【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及芯片測(cè)試，特別涉及一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)。
技術(shù)介紹
1、在整個(gè)生產(chǎn)制程中，須確保cmos芯片無(wú)電性功能性不良與partical及刮傷等外觀不良；
2、在現(xiàn)有技術(shù)中，芯片來(lái)料之后到ccm完成組裝之前，并無(wú)制程對(duì)其良品率進(jìn)行全檢，只能到芯片+lens+vcm完成組裝后才能檢測(cè)cmos芯片各項(xiàng)性能是否完好；如果將每pcscmos芯片單獨(dú)從料盤中取出進(jìn)行單片測(cè)試全檢，時(shí)間與人力消耗都將是巨大的之外，cmos芯片外觀不良風(fēng)險(xiǎn)大大增加。
3、因此芯片自動(dòng)檢測(cè)是大勢(shì)所趨，通過(guò)lens鏡頭在測(cè)試時(shí)生成產(chǎn)品圖像，通過(guò)生成產(chǎn)品圖像，判斷產(chǎn)品上是否有臟污是現(xiàn)有自動(dòng)化芯片檢測(cè)的一種重要手段，但測(cè)試過(guò)程中l(wèi)ens鏡頭與芯片要正對(duì)來(lái)保證其同軸度。現(xiàn)有的lens鏡頭結(jié)構(gòu)是其鏡頭的擺角是無(wú)法進(jìn)行調(diào)整的，當(dāng)遇到設(shè)備的安裝地面不平，或者設(shè)備加工誤差以至于組裝后誤差疊加而使得鏡頭與產(chǎn)品不同軸，測(cè)試時(shí)，其顯示的圖像會(huì)出現(xiàn)暗角，影響測(cè)試的判斷，容易出現(xiàn)誤判。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的缺陷和不足，提供一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)采用的技術(shù)方案是：
3、本技術(shù)所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，它包括有豎直角度調(diào)節(jié)組件、lns固定板和均布在lns固定板上的多個(gè)lns鏡頭；所述豎直角度調(diào)節(jié)組件上連接有水平角度調(diào)節(jié)組件；所述水平角度調(diào)節(jié)組件連接在lns固定板上。
4、進(jìn)一步地，所述水平角度調(diào)節(jié)組件包括有下轉(zhuǎn)
5、進(jìn)一步地，所述下轉(zhuǎn)盤座上固定有水平微分連接座和第一螺母；所述第一螺母上螺紋連接有水平頂緊螺栓；所述水平微分連接座上固定有第一微分頭；所述上轉(zhuǎn)盤的側(cè)壁上固定有角度調(diào)節(jié)擺塊；所述角度調(diào)節(jié)擺塊設(shè)置在水平頂緊螺栓與第一微分頭的測(cè)量桿之間。
6、進(jìn)一步地，所述上轉(zhuǎn)盤上固定有轉(zhuǎn)盤把手。
7、進(jìn)一步地，所述豎直角度調(diào)節(jié)組件包括有豎直調(diào)節(jié)底座和固定在水平角度調(diào)節(jié)組件上的豎直擺塊；豎直擺塊正對(duì)豎直調(diào)節(jié)底座的一側(cè)設(shè)置有弧形導(dǎo)向槽；所述弧形導(dǎo)向槽的軸心呈水平設(shè)置；
8、所述豎直調(diào)節(jié)底座的頂表面上設(shè)置有與弧形導(dǎo)向槽相匹配的弧形滑塊；所述弧形滑塊滑動(dòng)連接在弧形導(dǎo)向槽；所述豎直擺塊的側(cè)表面開設(shè)有與弧形導(dǎo)向槽相接通的第二螺紋孔；第二螺紋孔內(nèi)螺紋連接有抵緊在豎直調(diào)節(jié)底座上的第二鎖緊螺栓；所述弧形滑塊的內(nèi)部轉(zhuǎn)動(dòng)連接有蝸桿；所述弧形導(dǎo)向槽的表面上設(shè)置有與蝸桿相嚙合的多個(gè)齒牙；所述齒牙沿弧形導(dǎo)向槽的圓弧方向排列。
9、進(jìn)一步地，所述豎直角度調(diào)節(jié)組件的數(shù)量為兩個(gè)；兩個(gè)弧形導(dǎo)向槽的軸心均與水平面相互平行設(shè)置；兩個(gè)弧形導(dǎo)向槽的軸心之間呈相互垂直設(shè)置。
10、進(jìn)一步地，所述豎直角度調(diào)節(jié)組件上設(shè)置有升降微調(diào)組件；
11、所述升降微調(diào)組件包括有上升降座和微調(diào)升降座；所述上升降座滑動(dòng)連接在微調(diào)升降座上；所述上升降座上沿高度方向開設(shè)有上升降座條形孔；所述微調(diào)升降座上螺紋連接有第三鎖緊螺栓；所述第三鎖緊螺栓穿過(guò)上升降座條形孔后螺紋連接在微調(diào)升降座上；所述第三鎖緊螺栓的頭部壓緊在上升降座上；所述微調(diào)升降座上轉(zhuǎn)動(dòng)連接有擺桿；所述微調(diào)升降座上固定有第二微分頭；所述擺桿的兩端分別抵緊在第二微分頭的測(cè)量桿和上升降座的底部。
