【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及電子產(chǎn)品，具體涉及一種屏幕缺陷檢測設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、在二手電子產(chǎn)品的回收質(zhì)檢過程中，需要針對產(chǎn)品的玻璃屏幕面向用戶詳細(xì)展示，對屏幕上的缺陷特征進(jìn)行可量化數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，完成對電子產(chǎn)品成色的定義。現(xiàn)有技術(shù)中，一般通過光源模組給屏幕表面打光，采用高清線掃相機(jī)對屏幕掃描拍照，從而對電子產(chǎn)品屏幕表面劃傷缺陷進(jìn)行還原。但是，現(xiàn)有的設(shè)備通常僅支持一款電子產(chǎn)品的機(jī)型，多個(gè)機(jī)型無法同時(shí)混投生產(chǎn)，產(chǎn)能較低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、有鑒于此，本申請?zhí)峁┝艘环N屏幕缺陷檢測設(shè)備，其能夠?qū)崿F(xiàn)多個(gè)機(jī)型的混投生產(chǎn)，具有較好產(chǎn)能。
2、為了達(dá)到上述目的，本申請?zhí)峁┤缦录夹g(shù)方案：
3、一種屏幕缺陷檢測設(shè)備，包括：
4、厚度測量機(jī)構(gòu)，用于對待檢測電子產(chǎn)品的厚度進(jìn)行測量；
5、頂升機(jī)構(gòu)，用于承載所述待檢測電子產(chǎn)品，并能夠根據(jù)所述厚度測量機(jī)構(gòu)的測量值對所述待檢測電子產(chǎn)品進(jìn)行升降，以使所述待檢測電子產(chǎn)品的屏幕處于檢測基準(zhǔn)面上；
6、位移機(jī)構(gòu)，與所述頂升機(jī)構(gòu)連接，并能夠帶動(dòng)所述頂升機(jī)構(gòu)位移，以使所述待檢測電子產(chǎn)品的屏幕在所述檢測基準(zhǔn)面上位移；
7、屏幕檢測機(jī)構(gòu)，朝向所述檢測基準(zhǔn)面上的檢測位置，并能夠?qū)?jīng)過所述檢測位置的所述待檢測電子產(chǎn)品的屏幕進(jìn)行檢測。
8、可選地，所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)包括：
9、多個(gè)光源模塊，按預(yù)設(shè)次序照射所述檢測位置；
10、相機(jī)模塊，朝向所述檢測位置，并能夠?qū)ξ挥谒鰴z測位置并由所述多個(gè)光源模塊按
11、可選地，所述多個(gè)光源模塊分別位于所述檢測位置的多個(gè)不同方向上。
12、可選地，所述多個(gè)光源模塊包括：
13、亮場光源，與所述檢測基準(zhǔn)面形成的夾角為65-80度；
14、暗場光源，與所述檢測基準(zhǔn)面形成的夾角為55-65度；
15、交叉場光源，與所述檢測基準(zhǔn)面形成的夾角為55-65度；
16、其中，所述暗場光源對稱設(shè)置有兩個(gè)。
17、可選地，所述檢測位置周圍的部件至少靠近所述光源模塊的一側(cè)設(shè)置有純色結(jié)構(gòu)和/或桔紋結(jié)構(gòu)。
18、可選地，所述相機(jī)模塊設(shè)置為線掃相機(jī)，且所述位移機(jī)構(gòu)設(shè)置為直線電機(jī)。
19、可選地，
20、所述屏幕缺陷檢測設(shè)備包括機(jī)架，所述厚度測量機(jī)構(gòu)、所述頂升機(jī)構(gòu)、所述位移機(jī)構(gòu)和所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)均承載于所述機(jī)架；
21、所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)包括連接在機(jī)架上的光源安裝板，所述多個(gè)光源模塊通過弧形軌道可位移地連接在所述光源安裝板上。
22、可選地，
23、所述屏幕缺陷檢測設(shè)備包括機(jī)架，所述厚度測量機(jī)構(gòu)、所述頂升機(jī)構(gòu)、所述位移機(jī)構(gòu)和所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)均承載于所述機(jī)架；
