內(nèi)置二極管，二極管的一端與IGBT的漏極D連接，另一端與源極S連接，并且二極管沿著從源極S到漏極D的方向?qū)ǎ聵虻穆OD連接第一引腳，下橋的源極S連接第二引腳和第七引腳，下橋的柵極G連接第六引腳，上橋的漏極D連接第三引腳，上橋的源極連接所述第一引腳，上橋的柵極G連接第四引腳；其特征在于，
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種IGBT模塊的測試方法，其特征在于，所述測試方法用于對Vth進(jìn)行測試，所述步驟三具體包括如下步驟：
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種IGBT模塊的測試方法，其特征在于，所述測試方法用于對Iges進(jìn)行測試，具體包括如下步驟：
6.根據(jù)權(quán)利要求3所述
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種用于igbt模塊的半自動中測臺，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于igbt模塊的半自動中測臺，其特征在于，具有多個安裝板，在每個安裝板上設(shè)置有對應(yīng)不同igbt模塊的引腳布局。
3.一種igbt模塊的測試方法，采用權(quán)利要求2所述的一種用于igbt模塊的半自動中測臺，所述igbt模塊包括上橋和下橋，上橋和下橋的結(jié)構(gòu)相同，均包括一個igbt，igbt內(nèi)置二極管，二極管的一端與igbt的漏極d連接，另一端與源極s連接，并且二極管沿著從源極s到漏極d的方向?qū)ǎ聵虻穆Od連接第一引腳，下橋的源極s連...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：郭宗友，龔秀友，李盛穩(wěn)，陳俊彥，王敬，
申請(專利權(quán))人：廣東巨風(fēng)半導(dǎo)體有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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