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    用于光模塊測試的總線切換控制方法、裝置、系統及設備制造方法及圖紙

    技術編號:44132532 閱讀:22 留言:0更新日期:2025-01-24 22:52
    本申請的實施例公開了一種用于光模塊測試的總線切換控制方法、裝置、系統及設備,方法包括:獲取光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態;獲取光模塊測試設備的測試請求類型;基于待測光模塊的在位狀態及測試請求類型獲得相應的通道切換信號;將通道切換信號發送至模擬開關芯片,以便模擬開關芯片基于通道切換信號切換至外部總線構建與外部主機的通信連接,或切換至內部總線構建與內部主機的通信連接。根據在位狀態及測試請求類型獲得相應的通道切換信號,以便不同主機可以訪問光模塊實現對光模塊的性能測試,可以有效避免外部主機與內部主機在IIC總線上的沖突所引起的宕機故障,提升光模塊測試設備的使用體驗。

    【技術實現步驟摘要】

    本申請屬于光模塊,具體涉及一種用于光模塊測試的總線切換控制方法、裝置、系統及設備


    技術介紹

    1、集成電路(inter-integrated?circuit,iic)總線是一種串行通信協議,用于在各種集成電路之間進行通信,如傳感器、存儲器、顯示屏等。iic總線一般包括串行數據線(serial?data?line,sda)和串行時鐘線(serial?clock?line,scl)。sda線用于在主設備和從設備之間傳輸數據,通過sda線,數據以串行方式傳輸,可以是從主設備發送數據到從設備,也可以是從從設備發送數據到主設備。scl線用于同步主設備和從設備之間的數據傳輸,在iic通信中,數據的傳輸速率由scl線上的時鐘信號控制,主設備通過scl線向從設備發送時鐘信號,從而確保數據的同步傳輸。

    2、iic總線基本工作原理包括以下過程:

    3、起始信號:當scl為高電平時,sda由高電平變為低電平,表示起始信號的開始。此時,總線被認為處于忙碌狀態;

    4、發送地址和數據:主機發送從機的硬件地址和讀寫位(r/w),如果從機地址匹配且r/w位正確,則從機會產生應答信號(ack)。隨后,主機可以發送數據或命令;

    5、應答信號:每發送一個字節的數據后,主機需要等待從機給出應答信號(ack或nack),以確認數據是否成功接收。

    6、停止信號:當scl為高電平時,sda由低電平變為高電平,表示停止信號的開始。此時,總線被認為處于空閑狀態。

    7、顯然,iic總線的特性決定了在多主設備情況下,需要避免總線沖突,通過仲裁機制確保只有一個主設備控制總線。常見的沖突場景包括主機a與從機b建立總線通信,但主機c同樣將iic管腳掛載到從機b的總線端口上,該場景下容易導致主機a和主機c都無法跟從機b通信,整個總線呈掛死狀態。

    8、現有的光模塊測試設備設置的iic總線pin腳對外開放,允許用戶插入待測光模塊以進行多種光模塊性能測試,如誤碼性能測試及眼圖測試等。針對光模塊測試設備擴展新的測試項目需要額外開發dongle驅動、硬件接口及測試代碼的現狀,通常的做法是設置dongle/controller兩個主機,在一時刻下這兩個主機之一擁有對待測光模塊的通信訪問權,其中controller為測試設備固定配置的主機,即內部主機,dongle為外部主機,待測光模塊則為上述的從機。如此,可解決測試設備項目有限、測試項目擴展成本較高的問題。然而隨之而來的問題是,同一時刻待測光模塊僅能與dongle/controller兩個主機中的一個主機建立通信連接實現測試,如果在測試過程中出現如上所述的掛死狀態,則無法進行測試。


    技術實現思路

    1、本申請旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一,公開了一種用于光模塊測試的總線切換控制方法、裝置、系統及設備,能在原測試設備基礎上有效實現擴展測試項目的實施,有效提高設備通用性及利用率。

    2、第一方面,本申請提供一種用于光模塊測試的總線切換控制方法,所述總線包括內部總線和外部總線,所述方法包括:

    3、獲取所述光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態;

    4、獲取所述光模塊測試設備的測試請求類型;

    5、基于所述待測光模塊的在位狀態及所述測試請求類型獲得相應的通道切換信號;

    6、將所述通道切換信號發送至模擬開關芯片,以便所述模擬開關芯片基于所述通道切換信號切換至外部總線構建與外部主機的通信連接,或切換至內部總線構建與內部主機的通信連接。

    7、在一些可能的實施例中,所述獲取所述光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態,包括:

    8、實時獲取cmis協議管腳中的在位信號modprsl;

    9、判斷任一第一時刻下的所述modprsl是否為高電平;

    10、若是,則判斷第二時刻下的所述modprsl是否為低電平,所述第二時刻為所述第一時刻的后一采樣時刻;

