System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長(zhǎng)度必須引用該字符串內(nèi)的位置。 參數(shù)名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)屬于但不限于材料科學(xué)和工程領(lǐng)域,尤其涉及一種基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法與系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域中,晶粒結(jié)構(gòu)對(duì)材料的宏觀力學(xué)性能具有至關(guān)重要的影響。特別是在金屬材料中,晶粒的尺寸、形態(tài)和取向直接影響材料的強(qiáng)度、延展性、硬度和抗疲勞性能。因此,研究晶粒在不同條件下的演變規(guī)律,尤其是在復(fù)雜應(yīng)力場(chǎng)下的取向變化及其對(duì)材料宏觀性能的影響,是材料科學(xué)中的重要研究課題。
2、目前,電子背散射衍射(ebsd)技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于材料的微觀組織表征。ebsd能夠提供晶粒的取向、晶界、相信息等細(xì)致的微觀結(jié)構(gòu)信息,使研究人員可以深入理解材料的微觀組織與宏觀力學(xué)性能之間的關(guān)系。然而,ebsd技術(shù)通常只提供靜態(tài)的晶粒信息,無(wú)法直接捕捉晶粒在動(dòng)態(tài)加載過(guò)程中的演變。為了彌補(bǔ)這一不足,有限元法(fem)被廣泛用于模擬和預(yù)測(cè)材料在加載過(guò)程中的變形行為。通過(guò)將ebsd實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與有限元仿真相結(jié)合,研究人員可以更加精確地描述材料在復(fù)雜應(yīng)力狀態(tài)下的晶粒旋轉(zhuǎn)和變形行為。
3、盡管將ebsd數(shù)據(jù)與有限元仿真相結(jié)合的方法在材料研究中取得了一定進(jìn)展,但現(xiàn)有技術(shù)仍然存在一定的局限性。在宏觀-微觀多尺度分析中,現(xiàn)有技術(shù)難以有效建立兩者間的精準(zhǔn)關(guān)聯(lián)。傳統(tǒng)的有限元方法往往側(cè)重于宏觀尺度的材料響應(yīng),忽視了微觀晶粒結(jié)構(gòu)在應(yīng)力狀態(tài)下的演化。而ebsd技術(shù)雖然能夠詳細(xì)表征微觀結(jié)構(gòu),但在與宏觀性能關(guān)聯(lián)時(shí)缺乏實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)更新能力。這導(dǎo)致在復(fù)雜加載條件下,微觀結(jié)構(gòu)對(duì)材料宏觀力學(xué)性能的影響未能得到充分的考慮,限制了模擬結(jié)果的準(zhǔn)確性和
4、綜上所述,建立精確的多尺度模型在材料科學(xué)和工程領(lǐng)域中具有極為重要的意義。通過(guò)將ebsd數(shù)據(jù)與有限元仿真相結(jié)合,不僅能夠在微觀層面對(duì)晶粒取向、晶界演化等結(jié)構(gòu)特征進(jìn)行深入分析,還可以將這些微觀信息傳遞至宏觀尺度,以更準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)材料的整體力學(xué)性能。因此,開(kāi)發(fā)能夠有效結(jié)合宏觀和微觀尺度的動(dòng)態(tài)模型,對(duì)于提升材料行為預(yù)測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性至關(guān)重要。這不僅有助于推動(dòng)材料科學(xué)的發(fā)展,也為工程應(yīng)用中材料性能的優(yōu)化提供了堅(jiān)實(shí)的理論基礎(chǔ)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的問(wèn)題,本專利技術(shù)提供了一種基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法與系統(tǒng)。
2、本專利技術(shù)是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,該方法包括:
3、s1:通過(guò)matlab調(diào)用uifigure、uilabel等基礎(chǔ)控件,使用selectionchangedfcn和sizechangedfcn實(shí)現(xiàn)多尺度建模系統(tǒng)的響應(yīng)式交互,構(gòu)建宏-微觀多尺度模型建模系統(tǒng)的使用界面;
4、s2:在s1中的界面中選擇相應(yīng)的宏觀模型及其對(duì)應(yīng)的邊界條件,采用matlab寫入創(chuàng)建abaqus初始模型實(shí)體的py文件;同時(shí),完成創(chuàng)建裝備體、建立分析步、創(chuàng)建參考點(diǎn)、建立參考點(diǎn)耦合約束、添加固定約束、添加載荷約束等與對(duì)應(yīng)的邊界條件的設(shè)置;
