本發明專利技術公開了一種基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法及系統，對延遲時間進行邊沿采集，然后合成延遲時間窄脈沖信號；基于延遲時間窄脈沖信號，在延遲時間內和延遲時間外以不同的積分速度輸出積分輸出信號；對積分輸出信號進行比較，生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號，用于功率半導體器件在線結溫檢測。本發明專利技術能夠實時檢測功率半導體器件的結溫，為功率半導體器件的熱管理提供依據，提升功率半導體器件的可靠性，為電力電子裝置的可靠運行保駕護航。
【技術實現步驟摘要】
所屬的技術人員能夠理解，本專利技術的各個方面可以實現為系統、方法或程序產品。因此，本專利技術的各個方面可以具體實現為以下形式，即：完全的硬件實施方式、完全的軟件實施方式(包括固件、微代碼等)，或硬件和軟件方面結合的實施方式，這里可以統稱為“電路”、“模塊”或“平臺”。本專利技術再一個實施例中，提供一種基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測系統，該系統能夠用于實現上述基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，具體的，該基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測系統包括采集模塊、積分模塊以及檢測模塊。其中，采集模塊，對延遲時間進行邊沿采集，然后合成延遲時間窄脈沖信號；積分模塊，基于延遲時間窄脈沖信號，在延遲時間內和延遲時間外以不同的積分速度輸出積分輸出信號；在延遲時間內及延遲時間外以不同的積分速度生成積分輸出信號；當積分輸出信號在延遲時間內上升時，檢測積分輸出信號開始上升的時刻，其電平為v，作為輸出寬脈沖信號的開始時刻；在延遲時間外，積分輸出信號下降時，檢測積分輸出信號下降到電平v的時刻，作為輸出寬脈沖信號的結束時刻；在延遲時間內及延遲時間外以不同的積分速度生成積分輸出信號；當積分輸出信號在延遲時間內下降時，檢測積分輸出信號開始下降的時刻，其電平為v，作為輸出寬脈沖信號的開始時刻；在延遲時間外，積分輸出信號上升時，檢測積分輸出信號上升到電平v的時刻，作為輸出寬脈沖信號的結束時刻；生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號具體為：根據輸出寬脈沖信號開始時刻以及結束時刻生成輸出寬脈沖信號，輸出寬脈沖信號的脈沖寬度為放大g倍的延遲時間的長度。檢測模塊，對積分輸出信號進行比較，生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號，用于功率半導體器件在線結溫檢測。本專利技術再一個實施例中，提供了一種終端設備，該終端設備包括處理器以及存儲器，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述處理器用于執行所述計算機存儲介質存儲的程序指令。處理器可能是中央處理單元(central?processingunit，cpu)，還可以是其他通用處理器、數字信號處理器(digital?signal?processor、dsp)、專用集成電路(application?specific?integrated?circuit，asic)、現成可編程門陣列(field-programmable?gate?array，fpga)或者其他可編程邏輯器件、分立門或者晶體管邏輯器件、分立硬件組件等，其是終端的計算核心以及控制核心，其適于實現一條或一條以上指令，具體適于加載并執行一條或一條以上指令從而實現相應方法流程或相應功能；本專利技術實施例所述的處理器可以用于基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法的操作，包括：對延遲時間進行邊沿采集，然后合成延遲時間窄脈沖信號；基于延遲時間窄脈沖信號，在延遲時間內和延遲時間外以不同的積分速度輸出積分輸出信號；對積分輸出信號進行比較，生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號，用于功率半導體器件在線結溫檢測。本專利技術再一個實施例中，本專利技術還提供了一種存儲介質，具體為計算機可讀存儲介質（memory），所述計算機可讀存儲介質是終端設備中的記憶設備，用于存放程序和數據。可以理解的是，此處的計算機可讀存儲介質既可以包括終端設備中的內置存儲介質，當然也可以包括終端設備所支持的擴展存儲介質，可以是任何包含或存儲程序的有形介質，該程序可以被指令執行系統、裝置或者器件使用或者與其結合使用。計算機可讀存儲介質提供存儲空間，該存儲空間存儲了終端的操作系統。并且，在該存儲空間中還存放了適于被處理器加載并執行的一條或一條以上的指令，這些指令可以是一個或一個以上的計算機程序（包括程序代碼）。需要說明的是，此處的計算機可讀存儲介質的更具體的例子(非窮舉的列表)包括：具有一個或多個導線的電連接、便攜式盤、硬盤、隨機存取存儲器(ram)、只讀存儲器(rom)、可擦式可編程只讀存儲器(eprom或閃存)、光纖、便攜式緊湊盤只讀存儲器(cd-rom)、光存儲器件、磁存儲器件、或者上述的任一合適的組合。計算機可讀存儲介質還包括在基帶中或者作為載波一部分傳播的數據信號，其中承載了可讀程序代碼。這種傳播的數據信號可以采用多種形式，包括但不限于電磁信號、光信號或上述的任一合適的組合。可讀存儲介質還可以是可讀存儲介質以外的任何可讀介質，該可讀介質可以發送、傳播或者傳輸用于由指令執行系統、裝置或者器件使用或者與其結合使用的程序。可讀存儲介質上包含的程序代碼可以用任何適當的介質傳輸，包括但不限于無線、有線、光纜、rf等等，或者上述的任一合適的組合。