【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及電極箔檢測，特別涉及一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置及其檢測方法。
技術介紹
1、例如公開號為cn114047189a，名稱為一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷激光檢測裝置及其檢測方法，涉及電極箔激光檢測
，為解決現(xiàn)有的電極箔表面缺陷激光檢測儀每次都需要一個一個更換電極箔，導致檢測效率低的問題。
2、對電極箔進行檢測過程中，電極箔內部較小的缺陷不易暴漏在其表面，造成因缺陷不明顯而導致的漏檢或誤檢情況，而且電極箔內部產(chǎn)生的空腔、厚度不均勻和金屬雜物的內部質量問題無法僅通過表面檢測發(fā)現(xiàn)問題，為了解決上述問題，因此，本申請?zhí)峁┝艘环N電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置及其檢測方法來滿足需求。
技術實現(xiàn)思路
1、本申請的目的在于提供一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置及其檢測方法，可有效解決上述
技術介紹
中提出的問題。
2、為實現(xiàn)上述目的，本申請?zhí)峁┤缦录夹g方案：一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，包括檢測箱，所述檢測箱的內壁兩側均設置有輥筒，所述檢測箱的內部設置有兩個調節(jié)機構，兩個所述調節(jié)機構和輥筒的外表面均繞設有電極箔，所述檢測箱內壁頂部設置有支撐架，所述支撐架的下端設置有檢測電極箔表面缺陷的檢測機構，所述檢測箱的內部設置有配合支撐架檢測電極箔表面缺陷的透光機構，且透光機構位于兩個調節(jié)機構之間，所述檢測機構位于透光機構的正上方，所述檢測箱的內部且位于其中一個調節(jié)機構和輥筒之間設置有熱處理機構，所述熱處理機構用于對電極箔進行加熱并配合調節(jié)機構增加其延展性放大電極箔表面的
3、其中，所述調節(jié)機構包括兩個第一滑槽塊，兩個所述第一滑槽塊均固定安裝在檢測箱的內壁上，兩個所述第一滑槽塊的內部均滑動安裝有第一滑塊，兩個所述第一滑塊之間設置有支撐棒，所述支撐棒的外表面轉動安裝有套筒，兩個所述第一滑塊的底部均設置有第一彈簧，所述電極箔與套筒的外表面相接觸。
4、其中，所述熱處理機構包括導氣殼和安裝殼，所述安裝殼的內部設置有加熱片，所述安裝殼的底部設置有扇葉，所述安裝殼的兩側均設置有支撐板，兩個所述支撐板均固定安裝在檢測箱的內壁上。
5、其中，所述導氣殼的兩側均設置有導風片，所述導氣殼和安裝殼的兩側共同設置有通氣管，且電極箔位于安裝殼和導氣殼之間，且電極箔與安裝殼的外表面相接觸。
6、其中，所述檢測機構包括外殼，所述外殼的內壁中部設置有安裝箱，所述安裝箱的內壁兩側均設置有透光曲板，兩個所述透光曲板之間設置有表面檢測鏡頭，所述安裝箱的內壁設置有為表面檢測鏡頭進行補光檢測電極箔表面缺陷的補光燈，所述外殼固定安裝在支撐架的下端，所述外殼的兩側均設置有擋板。
7、其中，所述外殼的內壁且位于安裝箱的兩側分別設置有透光鏡頭和異物檢測鏡頭，所述外殼位于電極箔的上方。
8、其中，所述透光機構包括機箱，所述機箱的兩側均開設有安裝槽，兩個所述安裝槽的內部均設置有透明板，所述機箱的底部設置有檢測相機，所述機箱的兩側分別設置有強光箱和透光箱，所述強光箱和透光箱的一側均設置有輔輥。
9、其中，所述透光機構包括四個固定安裝在檢測箱內壁上的第二滑槽塊，所述機箱的兩側均設置有連接板，兩個所述連接板的一側均對稱設置有兩個第二滑塊，且第二滑塊的滑動安裝在第二滑槽塊的內部，四個所述第二滑塊的底部均設置有第二彈簧。
10、其中，所述透光箱位于透光鏡頭的正上方，所述強光箱位于異物檢測鏡頭的正上方。
11、一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置的檢測方法，電極箔的具體檢測步驟如下：
12、s1、對生產(chǎn)出來的電極箔進行檢測時，電極箔首先經(jīng)過輥筒然后貫穿熱處理機構，電極箔經(jīng)過熱處理機構時，熱處理機構將會對生產(chǎn)出來的電極箔進行預熱然后再對其加熱，因生產(chǎn)的電極箔厚度較薄使得熱處理機構能夠對電極箔進行快速的加熱，加熱后的電極箔由于材料熱膨脹的變化，缺陷會變得更加明顯，從而更容易被后續(xù)的檢測機構和透光機構檢測到，并且加熱后的電極箔經(jīng)過透光機構檢測時能夠更容易地捕捉到電極箔上的溫度偏移，從而準確識別出表面的微小缺陷，如凸起包、團聚體、掉料、針孔、金屬異物以及不均勻涂層的缺陷；
