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    一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)及環(huán)境光調(diào)試方法技術(shù)方案

    技術(shù)編號:44187493 閱讀:11 留言:0更新日期:2025-02-06 18:28
    本發(fā)明專利技術(shù)揭示了一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)及環(huán)境光調(diào)試方法,所述環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)包括:光源、照度計(jì)、三維調(diào)試裝置、托盤以及控制單元;三維調(diào)試裝置位于光源下方;托盤安裝在三維調(diào)試裝置上,用于承載照度計(jì)或待測產(chǎn)品;三維調(diào)試裝置用于在三維空間內(nèi)控制照度計(jì)和待測產(chǎn)品的位置;控制單元連接光源、照度計(jì)以及三維調(diào)試裝置,并能夠連接待測產(chǎn)品;控制單元用于測量和記錄照度計(jì)和待測產(chǎn)品在不同光源亮度下的參數(shù),并進(jìn)行比較,以及用于根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整待測產(chǎn)品的位置。本發(fā)明專利技術(shù)能夠提高調(diào)試的效率和精度。

    【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

    本專利技術(shù)涉及電子產(chǎn)品環(huán)境光調(diào)試,特別是涉及一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)及環(huán)境光調(diào)試方法


    技術(shù)介紹

    1、目前,在傳統(tǒng)的環(huán)境光精度調(diào)試過程中,手機(jī)和其他智能設(shè)備通常需要在配備多種光源的燈箱中進(jìn)行測試。這一過程依賴于手持式照度計(jì)和智能待測產(chǎn)品來收集數(shù)據(jù),以便通過軟件補(bǔ)償來確保設(shè)備的環(huán)境光感應(yīng)精度。

    2、然而,這種方法存在一些明顯的局限性:1、環(huán)境誤差:由于燈箱發(fā)光面的不均勻性,不同光源下的最大亮度位置可能會有所變化,這就需要手動(dòng)調(diào)整照度計(jì)以尋找最亮點(diǎn),增加了操作的復(fù)雜性。2、位置準(zhǔn)確度問題:手動(dòng)調(diào)整照度計(jì)和智能設(shè)備以確保兩者的接收器位置完全重合,這一過程的準(zhǔn)確性難以保證。3、測試誤差:由于照度計(jì)和智能設(shè)備之間存在高度差異,且手動(dòng)更換設(shè)備時(shí)難以保持位置的一致性,這可能導(dǎo)致測試結(jié)果的不準(zhǔn)確。4、數(shù)據(jù)記錄緩慢:需要人工記錄不同亮度下的光源亮度值,這一過程既耗時(shí)又容易出錯(cuò)。5、操作繁瑣:每次更換光源后,都需要重復(fù)上述步驟,不僅增加了工作量,也提高了出錯(cuò)的可能性。6、人工成本高:所有操作都需要人工完成,這對于大規(guī)模測試來說非常耗時(shí),且成本高昂。

    3、為此,亟需提出一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)及環(huán)境光調(diào)試方法,以解決上述問題。


    技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

    1、本專利技術(shù)的目的在于提出一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng)及環(huán)境光調(diào)試方法,能夠提高調(diào)試的效率和精度。

    2、為解決上述技術(shù)問題,本專利技術(shù)提供一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),包括:光源、照度計(jì)、三維調(diào)試裝置、托盤以及控制單元;

    3、所述三維調(diào)試裝置位于所述光源下方;所述托盤安裝在所述三維調(diào)試裝置上,用于承載照度計(jì)或待測產(chǎn)品;所述三維調(diào)試裝置用于在三維空間內(nèi)控制所述照度計(jì)和所述待測產(chǎn)品的位置;

    4、所述控制單元連接所述光源、所述照度計(jì)以及所述三維調(diào)試裝置,并能夠連接所述待測產(chǎn)品;所述控制單元用于測量和記錄所述照度計(jì)和所述待測產(chǎn)品在不同光源亮度下的參數(shù),并進(jìn)行比較,以及用于根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整所述待測產(chǎn)品的位置。