12、采用上述結(jié)構(gòu)后，本技術(shù)有益效果為：本技術(shù)所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，在使用本技術(shù)時(shí)，lns固定板上連接的lns鏡頭用于生成可讓待測(cè)芯片獲取的圖像；通過(guò)水平角度調(diào)節(jié)組件帶動(dòng)lns固定板在水平面上擺動(dòng)，進(jìn)行調(diào)節(jié)lns鏡頭的水平擺角；通過(guò)豎直角度調(diào)節(jié)組件使得水平角度調(diào)節(jié)組件在豎直方向上擺動(dòng)，實(shí)現(xiàn)lns鏡頭豎直方向上的擺角調(diào)節(jié)；通過(guò)水平角度調(diào)節(jié)組件和豎直角度調(diào)節(jié)組件配合調(diào)節(jié)實(shí)現(xiàn)lns鏡頭與待測(cè)芯片同軸，能夠獲取更完整的芯片圖像，降低芯片測(cè)試的誤判的概率。
本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：它包括有豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）、LENS固定板（G）和均布在LENS固定板（G）上的多個(gè)LENS鏡頭（H）；所述豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）上連接有水平角度調(diào)節(jié)組件（A）；所述水平角度調(diào)節(jié)組件（A）連接在LENS固定板（G）上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述水平角度調(diào)節(jié)組件（A）包括有下轉(zhuǎn)盤座（A3）、轉(zhuǎn)動(dòng)連接在下轉(zhuǎn)盤座（A3）上的上轉(zhuǎn)盤（A1）和螺紋連接在上轉(zhuǎn)盤（A1）上的轉(zhuǎn)盤鎖緊螺釘（A4）；所述轉(zhuǎn)盤鎖緊螺釘（A4）的末端抵緊在下轉(zhuǎn)盤座（A3）上；所述LENS固定板（G）固定在上轉(zhuǎn)盤（A1）上；下轉(zhuǎn)盤座（A3）固定在豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述下轉(zhuǎn)盤座（A3）上固定有水平微分連接座（A6）和第一螺母（A8）；所述第一螺母（A8）上螺紋連接有水平頂緊螺栓（A9）；所述水平微分連接座（A6）上固定有第一微分頭（A5）；所述上轉(zhuǎn)盤（A1）的側(cè)壁上固定有角度調(diào)節(jié)擺塊（A7）；所述角度調(diào)節(jié)擺塊（A7）設(shè)置在水平頂緊螺栓
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述上轉(zhuǎn)盤（A1）上固定有轉(zhuǎn)盤把手（A2）。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）包括有豎直調(diào)節(jié)底座（B6）和固定在水平角度調(diào)節(jié)組件（A）上的豎直擺塊（B1）；豎直擺塊（B1）正對(duì)豎直調(diào)節(jié)底座（B6）的一側(cè)設(shè)置有弧形導(dǎo)向槽（B101）；所述弧形導(dǎo)向槽（B101）的軸心呈水平設(shè)置；
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）的數(shù)量為兩個(gè)；兩個(gè)弧形導(dǎo)向槽（B101）的軸心均與水平面相互平行設(shè)置；兩個(gè)弧形導(dǎo)向槽（B101）的軸心之間呈相互垂直設(shè)置。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述豎直角度調(diào)節(jié)組件（B）上設(shè)置有升降微調(diào)組件（C）；
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：它包括有豎直角度調(diào)節(jié)組件（b）、lens固定板（g）和均布在lens固定板（g）上的多個(gè)lens鏡頭（h）；所述豎直角度調(diào)節(jié)組件（b）上連接有水平角度調(diào)節(jié)組件（a）；所述水平角度調(diào)節(jié)組件（a）連接在lens固定板（g）上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述水平角度調(diào)節(jié)組件（a）包括有下轉(zhuǎn)盤座（a3）、轉(zhuǎn)動(dòng)連接在下轉(zhuǎn)盤座（a3）上的上轉(zhuǎn)盤（a1）和螺紋連接在上轉(zhuǎn)盤（a1）上的轉(zhuǎn)盤鎖緊螺釘（a4）；所述轉(zhuǎn)盤鎖緊螺釘（a4）的末端抵緊在下轉(zhuǎn)盤座（a3）上；所述lens固定板（g）固定在上轉(zhuǎn)盤（a1）上；下轉(zhuǎn)盤座（a3）固定在豎直角度調(diào)節(jié)組件（b）上。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種芯片測(cè)試裝置的透鏡機(jī)構(gòu)，其特征在于：所述下轉(zhuǎn)盤座（a3）上固定有水平微分連接座（a6）和第一螺母（a8）；所述第一螺母（a8）上螺紋連接有水平頂緊螺栓（a9）；所述水平微分連接座（a6）上固定有第一微分頭（a5）；所述上轉(zhuǎn)盤（...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳俊安，劉濤，何偉福，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：廣東涌固科技有限公司，
類型：新型
國(guó)別省市：
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