【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及硬件測試，尤其涉及橋接卡信號質量的測試方法、裝置、設備、介質和產品。
技術介紹
1、橋接卡（bridge?card）是一種用于連接兩個或多個不同硬件卡之間的硬件設備，其主要功能是傳遞數據包，并在不同的硬件卡之間建立通信橋接。橋接卡作為不同硬件卡之間的橋梁，其鏈路穩定性直接影響到數據傳輸的可靠性。
2、目前，常用的橋接板卡是通過業務運行和鏈路狀態檢查來確定硬件卡間通信是否存在功能問題，但是針對信號質量這塊，采用的方式還是以測試儀器設備做si（signalintegrity，信號完整性）測試和仿真測試為主。
3、然而，si測試存在一定的局限性，主要表現在需要依賴昂貴的儀器設備，例如bert（bit?error?rate?test，誤碼率測試）的誤碼儀和網分儀。大多數橋接電路板供應商并未配備這些儀器。即便擁有這些設備，bert誤碼儀測試也只能通過特定夾具對橋接板的原型驗證版進行測試。在量產階段，由于接口問題，這些儀器無法連接到橋接板上進行測試。此外，仿真測試作為產品設計研發早期的評估手段，其數據在回片和硅后量產階段僅能作為參考，并不能作為驗證結果來指導生產。
技術實現思路
1、本專利技術提供橋接卡信號質量的測試方法、裝置、設備、介質和產品，用以解決現有技術中橋接卡的信號質量測試依賴信號質量測試儀器，通用性低，測試接口不適配的問題。
2、本專利技術提供一種橋接卡信號質量的測試方法，橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，橋接卡信號質量的測試方
3、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，控制第一硬件卡通過pcie鏈路向第二硬件卡發送第一測試數據，第二硬件卡接收第一測試數據并基于第二硬件卡中的錯誤寄存器確定第一數據接收結果，包括：將第二硬件卡中的錯誤寄存器清零；控制第一硬件卡通過pcie鏈路向第二硬件卡發送第一測試數據，第二硬件卡接收第一測試數據；在第二硬件卡接收第一測試數據的過程中，計算pcie鏈路的第一帶寬數據；在第二硬件卡接收第一測試數據的過程中，確定第二硬件卡的錯誤寄存器中錯誤事件，得到第一錯誤結果；根據第一帶寬數據和第一錯誤結果確定第一數據接收結果。
4、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，控制第二硬件卡通過pcie鏈路向第一硬件卡發送第二測試數據，第一硬件卡接收第二測試數據并基于第一硬件卡中的錯誤寄存器確定第二數據接收結果，包括：將第一硬件卡中的錯誤寄存器清零；控制第二硬件卡通過pcie鏈路向第一硬件卡發送第二測試數據，第一硬件卡接收第二測試數據；在第一硬件卡接收第二測試數據的過程中，計算pcie鏈路的第二帶寬數據；在第一硬件卡接收第二測試數據的過程中，確定第一硬件卡的錯誤寄存器中錯誤事件，得到第二錯誤結果；根據第二帶寬數據和第二錯誤結果確定第二數據接收結果。
5、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量，包括：當第一數據接收結果和/或第二數據接收結果中出現不可糾正的錯誤事件，則判定鏈路失敗，將橋接卡的信號質量標識為差；當第一數據接收結果和第二數據接收結果中未出現錯誤事件，則判定鏈路通過，將橋接卡的信號質量標識為優。
6、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量，包括：當第一數據接收結果和/或第二數據接收結果中出現可糾正的錯誤事件，則將第一帶寬數據和/或第二帶寬數據與預設帶寬閾值作對比；若第一帶寬數據和第二帶寬數據均大于預設帶寬閾值，則判定鏈路不穩定，將橋接卡的信號質量標識為較差；若第一帶寬數據和第二帶寬數據中至少一個帶寬數據小于或等于預設帶寬閾值，則判定鏈路失敗，將橋接卡的信號質量標識為差。
7、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量，包括：當第一數據接收結果和第二數據接收結果中出現除不可糾正的錯誤事件以及可糾正的錯誤事件之外的其他錯誤事件，則記錄錯誤類型，判定鏈路一般，將橋接卡的信號質量標識為警告。
8、根據本專利技術提供的一種橋接卡信號質量的測試方法，在根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量之后，還包括：對第一硬件卡和第二硬件卡之間的pcie鏈路進行復位；和/或，對第一硬件卡進行熱復位；和/或，對第二硬件卡進行熱復位。
9、本專利技術還提供一種橋接卡信號質量的測試裝置，橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，橋接卡信號質量的測試裝置包括：鏈路建立模塊，用于建立第一硬件卡和第二硬件卡之間的pcie鏈路；第一傳輸模塊，用于控制第一硬件卡通過pcie鏈路向第二硬件卡發送第一測試數據，第二硬件卡接收第一測試數據并基于第二硬件卡中的錯誤寄存器確定第一數據接收結果；第二傳輸模塊，用于控制第二硬件卡通過pcie鏈路向第一硬件卡發送第二測試數據，第一硬件卡接收第二測試數據并基于第一硬件卡中的錯誤寄存器確定第二數據接收結果；信號質量分析模塊，用于根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量。
10、本專利技術還提供一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執行所述程序時實現如上述任一種所述橋接卡信號質量的測試方法。
