【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)屬于測(cè)試治具領(lǐng)域，尤其涉及一種高精度ic載板測(cè)試治具。
技術(shù)介紹
1、ic就是半導(dǎo)體元件產(chǎn)品的統(tǒng)稱，包括:集成電路、二極管、特殊電子元件，再?gòu)V義些講還涉及所有的電子元件，像電阻，電容，電路板，等許多相關(guān)產(chǎn)品，載板上大都有多個(gè)擴(kuò)展插槽，供ic插接。工人手動(dòng)將ic插接在載板上后，需要進(jìn)一步對(duì)ic載板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試其是否存在短路、斷路以及接觸不良等狀況發(fā)生、但是，ic載板的質(zhì)量測(cè)試由于需要涉及多個(gè)擴(kuò)展插槽，因此需要同時(shí)對(duì)多個(gè)擴(kuò)展插槽的情況進(jìn)行測(cè)試?，F(xiàn)一般采用下壓測(cè)試治具對(duì)ic載板進(jìn)行檢測(cè)，為提高工作效率，需要不斷連接進(jìn)行下壓通電操作，由于摩擦力等因素導(dǎo)致下壓測(cè)試治具對(duì)ic載板的限位存在略微偏移，導(dǎo)致測(cè)試指數(shù)不精準(zhǔn)。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本技術(shù)的目的在于提供一種高精度ic載板測(cè)試治具，旨在解決以上的問題。
2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本技術(shù)提供一種高精度ic載板測(cè)試治具，用于測(cè)試ic載板，包括上模座、下模座和均勻設(shè)置在上模座下端的導(dǎo)向桿的一端，導(dǎo)向桿上滑動(dòng)設(shè)置有壓板，壓板的下端設(shè)有用于通電測(cè)試的探針；下模座連接導(dǎo)向桿的另一端，下模座設(shè)有向內(nèi)凹型的放置腔，ic載板位于放置腔內(nèi)；放置腔的周圍設(shè)有對(duì)位凹槽組，壓板的下端還設(shè)有對(duì)位凸槽組，對(duì)位凸槽組與對(duì)位凹槽組嵌合連接；下模座還設(shè)有夾持組件，用于夾緊ic載板。
3、進(jìn)一步，對(duì)位凹槽組設(shè)為兩組且位于放置腔的前端以及后端，對(duì)位凹槽組包括第一凹槽以及第二凹槽，第二凹槽設(shè)于第一凹槽的外圍，兩者之間設(shè)有間距凸槽；對(duì)位凸槽組設(shè)為兩組且對(duì)應(yīng)位
4、進(jìn)一步，夾持組件包括握把、連接桿以及彈簧，下模座設(shè)有中空的連通體，連通體內(nèi)固定有彈簧，連接桿的一端伸入連通體的一端并穿過彈簧從連通體的另一端伸出，連接桿的另一端連接一限位件。夾持組件設(shè)有四組，限位件設(shè)有兩組夾持組件與一組限位件連接，兩組限位件分別設(shè)于放置腔的左端及右端。
5、進(jìn)一步，ic載板的最頂端低于限位件的最頂端。
6、進(jìn)一步，限位件呈傾斜向下的斜槽結(jié)構(gòu)，限位件的最上端的寬度小于最下端的寬度。
7、進(jìn)一步，限位件與ic載板貼合的一側(cè)設(shè)有防滑層。
8、進(jìn)一步，上模座的上端設(shè)有升降氣缸，升降氣缸的驅(qū)動(dòng)端連接壓板并驅(qū)動(dòng)其上下移動(dòng)。
9、本技術(shù)實(shí)施例提供的高精度ic載板測(cè)試治具中的上述一個(gè)或多個(gè)技術(shù)方案至少具有如下技術(shù)效果：
10、在本設(shè)計(jì)中，上模座順著導(dǎo)向桿下移壓板，壓板的探針與放置腔的ic載板接觸，開始測(cè)試。其中該測(cè)試治具采用了對(duì)位凹槽組與對(duì)位凸槽組的嵌合連接設(shè)計(jì)，能夠有效地減少由于摩擦力等因素導(dǎo)致的限位偏移，配合夾持組件將ic載板夾緊，從而提高測(cè)試的精準(zhǔn)度，確保ic載板的測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確可靠。
