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    芯片引腳的連接器件的檢測方法及電路技術

    技術編號:44141438 閱讀:7 留言:0更新日期:2025-01-29 10:18
    本公開的實施例提供一種芯片引腳的連接器件的檢測方法及電路,電路包括:檢測模塊,被配置為通過電流源為檢測模塊對應的連接器件的輸入端耦接的功能引腳進行充電,并在檢測模塊對應的連接器件對應的檢測窗口內將被充電的功能引腳的電壓與檢測模塊對應的參考電壓進行比較得到檢測模塊對應的檢測結果信號;邏輯處理模塊,被配置為將所有的檢測模塊的檢測結果信號進行邏輯處理得到最終檢測結果,以確定所有的連接器件是否都連接正常的信號;放電模塊,被配置為將第二電容的輸出端耦接的功能引腳的電壓拉至零電位。解決現有芯片引腳的連接器件的檢測方式不能對芯片輸出的所有連接器件的連接進行同時監控,影響芯片功能安全檢測的實際結果的問題。

    【技術實現步驟摘要】

    本公開的實施例涉及集成電路,具體地,涉及芯片引腳的連接器件的檢測方法及電路


    技術介紹

    1、隨著集成電路的發展,功能安全機制越來越完善,功能安全機制需要芯片在上電后能夠檢測功能引腳的連接器件(電容、電感等)是否連接好。如果連接器件有存在虛焊等導致開路的情況,需要將錯誤狀態指示出來。

    2、現有技術中對于芯片功能引腳的連接器件的檢測的方式,通常是檢測連接的其中一個連接器件是否連接正常,如果芯片外圍有多個連接器件,則不能對芯片輸出的所有連接器件的連接進行同時監控,影響芯片功能安全檢測的效率。


    技術實現思路

    1、本公開中描述的實施例提供了一種芯片引腳的連接器件的檢測方法及電路,為了解決上述現有芯片功能引腳的連接器件的檢測方式不能對芯片輸出的所有連接器件的連接進行同時監控,影響芯片功能安全檢測的實際結果的問題。

    2、根據本公開的第一方面,提供了一種芯片引腳的連接器件的檢測電路,所述連接器件包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和接地端之間的第一電容和/或至少一個耦接在所述芯片的兩個功能引腳之間的第二電容,所述電路包括:邏輯處理模塊、放電模塊、與連接器件對應的檢測模塊,一個連接器件對應一個檢測模塊,其中,所述檢測模塊,被配置為通過電流源為所述檢測模塊對應的連接器件的輸入端耦接的功能引腳進行充電,并在所述檢測模塊對應的連接器件對應的檢測窗口內將被充電的功能引腳的電壓與所述檢測模塊對應的參考電壓進行比較得到所述檢測模塊對應的檢測結果信號,一個檢測模塊對應一個參考電壓,一個檢測模塊對應一個檢測結果信號;所述邏輯處理模塊,被配置為將所有的檢測模塊的檢測結果信號進行邏輯處理得到最終檢測結果,所述最終檢測結果為確定所有的連接器件是否都連接正常的信號;所述放電模塊,被配置為在所述第二電容對應的檢測模塊執行之前,將所述第二電容的輸出端耦接的功能引腳的電壓拉至零電位。

    3、可選的,所述芯片開機后,按照連接器件對應的預設檢測順序依次執行每個連接器件對應的檢測模塊,每個連接器件對應一個檢測時段,每個連接器件對應的檢測窗口為從對應的檢測時段內選取的時間段。

    4、可選的,所述檢測模塊包括:電流源、第一電阻、第二電阻、比較器、開關,其中,所述電流源的一端耦接電源電壓,所述電流源的另一端耦接第一電阻的一端;所述第一電阻的另一端分別耦接所述第二電阻的一端、所述比較器的負輸入端、所述開關的一端;所述第二電阻的另一端耦接接地端,所述開關的另一端耦接所述檢測模塊對應的連接器件的輸入端耦接的功能引腳;所述比較器的正輸入端耦接所述檢測模塊對應的參考電壓,所述比較器的輸出端作為所述檢測模塊的輸出端用于輸出所述檢測模塊對應的檢測結果信號,所述比較器的輸出端耦接所述邏輯處理模塊的輸入端;在所述檢測模塊對應的連接器件的檢測時段內控制所述檢測模塊對應的開關為閉合狀態。

