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    一種電弧檢測電路及檢測方法技術(shù)

    技術(shù)編號:44098148 閱讀:27 留言:0更新日期:2025-01-21 12:31
    本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種電弧檢測電路及檢測方法,所述電路包括低頻采樣電路和高頻采樣電路,其輸入端與被測電纜上套的低頻電流環(huán)和高頻電流環(huán)相連接;ADC采集電路,其輸入端分別與低頻采樣電路和高頻采樣電路的輸出端連接,將低頻采樣電路和高頻采樣電路輸出的模擬信號轉(zhuǎn)為數(shù)字信號;MCU,其與ADC采集電路的輸出端連接。本發(fā)明專利技術(shù)通過低頻與高頻采集電路的協(xié)同作用,不僅提升了電弧檢測的準確性和可靠性,還有效支持了系統(tǒng)的動態(tài)調(diào)整能力,確保了對潛在故障的及時預(yù)警及處理。而少量數(shù)據(jù)的獲取以及簡單的故障電弧特征提取方法的使用有效降低運算量,對硬件成本的需求也隨之降低;多邏輯循環(huán)判斷使得故障電弧與開關(guān)電弧特征能有效區(qū)分開來,增加識別的準確率。

    【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及電弧故障檢測領(lǐng)域,具體涉及一種電弧檢測電路及檢測方法


    技術(shù)介紹

    1、隨著社會經(jīng)濟的不斷發(fā)展,火災(zāi)事故的數(shù)量也在不斷上升,其中電氣火災(zāi)發(fā)生的原因主要由住宅內(nèi)部的線路在長時間帶載運行下出現(xiàn)線路絕緣層老化或絕緣破損等,此類線路情況容易造成線路間串并聯(lián)電弧故障或線路對地短路故障的發(fā)生。與短路故障短路瞬間電流增大的特征相比,低壓故障電弧發(fā)生時線路中電流幅值較小且極易受到電網(wǎng)雜波影響,傳統(tǒng)的電路檢測裝置無法有效檢測出線路故障電弧,因此保護失效。絕緣材料被擊穿后形成的導電通路使電弧持續(xù)燃熾,燃熾時產(chǎn)生的局部高溫極易引燃周圍的可燃物而造成火災(zāi),嚴重威脅人員的生命財產(chǎn)安全。

    2、現(xiàn)有的交流故障電弧檢測技術(shù)中,大多是使用一種或者幾種參數(shù)結(jié)合并根據(jù)參數(shù)特點設(shè)定固定判斷閾值,通過計算得來的參數(shù)值與判斷閾值進行比較,若參數(shù)值在判斷區(qū)間則判定為有電弧發(fā)生,反之沒有電弧發(fā)生;但實際使用中參數(shù)的獲取與計算需要消耗一定量的算力,這使得檢測設(shè)備的成本投入變高;因此需要一種簡單的參數(shù)獲取與特征計算方法,降低設(shè)備成本以便投入使用。


    技術(shù)實現(xiàn)思路

    1、本專利技術(shù)要解決的技術(shù)問題是設(shè)計一種簡單的參數(shù)獲取與特征計算方法,并結(jié)合多次邏輯判斷有效提高識別精度,降低檢測設(shè)備投入成本,為解決上述問題,提供一種電弧檢測電路及檢測方法。

    2、本專利技術(shù)的目的是以下述方式實現(xiàn)的:

    3、一種電弧檢測電路,所述電路包括低頻采樣電路和高頻采樣電路,其輸入端與被測電纜上套的低頻電流環(huán)和高頻電流環(huán)相連接;

    4、adc采集電路,其輸入端分別與低頻采樣電路和高頻采樣電路的輸出端連接,將低頻采樣電路和高頻采樣電路輸出的模擬信號轉(zhuǎn)為數(shù)字信號;

