【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及半導體測試領域，具體涉及一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法及平臺。
技術介紹
1、隨著電子設備的普及和應用場景的多樣化，低功耗芯片在物聯網、移動設備、智能穿戴等領域中扮演著重要角色。低功耗芯片的應用要求設備在高效工作的同時保持較低的功耗，以延長設備的電池壽命或減少能耗。
2、目前，低功耗芯片的漏電流測試多依賴于標準化的測試方法，即在實驗室中通過固定的環境參數和工作電壓范圍來進行測試。這種方式雖然能夠基本滿足產品測試的需求，但難以覆蓋芯片在實際應用場景中的多變環境。而傳統的測試方案往往無法靈活適應這些變化，導致測試結果的實際參考價值有限。因此，亟需一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法及平臺，用以解決現有技術中漏電流測試條件單一、難以全面評估低功耗芯片在多環境參數和電壓條件下特性，從而導致測試結果準確性和適用性不足的技術問題。
技術實現思路
1、本申請通過提供了一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法及平臺，旨在解決現有技術中漏電流測試條件單一、難以全面評估低功耗芯片在多環境參數和電壓條件下特性，從而導致測試結果準確性和適用性不足的技術問題。
2、鑒于上述問題，本申請提供了一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法及平臺。
3、本申請公開的第一個方面，提供了一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，該方法包括采集目標低功耗芯片的芯片特征數據，根據所述芯片特征數據確定目標低功耗芯片的多個環境參數測試范圍和工作電壓測試范圍，其中，多個環境參數測試范圍包括溫度測試
4、本申請公開的另一個方面，提供了一種低功耗芯片的漏電流測試分析平臺，該平臺包括芯片特征數據采集模塊：用于采集目標低功耗芯片的芯片特征數據，根據所述芯片特征數據確定目標低功耗芯片的多個環境參數測試范圍和工作電壓測試范圍，其中，多個環境參數測試范圍包括溫度測試范圍、濕度測試范圍和電磁干擾測試范圍；環境測試序列生成模塊：用于根據所述多個環境參數測試范圍生成環境測試序列，并根據所述工作電壓測試范圍生成電壓測試序列，組合所述環境測試序列和所述電壓測試序列，生成自適應測試方案；漏電流測試數據獲取模塊：用于基于所述自適應測試方案，設定環境參數和施加工作電壓，通過電流傳感器獲取目標低功耗芯片的漏電流測試數據，并將所述漏電流測試數據構建漏電流數據矩陣；第一分析結果獲取模塊：用于依次提取所述漏電流數據矩陣的行向量數據，分析相同環境參數條件下的電壓－漏電流特性，獲取第一分析結果；第二分析結果獲取模塊：用于依次提取所述漏電流數據矩陣的列向量數據，分析相同工作電壓條件下的環境－漏電流特性，獲取第二分析結果；關聯評估模塊：用于基于所述第一分析結果和所述第二分析結果對所述目標低功耗芯片進行關聯評估，獲取所述目標低功耗芯片的漏電流特性評估結果。
5、本申請中提供的一個或多個技術方案，至少具有如下技術效果或優點：
6、由于采用了基于芯片特征數據確定多個環境參數測試范圍和工作電壓測試范圍，并生成自適應測試方案的技術方案，解決了低功耗芯片漏電流測試過程中環境變化與電壓波動對測試結果的影響，達到通過精確控制測試條件、提高測試數據的準確性和穩定性的技術效果，從而實現對低功耗芯片漏電流特性的全面評估。
7、上述說明僅是本申請技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本申請的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本申請的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本申請的具體實施方式。
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1.一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，根據所述芯片特征數據確定目標低功耗芯片的多個環境參數測試范圍和工作電壓測試范圍，其中，多個環境參數測試范圍包括溫度測試范圍、濕度測試范圍和電磁干擾測試范圍，包括：
3.根據權利要求2所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，對多個相似芯片運行樣本的芯片工作電壓數據進行集中區間分析，獲取工作電壓測試范圍，包括：
4.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，根據所述多個環境參數測試范圍生成環境測試序列，并根據所述工作電壓測試范圍生成電壓測試序列，組合所述環境測試序列和所述電壓測試序列，生成自適應測試方案，包括：
5.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，依次提取所述漏電流數據矩陣的行向量數據，分析相同環境參數條件下的電壓－漏電流特性，獲取第一分析結果，包括：
6.根據權利要求5所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在
7.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，基于所述第一分析結果和所述第二分析結果對所述目標低功耗芯片進行關聯評估，獲取所述目標低功耗芯片的漏電流特性評估結果，包括：
8.一種低功耗芯片的漏電流測試分析平臺，其特征在于，用于執行權利要求1至7任一所述方法，所述平臺包括：
...【技術特征摘要】
1.一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，包括：
2.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，根據所述芯片特征數據確定目標低功耗芯片的多個環境參數測試范圍和工作電壓測試范圍，其中，多個環境參數測試范圍包括溫度測試范圍、濕度測試范圍和電磁干擾測試范圍，包括：
3.根據權利要求2所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，對多個相似芯片運行樣本的芯片工作電壓數據進行集中區間分析，獲取工作電壓測試范圍，包括：
4.根據權利要求1所述的一種低功耗芯片的漏電流測試分析方法，其特征在于，根據所述多個環境參數測試范圍生成環境測試序列，并根據所述工作電壓測試范圍生成電壓測試序列，組合所述環境測試序列和所述電壓測試...
【專利技術屬性】
技術研發人員：楊國牛，苗濤濤，毛雪，陸翰雯，虞帆，葉輝，池海娥，紀旭嬌，刁志舟，
申請(專利權)人：揚州西谷航測檢測技術服務有限公司，
類型：發明
國別省市：
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