24、所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)包括相機(jī)安裝板，所述相機(jī)安裝板滑動(dòng)連接在機(jī)架上，且滑動(dòng)方向與所述位移機(jī)構(gòu)的位移方向一致；所述相機(jī)模塊轉(zhuǎn)動(dòng)連接在所述相機(jī)安裝板上，且轉(zhuǎn)動(dòng)軸線平行于所述檢測基準(zhǔn)面并垂直于所述位移機(jī)構(gòu)的位移方向。
25、可選地，還包括：
26、對中機(jī)構(gòu)，用于將所述頂升機(jī)構(gòu)上承載的所述待檢測電子產(chǎn)品進(jìn)行對中操作。
27、可選地，所述頂升機(jī)構(gòu)的頂部設(shè)置有用于吸附所述待檢測電子產(chǎn)品的吸盤組件。
28、可選地，所述厚度測量機(jī)構(gòu)包括：
29、安裝座；
30、高度測試儀，設(shè)置在所述安裝座上，具有測試頭；
31、壓塊，設(shè)置在所述安裝座靠近所述頂升機(jī)構(gòu)的一側(cè)，并能夠相對于安裝座彈性位移；
32、其中，所述測試頭位于所述安裝座靠近所述頂升機(jī)構(gòu)的一側(cè)，以使所述頂升機(jī)構(gòu)帶動(dòng)所述待檢測電子產(chǎn)品與所述壓塊彈性抵接時(shí)，所述測試頭與所述待檢測電子產(chǎn)品抵接。
33、本申請?zhí)峁┑钠聊蝗毕輽z測設(shè)備，在工作過程中，先通過厚度測量機(jī)構(gòu)對電子產(chǎn)品的厚度進(jìn)行測量，再通過頂升機(jī)構(gòu)根據(jù)測量值對電子產(chǎn)品的屏幕高度進(jìn)行調(diào)節(jié)，以使位移機(jī)構(gòu)帶動(dòng)電子產(chǎn)品位移時(shí)，電子產(chǎn)品的屏幕始終處于檢測基準(zhǔn)面上，而且屏幕檢測機(jī)構(gòu)朝向檢測基準(zhǔn)面上的檢測位置，通過屏幕檢測機(jī)構(gòu)即可對不同厚度的電子產(chǎn)品的屏幕進(jìn)行缺陷檢測，可以使多個(gè)機(jī)型同時(shí)混投生產(chǎn)，進(jìn)而提高產(chǎn)能。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述多個(gè)光源模塊分別位于所述檢測位置的多個(gè)不同方向上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述多個(gè)光源模塊包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測位置周圍的部件至少靠近所述光源模塊的一側(cè)設(shè)置有純色結(jié)構(gòu)和/或桔紋結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述相機(jī)模塊設(shè)置為線掃相機(jī)，且所述位移機(jī)構(gòu)設(shè)置為直線電機(jī)。
7.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，
8.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，還包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述頂升機(jī)構(gòu)的頂部設(shè)置有用于吸附所述待檢測電子產(chǎn)品的吸盤組件。
11.根據(jù)權(quán)利要求
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述屏幕檢測機(jī)構(gòu)包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述多個(gè)光源模塊分別位于所述檢測位置的多個(gè)不同方向上。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述多個(gè)光源模塊包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的屏幕缺陷檢測設(shè)備，其特征在于，所述檢測位置周圍的部件至少靠近所述光源模塊的一側(cè)設(shè)置有純色結(jié)構(gòu)和/或桔紋結(jié)構(gòu)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：向飛，張飛，萬濤，甄琰，
申請(專利權(quán))人：轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)一零二四北京科技有限公司，
類型：新型
國別省市：
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