    5、mcu,其與adc采集電路的輸出端連接。

    6、所述低頻采樣電路包括四個二極管構(gòu)成的整流橋和采樣電阻rl1,所述整流橋包括二極管d1、二極管d2、二極管d3和二極管d4,二極管d1的陰極連接二極管d2的陽極,二極管d2的陰極連接二極管d4的陰極,二極管d4的陽極連接二極管d3的陰極,二極管d3的陽極連接二極管d1的陽極,低頻電流環(huán)的輸出一端接至二極管d1陰極、二極管d2的陽極,低頻電流環(huán)的輸出另一端接至二極管d3的陰極、二極管d4的陽極,采樣電阻rl1的一端連接二極管d2的陰極、二極管d4的陰極,且這端作為adc1采集端;采樣電阻rl1的另一端連接二極管d1的陽極、二極管d3的陽極,這端還與基準電壓vref連接。

    7、所述高頻采樣電路包括電阻rl2,高頻電流環(huán)的輸出端兩端分別連接至電阻rl2的兩端,電阻rl2的一端還連接至電阻r1的一端,電阻rl2的另一端還連接至電阻r2的一端,所述電阻r1的另一端分別與電阻r3的一端、運算放大器的反相輸入端連接,所述電阻r3的另一端分別與運算放大器的輸出端、電阻r4的一端連接,所述電阻r2的另一端連接至運算放大器的同相輸入端,所述電阻r4的另一端與電容c1的一端連接構(gòu)成特定頻段濾波電路,且這端作為adc2采集端,所述電容c1的另一端接地。

    8、所述低頻是指頻率為0~10khz,高頻是指頻率為10~50khz。

    9、一種采用所述的電弧檢測電路的檢測方法,所述方法包括以下步驟:

    10、s1:通過低頻采集電路和高頻采集電路采集波形特征,經(jīng)過adc后將模擬信號轉(zhuǎn)為數(shù)字信號交由mcu處理數(shù)據(jù);

    11、s2:mcu處理adc采集的數(shù)據(jù),這其中包含低頻采樣電路的adcl數(shù)據(jù)與高頻采樣電路的adc2數(shù)據(jù);

    12、s3:對低頻采樣電路采集的數(shù)據(jù)處理,將adc1數(shù)據(jù)對應(yīng)轉(zhuǎn)為電壓數(shù)據(jù),以vref為基準,當轉(zhuǎn)化的電壓數(shù)據(jù)在vref土a區(qū)間時觸發(fā)計時,后續(xù)數(shù)據(jù)不在此區(qū)間則計時結(jié)束,其中a為設(shè)定閾值差,由具體使用環(huán)境干擾程度決定可在使用時設(shè)定此值的具體數(shù)值,干擾程度越大a的值越大;

    13、s4:記錄三次在數(shù)據(jù)vref土a區(qū)間的計時數(shù)據(jù)按t0,t1,t2排序,單位為ms;

    14、s5:判斷t0,t1,t2的總體方差是否小于或等于1,若小于等于1判斷為正常狀態(tài),否則執(zhí)行s6步驟;

    15、s6:將t2賦值給t0,t1及t2數(shù)值清空,采集下一個t1及t2,執(zhí)行s4-s6步驟;

    16、s7:若t0,t1,t2的總體方差大于1,對高頻采樣電路數(shù)據(jù)歸一化,將三次t0,t1,t2的對應(yīng)時間段的adc2數(shù)據(jù)數(shù)組進行歸一化,定義單一時間段中的adc2數(shù)據(jù)第i個數(shù)據(jù)點為si,歸一化公式為ki=sign(si-sa),其中sa為采樣的基準穩(wěn)定點vref對應(yīng)的數(shù)字量值,ki為數(shù)據(jù)si經(jīng)過歸一化后的數(shù)值;

    17、s8:經(jīng)s7步驟數(shù)據(jù)歸一化后計算三次t0,t1,t2的各自ki的鄰數(shù)差異次數(shù),公式為xn=|k2—k1|+…+|ki—ki-1|;如上共計算出三次觸發(fā)計時t0的x0,t1的x1,t2的x2;

