【技術實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術涉及一種存儲，尤其涉及一種存儲器管理方法以及存儲器存儲裝置。
技術介紹
1、伴隨著閃存技術的快速演進，nand閃存經(jīng)歷了從二維(2d)向三維(3d)的轉變，并且在存儲單元上，也從單一層數(shù)存儲單元(slc)逐步進化至三層(tlc)乃至四層(qlc)存儲單元，這一系列的技術革新極大地提升了nand閃存的存儲密度，同時降低了每單位容量的成本。然而，隨著閃存存儲器內部氧化層厚度的不斷減薄，擦寫操作對存儲介質的影響變得更加顯著，從而影響了閃存存儲器的耐用性和可靠性。
2、存儲器存儲裝置可執(zhí)行自測試(self-test)操作，以在一定的程序化/抹除循環(huán)(pe?cycle)次數(shù)內，將可復寫式非易失性存儲器模塊中發(fā)生錯誤的實體單元標記為壞實體單元，壞實體單元在后續(xù)的數(shù)據(jù)存取操作中將不再被使用。
3、如何優(yōu)化實體單元的管理策略以提高標記的準確性，不僅有助于延長閃存的使用壽命，還能進一步提高系統(tǒng)的整體性能和穩(wěn)定性，確保用戶獲得更加流暢和可靠的使用體驗。
技術實現(xiàn)思路
1、本專利技術的范例實施例提供一種存儲器管理方法以及存儲器存儲裝置，可充分利用存儲器存儲裝置的存儲空間，以增加存儲器存儲裝置的使用壽命。
2、本專利技術的范例實施例提供一種存儲器管理方法，用于可復寫式非易失性存儲器模塊，所述可復寫式非易失性存儲器模塊包括多個實體單元，各所述多個實體單元包括多個子實體單元，所述存儲器管理方法包括：對所述多個實體單元執(zhí)行檢測操作，以得到分別對應于所述多個實體單元的
3、在本專利技術的范例實施例中，所述檢測操作包括第一檢測操作和第二檢測操作，其中，對應于所述第一類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第一檢測操作為成功且所述第二檢測操作為失敗，對應于所述第二類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第二檢測操作為成功且所述第一檢測操作為失敗。
4、在本專利技術的范例實施例中，其中，對應于第三類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為成功，對應于第四類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為失敗。
5、在本專利技術的范例實施例中，其中，所述第一檢測操作為單階存儲單元讀取檢測操作，且所述第二檢測操作為三階存儲單元讀取檢測操作。
6、在本專利技術的范例實施例中，其中基于所述多個檢測結果生成所述實體單元位圖的步驟包括：基于所述多個檢測結果對所述多個實體單元中的各所述多個子實體單元進行分類，以得到分類結果，其中，所述分類結果包括所述第一類實體單元、所述第二類實體單元、第三類實體單元以及第四類實體單元；以及根據(jù)所述分類結果生成所述實體單元位圖，其中，所述實體單元位圖用于反映所述多個實體單元中的所述多個子實體單元分別為所述第一類實體單元、所述第二類實體單元、所述第三類實體單元或所述第四類實體單元。
7、在本專利技術的范例實施例中，其中執(zhí)行所述目標操作以實現(xiàn)對所述第一類實體單元或所述第二類實體單元進行替換的步驟包括：將所述目標實體單元中的所述第一類實體單元或所述第二類實體單元替換為所述第三類實體單元。
8、在本專利技術的范例實施例中，所述存儲器管理方法還包括：基于所述實體單元位圖，將所述第四類實體單元替換為所述備用實體單元。
9、在本專利技術的范例實施例中，所述存儲器管理方法還包括：基于所述實體單元位圖，選擇對應于寫入指令的寫入模式的目標寫入實體單元，并將對應于所述寫入指令的寫入數(shù)據(jù)寫入所述目標寫入實體單元，其中，所述目標寫入實體單元為所述第一類實體單元或所述第二類實體單元；以及在所述目標寫入實體單元被寫滿后，對所述目標寫入實體單元執(zhí)行讀取驗證操作。
10、在本專利技術的范例實施例中，所述存儲器管理方法還包括：基于所述實體單元位圖，針對所述第一類實體單元及所述第二類實體單元分別設置第一讀取次數(shù)閾值及第二讀取次數(shù)閾值，其中，所述第一讀取次數(shù)閾值及所述第二讀取次數(shù)閾值皆低于第三類實體單元的讀取次數(shù)閾值。
11、在本專利技術的范例實施例中，所述存儲器管理方法還包括：在閑置狀態(tài)下，基于所述實體單元位圖，針對有存儲數(shù)據(jù)的所述第一類實體單元與有存儲數(shù)據(jù)的所述第二類實體單元執(zhí)行讀取驗證操作。
