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    一種用于提升A/K檢查精度的光學系統技術方案

    技術編號:44135549 閱讀:11 留言:0更新日期:2025-01-29 10:14
    本發明專利技術涉及光學設備技術領域,具體地說,涉及一種用于提升A/K檢查精度的光學系統。其包括基座,所述基座頂部設有工作主體,所述工作主體的一側設有光學鏡頭組和控制器,所述控制器位于光學鏡頭組的頂部,所述光學鏡頭組上設有兩個反射鏡,所述工作主體在光學鏡頭組的下方固定連接有承載機構,所述工作主體在承載機構的下方設有光圈;該用于提升A/K檢查精度的光學系統中,通過設置的降溫機構降低光學鏡頭組采集數據的不均勻性,同時降溫機構還能夠減少光學鏡頭組采集數據中的噪聲占比。集風筒中的渦輪葉片轉動產生強大的氣流,將空氣從基座的抽風口吸入,經過空氣倍增環的加速和增壓后,從空氣倍增環的狹縫中高速噴出。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及光學設備,具體地說,涉及一種用于提升a/k檢查精度的光學系統。


    技術介紹

    1、隨著科技的不斷發展,對光學元件的精度要求越來越高。a/k精度檢查作為一種重要的光學元件檢測方法,在光學、電子、醫療等眾多領域都有著廣泛的應用。

    2、在傳統的光學元件檢測中,通常采用簡單的光學設備和方法進行檢測,如使用單一波長的光進行照射,通過肉眼觀察或簡單的測量工具進行判斷。然而,這種方法的檢測精度較低,難以滿足現代科技對光學元件高精度的要求。隨著光學技術的不斷進步,a/k精度檢查方法逐漸發展起來。該方法通過特定的光路設計,利用不同波長的光在經過檢查對象時的反射、折射和吸收特性,能夠獲取更加豐富的信息,從而大大提高了檢查精度。例如,在對光學鏡片的折射率進行檢測時,采用先進的成像機構和中央處理器,能夠準確地計算出折射率,為光學元件的質量控制和性能評估提供了有力的支持。

    3、然而,盡管a/k精度檢查方法具有較高的精度,但在實際應用中仍然面臨著一些問題。溫度、噪聲等因素都會對最終得到的折射率數據產生較大的影響。為了解決溫度問題,現有的光學系統通常在檢查對象周圍設置溫度傳感器,對光圈聚焦部位的溫度進行實時監測,并在溫度變動范圍超過精度范圍時啟動風扇進行降溫。但是,風扇工作時轉動的光影會使得成像機構捕捉到的圖像不均勻,同時風扇工作時產生的噪聲也會對成像機構捕捉到的數據產生影響,以致于最終得到的光學元件的折射率與實際折射率產生偏差。

    4、鑒于此,我們提出一種用于提升a/k檢查精度的光學系統來改善現有技術中的不足。</p>

    技術實現思路

    1、本專利技術的目的在于提供一種用于提升a/k檢查精度的光學系統,以解決上述
    技術介紹
    中提出的問題。

    2、為實現上述目的,本專利技術目的在于,提供了一種用于提升a/k檢查精度的光學系統,包括基座,所述基座頂部設有工作主體,所述工作主體的一側設有光學鏡頭組和控制器,所述控制器位于光學鏡頭組的頂部,所述光學鏡頭組上設有兩個反射鏡,所述工作主體在光學鏡頭組的下方固定連接有承載機構,所述工作主體在承載機構的下方設有光圈,所述工作主體內安裝有降溫機構,所述控制器內集成有圖像處理系統;

    3、其中,所述承載機構用于固定檢查對象,所述降溫機構用于對檢查對象周圍進行降溫,位于所述工作主體內部的降溫機構能夠降低光學鏡頭組采集數據的不均勻性,且所述降溫機構能夠減少光學鏡頭組采集數據中的噪聲占比,所述圖像處理系統用于接收光學鏡頭組采集的光學數據并得出計算結果。

    4、作為本技術方案的進一步改進,所述承載機構包括固定連接于工作主體一側的載物臺,所述載物臺頂部開設有透光孔,所述載物臺頂部一側固定連接有若干個限位栓,每個所述限位栓的頂部均固定連接有限位帽,每個所述限位栓上均滑動連接有固定夾,每個所述限位栓的外圍在載物臺和固定夾之間套設有彈簧,所述固定夾遠離限位栓的一端緊貼載物臺的上表面。

    5、作為本技術方案的進一步改進,所述承載機構還包括位于載物臺底部的若干個溫度傳感器和若干個分束器,所述載物臺底部在遠離工作主體的一側開設有若干個導風槽,若干個所述溫度傳感器和分束器均位于透光孔的四周。

    6、作為本技術方案的進一步改進,所述降溫機構包括集風筒,所述集風筒底部開設有抽風口,所述集風筒內設有安裝架,所述安裝架的頂部設有渦輪葉片,所述安裝架的底部設有電機,所述集風筒頂部連通有空氣倍增環。

    7、作為本技術方案的進一步改進,所述空氣倍增環開口的方向位于遠離抽風口的一端。

    8、作為本技術方案的進一步改進,所述圖像處理系統包括采集單元、預處理單元、提取單元和計算單元;

    9、其中,采集單元用于將光學鏡頭組采集圖像的光學信號轉換為數字信號,所述預處理單元用于對采集單元得到的數字信號進行去噪處理,所述提取單元用于提取預處理單元處理后的圖像中與折射率有關的特征,所述計算單元根據提取單元提取的特征數據,運用干涉法計算出檢查對象的折射率。