    5、可選的,所述邏輯處理模塊包括:鎖存單元、邏輯運算單元,其中,所述鎖存單元,被配置為將每個檢測模塊輸出的檢測結果信號分別用鎖存器進行鎖存,直到所有檢測模塊都檢測完成后,將所有的檢測結果信號輸入到所述邏輯運算單元;所述邏輯運算單元,被配置為將所有的檢測結果信號進行邏輯與運算,得到所述最終檢測結果。

    6、可選的,若所述最終檢測結果為高電平信號,則確定所有的連接器件都連接正常;若所述最終檢測結果為低電平信號,則確定不是所有的連接器件都連接正常。

    7、可選的,所述連接器件還包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和所述第一電容輸入端或所述第二電容的輸入端之間的電感,所述電感對應的檢測模塊的執行在所述第一電容對應的檢測模塊和所述第二電容對應檢測模塊的執行之后。

    8、可選的,所述芯片為開關電壓轉換器,所述連接器件包括耦接在芯片的輸出引腳和接地端之間的第一電容、耦接在自舉引腳和開關節點引腳之間的第二電容、耦接在所述開關節點引腳與所述輸出引腳之間的電感,所述放電模塊為所述開關電壓轉換器的下功率管。

    9、根據本公開的第二方面,提供了一種芯片引腳的連接器件的檢測方法,所述連接器件包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和接地端之間的第一電容和/或至少一個耦接在所述芯片的兩個功能引腳之間的第二電容,所述方法包括:按照連接器件對應的預設檢測順序,當到達所述第一電容對應的檢測時段時,執行所述第一電容對應的檢測模塊;和/或,當到達所述第二電容對應的檢測時段時,將所述第二電容的輸出端耦接的功能引腳的電壓拉至零電位后執行所述第二電容對應的檢測模塊,一個連接器件對應一個檢測模塊,所述檢測模塊的檢測流程為通過電流源為連接器件的輸入端耦接的功能引腳進行充電,并在連接器件對應的檢測窗口內將被充電的功能引腳的電壓與所述檢測模塊對應的參考電壓進行比較得到連接器件對應的檢測結果信號,一個檢測模塊對應一個檢測結果信號;將每個檢測結果信號分別用鎖存器進行鎖存,直到所有檢測模塊都檢測完成后,將所有的檢測結果信號進行邏輯與運算,得到最終檢測結果,所述最終檢測結果為確定所有的連接器件是否都連接正常的信號。

    10、可選的,執行連接器件對應的檢測模塊還包括:在每個連接器件對應的檢測時段開始時,將所述檢測模塊中的開關閉合,以通過電流源為連接器件的輸入端耦接的功能引腳進行充電,所述開關為用于控制是否對功能引腳充電的開關;在每個連接器件對應的檢測時段結束時,將所述檢測模塊中的開關斷開。

    11、可選的,若所述最終檢測結果為高電平信號,則確定所有的連接器件都連接正常;若所述最終檢測結果為低電平信號,則確定不是所有的連接器件都連接正常。

    12、可選的,所述連接器件還包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和所述第一電容輸入端或所述第二電容的輸入端之間的電感,所述電感對應的檢測模塊的執行在所述第一電容對應的檢測模塊和所述第二電容對應檢測模塊的執行之后。

    13、可選的,在所述電感對應的檢測模塊執行之前,若與所述電感對應的第二電容上有電量,將所述電感對應的第二電容上的電量泄放到接地端,若所述電感對應的芯片的功能引腳的電位不是零電位,則將所述電感對應的芯片的功能引腳的電位拉至零電位。

    14、可選的,所述芯片為開關電壓轉換器,所述連接器件包括耦接在輸出引腳和接地端之間的第一電容、耦接在自舉引腳和開關節點引腳之間的第二電容、耦接在所述開關節點引腳與所述輸出引腳之間的電感,通過所述開關電壓轉換器的下功率管將所述第二電容的輸出端耦接的功能引腳的電壓拉至零電位。

