【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及固態(tài)硬盤固件算法開發(fā)，特別是涉及存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法、接口、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備。
技術(shù)介紹
1、隨著固態(tài)硬盤存儲(chǔ)介質(zhì)以及計(jì)算機(jī)技術(shù)的不斷發(fā)展，固件算法的復(fù)雜性愈發(fā)提高，因而對(duì)軟件的可靠性要求也不斷提升，特別是針對(duì)emmc（embedded?multi?media?card，內(nèi)嵌式存儲(chǔ)器）、sd（secure?digital，存儲(chǔ)卡）卡等缺少硬件實(shí)時(shí)調(diào)試手段的固態(tài)存儲(chǔ)器算法而言，代碼設(shè)計(jì)階段難以保證所有異常分支處理均按照預(yù)期執(zhí)行。
2、目前，固態(tài)存儲(chǔ)器的固件算法一般包含垃圾回收、上電恢復(fù)重建、邏輯讀寫擦、地址映射管理等基本功能。良好的固件算法能夠判斷各種異常情況并保證盡可能的容錯(cuò)恢復(fù)，通過注錯(cuò)測試可以有效檢測固件在各種異常場景下的處理機(jī)制是否符合設(shè)計(jì)預(yù)期，從而提高固件算法設(shè)計(jì)質(zhì)量。
3、然而，傳統(tǒng)的測試用例很難保證覆蓋到固件設(shè)計(jì)的各個(gè)代碼分支，具有一定的黑盒特性。同時(shí)基于傳統(tǒng)的測試手段在存儲(chǔ)器容量快速增長的條件下，使得測試時(shí)間也同步增加致使測試效率變低。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)所要解決的技術(shù)問題是：提供存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法、接口、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)及電子設(shè)備，實(shí)現(xiàn)對(duì)固件算法穩(wěn)定性和自恢復(fù)能力檢測，并提高測試效率。
2、為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)采用的技術(shù)方案為：
3、一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，包括：
4、獲取基礎(chǔ)測試用例、硬件注錯(cuò)測試對(duì)象以及測試條件；
5、判斷是否需要執(zhí)行硬件注錯(cuò)測試，若是
6、獲取軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)以及每一所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有功能測試用例；
7、接收與所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的注錯(cuò)參數(shù)，基于所述注錯(cuò)參數(shù)依次執(zhí)行所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有所述功能測試用例，得到軟件測試結(jié)果；
8、根據(jù)所述硬件測試結(jié)果以及軟件測試結(jié)果得到固件測試結(jié)果。
9、為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)采用的另一技術(shù)方案為：
10、一種注錯(cuò)測試接口，應(yīng)用于上述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法各個(gè)步驟，包括注錯(cuò)點(diǎn)、注錯(cuò)響應(yīng)函數(shù)、注錯(cuò)參數(shù)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，注錯(cuò)參數(shù)傳輸函數(shù)，用于在待測試固件中添加注錯(cuò)點(diǎn)、注錯(cuò)響應(yīng)函數(shù)、注錯(cuò)參數(shù)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)以及注錯(cuò)參數(shù)傳輸函數(shù)。
11、為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)采用的另一技術(shù)方案為：
12、一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試裝置，包括：
13、第一獲取模塊，用于獲取基礎(chǔ)測試用例、硬件注錯(cuò)測試對(duì)象以及測試條件；
14、第一測試模塊，用于判斷是否需要執(zhí)行硬件注錯(cuò)測試，若是，則根據(jù)所述測試條件以及基礎(chǔ)測試用例對(duì)所述硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行測試，得到硬件測試結(jié)果；若否，則跳過所述硬件注錯(cuò)測試；
15、第二獲取模塊，用于獲取軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)以及每一所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有功能測試用例；
16、第二測試模塊，接收與所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的注錯(cuò)參數(shù)，基于所述注錯(cuò)參數(shù)依次執(zhí)行所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有所述功能測試用例，得到軟件測試結(jié)果；
17、輸出模塊，根據(jù)所述硬件測試結(jié)果以及軟件測試結(jié)果輸出固件測試結(jié)果。
18、為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)采用的另一技術(shù)方案為：
19、一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法各個(gè)步驟。
20、為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)采用的另一技術(shù)方案為：
21、一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如上述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法中的各個(gè)步驟。