    10、作為本技術方案的進一步改進,所述計算單元運用干涉法計算檢查對象折射率的步驟為:

    11、s1、建立干涉光路:使光圈發出的光經過分束器,分為參考光和測量光,參考光直接照射到光學鏡頭組上的其中一個反射鏡上,然后被反射回分束器,測量光經過檢查對象后照射到另一個反射鏡上,再反射回分束器;

    12、s2、產生干涉條紋:參考光和測量光在分束器處重新會合,光程不同的兩束光產生干涉現象,干涉光被控制器接收,控制器將干涉光的光信號轉換為數字信號;

    13、s3、數據采集與處理:轉動光圈的角度,調整光路中的入射角,采集不同入射角條件下的干涉條紋圖像;

    14、s4、根據干涉條紋圖像的特征參數,利用光程差公式計算折射率。

    15、與現有技術相比,本專利技術的有益效果:

    16、該用于提升a/k檢查精度的光學系統中,通過設置的降溫機構降低光學鏡頭組采集數據的不均勻性,同時降溫機構還能夠減少光學鏡頭組采集數據中的噪聲占比。具體表現為,集風筒中的渦輪葉片轉動產生強大的氣流,將空氣從基座的抽風口吸入,經過空氣倍增環的加速和增壓后,從空氣倍增環的狹縫中高速噴出,由于狹縫的特殊設計,噴出的氣流會沿著空氣倍增環的表面形成一個穩定的空氣層,這個空氣層會不斷地卷入周圍的空氣,從而實現空氣的倍增效果。同時,由于渦輪葉片被設計藏在工作主體的內部:一方面使得渦輪葉片工作時,不會在光學元件周圍產生光影,以致于得到圖像不均勻,另一方面,由于渦輪葉片的位置離光學鏡頭組較遠,能夠最大程度上減少噪聲的傳播。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種用于提升A/K檢查精度的光學系統,包括基座(100),所述基座(100)頂部設有工作主體(110),所述工作主體(110)的一側設有光學鏡頭組(120)和控制器(130),所述控制器(130)位于光學鏡頭組(120)的頂部,所述光學鏡頭組(120)上設有兩個反射鏡,其特征在于:所述工作主體(110)在光學鏡頭組(120)的下方固定連接有承載機構(200),所述工作主體(110)在承載機構(200)的下方設有光圈(140),所述工作主體(110)內安裝有降溫機構(300),所述控制器(130)內集成有圖像處理系統(400);

    2.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)包括固定連接于工作主體(110)一側的載物臺(210),所述載物臺(210)頂部開設有透光孔(220),所述載物臺(210)頂部一側固定連接有若干個限位栓(230),每個所述限位栓(230)的頂部均固定連接有限位帽,每個所述限位栓(230)上均滑動連接有固定夾(250),每個所述限位栓(230)的外圍在載物臺(210)和固定夾(250)之間套設有彈簧(240),所述固定夾(250)遠離限位栓(230)的一端緊貼載物臺(210)的上表面。

    3.根據權利要求2所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)還包括位于載物臺(210)底部的若干個溫度傳感器(270)和若干個分束器(150),所述載物臺(210)底部在遠離工作主體(110)的一側開設有若干個導風槽(260),若干個所述溫度傳感器(270)和分束器(150)均位于透光孔(220)的四周。

    4.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述降溫機構(300)包括集風筒(310),所述集風筒(310)底部開設有抽風口,所述集風筒(310)內設有安裝架,所述安裝架的頂部設有渦輪葉片(320),所述安裝架的底部設有電機(330),所述集風筒(310)頂部連通有空氣倍增環(340)。

    5.根據權利要求4所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述空氣倍增環(340)開口的方向位于遠離抽風口的一端。

    6.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述圖像處理系統(400)包括采集單元(410)、預處理單元(420)、提取單元(430)和計算單元(440);

    7.根據權利要求6所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述計算單元(440)運用干涉法計算檢查對象折射率的步驟為:

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    【技術特征摘要】

    1.一種用于提升a/k檢查精度的光學系統,包括基座(100),所述基座(100)頂部設有工作主體(110),所述工作主體(110)的一側設有光學鏡頭組(120)和控制器(130),所述控制器(130)位于光學鏡頭組(120)的頂部,所述光學鏡頭組(120)上設有兩個反射鏡,其特征在于:所述工作主體(110)在光學鏡頭組(120)的下方固定連接有承載機構(200),所述工作主體(110)在承載機構(200)的下方設有光圈(140),所述工作主體(110)內安裝有降溫機構(300),所述控制器(130)內集成有圖像處理系統(400);

    2.根據權利要求1所述的用于提升a/k檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)包括固定連接于工作主體(110)一側的載物臺(210),所述載物臺(210)頂部開設有透光孔(220),所述載物臺(210)頂部一側固定連接有若干個限位栓(230),每個所述限位栓(230)的頂部均固定連接有限位帽,每個所述限位栓(230)上均滑動連接有固定夾(250),每個所述限位栓(230)的外圍在載物臺(210)和固定夾(250)之間套設有彈簧(240),所述固定夾(250)遠離限位栓(230)的一端緊貼載物臺(210)的上表面。

    3.根據權利要求2所述的用...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:周闖周昌峰徐向榮
    申請(專利權)人:蘇州美德樂思精密機械有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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