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1.一種高精度IC載板測(cè)試治具，用于測(cè)試IC載板，其特征在于，包括上模座、下模座和均勻設(shè)置在上模座下端的導(dǎo)向桿的一端，導(dǎo)向桿上滑動(dòng)設(shè)置有壓板，壓板的下端設(shè)有用于通電測(cè)試的探針；下模座連接導(dǎo)向桿的另一端，下模座設(shè)有向內(nèi)凹型的放置腔，IC載板位于放置腔內(nèi)；放置腔的周圍設(shè)有對(duì)位凹槽組，壓板的下端還設(shè)有對(duì)位凸槽組，對(duì)位凸槽組與對(duì)位凹槽組嵌合連接；下模座還設(shè)有夾持組件，用于夾緊IC載板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，對(duì)位凹槽組設(shè)為兩組且位于放置腔的前端以及后端，對(duì)位凹槽組包括第一凹槽以及第二凹槽，第二凹槽設(shè)于第一凹槽的外圍，兩者之間設(shè)有間距凸槽；對(duì)位凸槽組設(shè)為兩組且對(duì)應(yīng)位于壓板的前端和后端，對(duì)位凸槽組包括第一凸槽以及第二凸槽，第一凸槽以及第二凸槽之間設(shè)有間距凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，夾持組件包括握把、連接桿以及彈簧，下模座設(shè)有中空的連通體，連通體內(nèi)固定有彈簧，連接桿的一端伸入連通體的一端并穿過彈簧從連通體的另一端伸出，連接桿的另一端連接一限位件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的高精度IC
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，IC載板的最頂端低于限位件的最頂端。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，限位件呈傾斜向下的斜槽結(jié)構(gòu)，限位件的最上端的寬度小于最下端的寬度。
7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，限位件與IC載板貼合的一側(cè)設(shè)有防滑層。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的高精度IC載板測(cè)試治具，其特征在于，上模座的上端設(shè)有升降氣缸，升降氣缸的驅(qū)動(dòng)端連接壓板并驅(qū)動(dòng)其上下移動(dòng)。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種高精度ic載板測(cè)試治具，用于測(cè)試ic載板，其特征在于，包括上模座、下模座和均勻設(shè)置在上模座下端的導(dǎo)向桿的一端，導(dǎo)向桿上滑動(dòng)設(shè)置有壓板，壓板的下端設(shè)有用于通電測(cè)試的探針；下模座連接導(dǎo)向桿的另一端，下模座設(shè)有向內(nèi)凹型的放置腔，ic載板位于放置腔內(nèi)；放置腔的周圍設(shè)有對(duì)位凹槽組，壓板的下端還設(shè)有對(duì)位凸槽組，對(duì)位凸槽組與對(duì)位凹槽組嵌合連接；下模座還設(shè)有夾持組件，用于夾緊ic載板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度ic載板測(cè)試治具，其特征在于，對(duì)位凹槽組設(shè)為兩組且位于放置腔的前端以及后端，對(duì)位凹槽組包括第一凹槽以及第二凹槽，第二凹槽設(shè)于第一凹槽的外圍，兩者之間設(shè)有間距凸槽；對(duì)位凸槽組設(shè)為兩組且對(duì)應(yīng)位于壓板的前端和后端，對(duì)位凸槽組包括第一凸槽以及第二凸槽，第一凸槽以及第二凸槽之間設(shè)有間距凹槽。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的高精度ic載板測(cè)試治具，其特征在于，夾持組件包括握把、連接桿以及彈簧，下...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：蘇寶軍，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：東莞市連威電子有限公司，
類型：新型
國(guó)別省市：
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