【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本公開涉及芯片測(cè)試，尤其是一種芯片測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)。
技術(shù)介紹
1、在芯片測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試機(jī)會(huì)根據(jù)芯片測(cè)試數(shù)據(jù)的功耗、頻率、溫度等一些特定參數(shù)將芯片通過(guò)分bin的方式來(lái)進(jìn)行篩選分類和分級(jí)。分bin是指將一個(gè)芯片的測(cè)試數(shù)據(jù)按照一定規(guī)則分成若干個(gè)小組，每組代表一個(gè)“bin”，以便對(duì)芯片進(jìn)行更精細(xì)的分析。一次測(cè)試過(guò)程中測(cè)試機(jī)需要對(duì)芯片進(jìn)行多個(gè)測(cè)試項(xiàng)測(cè)試，包括參數(shù)測(cè)量和功能測(cè)試等多個(gè)測(cè)試項(xiàng)。
2、相關(guān)技術(shù)中，在獲取任一測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的芯片測(cè)試結(jié)果后，基于該測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的芯片測(cè)試結(jié)果對(duì)芯片進(jìn)行分bin，得到芯片的分bin結(jié)果。但上述方式使芯片的分bin結(jié)果受限，影響芯片篩選的精細(xì)度。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本公開實(shí)施例提供一種芯片測(cè)試方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)，以提高分bin的準(zhǔn)確性。
2、本公開實(shí)施例的一個(gè)方面，提供一種芯片測(cè)試方法，包括：
3、獲取多個(gè)測(cè)試項(xiàng)中具有延遲分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)，所述多個(gè)測(cè)試項(xiàng)用于測(cè)試待測(cè)對(duì)象；
4、針對(duì)具有所述延遲分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)，基于任一項(xiàng)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試得到目標(biāo)測(cè)試結(jié)果；
5、響應(yīng)于測(cè)試得到最后一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，基于多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，得到所述待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果。
6、本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面，提供一種芯片測(cè)試裝置，包括：
7、標(biāo)記設(shè)置模塊，用于響應(yīng)于對(duì)多個(gè)測(cè)試項(xiàng)中目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)的延遲分類配置操作，
8、芯片測(cè)試模塊，用于針對(duì)任一具有所述延遲分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)，基于所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試得到目標(biāo)測(cè)試結(jié)果；
9、芯片分類模塊，用于響應(yīng)于測(cè)試得到最后一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，基于多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，得到所述待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果。
10、本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面，提供一種電子設(shè)備，包括：存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；處理器，用于執(zhí)行所述存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)的計(jì)算機(jī)程序，且所述計(jì)算機(jī)程序被執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述任一實(shí)施例所述的芯片測(cè)試方法。
11、本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面，提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述任一實(shí)施例所述的芯片測(cè)試方法。
12、本公開實(shí)施例的另一個(gè)方面，提供一種計(jì)算機(jī)程序產(chǎn)品，包括計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述任一實(shí)施例所述的芯片測(cè)試方法。
13、本公開實(shí)施例中，針對(duì)具有延遲分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)，基于任一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試得到目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，在測(cè)試得到最后一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果后，基于多個(gè)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)待測(cè)對(duì)象進(jìn)行綜合分類，得到待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果，可匯集多個(gè)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)分別對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，使待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果可綜合多種測(cè)試項(xiàng)的測(cè)試數(shù)據(jù)，提高對(duì)待測(cè)對(duì)象分類的準(zhǔn)確性，得到更靈活細(xì)致的分類結(jié)果，有助于提高對(duì)待測(cè)對(duì)象篩選的準(zhǔn)確性。
14、下面通過(guò)附圖和實(shí)施例，對(duì)本公開的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
本文檔來(lái)自技高網(wǎng)...【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
1.一種芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述響應(yīng)于測(cè)試得到最后一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，基于多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，得到所述待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)中包括多個(gè)所述具有綜合分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)；
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述基于任一項(xiàng)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試得到目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述子線程的個(gè)數(shù)為大于等于1的整數(shù)，所述獲取測(cè)試數(shù)據(jù)之后，所述方法還包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述基于多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，得到所述待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，所述獲取多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)結(jié)果范圍，包括：
8.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特
9.一種芯片測(cè)試裝置，其特征在于，所述裝置包括：
10.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)，實(shí)現(xiàn)上述權(quán)利要求1-8任一所述的芯片測(cè)試方法。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種芯片測(cè)試方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述響應(yīng)于測(cè)試得到最后一項(xiàng)目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，基于多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)應(yīng)的多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試結(jié)果對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行分類，得到所述待測(cè)對(duì)象的分類結(jié)果，包括：
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，多個(gè)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)中包括多個(gè)所述具有綜合分類標(biāo)記的目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)；
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一所述的方法，其特征在于，所述基于任一項(xiàng)所述目標(biāo)測(cè)試項(xiàng)對(duì)所述待測(cè)對(duì)象進(jìn)行測(cè)試得到目標(biāo)測(cè)試結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述子線程的個(gè)數(shù)為大于等于1的整數(shù)，所述獲取測(cè)試數(shù)據(jù)之后，所述方法...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：吳澤民，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：杭州長(zhǎng)川科技股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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