【技術實現步驟摘要】
本申請涉及大數據及mlcc老化測試，具體而言，涉及一種mlcc老化測試方法、系統和介質。
技術介紹
1、mlcc（multilayer?ceramic?capacitor，多層片式陶瓷電容器）作為電子電路中不可或缺的關鍵元件，被廣泛應用于各類電子設備中，如智能手機、電腦、汽車電子、通信設備等。隨著電子設備的性能不斷提升和使用環境的多樣化，mlcc?在長期使用過程中可能會出現老化現象，老化會導致?mlcc?的電容值發生變化、等效串聯電阻增大、絕緣性能下降等問題，進而影響電子設備的性能、可靠性和壽命。一些現有的老化測試方法往往只關注mlcc的部分性能參數，無法全面評估其老化狀態，例如，某些方法只能測量電容值的變化，而忽略了等效串聯電阻、絕緣電阻等其他重要參數的變化，而且目前尚缺乏一種對電壓依賴性、頻率穩定性和環境適應性進行綜合評估的老化測試技術。
2、針對上述問題，目前亟待有效的技術解決方案。
技術實現思路
1、本申請的目的在于提供一種mlcc老化測試方法、系統和介質，通過對mlcc的老化測試結果處理獲得耐壓性能評估指數、頻率穩定性評估指數和環境適應性評估指數，進而處理獲得可靠性評估指數，根據可靠性評估指數進行產品質量判定，并根據mlcc在不同老化測試環境下的特征參數變化曲線對mlcc的工藝參數進行優化，以實現通過老化測試發現潛在的質量問題的目的。
2、本申請還提供了mlcc老化測試方法，包括以下步驟：
3、對mlcc進行老化測試，獲得測試結果數據，
4、根據所述耐壓性能測試數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數，根據所述頻率穩定性測試數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數；
5、根據所述環境適應性測試數據進行處理，獲得環境適應性評估指數，根據環境適應性評估指數以及所述耐壓性能評估指數和頻率穩定性評估指數進行處理，獲得可靠性評估指數，根據可靠性評估指數進行產品質量判定。
6、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，所述對mlcc進行老化測試，獲得測試結果數據，包括耐壓性能測試數據、頻率穩定性測試數據和環境適應性測試數據，包括：
7、所述耐壓性能測試數據包括擊穿電壓值、絕緣電阻變化值和介質擊穿程度數據；
8、所述頻率穩定性測試數據包括容量變化值、相位角變化值、esr變化量數據和esl變化量數據；
9、所述環境適應性測試數據包括電容損耗因數數據、漏電流數據、電導率變化數據、物理損傷程度數據和熱應力損傷程度數據。
10、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，所述根據所述耐壓性能測試數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數，根據所述頻率穩定性測試數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數，包括：
11、根據所述擊穿電壓值、絕緣電阻變化值和介質擊穿程度數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數；
12、根據所述容量變化值、相位角變化值、esr變化量數據和esl變化量數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數。
13、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，所述根據所述環境適應性測試數據進行處理，獲得環境適應性評估指數，根據環境適應性評估指數以及所述耐壓性能評估指數和頻率穩定性評估指數進行處理，獲得可靠性評估指數，根據可靠性評估指數進行產品質量判定，包括：
14、根據所述電容損耗因數數據、漏電流數據、電導率變化量數據、物理損傷程度數據和熱應力損傷程度數據進行計算，獲得環境適應性評估指數；
15、根據所述環境適應性評估指數、耐壓性能評估指數和頻率穩定性評估指數進行計算，獲得可靠性評估指數；
16、將所述可靠性評估指數與預設可靠性評估指數閾值進行對比，若閾值對比結果不符合預設閾值對比結果要求，則進行產品質量不合格判定。
17、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，還包括：
18、獲取mlcc在不同老化測試環境下的特征參數數據，包括電容值、電容損耗因數值和絕緣電阻值；
19、根據所述電容值、電容損耗因數值和絕緣電阻值繪制特征參數變化曲線，包括電容值變化曲線、電容損耗因數變化曲線和絕緣電阻變化曲線；
20、對所述電容值變化曲線、電容損耗因數變化曲線和絕緣電阻變化曲線分別進行特征點識別，并獲取特征點對應的特征參數變化率，包括電容值變化率、電容損耗因數變化率和絕緣電阻變化率；
21、將所述電容值變化率、電容損耗因數變化率、絕緣電阻變化率分別與預設電容值變化率閾值、電容損耗因數變化率閾值、絕緣電阻變化率閾值進行對比，獲得閾值對比結果；
22、將閾值對比結果不符合預設閾值對比結果要求的特征參數變化率對應的特征參數變化曲線進行標記。
23、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，還包括：