13、s2、經(jīng)過熱處理機構進行加熱后的電極箔經(jīng)過調節(jié)機構的引導后進入到檢測機構和透光機構之間，而電極箔經(jīng)過調節(jié)機構時設置的調節(jié)機構能夠根據(jù)電極箔輸送的速度對電極箔進行自適應拉伸張緊，張緊后的電極箔進入到檢測機構和透光機構之間；
14、s3、電極箔進入到檢測機構和透光機構之間時，透光機構通過兩種光照強度照射在電極箔上，然后通過檢測機構對應透光機構照射的不同的光照強度來檢測電極箔的生產(chǎn)缺陷，檢測機構根據(jù)透光機構照射的不同光照強度檢測電極箔生產(chǎn)時產(chǎn)生的凸起包、團聚體、針孔、金屬異物以及不均勻涂層的缺陷。
15、綜上，本專利技術的技術效果和優(yōu)點：
16、1、本專利技術設置的電極箔在輸送過程中與加熱的安裝殼外表面相接觸，受到熱量的傳遞而預熱，預熱處理使得電極箔材料因熱膨脹而發(fā)生微小變化，其內部的缺陷因此變得更加明顯，缺陷的明顯化有助于后續(xù)檢測步驟更準確地識別和定位這些缺陷，從而提高檢測的準確性和可靠性，預熱處理后的電極箔更容易被檢測機構捕捉到缺陷，減少了因缺陷不明顯而導致的漏檢或誤檢情況。
17、2、本專利技術設置的透光箱照射的光線能夠穿透電極箔，當電極箔表面存在針孔時，光線能夠穿透這些空洞并被相機捕捉到，從而準確檢測出針孔的存在，外殼和擋板的設計使得透光鏡頭和異物檢測鏡頭所處的空間處于暗室中，避免了外界光線的干擾，提高了檢測的準確性，異物檢測鏡頭作為光敏相機，能夠清晰檢測到穿透電極箔的光線，從而識別出電極箔內部的金屬雜物或厚度不均勻的問題；強光箱照射的強光使得處于暗室中的透光鏡頭更容易檢測到電極箔內部的質量問題，如空腔氣泡、厚度不均勻，透光鏡頭根據(jù)光線的穿透強度來檢測電極箔內部的質量。
18、3、本專利技術設置的電極箔講過機箱的上部時，因電極箔經(jīng)過熱處理機構的加熱后，設置檢測相機則通過現(xiàn)有紅外線ir熱成像技術更容易地捕捉到電極箔表面的溫度偏移，從而準確識別出表面的微小缺陷，如凸起包、團聚體、掉料、針孔、金屬異物以及不均勻涂層，而設置的透明板則能夠改變透光箱和強光箱照射的光線，使得光線照射到機箱的內部空間時更加的柔和便于檢測相機檢測。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術保護點】
1.一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，包括檢測箱（1），其特征在于：所述檢測箱（1）的內壁兩側均設置有輥筒（8），所述檢測箱（1）的內部設置有兩個調節(jié)機構（6），兩個所述調節(jié)機構（6）和輥筒（8）的外表面均繞設有電極箔（3），所述檢測箱（1）內壁頂部設置有支撐架（4），所述支撐架（4）的下端設置有檢測電極箔（3）表面缺陷的檢測機構（5），所述檢測箱（1）的內部設置有配合支撐架（4）檢測電極箔（3）表面缺陷的透光機構（7），且透光機構（7）位于兩個調節(jié)機構（6）之間，所述檢測機構（5）位于透光機構（7）的正上方，所述檢測箱（1）的內部且位于其中一個調節(jié)機構（6）和輥筒（8）之間設置有熱處理機構（2），所述熱處理機構（2）用于對電極箔（3）進行加熱并配合調節(jié)機構（6）增加其延展性放大電極箔（3）表面的缺陷，所述電極箔（3）貫穿熱處理機構（2）并從檢測機構（5）和透光機構（7）之間穿過。
2.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述調節(jié)機構（6）包括兩個第一滑槽塊（65），兩個所述第一滑槽塊（65）均固定安裝在檢測箱（1）的內壁上，兩個所述第一滑槽
3.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述熱處理機構（2）包括導氣殼（21）和安裝殼（25），所述安裝殼（25）的內部設置有加熱片（27），所述安裝殼（25）的底部設置有扇葉（26），所述安裝殼（25）的兩側均設置有支撐板（24），兩個所述支撐板（24）均固定安裝在檢測箱（1）的內壁上。
4.根據(jù)權利要求3所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述導氣殼（21）的兩側均設置有導風片（22），所述導氣殼（21）和安裝殼（25）的兩側共同設置有通氣管（23），且電極箔（3）位于安裝殼（25）和導氣殼（21）之間，且電極箔（3）與安裝殼（25）的外表面相接觸。
5.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述檢測機構（5）包括外殼（52），所述外殼（52）的內壁中部設置有安裝箱（55），所述安裝箱（55）的內壁兩側均設置有透光曲板（56），兩個所述透光曲板（56）之間設置有表面檢測鏡頭（57），所述安裝箱（55）的內壁設置有為表面檢測鏡頭（57）進行補光檢測電極箔（3）表面缺陷的補光燈（58），所述外殼（52）固定安裝在支撐架（4）的下端，所述外殼（52）的兩側均設置有擋板（51）。
