【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及集成電路，具體是otp燒寫邏輯電路及燒寫方法。
技術介紹
1、由于制造集成電路芯片晶圓的工藝存在波動與不均性，加之封裝應力等因素，會造成芯片參數的漂移和離散，因此，需要對芯片的關鍵參數進行修調，以保證每顆芯片都能達到既定的指標要求。修調芯片的電參數可以在晶圓測試階段進行，即中測時進行修調，也可以在封裝好的電路上進行修調，即成測時修調。修調電參數的熔絲種類包括金屬熔絲、多晶硅熔絲及浮柵熔絲。其中，金屬熔絲和多晶硅熔絲，只能在中測時進行燒寫，通過在熔絲兩端施加電壓產生大電流，大電流產生的高溫將熔絲燒斷，此外，還可以采用激光將金屬熔絲熔斷。而浮柵熔絲既可以在中測時進行燒寫，也可以在成測時進行燒寫，且無需大電流。
2、傳統的中測熔絲燒寫方式往往通過燒寫pad或者激光來進行，燒寫pad的弊端在于每個熔絲的兩端必須要有可以外加電壓的pad，一但熔絲數量達到16位以上，燒寫用的pad就會占用太多面積，造成芯片成本急劇增加，而激光燒寫雖然能夠提高對位數較多的熔絲的燒寫效率，但需要預先計算好燒寫的位數，且一旦燒寫完成便無法修改。然而，芯片的參數波動會導致預先確定的熔絲位修調步進發生變化，降低激光燒寫的精度，另一方面，有的電路結構中需要先將一個參數調修調到位后，才能對另一個參數進行修調，無法通過一次修調完成全部燒寫，不得不采用多次修調的方式進行燒寫，而多次修調燒寫的方式大大增加了測試成本與時間消耗。
技術實現思路
1、本專利技術的目的在于提供otp燒寫邏輯電路及燒寫方法，可以
2、為實現上述目的，本專利技術提供如下技術方案：
3、第一方面，提供一種包括編碼信號輸入控制邏輯模塊、第一測試模式判定模塊、第二測試模式判定模塊、測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、預燒寫邏輯模塊、燒寫邏輯模塊、燒寫模塊和熔絲讀取脈沖信號生成模塊；
4、所述編碼信號輸入控制邏輯模塊用于接收第一外部時鐘信號并向所述第一測試模式判定模塊輸出第一編碼信號，所述編碼信號輸入控制邏輯模塊具有第一外部時鐘信號輸入端口與第一編碼信號輸出端口，只有在第一外部時鐘信號輸入的特定周期內，第一編碼信號才能輸出到第一測試模式判定模塊，從而防止外部端口信號的震蕩，避免輸入錯誤信號到內部燒寫邏輯電路，其中，所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊構成內部燒寫邏輯電路，使所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式產生第一輸出編碼、第一預燒寫及第一燒寫信號。
5、所述第一測試模式判定模塊接收到的第一編碼信號通過第一外部時鐘信號觸發，當所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后，第一測試模式判定模塊將在時鐘信號的觸發作用下維持第一測試模式的開啟狀態。
6、當所述編碼信號輸入控制邏輯模塊接收到第二外部時鐘信號時，向所述第二測試模式判定模塊輸出第二編碼信號，所述第二測試模式判定模塊輸出第二編碼信號并進入第二測試模式產生第二輸出編碼、第二預燒寫信號及第二燒寫信號，第二輸出編碼為測試模式輸出編碼、第二預燒寫信號為預燒寫設置編碼，第二燒寫信號為燒寫設置編碼和燒寫觸發編碼信號。
7、所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊用于輸出通道控制信號開啟測試模式輸出選通電路，并將對應的內部信號傳遞到外部端口進行測試；
8、所述預燒寫邏輯模塊用于接收通過時鐘信號輸入的燒寫熔絲設置編碼以及預燒寫編碼信號，并輸出燒寫設置位信號以及預燒寫信號到所述燒寫模塊進行預燒寫；
9、所述燒寫模塊用于接收燒寫編碼信號并生成燒寫觸發信號對所述燒寫模塊進行燒寫；
10、所述熔絲讀取脈沖信號生成模塊用于生成高電平脈沖信號，并在上電時將所述燒寫模塊的輸出置位設置為預設值，未經過燒寫的模塊輸出為0，燒寫后的模塊輸出為1。
11、作為本專利技術進一步的方案：所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后輸出鎖定信號，鎖定信號將所述第一測試模式判定模塊鎖定至第一測試模式的測試進程中，維持所述第一測試模式判定模塊的第一測試模式。
12、作為本專利技術進一步的方案：所述第一測試模式判定模塊為燒寫模式進入邏輯模塊，當所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后，所述第一測試模式判定模塊鎖定編碼輸出通道，在所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式的過程中，無需對燒寫模式進入邏輯模塊輸入控制邏輯信號，編碼信號能夠直接傳輸到第二測試模式判定模塊。
13、作為本專利技術進一步的方案：所述第二測試模式判定模塊為燒寫模式編碼邏輯模塊，所述第二測試模式在有限的時鐘信號周期后退出，再次輸入第二編碼信號至所述第二測試模式判定模塊將重新進入第二測試模式，所述第二測試模式判定模塊的輸出端分別連接所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊，所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊的輸出端電連接所述燒寫模塊，所述燒寫模塊的輸入端電連接所述熔絲讀取脈沖信號生成模塊，在進入第一測試模式后，第二編碼信號通過第二時鐘信號觸發傳輸到燒寫模式編碼邏輯模塊，所述燒寫模式編碼邏輯模塊需要先進入第二測試模式，并輸入編碼信號才能產生測試模式輸出編碼、燒寫設置編碼、預燒寫設置編碼以及燒寫觸發編碼信號。
14、所述第二測試模式判定模塊只能輸出一組測試模式的輸出編碼，或者，一組熔絲設定編碼，或者，一組預燒寫編碼，或者，一組燒寫編碼舉例，比如，當需要輸出16個內部信號，則需要16組測試模式的輸出編碼，因此需要進入第二測試模式16次，64位燒寫模塊為60位燒寫熔絲位，預燒寫邏輯模塊以8位為一組，需要8組熔絲設定編碼以及8組預燒寫編碼，也就是總共需要進入第二測試模式16次。