24、將標記的特征參數變化曲線對應的特征參數數據、特征參數變化率及其對應測試環境數據輸入預設電容器工藝溯源檢測平臺中進行識別，獲得溯源工藝參數類型數據；
25、獲取mlcc的歷史老化測試記錄數據，根據歷史老化測試記錄數據提取歷史特征參數數據并繪制歷史特征參數變化曲線，所述歷史特征參數數據包括歷史電容值、歷史電容損耗因數值和歷史絕緣電阻值；
26、獲取所述歷史特征參數變化曲線中各特征點的歷史特征參數變化率，包括歷史電容值變化率、歷史電容損耗因數變化率和歷史絕緣電阻變化率。
27、可選地，在本申請所述的mlcc老化測試方法中，還包括：
28、根據所述歷史老化測試記錄數據提取所述溯源工藝參數類型數據對應的歷史工藝參數數據；
29、根據所述歷史工藝參數數據結合所述歷史電容值、歷史電容損耗因數值、歷史絕緣電阻值以及所述歷史電容值變化率、歷史電容損耗因數變化率、歷史絕緣電阻變化率進行模型訓練，獲得工藝參數適配模型；
30、將所述電容值、電容損耗因數值、絕緣電阻值以及所述電容值變化率、電容損耗因數變化率和絕緣電阻變化率輸入所述工藝參數適配模型中進行處理，獲得適配工藝參數數據；
31、根據所述適配工藝參數數據以及所述溯源工藝參數類型數據對mlcc的工藝參數進行優化。
32、第二方面，本申請提供了一種mlcc老化測試系統，該系統包括：存儲器及處理器，所述存儲器中存儲mlcc老化測試方法的程序，所述mlcc老化測試方法的程序被所述處理器執行時實現以下步驟：
33、對mlcc進行老化測試，獲得測試結果數據，包括耐壓性能測試數據、頻率穩定性測試數據和環境適應性測試數據；
34、根據所述耐壓性能測試數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數，根據所述頻率穩定性測試數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數；
35、根據所述環境適應性測試數據進行處理，獲得環境適應性評估指數，根據環境適應性評估指數以及所述耐壓性能評估指數和頻本文檔來自技高網...
【技術保護點】
1.一種MLCC老化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，所述對MLCC進行老化測試，獲得測試結果數據，包括耐壓性能測試數據、頻率穩定性測試數據和環境適應性測試數據，包括：
3.根據權利要求2所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，所述根據所述耐壓性能測試數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數，根據所述頻率穩定性測試數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數，包括：
4.根據權利要求3所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，所述根據所述環境適應性測試數據進行處理，獲得環境適應性評估指數，根據環境適應性評估指數以及所述耐壓性能評估指數和頻率穩定性評估指數進行處理，獲得可靠性評估指數，根據可靠性評估指數進行產品質量判定，包括：
5.根據權利要求4所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，還包括：
6.根據權利要求5所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，還包括：
7.根據權利要求6所述的MLCC老化測試方法，其特征在于，還包括：
8.一種MLCC老化測試系
9.根據權利要求8所述的MLCC老化測試系統，其特征在于，所述對MLCC進行老化測試，獲得測試結果數據，包括耐壓性能測試數據、頻率穩定性測試數據和環境適應性測試數據，包括：
10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質中存儲MLCC老化測試程序，所述MLCC老化測試程序被處理器執行時，實現如權利要求1至7中任一項所述的MLCC老化測試方法的步驟。
...【技術特征摘要】
1.一種mlcc老化測試方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據權利要求1所述的mlcc老化測試方法，其特征在于，所述對mlcc進行老化測試，獲得測試結果數據，包括耐壓性能測試數據、頻率穩定性測試數據和環境適應性測試數據，包括：
3.根據權利要求2所述的mlcc老化測試方法，其特征在于，所述根據所述耐壓性能測試數據進行處理，獲得耐壓性能評估指數，根據所述頻率穩定性測試數據進行處理，獲得頻率穩定性評估指數，包括：
4.根據權利要求3所述的mlcc老化測試方法，其特征在于，所述根據所述環境適應性測試數據進行處理，獲得環境適應性評估指數，根據環境適應性評估指數以及所述耐壓性能評估指數和頻率穩定性評估指數進行處理，獲得可靠性評估指數，根據可靠性評估指數進行產品質量判定，包括：
5.根據權利要求4所述的mlcc老化測...
【專利技術屬性】
技術研發人員：賓能鳳，楊顯文，任美蓉，
申請(專利權)人：深圳市宇陽科技發展有限公司，
類型：發明
國別省市：
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