    5、進(jìn)一步的,所述三維調(diào)試裝置包括:多個(gè)第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌、裝置架以及伸縮裝置;

    6、多個(gè)所述第一導(dǎo)軌沿第一方向平行設(shè)置;所述第二導(dǎo)軌沿第二方向與所述第一導(dǎo)軌滑動(dòng)連接,且位于多個(gè)所述第一導(dǎo)軌之間;所述裝置架沿所述第一方向滑動(dòng)設(shè)置在所述第二導(dǎo)軌上;所述伸縮裝置的固定端沿第三方向安裝在所述裝置架上,伸縮端與所述托盤相連接;所述第一方向、所述第二方向以及所述第三方向相互垂直。

    7、進(jìn)一步的,所述第二導(dǎo)軌的兩端皆連接有安裝架;所述安裝架的一端連接有第一電機(jī);所述第一電機(jī)的輸出軸連接有第一滾輪;所述安裝架的另一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第二滾輪;所述第一滾輪和所述第二滾輪分別位于所述第一導(dǎo)軌的兩側(cè),且皆嵌入所述第一導(dǎo)軌內(nèi)。

    8、進(jìn)一步的,所述裝置架的一端設(shè)有多個(gè)連接件,另一端連接所述伸縮裝置;一部分所述連接件連接有第二電機(jī);所述第二電機(jī)的輸出軸連接有第三滾輪;另一部分所述連接件轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第四滾輪;所述第三滾輪和所述第四滾輪分別位于所述第二導(dǎo)軌的兩側(cè),且皆嵌入所述第二導(dǎo)軌內(nèi)。

    9、進(jìn)一步的,所述伸縮裝置包括電動(dòng)伸縮桿。

    10、此外,本專利技術(shù)還提出一種環(huán)境光調(diào)試方法,使用如上述所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),具體包括如下:

    11、將照度計(jì)置于托盤上,測量并記錄所述照度計(jì)在不同光源亮度下的第一參數(shù);

    12、將所述照度計(jì)更換為待測產(chǎn)品,并根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整所述待測產(chǎn)品的位置;

    13、測量并記錄所述待測產(chǎn)品在所述不同光源亮度下的第二參數(shù);

    14、比較所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù),判斷所述待測產(chǎn)品的環(huán)境光精度是否符合預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)。

    15、進(jìn)一步的,所述測量并記錄所述照度計(jì)在不同光源亮度下的第一參數(shù),具體包括:

    16、實(shí)時(shí)讀取所述照度計(jì)讀值,查找讀值最大的位置,并記錄所述托盤在三維空間的坐標(biāo)數(shù)據(jù);

    17、調(diào)節(jié)所述光源的亮度,記錄不同光源亮度下對應(yīng)的照度計(jì)讀值,并根據(jù)預(yù)設(shè)的讀值判斷所述照度計(jì)讀值是否符合預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)。

    18、進(jìn)一步的,所述根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整所述待測產(chǎn)品的位置,具體包括:

    19、計(jì)算所述照度計(jì)和所述待測產(chǎn)品在三維空間上的尺寸差異;

    20、根據(jù)尺寸差異,調(diào)整所述托盤在三維空間上的位置。

    21、進(jìn)一步的,所述比較所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù),判斷所述待測產(chǎn)品的環(huán)境光精度是否符合預(yù)定標(biāo)準(zhǔn),具體包括:

    22、根據(jù)精度計(jì)算公式計(jì)算出環(huán)境光精度:環(huán)境光精度=(待測產(chǎn)品讀值-照度計(jì)讀值)/照度計(jì)讀值*100%;

    23、若所述環(huán)境光精度位于預(yù)定范圍內(nèi),則符合預(yù)定標(biāo)準(zhǔn)。

    24、通過上述技術(shù)方案,本專利技術(shù)具有如下有益效果:

