【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本申請涉及通信與電子測試領(lǐng)域，尤其涉及一種測試夾具、及測試夾具的制備方法。
技術(shù)介紹
1、由于大數(shù)據(jù)、人工智能、高性能計算和汽車等數(shù)據(jù)密集型市場的需求，更高速率、更大帶寬的互連技術(shù)在不斷發(fā)展。為了準(zhǔn)確判斷高頻互連技術(shù)方案的可行性，因此對材料本身參數(shù)值在更高頻段的準(zhǔn)確提取要求變高，即帶寬要求增加。
2、目前，業(yè)內(nèi)通常使用測試夾具對材料參數(shù)進(jìn)行提取。具體的，將不同長度的待測材料設(shè)置在sma連接器中間，施加測試信號后得到測試值，將得到的測試值兩兩相減得到待測材料的插回?fù)p值，根據(jù)插回?fù)p值提取得到待測材料本身的參數(shù)值。
3、但在使用該測試夾具提取較高頻段材料的參數(shù)值時，存在提取準(zhǔn)確性較低的問題。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本申請實施例提供測試夾具、及測試夾具的制備方法，用以解決提取較高頻段材料的參數(shù)值時，存在提取準(zhǔn)確性較低的問題。
2、一方面，本申請實施例提供一種測試夾具，包括：測試板、sma連接器和傳輸線，測試板上設(shè)置有過孔，sma連接器通過過孔設(shè)置在測試板上，傳輸線在sma連接器下方過孔的部分為非均勻走線扇出。
3、在一種可能的實施方式中，傳輸線由第一部分和在sma連接器下方過孔的第二部分構(gòu)成，第二部分穿過過孔與sma連接器，第一部分用于與待測材料連接，第一部分的寬度與第二部分的寬度是不同的。
4、在一種可能的實施方式中，所述第二部分的寬度是通過仿真模擬不同寬度時的阻抗值和插回?fù)p交點中滿足預(yù)設(shè)的阻抗值要求和預(yù)設(shè)的第一插回?fù)p交點要求對應(yīng)阻
5、在一種可能的實施方式中，待測材料的長度是滿足預(yù)設(shè)的第二插回?fù)p交點要求的插回?fù)p交點對應(yīng)的長度，待測材料在不同長度時的插回?fù)p交點是基于第二部分的寬度獲得的。
6、在一種可能的實施方式中，第一部分與待測材料之間通過45度的過渡線連接，且過渡線長小于預(yù)設(shè)的過渡線長。
7、在一種可能的實施方式中，對過孔的殘樁進(jìn)行背鉆處理，使殘樁的長度小于預(yù)設(shè)的殘樁長度。
8、在一種可能的實施方式中，第二部分的邊緣角度大于預(yù)設(shè)的邊緣角度。
9、在一種可能的實施方式中，測試夾具還包括設(shè)置在過孔和第二部分之間的銅皮，銅皮與過孔之間的距離是通過仿真模擬不同距離時的回?fù)p值中滿足預(yù)設(shè)的回?fù)p值要求的回?fù)p值對應(yīng)的距離。
10、另一方面，本申請實施例提供一種測試夾具的制備方法，用于制備如權(quán)利要求1至8中任一項的測試夾具，制備方法包括：
11、根據(jù)仿真模擬獲得的測試夾具的第二部分在不同寬度時的阻抗值和插回?fù)p交點，得到滿足預(yù)設(shè)的阻抗值要求和第一插回?fù)p交點要求的阻抗值和插回?fù)p交點對應(yīng)的寬度為目標(biāo)線寬；
12、根據(jù)所述待測材料在不同長度時的插回?fù)p交點，得到滿足預(yù)設(shè)的第二插回?fù)p交點要求的插回?fù)p交點對應(yīng)的長度為目標(biāo)長度，所述待測材料在不同長度時的插回?fù)p交點是基于所述目標(biāo)線寬獲得的；
13、根據(jù)目標(biāo)寬度設(shè)置第二部分，并根據(jù)目標(biāo)長度設(shè)置待測材料，制備得到測試夾具。
14、在一種可能的實施方式中，制備得到測試夾具，包括：
15、根據(jù)銅皮在不同直徑的過孔時的回?fù)p值，得到滿足預(yù)設(shè)的回?fù)p值要求的回?fù)p值對應(yīng)的直徑為過孔的目標(biāo)直徑；
16、根據(jù)目標(biāo)直徑設(shè)置過孔，根據(jù)目標(biāo)寬度設(shè)置第二部分，并根據(jù)目標(biāo)長度設(shè)置待測材料，制備得到測試夾具。
17、本申請實施例提供的測試夾具、及測試夾具的制備方法，通過測試板上設(shè)置有過孔，sma連接器通過過孔設(shè)置在測試板上，傳輸線在sma連接器下方過孔的部分為非均勻走線扇出手段，使在sma連接器下方過孔的部分傳輸線的線寬根據(jù)阻抗值和插回?fù)p交點進(jìn)行調(diào)整，抵消較高頻段時此處傳輸線因為沒有上下參考層導(dǎo)致的高阻值，達(dá)到提高對較高頻段材料參數(shù)值提取的準(zhǔn)確性的效果。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點】
