【技術實現步驟摘要】
本技術涉及集成電路芯片測試，尤其涉及一種用于集成電路芯片的測試工裝。
技術介紹
1、集成電路芯片是能夠實現一定電路功能的微型電子器件，為了保證集成電路芯片的穩定順利工作，需要對集成電路芯片進行測試，篩選出殘次品，而測試工裝就是對集成電路芯片進行固定的，以便于穩固對集成電路芯片進行測試的工具。
2、經檢索，中國專利公告號：cn216622608u公開了一種用于集成電路芯片的測試工裝，具體涉及集成電路
，包括底座和安裝在底座頂端邊緣處的支撐桿，在支撐桿頂端安裝有頂板，所述底座頂端中部嵌設有長度大于底座寬度的下磁板，所述下磁板兩端向底座兩側延伸一段距離，所述下磁板上設置有可拆卸的芯片承載件，所述芯片承載件用于放置進行測試的集成電路芯片，所述芯片承載件在下磁板表面來回滑動，在所述芯片承載件的上方設有安裝在頂板上的測試組件。該技術使集成電芯片在芯片承載件上的排列與在測試工裝上的測試這兩個工序可以分開并同時進行，實現一次性對多個集成電路芯片的測試，大幅度提升了集成電路芯片的測試效率。
3、上述技術雖然通過支撐桿、頂板、測試組件、下磁板等結構的相互配合下，可同時對多個集成電路芯片進行測試，提高了集成電路芯片的測試效率，但還存在一些不足之處，現有技術中的集成電路芯片在進行檢測時，通常是放置在測試臺上方或者利用工人進行手持，且無法對不同大小的集成電路芯片進行有效夾持固定，從而導致在測試時容易出現偏移的現象，影響集成電路芯片測試時的準確性，為此提出一種用于集成電路芯片的測試工裝來解決上述問題。
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1、為了彌補以上不足，本技術提供了一種用于集成電路芯片的測試工裝，旨在改善了現有技術中無法對不同大小的集成電路芯片進行有效夾持固定，從而導致在測試時容易出現偏移現象的問題。
2、為了實現上述目的，本技術采用了如下技術方案：一種用于集成電路芯片的測試工裝，包括測試臺，所述測試臺的頂部固定連接有支撐桿，所述支撐桿的頂部固定連接有頂板，所述頂板的底部固定連接有電動推桿，所述電動推桿的輸出端固定連接有測試探針，所述測試臺的內部轉動連接有圓盤，所述圓盤的外側轉動連接有移動塊，所述移動塊的一側固定連接有彈簧桿，所述彈簧桿的一端固定連接有夾板，所述測試臺的內部設有驅動組件。
3、作為上述技術方案的進一步描述：
4、所述驅動組件包括電機，所述電機固定連接在所述測試臺的內部，所述圓盤的中部固定連接在所述電機的輸出端。
5、作為上述技術方案的進一步描述：
6、所述測試臺的頂部固定連接有透明防護板，所述透明防護板的一側滑動連接有活動板，所述活動板的一側固定連接有把手，所述透明防護板的內部開設有滑槽，所述活動板的一側設有滑動組件。
7、作為上述技術方案的進一步描述：
8、所述滑動組件包括滑輪，所述滑輪滑動連接在所述滑槽的中部。
9、作為上述技術方案的進一步描述：
10、所述測試臺的底部固定連接有多個底座。
11、作為上述技術方案的進一步描述：
12、所述測試臺的頂部開設有限位槽，所述移動塊滑動連接在所述限位槽的中部。
13、作為上述技術方案的進一步描述：
14、所述夾板的一側固定連接有橡膠墊。
15、作為上述技術方案的進一步描述：
16、所述滑輪具體設置有多個，多個所述滑輪均轉動連接在所述活動板的一側。
17、本技術具有如下有益效果：
18、1、本技術中，通過圓盤、電機、橡膠墊、夾板等結構的相互配合下，可對不同大小的集成電路芯片進行夾持固定，從而避免芯片晃動，防止人工手持時出現偏移，使集成電路芯片測試時更加的穩定，保證了測試時的準確性。
19、2、本技術中，在活動板、滑槽、滑輪、透明防護板等結構的相互配合下，可在對集成電路芯片測試的同時進行觀察，且在工作過程中若發生零件崩塌或短路等現象時可以很好地保護了工作人員的安全。
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1.一種用于集成電路芯片的測試工裝，包括測試臺（2），其特征在于：所述測試臺（2）的頂部固定連接有支撐桿（3），所述支撐桿（3）的頂部固定連接有頂板（4），所述頂板（4）的底部固定連接有電動推桿（5），所述電動推桿（5）的輸出端固定連接有測試探針（6），所述測試臺（2）的內部轉動連接有圓盤（11），所述圓盤（11）的外側轉動連接有移動塊（12），所述移動塊（12）的一側固定連接有彈簧桿（15），所述彈簧桿（15）的一端固定連接有夾板（16），所述測試臺（2）的內部設有驅動組件。
2.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述驅動組件包括電機（14），所述電機（14）固定連接在所述測試臺（2）的內部，所述圓盤（11）的中部固定連接在所述電機（14）的輸出端。
3.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述測試臺（2）的頂部固定連接有透明防護板（7），所述透明防護板（7）的一側滑動連接有活動板（8），所述活動板（8）的一側固定連接有把手（10），所述透明防護板（7）的內部開設有滑槽（18），所述活動板（8）的
4.根據權利要求3所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述滑動組件包括滑輪（9），所述滑輪（9）滑動連接在所述滑槽（18）的中部。
5.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述測試臺（2）的底部固定連接有多個底座（1）。
6.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述測試臺（2）的頂部開設有限位槽（13），所述移動塊（12）滑動連接在所述限位槽（13）的中部。
7.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述夾板（16）的一側固定連接有橡膠墊（17）。
8.根據權利要求4所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述滑輪（9）具體設置有多個，多個所述滑輪（9）均轉動連接在所述活動板（8）的一側。
...【技術特征摘要】
1.一種用于集成電路芯片的測試工裝，包括測試臺（2），其特征在于：所述測試臺（2）的頂部固定連接有支撐桿（3），所述支撐桿（3）的頂部固定連接有頂板（4），所述頂板（4）的底部固定連接有電動推桿（5），所述電動推桿（5）的輸出端固定連接有測試探針（6），所述測試臺（2）的內部轉動連接有圓盤（11），所述圓盤（11）的外側轉動連接有移動塊（12），所述移動塊（12）的一側固定連接有彈簧桿（15），所述彈簧桿（15）的一端固定連接有夾板（16），所述測試臺（2）的內部設有驅動組件。
2.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述驅動組件包括電機（14），所述電機（14）固定連接在所述測試臺（2）的內部，所述圓盤（11）的中部固定連接在所述電機（14）的輸出端。
3.根據權利要求1所述的一種用于集成電路芯片的測試工裝，其特征在于：所述測試臺（2）的頂部固定連接有透明防護板（7），所述透明防護板（7）的一側滑動連接有活動板（8），所述...
【專利技術屬性】
技術研發人員：朱曉華，朱曉丹，朱俊龍，林佳玲，方利平，
申請(專利權)人：深圳市金龍鴻電子有限公司，
類型：新型
國別省市：
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