當(dāng)前位置: 首頁 > 專利查詢>云舟鴻業(yè)北京科技有限公司專利>正文

一種電子元器件電性能測試裝置制造方法及圖紙

技術(shù)編號(hào)：44256557 閱讀：7 留言：0更新日期：2025-02-14 22:03

本發(fā)明專利技術(shù)屬于電子元器件電性能測試技術(shù)領(lǐng)域，尤其為一種電子元器件電性能測試裝置，包括電性能測試器和測試筆，電性能測試器包括扣合連接的測試器后殼體和測試器前殼體，所述測試器后殼體和測試器前殼體的內(nèi)部安裝有電路板，所述電路板的表面電性安裝有電性對(duì)接頭，所述測試筆的端部電性連接有連接導(dǎo)線，所述連接導(dǎo)線的端部電性安裝有電性插頭，本發(fā)明專利技術(shù)通過設(shè)計(jì)精密的對(duì)接機(jī)構(gòu)和限位機(jī)構(gòu)，確保了測試筆與測試器之間的穩(wěn)定連接，避免了因接觸不良或插頭脫落導(dǎo)致的測試誤差；同時(shí)，電路板通過插接柱和限位環(huán)片的固定方式，保證了電路板在測試過程中的位置穩(wěn)定，進(jìn)一步提高了測試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

全部詳細(xì)技術(shù)資料下載

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及電子元器件電性能測試，尤其涉及一種電子元器件電性能測試裝置。

技術(shù)介紹

1、在當(dāng)前的電子元器件制造與檢測行業(yè)中，測試裝置的性能直接決定了產(chǎn)品質(zhì)量的評(píng)估準(zhǔn)確性。然而，傳統(tǒng)的電子元器件電性能測試裝置在測試過程中常面臨對(duì)接不穩(wěn)定、信號(hào)傳輸干擾大等挑戰(zhàn)。具體來說，測試筆與測試器之間的連接往往依賴于簡單的插拔結(jié)構(gòu)，這種設(shè)計(jì)容易受到操作不當(dāng)或長期使用磨損的影響，導(dǎo)致接觸不良、信號(hào)中斷或失真，進(jìn)而嚴(yán)重影響測試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。此外，電路板在測試過程中的微小振動(dòng)或偏移也可能引入測量誤差，使得測試結(jié)果難以信賴。

2、隨著電子元器件行業(yè)的快速發(fā)展，測試設(shè)備的工作環(huán)境日益復(fù)雜多變，對(duì)設(shè)備的耐用性和可靠性提出了更高要求。然而，現(xiàn)有的測試裝置在應(yīng)對(duì)惡劣環(huán)境(如高濕度、多塵等)時(shí)往往顯得力不從心，內(nèi)部元器件容易受損，導(dǎo)致設(shè)備性能下降甚至失效。此外，一些測試裝置在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上存在不足，如密封性差、復(fù)位機(jī)構(gòu)不完善等，也加劇了設(shè)備損壞的風(fēng)險(xiǎn)。

3、用戶體驗(yàn)和維護(hù)便捷性是衡量測試裝置優(yōu)劣的重要指標(biāo)之一。然而，傳統(tǒng)測試裝置在這兩方面往往存在不足。例如，操作界面復(fù)雜、操作步驟繁瑣、關(guān)鍵部件拆裝困難等問題，不僅增加了用戶的學(xué)習(xí)成本和使用難度，也降低了設(shè)備的維護(hù)效率，為此，我們提供一種電子元器件電性能測試裝置。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為了解決上述問題，本專利技術(shù)提出一種電子元器件電性能測試裝置，以更加確切地解決了上述
技術(shù)介紹
中所提出的問題。

2、本專利技術(shù)通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的：</p>

3、專利技術(shù)提出一種電子元器件電性能測試裝置，包括電性能測試器和測試筆，電性能測試器包括扣合連接的測試器后殼體和測試器前殼體，所述測試器后殼體和測試器前殼體的內(nèi)部安裝有電路板，所述電路板的表面電性安裝有電性對(duì)接頭，所述測試筆的端部電性連接有連接導(dǎo)線，所述連接導(dǎo)線的端部電性安裝有電性插頭，用于與電性對(duì)接頭對(duì)接并讓測試筆可以進(jìn)行后期的測試所需，所述測試器后殼體和測試器前殼體的側(cè)邊均開設(shè)有用于電性插頭穿過的開口槽，所述測試器后殼體和測試器前殼體的側(cè)邊連接有用于電性插頭插入后防脫離的限位機(jī)構(gòu)；所述測試器后殼體和測試器前殼體之間連接有密封結(jié)構(gòu)；