15、當燒寫時以16位為一組，那么就需要4組燒寫觸發編碼信號，此時需要進入第二測試模式4次，當第二測試模式判定模塊輸出編碼到所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊，可以將需要測試的參考電壓或者電流輸出到外部端口，從而對內部參數進行直接測量，燒寫設置編碼輸出到預燒寫邏輯中，通過預燒寫邏輯模塊設定需要燒寫的熔絲位；將預燒寫設置編碼輸出到預燒寫邏輯模塊中，預燒寫邏輯模塊輸出相應的預燒寫信號對64位燒寫模塊進行預燒寫；將燒寫觸發編碼信號輸出到燒寫邏輯模塊中，燒寫邏輯模塊輸出燒寫信號對64位燒寫模塊進行燒寫，通過設置熔絲讀取脈沖信號生成模塊，能夠輸出不同的燒寫信號，，并配合輔助電源端口供電，當讀取到燒浮柵熔絲時，則可以在封裝后對芯片進行燒寫，且無需輔助電源端口供電，而采用復用的外部端口，從而兼容中測燒寫以及成測燒寫，極大地改善了程序燒寫的便捷性。
16、作為本專利技術進一步的方案：所述燒寫模塊為64位燒寫模塊，64位燒寫模塊用于實現60位的熔絲預燒寫和燒寫，預燒寫后內部狀態鎖定，通過燒寫觸發位可以對內部每個模塊進行燒寫，每個模塊輸出默認位為0，燒寫后輸出位變為1。
17、作為本專利技術進一步的方案：所述燒寫模塊本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，包括編碼信號輸入控制邏輯模塊、第一測試模式判定模塊、第二測試模式判定模塊、測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、預燒寫邏輯模塊、燒寫邏輯模塊、燒寫模塊和熔絲讀取脈沖信號生成模塊；
2.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后輸出鎖定信號，鎖定信號將所述第一測試模式判定模塊鎖定至第一測試模式的測試進程中。
3.根據權利要求2所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第一測試模式判定模塊為燒寫模式進入邏輯模塊，當所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后，所述第一測試模式判定模塊鎖定編碼輸出通道。
4.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第二測試模式判定模塊為燒寫模式編碼邏輯模塊，所述第二測試模式在有限的時鐘信號周期后退出，再次輸入第二編碼信號至所述第二測試模式判定模塊將重新進入第二測試模式，所述第二測試模式判定模塊的輸出端分別連接所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊，所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊的輸出
5.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述燒寫模塊為64位燒寫模塊，64位燒寫模塊用于實現60位的熔絲預燒寫和燒寫，預燒寫后內部狀態鎖定。
6.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述燒寫模塊包括四個輸入端口和一個輸出端口，四個輸入端口分別為燒寫設定端口、預燒寫信號輸入端口、燒寫信號輸入端口和數據初始化端口。
7.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述測試模式輸出選通電路包括一個一級開關和若干個二級開關，所述一級開關用于控制若干個二級開關與所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊連接通路的通斷，一級開關的一端連接測試模式輸出端口TM_OUT。
8.根據權利要求1所述的OTP燒寫邏輯電路，其特征在于，所述編碼信號輸入控制邏輯模塊與所述第一測試模式判定模塊之間通過編碼數據輸入端口、時鐘輸入端口和測試模式鎖定端口連接；
9.一種OTP燒寫方法，其特征在于，應用于如權利要求1-8任一項所述的OTP燒寫邏輯電路，所述OTP燒寫方法包括：
10.根據權利要求9所述的OTP燒寫方法，其特征在于，當第一次輸出信號達到預設值時，結束燒寫，芯片下電。
...【技術特征摘要】
1.一種otp燒寫邏輯電路，其特征在于，包括編碼信號輸入控制邏輯模塊、第一測試模式判定模塊、第二測試模式判定模塊、測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、預燒寫邏輯模塊、燒寫邏輯模塊、燒寫模塊和熔絲讀取脈沖信號生成模塊；
2.根據權利要求1所述的otp燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后輸出鎖定信號，鎖定信號將所述第一測試模式判定模塊鎖定至第一測試模式的測試進程中。
3.根據權利要求2所述的otp燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第一測試模式判定模塊為燒寫模式進入邏輯模塊，當所述第一測試模式判定模塊進入第一測試模式后，所述第一測試模式判定模塊鎖定編碼輸出通道。
4.根據權利要求1所述的otp燒寫邏輯電路，其特征在于，所述第二測試模式判定模塊為燒寫模式編碼邏輯模塊，所述第二測試模式在有限的時鐘信號周期后退出，再次輸入第二編碼信號至所述第二測試模式判定模塊將重新進入第二測試模式，所述第二測試模式判定模塊的輸出端分別連接所述測試模式輸出信號選擇邏輯模塊、所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊，所述預燒寫邏輯模塊和所述燒寫邏輯模塊的輸出端電連接所述燒寫模塊，所述燒寫模塊的輸入端電連接所述熔絲讀取脈沖信號生成模...
【專利技術屬性】
技術研發人員：羅寅，章羚洪，譚在超，丁國華，
申請(專利權)人：蘇州鍇威特半導體股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
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