5、s3:通過(guò)matlab讀取ebsd獲取的真實(shí)微觀組織的數(shù)據(jù),自動(dòng)獲取ebsd實(shí)驗(yàn)掃描區(qū)域的長(zhǎng)、寬以及掃描步長(zhǎng),并在初始宏觀模型中需要新增微觀模型的區(qū)域劃分出與ebsd掃描區(qū)域相同的長(zhǎng)和寬的面域,并記錄面域的初始頂點(diǎn)坐標(biāo);接著,對(duì)初始宏觀模型進(jìn)行粗網(wǎng)格劃分,對(duì)微觀模型區(qū)域按ebsd實(shí)驗(yàn)掃描步長(zhǎng)的尺寸進(jìn)行網(wǎng)格劃分,并生成inp文件;
6、s4:采用matlab調(diào)用metx工具箱導(dǎo)入ebsd數(shù)據(jù),在matlab工作區(qū)創(chuàng)建ebsd數(shù)據(jù)集;
7、s5:采用晶粒分割、置信指數(shù)過(guò)濾、小晶粒過(guò)濾等方法對(duì)ebsd數(shù)據(jù)建立晶粒集合、刪除極小尺寸的晶粒,對(duì)ebsd數(shù)據(jù)進(jìn)行降噪,提高ebsd數(shù)據(jù)的質(zhì)量;
8、s6:提取降噪后的ebsd數(shù)據(jù),繪制降噪后的晶粒分布圖,并與ebsd數(shù)據(jù)的晶粒分布圖進(jìn)行比;
9、s7:通過(guò)matlab讀取初始模型的每個(gè)節(jié)點(diǎn)數(shù)據(jù)和單元數(shù)據(jù);根據(jù)每個(gè)晶粒的位置(x、y坐標(biāo))、每個(gè)晶粒所占的像素值,生成abaqus中每個(gè)晶粒的節(jié)點(diǎn)和單元集合的數(shù)據(jù)文件;接著,將生成的數(shù)據(jù)文件與s3中所記錄面域的初始頂點(diǎn)坐標(biāo)對(duì)齊,寫入初始模型的inp文件中,生成同時(shí)含微觀晶粒組織模型和宏觀模型的多尺度晶體塑性有限元模型的inp文件;
10、s8:將晶粒歐拉角轉(zhuǎn)換為弧度值,使用matlab輸出賦予每個(gè)晶粒材料屬性以及宏觀模型材料屬性的python文件;
11、s9:通過(guò)matlab調(diào)用abaqus執(zhí)行材料屬性賦予的python文件,對(duì)每個(gè)晶粒及宏觀模型同時(shí)賦予材料屬性,并生成最終的宏-微觀多尺度晶體塑性有限元模型inp文件;
12、s10:通過(guò)matlab調(diào)用abaqus運(yùn)行最終生成的inp文件,并調(diào)用晶體塑性有限元模擬的子程序,輸出最終生成的晶體塑性有限元模型中每個(gè)晶粒的取向信息,調(diào)用metx繪制最終輸出的每個(gè)晶粒的極圖;同時(shí),通過(guò)matlab調(diào)用metx工具箱繪制原始ebsd數(shù)據(jù)的極圖以及降噪處理后晶粒集合的極圖,對(duì)比模型最終輸出的極圖與初始極圖、降噪后的極圖的一致性;
13、s11:通過(guò)matlab寫入提取晶體塑性有限元模擬應(yīng)力應(yīng)變曲線的python文件,通過(guò)matlab調(diào)用abaqus執(zhí)行python文件,獲取宏-微觀多尺度晶體塑性有限元模擬的應(yīng)力應(yīng)變曲線并與實(shí)驗(yàn)結(jié)果相對(duì)比,驗(yàn)證模型的準(zhǔn)確性。
14、進(jìn)一步,所述s2中初始模型實(shí)體包括常用于實(shí)驗(yàn)測(cè)試的拉伸模型、裂紋擴(kuò)展模型、沖擊韌性模型等宏觀標(biāo)準(zhǔn)模型;所述s4中數(shù)據(jù)集包含晶粒類型,晶粒id,晶粒取向,相序列,晶粒旋轉(zhuǎn)等重要信息。
15、進(jìn)一步,所述s5中晶粒分割、置信指數(shù)過(guò)濾、小晶粒過(guò)濾公式為:
16、
17、其中,晶粒旋轉(zhuǎn)表示為r1和r2,δθ是兩點(diǎn)之間的取向角度差。如果δθ>angle,則這兩個(gè)點(diǎn)被視為屬于不同的晶粒;
18、
19、對(duì)于每個(gè)測(cè)量點(diǎn)i,其置信指數(shù)為cii;
20、
21、其中,g為每個(gè)晶粒,size(g)為每個(gè)晶粒的大小。
22、進(jìn)一步,所述s6中ebsd數(shù)據(jù),包括每個(gè)晶粒的晶粒編號(hào)、等效直徑、晶粒取向歐拉角、晶粒像素點(diǎn)坐標(biāo)、晶粒集合等數(shù)據(jù)。
23、進(jìn)一步,所述s8中宏觀模型材料屬性賦予代碼的包含自動(dòng)讀取晶粒歐拉角弧度值、弧度值轉(zhuǎn)換為米勒指數(shù)、賦予晶粒尺寸效應(yīng)、宏觀模型工程應(yīng)力應(yīng)變轉(zhuǎn)換為真實(shí)應(yīng)力應(yīng)變四個(gè)部分。
24、進(jìn)一步,所述弧度值轉(zhuǎn)換為米勒指數(shù)、晶粒尺寸效應(yīng)、工程應(yīng)力應(yīng)變轉(zhuǎn)換為真實(shí)應(yīng)力應(yīng)變公式的分別為:
25、
26、τi=τ0+kd-0.5(i=1,2,3…)
27、σt=σe(1+εe)
28、εt=ln(1+εe)