4、限位機(jī)構(gòu)包括固定連接在測試器后殼體和測試器前殼體側(cè)邊的條形板，所述條形板的表面開設(shè)有矩形凹槽，所述矩形凹槽的內(nèi)壁處滑動(dòng)連接有搭接滑塊，所述搭接滑塊的下端表面固定連接有插接桿，且插接桿貫穿矩形凹槽的端壁并安裝有鐵制限位板，用于限制電性插頭插入后的脫離，所述插接桿和鐵制限位板之間連接有拆裝部件；

5、所述矩形凹槽和搭接滑塊之間連接有復(fù)位組件；

6、所述測試器前殼體的正面安裝有顯示屏，所述測試器后殼體和測試器前殼體通過條形板連接有用于防護(hù)顯示屏的防護(hù)結(jié)構(gòu)。

7、進(jìn)一步地，復(fù)位組件包括開設(shè)在矩形凹槽內(nèi)側(cè)壁的條形安置槽，所述條形安置槽的兩端壁之間固定連接有立固桿，所述立固桿的外圍套設(shè)有彈簧，所述立固桿的外圍滑動(dòng)套接有滑動(dòng)套塊，且滑動(dòng)套塊在條形安置槽的內(nèi)壁處滑動(dòng)連接，兩塊所述滑動(dòng)套塊的相對(duì)面與搭接滑塊的側(cè)邊固定連接。

8、進(jìn)一步地，拆裝部件包括開設(shè)在鐵制限位板上端表面的插接槽，所述插接桿的端部固定連接有磁吸塊，且磁吸塊置于插接槽的內(nèi)部并與插接槽的內(nèi)底壁吸附連接。

9、進(jìn)一步地，防護(hù)結(jié)構(gòu)包括扣合在條形板外圍的防護(hù)殼，所述條形板和防護(hù)殼之間連接有導(dǎo)滑部件；

10、導(dǎo)滑部件包括豎向開設(shè)在條形板側(cè)邊的導(dǎo)滑槽，兩塊所述條形板的側(cè)邊卡滑有卡滑板，所述卡滑板的內(nèi)側(cè)壁豎向固定連接有導(dǎo)滑條，且導(dǎo)滑條在導(dǎo)滑槽的內(nèi)壁處滑動(dòng)連接，用于防護(hù)殼導(dǎo)滑的同時(shí)限制測試器后殼體和測試器前殼體的分離。

11、進(jìn)一步地，密封結(jié)構(gòu)包括固定連接在測試器后殼體開口端表面的密封插環(huán)和開設(shè)在測試器前殼體開口端表面的密封插槽。

12、進(jìn)一步地，所述電路板的表面開設(shè)有插接孔，所述測試器前殼體的內(nèi)壁固定連接有插接柱，所述插接柱的外圍固定連接有限位環(huán)片。

13、進(jìn)一步地，所述密封插環(huán)插設(shè)在密封插槽的內(nèi)壁處，且密封插槽的開設(shè)尺寸與密封插環(huán)的設(shè)計(jì)尺寸相互適配。

14、進(jìn)一步地，所述插接柱插設(shè)在插接孔的內(nèi)壁處，所述限位環(huán)片在插接柱插入后抵觸電路板的表面，用于限制電路板的移動(dòng)。

15、進(jìn)一步地，所述彈簧的上端固定連接在條形安置槽的端壁，所述彈簧的下端固定連接在滑動(dòng)套塊的上端表面。

16、本專利技術(shù)的有益效果：

17、本專利技術(shù)通過設(shè)計(jì)精密的對(duì)接機(jī)構(gòu)和限位機(jī)構(gòu)，確保了測試筆與測試器之間的穩(wěn)定連接，避免了因接觸不良或插頭脫落導(dǎo)致的測試誤差；同時(shí)，電路板通過插接柱和限位環(huán)片的固定方式，保證了電路板在測試過程中的位置穩(wěn)定，進(jìn)一步提高了測試的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。

18、本專利技術(shù)通過設(shè)置密封結(jié)構(gòu)和復(fù)位組件，有效防止了外部灰塵、水分等進(jìn)入測試器內(nèi)部，保護(hù)了內(nèi)部電路板和元器件免受損害，延長了設(shè)備的使用壽命；此外，復(fù)位組件的設(shè)計(jì)，使得每次測試后都能自動(dòng)恢復(fù)到初始狀態(tài)，減少了因手動(dòng)操作不當(dāng)導(dǎo)致的設(shè)備損壞風(fēng)險(xiǎn)，增強(qiáng)了設(shè)備的耐用性和可靠性。