12、本專利技術的范例實施例另提供一種存儲器存儲裝置，其包括連接接口單元、可復寫式非易失性存儲器模塊以及存儲器控制電路單元。所述存儲器控制電路單元耦接至所述連接接口單元與所述可復寫式非易失性存儲器模塊。所述連接接口單元用以耦接至主機系統(tǒng)。所述可復寫式非易失性存儲器模塊包括多個實體單元。各所述多個實體單元包括多個子實體單元。所述存儲器控制電路單元用以對所述多個實體單元執(zhí)行檢測操作，以得到分別對應于所述多個實體單元的多個檢測結果。所述存儲器控制電路單元還用以基于所述多個檢測結果生成實體單元位圖。所述存儲器控制電路單元還用以根據(jù)所述實體單元位圖以及預設條件自所述多個實體單元中選擇目標實體單元，其中，所述預設條件用于表征所述目標實體單元中包括第一類實體單元以及第二類實體單元。所述存儲器控制電路單元還用以執(zhí)行目標操作以對所述第一類實體單元或所述第二類實體單元進行替換，并將被替換的所述第一類實體單元或被替換的所述第二類實體單元作為備用實體單元。所述存儲器控制電路單元還用以更新所述實體單元位圖。
13、在本專利技術的范例實施例中，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述多個檢測結果對所述多個實體單元中的各所述多個子實體單元進行分類，以得到分類結果，其中，所述分類結果包括所述第一類實體單元、所述第二類實體單元、第三類實體單元以及第四類實體單元。所述存儲器控制電路單元還用以根據(jù)所述分類結果生成所述實體單元位圖，其中，所述實體單元位圖用于反映所述多個實體單元中的所述多個子實體單元分別為所述第一類實體單元、所述第二類實體單元、所述第三類實體單元或所述第四類實體單元。
14、在本專利技術的范例實施例中，其中所述存儲器控制電路單元還用以將所述目標實體單元中的所述第一類實體單元或所述第二類實體單元替換為所述第三類實體單元。
15、在本專利技術的范例實施例中，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，將所述第四類實體單元替換為所述備用實體單元。
16、在本專利技術的范例實施例中，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，選擇對應于寫入指令的寫入模式的目標寫入實體單元，并將對應于所述寫入指令的寫入數(shù)據(jù)寫入所述目標寫入實體單元，其中，所述目標寫入實體單元為所述第一類實體單元或所述第二類實體單元。所述存儲器控制電路單元還用以在所述目標寫入實本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術保護點】
1.一種存儲器管理方法，其特征在于，用于可復寫式非易失性存儲器模塊，其中所述可復寫式非易失性存儲器模塊包括多個實體單元，其中各所述多個實體單元包括多個子實體單元，所述存儲器管理方法包括：
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，所述檢測操作包括第一檢測操作和第二檢測操作，其中，對應于所述第一類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第一檢測操作為成功且所述第二檢測操作為失敗，對應于所述第二類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第二檢測操作為成功且所述第一檢測操作為失敗。
3.根據(jù)權利要求2所述的存儲器管理方法，其中，對應于第三類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為成功，對應于第四類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為失敗。
4.根據(jù)權利要求2所述的存儲器管理方法，其中，所述第一檢測操作為單階存儲單元讀取檢測操作，且所述第二檢測操作為三階存儲單元讀取檢測操作。
5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中基于所述多個檢測結果生成所述實體單元位圖的步驟，包括：
6.根據(jù)權利要求5所述
7.根據(jù)權利要求5所述的存儲器管理方法，還包括：
8.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
9.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
10.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
11.一種存儲器存儲裝置，其特征在于，包括：
12.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中，所述檢測操作包括第一檢測操作和第二檢測操作，其中，對應于所述第一類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第一檢測操作為成功且所述第二檢測操作為失敗，對應于所述第二類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第二檢測操作為成功且所述第一檢測操作為失敗。
13.根據(jù)權利要求12所述的存儲器存儲裝置，其中，對應于第三類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為成功，對應于第四類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為失敗。