11、本專利技術還提供一種非暫態計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，該計算機程序被處理器執行時實現如上述任一種所述橋接卡信號質量的測試方法。
12、本專利技術還提供一種計算機程序產品，包括計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時實現如上述任一種所述橋接卡信號質量的測試方法。
13、本專利技術提供的橋接卡信號質量的測試方法、裝置、設備、介質和產品，橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，橋接卡信號質量的測試方法包括：建立第一硬件卡和第二硬件卡之間的pcie鏈路；控制第一硬件卡通過pcie鏈路向第二硬件卡發送第一測試數據，第二硬件卡接收第一測試數據并基于第二硬件卡中的錯誤寄存器確定第一數據接收結果；控制第二硬件卡通過pcie鏈路向第一硬件卡發送第二測試數據，第一硬件卡接收第二測試數據并基于第一硬件卡中的錯誤寄存器確定第二數據接收結果；根據第一數據接收結果和第二數據接收結果確定橋接卡的信號質量。通過上述方式，本專利技術擺脫了對信號質量測試儀器的依賴，直接利用硬件卡進行信號質量測試，通過兩個硬件卡的數據接收情況發現鏈路質量問題，易用性高，且普及性廣。
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1.一種橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，所述橋接卡信號質量的測試方法包括：
2.根據權利要求1所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述控制所述第一硬件卡通過所述PCIe鏈路向所述第二硬件卡發送第一測試數據，所述第二硬件卡接收所述第一測試數據并基于所述第二硬件卡中的錯誤寄存器確定第一數據接收結果，包括：
3.根據權利要求2所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述控制所述第二硬件卡通過所述PCIe鏈路向所述第一硬件卡發送第二測試數據，所述第一硬件卡接收所述第二測試數據并基于所述第一硬件卡中的錯誤寄存器確定第二數據接收結果，包括：
4.根據權利要求3所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一數據接收結果和所述第二數據接收結果確定所述橋接卡的信號質量，包括：
5.根據權利要求3所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一數據接收結果和所述第二數據接收結果確定所述橋接卡的信號質量，包括：
6.根據權利要求3所述的橋接卡信號質量的測試方
7.根據權利要求1至6任一項所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，在所述根據所述第一數據接收結果和所述第二數據接收結果確定所述橋接卡的信號質量之后，還包括：
8.一種橋接卡信號質量的測試裝置，其特征在于，所述橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，所述橋接卡信號質量的測試裝置包括：
9.一種電子設備，包括存儲器、處理器及存儲在所述存儲器上并在所述處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時實現如權利要求1至7任一項所述橋接卡信號質量的測試方法。
10.一種非暫態計算機可讀存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述橋接卡信號質量的測試方法。
11.一種計算機程序產品，包括計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述橋接卡信號質量的測試方法。
...【技術特征摘要】
1.一種橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述橋接卡分別連接第一硬件卡和第二硬件卡，所述橋接卡信號質量的測試方法包括：
2.根據權利要求1所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述控制所述第一硬件卡通過所述pcie鏈路向所述第二硬件卡發送第一測試數據，所述第二硬件卡接收所述第一測試數據并基于所述第二硬件卡中的錯誤寄存器確定第一數據接收結果，包括：
3.根據權利要求2所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述控制所述第二硬件卡通過所述pcie鏈路向所述第一硬件卡發送第二測試數據，所述第一硬件卡接收所述第二測試數據并基于所述第一硬件卡中的錯誤寄存器確定第二數據接收結果，包括：
4.根據權利要求3所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一數據接收結果和所述第二數據接收結果確定所述橋接卡的信號質量，包括：
5.根據權利要求3所述的橋接卡信號質量的測試方法，其特征在于，所述根據所述第一數據接收結果和所述第二數據接收結果確定所述橋接卡的信號質量，包括：
6.根據權利要求...
【專利技術屬性】
技術研發人員：請求不公布姓名，請求不公布姓名，請求不公布姓名，
申請(專利權)人：上海壁仞科技股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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