19、本專利技術(shù)通過拆裝部件的設(shè)計(jì)，簡化了鐵制限位板的拆裝過程，使得用戶在需要更換或維護(hù)相關(guān)部件時(shí)能夠輕松操作，提高了維護(hù)效率；同時(shí)，防護(hù)結(jié)構(gòu)不僅保護(hù)了顯示屏免受外界沖擊，還通過導(dǎo)滑部件的設(shè)計(jì)確保了防護(hù)殼的穩(wěn)定導(dǎo)滑和測試器殼體的穩(wěn)固性，提升了用戶的使用體驗(yàn)；此外，整個(gè)測試裝置的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，操作簡便，降低了用戶的學(xué)習(xí)成本和使用難度。

本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】

1.一種電子元器件電性能測試裝置，包括電性能測試器和測試筆(5)，其特征在于，電性能測試器包括扣合連接的測試器后殼體(1)和測試器前殼體(2)，所述測試器后殼體(1)和測試器前殼體(2)的內(nèi)部安裝有電路板(3)，所述電路板(3)的表面電性安裝有電性對(duì)接頭(4)，所述測試筆(5)的端部電性連接有連接導(dǎo)線(6)，所述連接導(dǎo)線(6)的端部電性安裝有電性插頭(7)，用于與電性對(duì)接頭(4)對(duì)接并讓測試筆(5)可以進(jìn)行后期的測試所需，所述測試器后殼體(1)和測試器前殼體(2)的側(cè)邊均開設(shè)有用于電性插頭(7)穿過的開口槽(8)，所述測試器后殼體(1)和測試器前殼體(2)的側(cè)邊連接有用于電性插頭(7)插入后防脫離的限位機(jī)構(gòu)；所述測試器后殼體(1)和測試器前殼體(2)之間連接有密封結(jié)構(gòu)；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，復(fù)位組件包括開設(shè)在矩形凹槽(10)內(nèi)側(cè)壁的條形安置槽(11)，所述條形安置槽(11)的兩端壁之間固定連接有立固桿(12)，所述立固桿(12)的外圍套設(shè)有彈簧(13)，所述立固桿(12)的外圍滑動(dòng)套接有滑動(dòng)套塊(14)，且滑動(dòng)套塊(14)

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，拆裝部件包括開設(shè)在鐵制限位板(17)上端表面的插接槽(18)，所述插接桿(16)的端部固定連接有磁吸塊(19)，且磁吸塊(19)置于插接槽(18)的內(nèi)部并與插接槽(18)的內(nèi)底壁吸附連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，防護(hù)結(jié)構(gòu)包括扣合在條形板(9)外圍的防護(hù)殼(20)，所述條形板(9)和防護(hù)殼(20)之間連接有導(dǎo)滑部件；

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，密封結(jié)構(gòu)包括固定連接在測試器后殼體(1)開口端表面的密封插環(huán)(24)和開設(shè)在測試器前殼體(2)開口端表面的密封插槽(25)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，所述電路板(3)的表面開設(shè)有插接孔(26)，所述測試器前殼體(2)的內(nèi)壁固定連接有插接柱(27)，所述插接柱(27)的外圍固定連接有限位環(huán)片(28)。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，所述密封插環(huán)(24)插設(shè)在密封插槽(25)的內(nèi)壁處，且密封插槽(25)的開設(shè)尺寸與密封插環(huán)(24)的設(shè)計(jì)尺寸相互適配。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，所述插接柱(27)插設(shè)在插接孔(26)的內(nèi)壁處，所述限位環(huán)片(28)在插接柱(27)插入后抵觸電路板(3)的表面，用于限制電路板(3)的移動(dòng)。

9.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，所述彈簧(13)的上端固定連接在條形安置槽(11)的端壁，所述彈簧(13)的下端固定連接在滑動(dòng)套塊(14)的上端表面。

...

【技術(shù)特征摘要】

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種電子元器件電性能測試裝置，其特征在于，拆裝部件包括開設(shè)在鐵制限位板(17)上端表面的插接槽(18)，所述插接桿(16)的端部固定連接有磁吸塊(19)，且磁吸塊(1...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：張?jiān)骑w，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：云舟鴻業(yè)北京科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：

全部詳細(xì)技術(shù)資料下載我是這個(gè)專利的主人

相關(guān)技術(shù)

網(wǎng)友詢問留言已有0條評(píng)論

還沒有人留言評(píng)論。發(fā)表了對(duì)其他瀏覽者有用的留言會(huì)獲得科技券。

發(fā)布您的意見

相關(guān)領(lǐng)域技術(shù)