14.根據(jù)權利要求12所述的存儲器存儲裝置，其中，所述第一檢測操作為單階存儲單元讀取檢測操作，且所述第二檢測操作為三階存儲單元讀取檢測操作。
15.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述多個檢測結果對所述多個實體單元中的各所述多個子實體單元進行分類，以得到分類結果，其中，所述分類結果包括所述第一類實體單元、所述第二類實體單元、第三類實體單元以及第四類實體單元，并且
16.根據(jù)權利要求15所述的存儲器存儲裝置，其中所述存儲器控制電路單元還用以將所述目標實體單元中的所述第一類實體單元或所述第二類實體單元替換為所述第三類實體單元。
17.根據(jù)權利要求15所述的存儲器存儲裝置，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，將所述第四類實體單元替換為所述備用實體單元。
18.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，選擇對應于寫入指令的寫入模式的目標寫入實體單元，并將對應于所述寫入指令的寫入數(shù)據(jù)寫入所述目標寫入實體單元，其中，所述目標寫入實體單元為所述第一類實體單元或所述第二類實體單元，并且
19.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，針對所述第一類實體單元及所述第二類實體單元分別設置第一讀取次數(shù)閾值及第二讀取次數(shù)閾值，其中，所述第一讀取次數(shù)閾值及所述第二讀取次數(shù)閾值皆低于第三類實體單元的讀取次數(shù)閾值。
20.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中，在閑置狀態(tài)下，所述存儲器控制電路單元還用以基于所述實體單元位圖，針對有存儲數(shù)據(jù)的所述第一類實體單元與有存儲數(shù)據(jù)的所述第二類實體單元執(zhí)行讀取驗證操作。
...【技術特征摘要】
1.一種存儲器管理方法，其特征在于，用于可復寫式非易失性存儲器模塊，其中所述可復寫式非易失性存儲器模塊包括多個實體單元，其中各所述多個實體單元包括多個子實體單元，所述存儲器管理方法包括：
2.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中，所述檢測操作包括第一檢測操作和第二檢測操作，其中，對應于所述第一類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第一檢測操作為成功且所述第二檢測操作為失敗，對應于所述第二類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第二檢測操作為成功且所述第一檢測操作為失敗。
3.根據(jù)權利要求2所述的存儲器管理方法，其中，對應于第三類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為成功，對應于第四類實體單元的所述檢測成果用以表征所述第一檢測操作及所述第二檢測操作皆為失敗。
4.根據(jù)權利要求2所述的存儲器管理方法，其中，所述第一檢測操作為單階存儲單元讀取檢測操作，且所述第二檢測操作為三階存儲單元讀取檢測操作。
5.根據(jù)權利要求1所述的方法，其中基于所述多個檢測結果生成所述實體單元位圖的步驟，包括：
6.根據(jù)權利要求5所述的存儲器管理方法，其中執(zhí)行所述目標操作以實現(xiàn)對所述第一類實體單元或所述第二類實體單元進行替換的步驟，包括：
7.根據(jù)權利要求5所述的存儲器管理方法，還包括：
8.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
9.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
10.根據(jù)權利要求1所述的存儲器管理方法，還包括：
11.一種存儲器存儲裝置，其特征在于，包括：
12.根據(jù)權利要求11所述的存儲器存儲裝置，其中，所述檢測操作包括第一檢測操作和第二檢測操作，其中，對應于所述第一類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第一檢測操作為成功且所述第二檢測操作為失敗，對應于所述第二類實體單元的所述檢測結果用以表征所述第二檢測操作為成功且所述第一檢測操作為失敗。
13.根據(jù)權利要求12所...
【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：郭凱飛，管冬生，王志，朱啟傲，吳宗霖，
申請(專利權)人：合肥開夢科技有限責任公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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