    11、若是,則判定所述待測光模塊的在位狀態為在位。

    12、在一些可能的實施例中,所述光模塊測試設備設置有外部接口板卡,所述外部接口板卡上設置有外部總線接口;

    13、所述獲取所述光模塊測試設備的測試請求類型,包括:

    14、實時獲取所述外部總線接口的接口信號;

    15、判斷任一第一時刻下的所述接口信號是否為高電平;

    16、若是,則判斷第二時刻下的所述接口信號是否為低電平,所述第二時刻為所述第一時刻的后一采樣時刻;

    17、若是,則判定所述光模塊測試設備的測試請求類型為外接測試請求。

    18、在一些可能的實施例中,所述對外接口板卡上還設置有切換開關;

    19、所述判定所述光模塊測試設備的測試請求類型為外接測試請求后,所述獲取所述光模塊測試設備的測試請求類型,還包括:

    20、若所述第二時刻下的所述接口信號為低電平且接收到所述切換開關的導通信號,則二次判定所述測試請求類型為外接測試請求。

    21、在一些可能的實施例中,所述光模塊測試設備還設置有蓋設于所述對外接口板卡的保護面板,所述保護面板和所述對外接口板卡中的一者設置有距離檢測傳感器;

    22、所述獲取所述光模塊測試設備的測試請求類型,還包括:

    23、分別獲取第一采樣時刻和第二采樣時刻的所述距離檢測傳感器反饋的第一距離檢測信號和第二距離檢測信號;其中,所述第二采樣時刻為所述第一時刻的后一采樣時刻;

    24、比較所述第一距離檢測信號和所述第二距離檢測信號,當兩者不一致時判定所述測試請求類型為外接測試請求。

    25、在一些可能的實施例中,所述方法還包括:

    26、獲取所述外部總線構建的與所述外部主機通訊連接的通訊時長;

    27、將所述通訊時長與時長閾值進行比較,若所述通訊時長超過所述時長閾值,則生成通道切換信號,以便所述模擬開關芯片基于所述通道切換信號切換至所述內部總線構建與所述內部主機的通信連接。

    28、第二方面,本申請的實施例提供一種用于光模塊測試的總線切換控制裝置,所述總線包括內部總線和外部總線,所述裝置包括:

    29、第一獲取模塊,用于獲取所述光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態;

    30、第二獲取模塊,用于獲取所述光模塊測試設備的測試請求類型;

    31、處理模塊,用于基于所述待測光模塊的在位狀態及所述測試請求類型獲得相應的通道切換信號;

    32、切換模塊,用于將所述通道切換信號發送至模擬開關芯片,以便所述模擬開關芯片基于所述通道切換信號切換至所述外部總線構建與所述外部主機的通信連接,或切換至內部總線構建與內部主機的通信連接。

    33、第三方面,本申請的實施例提供用于光模塊測試的總線切換控制系統,所述總線包括內部總線和外部總線,所述系統包括:內部主機、外部接口板卡、模擬開關芯片以及測試板,所述測試板設置有待測光模塊;

    34、所述本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種用于光模塊測試的總線切換控制方法,所述總線包括內部總線和外部總線,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態,包括:

    3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述光模塊測試設備設置有外部接口板卡,所述外部接口板卡上設置有外部總線接口;

    4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述對外接口板卡上還設置有切換開關;

    5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述光模塊測試設備還設置有蓋設于所述對外接口板卡的保護面板,所述保護面板和所述對外接口板卡中的一者設置有距離檢測傳感器;

    6.根據權利要求1至5任一項所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:

    7.一種用于光模塊測試設備的總線切換控制裝置,所述總線包括內部總線和外部總線,其特征在于,所述裝置包括:

    8.一種用于光模塊測試的總線切換控制系統,所述總線包括內部總線和外部總線,其特征在于,所述系統包括:內部主機、外部接口板卡、模擬開關芯片以及測試板,所述測試板設置有待測光模塊;

    9.一種光模塊測試設備,其特征在于,所述光模塊測試設備采用如權利要求1至6任一項所述的總線切換控制方法,或包括如權利要求7所述的總線切換控制裝置,或包括如權利要求8所述的總線切換控制系統。

    10.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,

    ...

    【技術特征摘要】

    1.一種用于光模塊測試的總線切換控制方法,所述總線包括內部總線和外部總線,其特征在于,所述方法包括:

    2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取所述光模塊測試設備中待測光模塊的在位狀態,包括:

    3.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述光模塊測試設備設置有外部接口板卡,所述外部接口板卡上設置有外部總線接口;

    4.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述對外接口板卡上還設置有切換開關;

    5.根據權利要求3所述的方法,其特征在于,所述光模塊測試設備還設置有蓋設于所述對外接口板卡的保護面板,所述保護面板和所述對外接口板卡中的一者設置有距離檢測傳感器;

    6.根據權利要求...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:董柯文邵毅男劉嚴
    申請(專利權)人:蘇州聯訊儀器股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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