1.一種測試夾具，其特征在于，所述測試夾具包括：測試板、SMA連接器和傳輸線，所述測試板上設(shè)置有過孔，所述SMA連接器通過所述過孔設(shè)置在所述測試板上，所述傳輸線在所述SMA連接器下方過孔的部分為非均勻走線扇出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述傳輸線由第一部分和在所述SMA連接器下方過孔的第二部分構(gòu)成，所述第二部分穿過所述過孔與所述SMA連接器，所述第一部分用于與待測材料連接，所述第一部分的寬度與所述第二部分的寬度是不同的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試夾具，其特征在于，所述第二部分的寬度是通過仿真模擬不同寬度時的阻抗值和插回?fù)p交點中滿足預(yù)設(shè)的阻抗值要求和預(yù)設(shè)的第一插回?fù)p交點要求對應(yīng)阻抗值和插回?fù)p交點的寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試夾具，其特征在于，所述待測材料的長度是滿足預(yù)設(shè)的第二插回?fù)p交點要求的插回?fù)p交點對應(yīng)的長度，所述待測材料在不同長度時的插回?fù)p交點是基于所述第二部分的寬度獲得的。
5.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項所述的測試夾具，其特征在于，所述第一部分與所述待測材料之間通過45度的過渡線連接，且過渡線長
6.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項所述的測試夾具，其特征在于，對所述過孔的殘樁進(jìn)行背鉆處理，使所述殘樁的長度小于預(yù)設(shè)的殘樁長度。
7.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項所述的測試夾具，其特征在于，所述第二部分的邊緣角度大于預(yù)設(shè)的邊緣角度。
8.根據(jù)權(quán)利要求2至4中任一項所述的測試夾具，其特征在于，所述測試夾具還包括設(shè)置在所述過孔和所述第二部分之間的銅皮，所述銅皮與所述過孔之間的距離是通過仿真模擬不同距離時的回?fù)p值中滿足預(yù)設(shè)的回?fù)p值要求的回?fù)p值對應(yīng)的距離。
9.一種測試夾具的制備方法，其特征在于，用于制備如權(quán)利要求1至8中任一項所述的測試夾具，所述制備方法包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的方法，其特征在于，所述制備得到所述測試夾具，包括：
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種測試夾具，其特征在于，所述測試夾具包括：測試板、sma連接器和傳輸線，所述測試板上設(shè)置有過孔，所述sma連接器通過所述過孔設(shè)置在所述測試板上，所述傳輸線在所述sma連接器下方過孔的部分為非均勻走線扇出。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試夾具，其特征在于，所述傳輸線由第一部分和在所述sma連接器下方過孔的第二部分構(gòu)成，所述第二部分穿過所述過孔與所述sma連接器，所述第一部分用于與待測材料連接，所述第一部分的寬度與所述第二部分的寬度是不同的。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試夾具，其特征在于，所述第二部分的寬度是通過仿真模擬不同寬度時的阻抗值和插回?fù)p交點中滿足預(yù)設(shè)的阻抗值要求和預(yù)設(shè)的第一插回?fù)p交點要求對應(yīng)阻抗值和插回?fù)p交點的寬度。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試夾具，其特征在于，所述待測材料的長度是滿足預(yù)設(shè)的第二插回?fù)p交點要求的插回?fù)p交點對應(yīng)的長度，所述待測材料在不同長度時的插回?fù)p交點是基于所述第二部分的寬度獲得...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：葉小婷，李寶成，
申請(專利權(quán))人：西安易樸通訊技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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