29、其中,θ為章動(dòng)角,ψ為旋進(jìn)角,φ為自轉(zhuǎn)角;u,v,w為晶向指數(shù);h,k,l為晶面指數(shù);i為晶粒的編號(hào),τ0為晶粒的初始屈服強(qiáng)度,k為反應(yīng)晶界對(duì)變形的影響系數(shù),d晶粒的等本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,該方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述S2中初始模型實(shí)體包括常用于實(shí)驗(yàn)測(cè)試的拉伸模型、裂紋擴(kuò)展模型、沖擊韌性模型等宏觀標(biāo)準(zhǔn)模型;所述S4中數(shù)據(jù)集包含晶粒類型,晶粒ID,晶粒取向,相序列,晶粒旋轉(zhuǎn)等重要信息。
3.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述S5中晶粒分割、置信指數(shù)過(guò)濾、小晶粒過(guò)濾公式為:
4.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述S6中EBSD數(shù)據(jù),包括每個(gè)晶粒的晶粒編號(hào)、等效直徑、晶粒取向歐拉角、晶粒像素點(diǎn)坐標(biāo)、晶粒集合等數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述S8中宏觀模型材料屬性賦予代碼的包含自動(dòng)讀取晶粒歐拉角弧度值、弧度值轉(zhuǎn)換為米勒指數(shù)、賦予晶粒尺寸效應(yīng)、宏觀模型工程應(yīng)力應(yīng)變轉(zhuǎn)換為真實(shí)應(yīng)力應(yīng)變四個(gè)部分。
6.如權(quán)利要求5所
7.一種基于如權(quán)利要求1-6所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法的基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模系統(tǒng),其特征在于,該系統(tǒng)具體包括:
8.一種計(jì)算機(jī)設(shè)備,其特征在于,所述計(jì)算機(jī)設(shè)備包括存儲(chǔ)器和處理器,所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被所述處理器執(zhí)行時(shí),使得所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法的步驟。
9.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序,所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí),使得所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1-6任意一項(xiàng)所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法的步驟。
10.一種信息數(shù)據(jù)處理終端,其特征在于,所述信息數(shù)據(jù)處理終端用于實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求7所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模系統(tǒng)。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,該方法包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述s2中初始模型實(shí)體包括常用于實(shí)驗(yàn)測(cè)試的拉伸模型、裂紋擴(kuò)展模型、沖擊韌性模型等宏觀標(biāo)準(zhǔn)模型;所述s4中數(shù)據(jù)集包含晶粒類型,晶粒id,晶粒取向,相序列,晶粒旋轉(zhuǎn)等重要信息。
3.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述s5中晶粒分割、置信指數(shù)過(guò)濾、小晶粒過(guò)濾公式為:
4.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述s6中ebsd數(shù)據(jù),包括每個(gè)晶粒的晶粒編號(hào)、等效直徑、晶粒取向歐拉角、晶粒像素點(diǎn)坐標(biāo)、晶粒集合等數(shù)據(jù)。
5.如權(quán)利要求1所述基于真實(shí)微觀組織的宏-微觀多尺度模型全自動(dòng)建模方法,其特征在于,所述s8中宏觀模型材料屬性賦予代碼的包含自動(dòng)讀取晶粒歐拉角弧度值、弧度值轉(zhuǎn)換為米勒指數(shù)、賦予晶粒尺寸效應(yīng)、宏觀模型工程應(yīng)力應(yīng)變轉(zhuǎn)換為真實(shí)應(yīng)力應(yīng)變四個(gè)...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:耿韶寧,周宸宇,宋敏杰,仇越,舒樂(lè)時(shí),許博安,王逸麟,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:華中科技大學(xué),
類型:發(fā)明
國(guó)別省市:
還沒(méi)有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。