6.根據(jù)權利要求5所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述外殼（52）的內壁且位于安裝箱（55）的兩側分別設置有透光鏡頭（53）和異物檢測鏡頭（54），所述外殼（52）位于電極箔（3）的上方。
7.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述透光機構（7）包括機箱（76），所述機箱（76）的兩側均開設有安裝槽（711），兩個所述安裝槽（711）的內部均設置有透明板（75），所述機箱（76）的底部設置有檢測相機（712），所述機箱（76）的兩側分別設置有強光箱（77）和透光箱（74），所述強光箱（77）和透光箱（74）的一側均設置有輔輥（71）。
8.根據(jù)權利要求7所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述透光機構（7）包括四個固定安裝在檢測箱（1）內壁上的第二滑槽塊（72），所述機箱（76）的兩側均設置有連接板（73），兩個所述連接板（73）的一側均對稱設置有兩個第二滑塊（79），且第二滑塊（79）的滑動安裝在第二滑槽塊（72）的內部，四個所述第二滑塊（79）的底部均設置有第二彈簧（78）。
9.根據(jù)權利要求7所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述透光箱（74）位于透光鏡頭（53）的正上方，所述強光箱（77）位于異物檢測鏡頭（54）的正上方。
10.一種采用權利要求1-9任意一項所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置的檢測方法，其特征在于，電極箔的具體檢測步驟如下：
...【技術特征摘要】
1.一種電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，包括檢測箱（1），其特征在于：所述檢測箱（1）的內壁兩側均設置有輥筒（8），所述檢測箱（1）的內部設置有兩個調節(jié)機構（6），兩個所述調節(jié)機構（6）和輥筒（8）的外表面均繞設有電極箔（3），所述檢測箱（1）內壁頂部設置有支撐架（4），所述支撐架（4）的下端設置有檢測電極箔（3）表面缺陷的檢測機構（5），所述檢測箱（1）的內部設置有配合支撐架（4）檢測電極箔（3）表面缺陷的透光機構（7），且透光機構（7）位于兩個調節(jié)機構（6）之間，所述檢測機構（5）位于透光機構（7）的正上方，所述檢測箱（1）的內部且位于其中一個調節(jié)機構（6）和輥筒（8）之間設置有熱處理機構（2），所述熱處理機構（2）用于對電極箔（3）進行加熱并配合調節(jié)機構（6）增加其延展性放大電極箔（3）表面的缺陷，所述電極箔（3）貫穿熱處理機構（2）并從檢測機構（5）和透光機構（7）之間穿過。
2.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述調節(jié)機構（6）包括兩個第一滑槽塊（65），兩個所述第一滑槽塊（65）均固定安裝在檢測箱（1）的內壁上，兩個所述第一滑槽塊（65）的內部均滑動安裝有第一滑塊（63），兩個所述第一滑塊（63）之間設置有支撐棒（62），所述支撐棒（62）的外表面轉動安裝有套筒（61），兩個所述第一滑塊（63）的底部均設置有第一彈簧（64），所述電極箔（3）與套筒（61）的外表面相接觸。
3.根據(jù)權利要求1所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述熱處理機構（2）包括導氣殼（21）和安裝殼（25），所述安裝殼（25）的內部設置有加熱片（27），所述安裝殼（25）的底部設置有扇葉（26），所述安裝殼（25）的兩側均設置有支撐板（24），兩個所述支撐板（24）均固定安裝在檢測箱（1）的內壁上。
4.根據(jù)權利要求3所述的電極箔生產(chǎn)用表面缺陷檢測裝置，其特征在于：所述導氣殼（21）的兩側均設置有導風片（22），所述導氣殼（21）和安裝殼（25）的兩側共同設置有通氣管（23），且電極箔（3）位于安裝殼（25）和導氣殼（21）之...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：朱德秋，張生，竇宗利，張文華，蔡來安，
申請(專利權)人：揚州宏遠電子股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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