    18、s9:判斷三個x0,x1,x2的總體方差是否小于或等于1,若小于等于1判斷為正常狀態(tài);若不小于等于1則判斷為電弧狀態(tài)。

    19、所述mcu連接屏幕或人機交互設(shè)備,用于輸出顯示狀態(tài),所述狀態(tài)包括正常狀態(tài)和有電弧狀態(tài)。

    20、本專利技術(shù)的有益效果:本專利技術(shù)通過低頻與高頻采集電路的協(xié)同作用,不僅提升了電弧檢測的準確性和可靠性,還有效支持了系統(tǒng)的動態(tài)調(diào)整能力,確保了對潛在故障的及時預(yù)警及處理。而少量數(shù)據(jù)的獲取以及簡單的故障電弧特征提取方法的使用有效降低運算量,對硬件成本的需求也隨之降低;適合邊緣設(shè)備獨立設(shè)備運行。多邏輯循環(huán)判斷使得故障電弧與開關(guān)電弧特征能有效區(qū)分開來,增加識別的準確率。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護點】

    1.一種電弧檢測電路,其特征在于:所述電路包括低頻采樣電路和高頻采樣電路,其輸入端與被測電纜上套的低頻電流環(huán)和高頻電流環(huán)相連接;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電弧檢測電路,其特征在于:所述低頻采樣電路包括四個二極管構(gòu)成的整流橋和采樣電阻RL1,所述整流橋包括二極管D1、二極管D2、二極管D3和二極管D4,二極管D1的陰極連接二極管D2的陽極,二極管D2的陰極連接二極管D4的陰極,二極管D4的陽極連接二極管D3的陰極,二極管D3的陽極連接二極管D1的陽極,低頻電流環(huán)的輸出一端接至二極管D1陰極、二極管D2的陽極,低頻電流環(huán)的輸出另一端接至二極管D3的陰極、二極管D4的陽極,采樣電阻RL1的一端連接二極管D2的陰極、二極管D4的陰極,且這端作為ADC1采集端;采樣電阻RL1的另一端連接二極管D1的陽極、二極管D3的陽極,這端還與基準電壓VREF連接。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電弧檢測電路,其特征在于:所述高頻采樣電路包括電阻RL2,高頻電流環(huán)的輸出端兩端分別連接至電阻RL2的兩端,電阻RL2的一端還連接至電阻R1的一端,電阻RL2的另一端還連接至電阻R2的一端,所述電阻R1的另一端分別與電阻R3的一端、運算放大器的反相輸入端連接,所述電阻R3的另一端分別與運算放大器的輸出端、電阻R4的一端連接,所述電阻R2的另一端連接至運算放大器的同相輸入端,所述電阻R4的另一端與電容C1的一端連接構(gòu)成特定頻段濾波電路,且這端作為ADC2采集端,所述電容C1的另一端接地。

    4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電弧檢測電路,其特征在于:所述低頻是指頻率為0~10KHz,高頻是指頻率為10~50KHz。

    5.一種采用權(quán)利要求1-4任一項所述的電弧檢測電路的檢測方法,其特征在于:

    6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測方法,其特征在于:所述MCU連接屏幕或人機交互設(shè)備,用于輸出顯示狀態(tài),所述狀態(tài)包括正常狀態(tài)和有電弧狀態(tài)。

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種電弧檢測電路,其特征在于:所述電路包括低頻采樣電路和高頻采樣電路,其輸入端與被測電纜上套的低頻電流環(huán)和高頻電流環(huán)相連接;

    2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電弧檢測電路,其特征在于:所述低頻采樣電路包括四個二極管構(gòu)成的整流橋和采樣電阻rl1,所述整流橋包括二極管d1、二極管d2、二極管d3和二極管d4,二極管d1的陰極連接二極管d2的陽極,二極管d2的陰極連接二極管d4的陰極,二極管d4的陽極連接二極管d3的陰極,二極管d3的陽極連接二極管d1的陽極,低頻電流環(huán)的輸出一端接至二極管d1陰極、二極管d2的陽極,低頻電流環(huán)的輸出另一端接至二極管d3的陰極、二極管d4的陽極,采樣電阻rl1的一端連接二極管d2的陰極、二極管d4的陰極,且這端作為adc1采集端;采樣電阻rl1的另一端連接二極管d1的陽極、二極管d3的陽極,這端還與基準電壓vref連接。

    3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電弧檢測電路,其特征在于:...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:唐巨峰陸守香薄兵
    申請(專利權(quán))人:中國科學技術(shù)大學
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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