    15、可選的,所述預設檢測順序為從前到后依次為所述第二電容、所述第一電容、所述電感。

    16、本公開實施例的芯片引腳的連接器件的檢測方法及電路中,為每個連接器件設置一個檢測模塊,檢測模塊通過電流源為連接器件的輸入端耦接的功能引腳進行充電,并在連接器件對應的檢測窗口內將被充電的功能引腳的電壓與所述檢測模塊對應的參考電壓進行比較得到每個連接器件對應的檢測結果信號,然后將所有檢測結果信號通過邏輯處理得到最終檢測結果,根據最終檢測結果可以確定所有的連接器件是否都連接正常本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種芯片引腳的連接器件的檢測電路,所述連接器件包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和接地端之間的第一電容和/或至少一個耦接在所述芯片的兩個功能引腳之間的第二電容,其特征在于,所述電路包括:邏輯處理模塊、放電模塊、與連接器件對應的檢測模塊,一個連接器件對應一個檢測模塊,

    2.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述芯片開機后,按照連接器件對應的預設檢測順序依次執行每個連接器件對應的檢測模塊,每個連接器件對應一個檢測時段,每個連接器件對應的檢測窗口為從對應的檢測時段內選取的時間段。

    3.根據權利要求2所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述檢測模塊包括:電流源、第一電阻、第二電阻、比較器、開關,

    4.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述邏輯處理模塊包括:鎖存單元、邏輯運算單元,

    5.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,若所述最終檢測結果為高電平信號,則確定所有的連接器件都連接正常;若所述最終檢測結果為低電平信號,則確定不是所有的連接器件都連接正常。

    6.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述連接器件還包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和所述第一電容輸入端或所述第二電容的輸入端之間的電感,所述電感對應的檢測模塊的執行在所述第一電容對應的檢測模塊和所述第二電容對應檢測模塊的執行之后。

    7.根據權利要求6所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述芯片為開關電壓轉換器,所述連接器件包括耦接在芯片的輸出引腳和接地端之間的第一電容、耦接在自舉引腳和開關節點引腳之間的第二電容、耦接在所述開關節點引腳與所述輸出引腳之間的電感,所述放電模塊為所述開關電壓轉換器的下功率管。

    8.一種芯片引腳的連接器件的檢測方法,所述連接器件包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和接地端之間的第一電容和/或至少一個耦接在所述芯片的兩個功能引腳之間的第二電容,其特征在于,所述方法包括:

    9.根據權利要求8所述的芯片引腳的連接器件的檢測方法,其特征在于,執行連接器件對應的檢測模塊還包括:

    10.根據權利要求8所述的芯片引腳的連接器件的檢測方法,其特征在于,若所述最終檢測結果為高電平信號,則確定所有的連接器件都連接正常;若所述最終檢測結果為低電平信號,則確定不是所有的連接器件都連接正常。

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    【技術特征摘要】

    1.一種芯片引腳的連接器件的檢測電路,所述連接器件包括至少一個耦接在所述芯片的功能引腳和接地端之間的第一電容和/或至少一個耦接在所述芯片的兩個功能引腳之間的第二電容,其特征在于,所述電路包括:邏輯處理模塊、放電模塊、與連接器件對應的檢測模塊,一個連接器件對應一個檢測模塊,

    2.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述芯片開機后,按照連接器件對應的預設檢測順序依次執行每個連接器件對應的檢測模塊,每個連接器件對應一個檢測時段,每個連接器件對應的檢測窗口為從對應的檢測時段內選取的時間段。

    3.根據權利要求2所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述檢測模塊包括:電流源、第一電阻、第二電阻、比較器、開關,

    4.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,所述邏輯處理模塊包括:鎖存單元、邏輯運算單元,

    5.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件的檢測電路,其特征在于,若所述最終檢測結果為高電平信號,則確定所有的連接器件都連接正常;若所述最終檢測結果為低電平信號,則確定不是所有的連接器件都連接正常。

    6.根據權利要求1所述的芯片引腳的連接器件...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:彭志強劉皓李甜王康樂黃鍇王熠煒熊西湖師麗娟
    申請(專利權)人:芯洲科技北京股份有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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