【技術實現步驟摘要】
本技術涉及半導體封裝,具體為一種增大產品過流能力的框架結構。
技術介紹
1、目前的芯片塑封框架,基島和封裝引腳相對獨立,封裝引腳與封裝引腳之間也是完全獨立,導致大電流芯片在塑封上無法實現強大過流能力。只能依賴陶瓷封裝和金屬封裝,而陶瓷封裝和金屬封裝的成本又讓封裝無法接受。
技術實現思路
1、本技術提出一種增大產品過流能力的框架結構,采取的技術方案:
2、一種增大產品過流能力的框架結構,采用框架原料制成的若干個封裝引腳(1)和承載芯片的基島(2),若干個封裝引腳(1)都布置在基島(2)周圍,按照芯片所需核電源和直流電源的要求,將基島(2)與周圍的多個封裝引腳(1)合并形成承受核電源的第一焊盤結構(3),將周圍的多個封裝引腳(1)合并形成一個或多個用來承受芯片的vccc電源或芯片的vo輸出的第二焊盤結構(4)。
3、本技術的增大產品過流能力的框架結構,采用增強焊盤結構,將基島與封裝引腳做合并,相同電源的封裝引腳做合并,從而極大的增加封裝上電源、地過流能力,同時也增強封裝散熱能力。
4、對本技術技術方案的優選,基島(2)與周圍的多個封裝引腳(1)焊接一起形成第一焊盤結構(3)。
5、對本技術技術方案的優選,周圍的多個封裝引腳(1)焊接在一起形成一個或多個第二焊盤結構(4)。
6、本技術與現有技術相比的有益效果是:
7、本技術的增大產品過流能力的框架結構,適用于單層特殊框架結構,只針對具有大電流和超大電流特性的芯片;主
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1.一種增大產品過流能力的框架結構,包括采用框架原料制成的承載芯片的基島(2)和若干個封裝引腳(1),其特征在于:若干個封裝引腳(1)都布置在基島(2)周圍,按照芯片所需核電源和直流電源的要求,將基島(2)與周圍的多個封裝引腳(1)合并形成承受核電源的第一焊盤結構(3),將周圍的多個封裝引腳(1)合并形成一個或多個用來承受芯片的VCCC電源或芯片的VO輸出的第二焊盤結構(4)。
2.根據權利要求1所述的一種增大產品過流能力的框架結構,其特征在于:基島(2)與周圍的多個封裝引腳(1)焊接一起形成第一焊盤結構(3)。
3.根據權利要求1所述的一種增大產品過流能力的框架結構,其特征在于:周圍的多個封裝引腳(1)焊接在一起形成一個或多個第二焊盤結構(4)。
【技術特征摘要】
1.一種增大產品過流能力的框架結構,包括采用框架原料制成的承載芯片的基島(2)和若干個封裝引腳(1),其特征在于:若干個封裝引腳(1)都布置在基島(2)周圍,按照芯片所需核電源和直流電源的要求,將基島(2)與周圍的多個封裝引腳(1)合并形成承受核電源的第一焊盤結構(3),將周圍的多個封裝引腳(1)合并形成一個或多個用來承受芯片的vccc電...
【專利技術屬性】
技術研發人員:田立方,張韜,
申請(專利權)人:江蘇華創微系統有限公司,
類型:新型
國別省市:
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