可以以一種或多種程序設計語言的任一組合來編寫用于執行本專利技術操作的程序代碼，程序設計語言包括面向對象的程序設計語言—諸如java、c++等，還包括常規的過程式程序設計語言—諸如“c”語言或類似的程序設計語言。程序代碼可以完全地在用戶計算設備上執行、部分地在用戶設備上執行、作為一個獨立的軟件包執行、部分在用戶計算設備上部分在遠程計算設備上執行、或者完全在遠程計算設備或服務器上執行。在涉及遠程計算設備的情形中，遠程計算設備可以通過任一種類的網絡，包括局域網(lan)或廣域網(wan)，連接到用戶計算設備，或者，可以連接到外部計算設備(例如利用因特網服務提供商來通過因特網連接)。可由處理器加載并執行計算機可讀存儲介質中存放的一條或一條以上指令，以實現上述實施例中有關基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法的相應步驟；計算機可讀存儲介質中的一條或一條以上指令由處理器加載并執行如下步驟：對延遲時間進行邊沿采集，然后合成延遲時間窄脈沖信號；基于延遲時間窄脈沖信號，在延遲時間內和延遲時間外以不同的積分速度輸出積分輸出信號；對積分輸出信號進行比較，生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號，用于功率半導體器件在線結溫檢測。請參閱圖10，終端設備為計算機設備，該實施例的計算機設備60包括：處理器61、存儲器62以及存儲在存儲器62中并可在處理器61上運行的計算機程序63，該計算機程序63被處理器61執行時實現實施例中的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，為避免重復，此處不一一贅述。或者，該計算機程序63被處理器61執行時實現實施例基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測系統中各模型/單元的功能，為避免重復，此處不一一贅述。計算機設備60可以是桌上型計算機、筆記本、掌上電腦及云端服務器等計算設備。計算機設備60可包括，但不僅限于，處理器61、存儲器62。本領域技術人員可以理解，圖10僅僅是計算機設備60的示例，并不構成對計算機設備60的限定，可以包括比圖示更多或更少的部件，或者組合某些部件，或者不同的部件，例如計算機設備還可以包括輸入輸出設備、網絡接入設備、總線等。所稱處理器61可以是中央處理單元(central?processing?unit，cpu)，還可以是其它通用處理器、中央處理器、圖形處理器、數字信號處理器(digital?signal?processor，dsp)、專用集成電路(application?specific?integrated?c本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，合成延遲時間窄脈沖信號具體為：
3.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，被測器件電信號包括柵源電壓、漏源電壓和漏源電流。
4.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，延遲時間窄脈沖信號在延遲時間開始時刻由低電平變為高電平，在延遲時間結束時刻由高電平變為低電平，延遲時間窄脈沖信號的脈沖寬度為延遲時間的長度。
5.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，延遲時間窄脈沖信號在延遲時間開始時刻由高電平變為低電平，在結束時刻由低電平變為高電平，延遲時間窄脈沖信號的脈沖寬度為延遲時間的長度。
6.根據權利要求1所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，在延遲時間內及延遲時間外以不同的積分速度生成積分輸出信號；
7.根據權利要求1所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，在延遲時間內及延遲時間外以不同的積分速度生成積分輸出信號；
8.根據權利要求6或7所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，生成脈沖寬度為延遲時間窄脈沖信號固定倍數的輸出寬脈沖信號具體為：
9.一種基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測系統，其特征在于，包括：
10.根據權利要求9所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測系統，其特征在于，在延遲時間內及延遲時間外以不同的積分速度生成積分輸出信號；
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【技術特征摘要】
1.基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，合成延遲時間窄脈沖信號具體為：
3.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，被測器件電信號包括柵源電壓、漏源電壓和漏源電流。
4.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，延遲時間窄脈沖信號在延遲時間開始時刻由低電平變為高電平，在延遲時間結束時刻由高電平變為低電平，延遲時間窄脈沖信號的脈沖寬度為延遲時間的長度。
5.根據權利要求2所述的基于延遲時間的功率半導體器件在線結溫檢測方法，其特征在于，延遲時間窄脈沖信號在延遲時間開始時刻由高電平變為低電平，在結束時刻由低電平變為高電平...
【專利技術屬性】
技術研發人員：王來利，盧曉輝，楊慶收，楊奉濤，汪巖，
申請(專利權)人：西安交通大學，
類型：發明
國別省市：
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