    25、通過光源、照度計(jì)、三維調(diào)試裝置、托盤以及控制單元;三維調(diào)試裝置位于光源下方;托盤安裝在三維調(diào)試裝置上,用于承載照度計(jì)或待測產(chǎn)品;三維調(diào)試裝置用于在三維空間內(nèi)控制照度計(jì)和待測產(chǎn)品的位置;控制單元連接光源、照度計(jì)以及三維調(diào)試裝置,并能夠連接待測產(chǎn)品;控制單元用于測量和記錄照度計(jì)和待測產(chǎn)品在不同光源亮度下的參數(shù),并進(jìn)行比較,以及用于根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整待測產(chǎn)品的位置。本專利技術(shù)通過三維調(diào)試裝置能夠在三維空間內(nèi)控制照度計(jì)和待測產(chǎn)品的位置,從而提高調(diào)試的效率和精度。

    本文檔來自技高網(wǎng)...

    【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

    1.一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,包括:光源、照度計(jì)、三維調(diào)試裝置、托盤以及控制單元;

    2.如權(quán)利要求1所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述三維調(diào)試裝置包括:多個(gè)第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌、裝置架以及伸縮裝置;

    3.如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述第二導(dǎo)軌的兩端皆連接有安裝架;所述安裝架的一端連接有第一電機(jī);所述第一電機(jī)的輸出軸連接有第一滾輪;所述安裝架的另一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第二滾輪;所述第一滾輪和所述第二滾輪分別位于所述第一導(dǎo)軌的兩側(cè),且皆嵌入所述第一導(dǎo)軌內(nèi)。

    4.如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述裝置架的一端設(shè)有多個(gè)連接件,另一端連接所述伸縮裝置;一部分所述連接件連接有第二電機(jī);所述第二電機(jī)的輸出軸連接有第三滾輪;另一部分所述連接件轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第四滾輪;所述第三滾輪和所述第四滾輪分別位于所述第二導(dǎo)軌的兩側(cè),且皆嵌入所述第二導(dǎo)軌內(nèi)。

    5.如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述伸縮裝置包括電動(dòng)伸縮桿。

    6.一種環(huán)境光調(diào)試方法,使用如權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,具體包括如下:

    7.如權(quán)利要求6所述的環(huán)境光調(diào)試方法,其特征在于,所述測量并記錄所述照度計(jì)在不同光源亮度下的第一參數(shù),具體包括:

    8.如權(quán)利要求6所述的環(huán)境光調(diào)試方法,其特征在于,所述根據(jù)預(yù)設(shè)的位置補(bǔ)償參數(shù),調(diào)整所述待測產(chǎn)品的位置,具體包括:

    9.如權(quán)利要求6所述的環(huán)境光調(diào)試方法,其特征在于,所述比較所述第一參數(shù)和所述第二參數(shù),判斷所述待測產(chǎn)品的環(huán)境光精度是否符合預(yù)定標(biāo)準(zhǔn),具體包括:

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    【技術(shù)特征摘要】

    1.一種環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,包括:光源、照度計(jì)、三維調(diào)試裝置、托盤以及控制單元;

    2.如權(quán)利要求1所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述三維調(diào)試裝置包括:多個(gè)第一導(dǎo)軌、第二導(dǎo)軌、裝置架以及伸縮裝置;

    3.如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述第二導(dǎo)軌的兩端皆連接有安裝架;所述安裝架的一端連接有第一電機(jī);所述第一電機(jī)的輸出軸連接有第一滾輪;所述安裝架的另一端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有第二滾輪;所述第一滾輪和所述第二滾輪分別位于所述第一導(dǎo)軌的兩側(cè),且皆嵌入所述第一導(dǎo)軌內(nèi)。

    4.如權(quán)利要求2所述的環(huán)境光調(diào)試系統(tǒng),其特征在于,所述裝置架的一端設(shè)有多個(gè)連接件,另一端連接所述伸縮裝置;一部分所述連接件連接有第二電機(jī);所述第二電機(jī)的輸出軸連接有第三滾輪;另一部分所述連接件轉(zhuǎn)動(dòng)...

    【專利技術(shù)屬性】
    技術(shù)研發(fā)人員:章明亮,程黎輝,關(guān)亞東,
    申請(專利權(quán))人:合肥龍旗智能科技有限公司,
    類型:發(fā)明
    國別省市:

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