22、本專利技術(shù)的有益效果在于：通過選擇待測固件對(duì)應(yīng)的硬件注錯(cuò)測試對(duì)象以及軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)后，依次通過測試條件以及基礎(chǔ)測試用例對(duì)硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行測試，以及通過注錯(cuò)參數(shù)和功能測試用例對(duì)軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)進(jìn)行測試，基于硬件注錯(cuò)和軟件注錯(cuò)能夠覆蓋固件設(shè)計(jì)中的缺陷，實(shí)現(xiàn)對(duì)固件算法穩(wěn)定性和自恢復(fù)能力檢測，提高固件算法的魯棒性；同時(shí)，還對(duì)是否需要執(zhí)行硬件注錯(cuò)測試進(jìn)行判斷，從而當(dāng)待測固件無需進(jìn)行硬件注錯(cuò)測試時(shí)，跳過硬件注錯(cuò)測試，提高固件開發(fā)過程中的測試效率。
本文檔來自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述判斷是否需要執(zhí)行硬件注錯(cuò)測試包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試條件以及基礎(chǔ)測試用例對(duì)所述硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行測試包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述對(duì)遍歷到的目標(biāo)硬件注錯(cuò)測試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測試參數(shù)進(jìn)行調(diào)整并執(zhí)行所述基礎(chǔ)測試用例包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述混合隨機(jī)參數(shù)生成規(guī)則對(duì)所有所述硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行處理，得到至少一組混合隨機(jī)測試參數(shù)組包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述接收與所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的注錯(cuò)參數(shù)包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述基于所述注錯(cuò)參數(shù)依次執(zhí)行所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有所述功能測試用例還包括：
8.一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，在待測試固件中添加注錯(cuò)點(diǎn)包括：
10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，在待測試固件中添加注錯(cuò)響應(yīng)函數(shù)包括：
11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，所述注錯(cuò)參數(shù)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)由多組注錯(cuò)參數(shù)構(gòu)成，每組所述注錯(cuò)參數(shù)包含注錯(cuò)編號(hào)、注錯(cuò)地址、錯(cuò)誤類型、觸發(fā)次數(shù)、重啟有效標(biāo)志位。
12.根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，所述注錯(cuò)參數(shù)傳輸函數(shù)將用戶選定的注錯(cuò)測試參數(shù)保存到所述注錯(cuò)參數(shù)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)中。
13.一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試裝置，其特征在于，包括：
14.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法各個(gè)步驟。
15.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器、處理器及存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器上并可在處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法中的各個(gè)步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述判斷是否需要執(zhí)行硬件注錯(cuò)測試包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述測試條件以及基礎(chǔ)測試用例對(duì)所述硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行測試包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述對(duì)遍歷到的目標(biāo)硬件注錯(cuò)測試對(duì)象對(duì)應(yīng)的測試參數(shù)進(jìn)行調(diào)整并執(zhí)行所述基礎(chǔ)測試用例包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述根據(jù)所述混合隨機(jī)參數(shù)生成規(guī)則對(duì)所有所述硬件注錯(cuò)測試對(duì)象進(jìn)行處理，得到至少一組混合隨機(jī)測試參數(shù)組包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述接收與所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的注錯(cuò)參數(shù)包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法，其特征在于，所述基于所述注錯(cuò)參數(shù)依次執(zhí)行所述軟件注錯(cuò)測試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的所有所述功能測試用例還包括：
8.一種注錯(cuò)測試接口，其特征在于，應(yīng)用于如權(quán)利要求1-7任意一項(xiàng)所述的存儲(chǔ)器注錯(cuò)測試方法各個(gè)步驟，包括注錯(cuò)點(diǎn)、注錯(cuò)響應(yīng)函數(shù)、注錯(cuò)參數(shù)數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)，...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：孫成思，何瀚，王燦，代興榮，龍棟梁，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：深圳佰維存儲(chǔ)科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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