System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和長度必須引用該字符串內的位置。 參數名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind()
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及光學設備,具體地說,涉及一種用于提升a/k檢查精度的光學系統。
技術介紹
1、隨著科技的不斷發展,對光學元件的精度要求越來越高。a/k精度檢查作為一種重要的光學元件檢測方法,在光學、電子、醫療等眾多領域都有著廣泛的應用。
2、在傳統的光學元件檢測中,通常采用簡單的光學設備和方法進行檢測,如使用單一波長的光進行照射,通過肉眼觀察或簡單的測量工具進行判斷。然而,這種方法的檢測精度較低,難以滿足現代科技對光學元件高精度的要求。隨著光學技術的不斷進步,a/k精度檢查方法逐漸發展起來。該方法通過特定的光路設計,利用不同波長的光在經過檢查對象時的反射、折射和吸收特性,能夠獲取更加豐富的信息,從而大大提高了檢查精度。例如,在對光學鏡片的折射率進行檢測時,采用先進的成像機構和中央處理器,能夠準確地計算出折射率,為光學元件的質量控制和性能評估提供了有力的支持。
3、然而,盡管a/k精度檢查方法具有較高的精度,但在實際應用中仍然面臨著一些問題。溫度、噪聲等因素都會對最終得到的折射率數據產生較大的影響。為了解決溫度問題,現有的光學系統通常在檢查對象周圍設置溫度傳感器,對光圈聚焦部位的溫度進行實時監測,并在溫度變動范圍超過精度范圍時啟動風扇進行降溫。但是,風扇工作時轉動的光影會使得成像機構捕捉到的圖像不均勻,同時風扇工作時產生的噪聲也會對成像機構捕捉到的數據產生影響,以致于最終得到的光學元件的折射率與實際折射率產生偏差。
4、鑒于此,我們提出一種用于提升a/k檢查精度的光學系統來改善現有技術中的不足。<
...【技術保護點】
1.一種用于提升A/K檢查精度的光學系統,包括基座(100),所述基座(100)頂部設有工作主體(110),所述工作主體(110)的一側設有光學鏡頭組(120)和控制器(130),所述控制器(130)位于光學鏡頭組(120)的頂部,所述光學鏡頭組(120)上設有兩個反射鏡,其特征在于:所述工作主體(110)在光學鏡頭組(120)的下方固定連接有承載機構(200),所述工作主體(110)在承載機構(200)的下方設有光圈(140),所述工作主體(110)內安裝有降溫機構(300),所述控制器(130)內集成有圖像處理系統(400);
2.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)包括固定連接于工作主體(110)一側的載物臺(210),所述載物臺(210)頂部開設有透光孔(220),所述載物臺(210)頂部一側固定連接有若干個限位栓(230),每個所述限位栓(230)的頂部均固定連接有限位帽,每個所述限位栓(230)上均滑動連接有固定夾(250),每個所述限位栓(230)的外圍在載物臺(210)和固定夾(250)之間套設有彈簧
3.根據權利要求2所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)還包括位于載物臺(210)底部的若干個溫度傳感器(270)和若干個分束器(150),所述載物臺(210)底部在遠離工作主體(110)的一側開設有若干個導風槽(260),若干個所述溫度傳感器(270)和分束器(150)均位于透光孔(220)的四周。
4.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述降溫機構(300)包括集風筒(310),所述集風筒(310)底部開設有抽風口,所述集風筒(310)內設有安裝架,所述安裝架的頂部設有渦輪葉片(320),所述安裝架的底部設有電機(330),所述集風筒(310)頂部連通有空氣倍增環(340)。
5.根據權利要求4所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述空氣倍增環(340)開口的方向位于遠離抽風口的一端。
6.根據權利要求1所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述圖像處理系統(400)包括采集單元(410)、預處理單元(420)、提取單元(430)和計算單元(440);
7.根據權利要求6所述的用于提升A/K檢查精度的光學系統,其特征在于:所述計算單元(440)運用干涉法計算檢查對象折射率的步驟為:
...【技術特征摘要】
1.一種用于提升a/k檢查精度的光學系統,包括基座(100),所述基座(100)頂部設有工作主體(110),所述工作主體(110)的一側設有光學鏡頭組(120)和控制器(130),所述控制器(130)位于光學鏡頭組(120)的頂部,所述光學鏡頭組(120)上設有兩個反射鏡,其特征在于:所述工作主體(110)在光學鏡頭組(120)的下方固定連接有承載機構(200),所述工作主體(110)在承載機構(200)的下方設有光圈(140),所述工作主體(110)內安裝有降溫機構(300),所述控制器(130)內集成有圖像處理系統(400);
2.根據權利要求1所述的用于提升a/k檢查精度的光學系統,其特征在于:所述承載機構(200)包括固定連接于工作主體(110)一側的載物臺(210),所述載物臺(210)頂部開設有透光孔(220),所述載物臺(210)頂部一側固定連接有若干個限位栓(230),每個所述限位栓(230)的頂部均固定連接有限位帽,每個所述限位栓(230)上均滑動連接有固定夾(250),每個所述限位栓(230)的外圍在載物臺(210)和固定夾(250)之間套設有彈簧(240),所述固定夾(250)遠離限位栓(230)的一端緊貼載物臺(210)的上表面。
3.根據權利要求2所述的用...
【專利技術屬性】
技術研發人員:周闖,周昌峰,徐向榮,
申請(專利權)人:蘇州美德樂思精密機械有限公司,
類型:發明
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。